JP2002022839A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 互いに担当する線量率範囲が異なる複数の放
射線検出器を用いて、ワイドレンジの放射線測定装置を
構成する際に、各線量率範囲の境界で線量率の測定値に
段差が生じる。 【解決手段】 スペクトル分析部３８が入射放射線に関
して生成するエネルギースペクトラムに基づいてエネル
ギー推定部７０が入射放射線のエネルギーを推定する。
補正定数決定部７２はシンチレーション検出器３０及び
半導体検出器３２相互間のエネルギーに依存したレスポ
ンスの較差を補正する補正定数を格納しており、エネル
ギー推定部７０から得られた現在のエネルギーに対応し
た補正定数を補正演算部５６に渡す。補正演算部５６
は、この補正定数に基づいて、半導体検出器３２からの
線量率を、シンチレーション検出器３０のレスポンスに
整合する値に補正する。
射線検出器を用いて、ワイドレンジの放射線測定装置を
構成する際に、各線量率範囲の境界で線量率の測定値に
段差が生じる。 【解決手段】 スペクトル分析部３８が入射放射線に関
して生成するエネルギースペクトラムに基づいてエネル
ギー推定部７０が入射放射線のエネルギーを推定する。
補正定数決定部７２はシンチレーション検出器３０及び
半導体検出器３２相互間のエネルギーに依存したレスポ
ンスの較差を補正する補正定数を格納しており、エネル
ギー推定部７０から得られた現在のエネルギーに対応し
た補正定数を補正演算部５６に渡す。補正演算部５６
は、この補正定数に基づいて、半導体検出器３２からの
線量率を、シンチレーション検出器３０のレスポンスに
整合する値に補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線量を測定す
る放射線測定装置に関し、特に複数の放射線検出器を有
する放射線測定装置に関する。
る放射線測定装置に関し、特に複数の放射線検出器を有
する放射線測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の放射線測定装置として電離箱が広
範囲の線量率を測定できるものとして知られている。し
かし、電離箱は、高絶縁を要求され、また大型であると
いった点で取り扱いに不便である。
範囲の線量率を測定できるものとして知られている。し
かし、電離箱は、高絶縁を要求され、また大型であると
いった点で取り扱いに不便である。
【０００３】一方、多くの放射線検出器のダイナミック
レンジは大体４デカードに制限され、これを超える高線
量率になると数え落としが生じ、線量率直線性が低下す
る。そこで、ワイドレンジでの測定を可能とするため
に、線量率の測定レンジ（線量率範囲）の異なる２つの
放射線検出器、すなわち低線量率用の放射線検出器と高
線量率用の放射線検出器とを組み合わせて１つの放射線
測定装置を構成することが行われる。
レンジは大体４デカードに制限され、これを超える高線
量率になると数え落としが生じ、線量率直線性が低下す
る。そこで、ワイドレンジでの測定を可能とするため
に、線量率の測定レンジ（線量率範囲）の異なる２つの
放射線検出器、すなわち低線量率用の放射線検出器と高
線量率用の放射線検出器とを組み合わせて１つの放射線
測定装置を構成することが行われる。
【０００４】この放射線測定装置では、低線量率用の放
射線検出器と高線量率用の放射線検出器とは各々が担当
する測定レンジにて線量率直線性を有するように調整さ
れる。また、これら２つの放射線検出器の感度は、基準
γ線源である137Ｃｓを用いて、低線量の測定レンジと
高線量の測定レンジとの境界にて両レンジの測定値が一
致するように校正される。このようにして、各放射線検
出器の測定レンジを合わせた広い範囲での線量率直線性
の実現を図っている。
射線検出器と高線量率用の放射線検出器とは各々が担当
する測定レンジにて線量率直線性を有するように調整さ
れる。また、これら２つの放射線検出器の感度は、基準
γ線源である137Ｃｓを用いて、低線量の測定レンジと
高線量の測定レンジとの境界にて両レンジの測定値が一
致するように校正される。このようにして、各放射線検
出器の測定レンジを合わせた広い範囲での線量率直線性
の実現を図っている。
【０００５】例えば、低線量率用の放射線検出器にはＮ
ａＩシンチレーション検出器が用いられ、高線量率の放
射線検出器には小型の半導体検出器が用いられる。
ａＩシンチレーション検出器が用いられ、高線量率の放
射線検出器には小型の半導体検出器が用いられる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述のように従来の装
置では、所定のエネルギー（例えば137Ｃｓでは６６２
ｋｅＶ）での感度の校正は行われているが、この校正は
以下に述べる理由から不十分である。
置では、所定のエネルギー（例えば137Ｃｓでは６６２
ｋｅＶ）での感度の校正は行われているが、この校正は
以下に述べる理由から不十分である。
【０００７】図２及び図３は、従来技術の問題点を説明
するための模式図である。図２は、高線量率用、低線量
率用それぞれの放射線検出器のエネルギー特性を示す模
式図である。図２の横軸は放射線のエネルギーＥ、縦軸
はレスポンスＲである。
するための模式図である。図２は、高線量率用、低線量
率用それぞれの放射線検出器のエネルギー特性を示す模
式図である。図２の横軸は放射線のエネルギーＥ、縦軸
はレスポンスＲである。
【０００８】この図において、高線量率用放射線検出器
のエネルギー特性曲線２と、低線量率用放射線検出器の
エネルギー特性曲線４は、基準γ線源を用いて校正され
たエネルギーＥCにおけるレスポンスを１とする。しか
し、一般的に放射線検出器のレスポンスＲはエネルギー
Ｅに依存して変化し、また放射線検出器の種類等に応じ
て変化の仕方が異なる。すなわち、図２に示すように、
２つの放射線検出器のレスポンスＲは、校正を行ったエ
ネルギーＥCではともに１であるが、他のエネルギーＥ
では一致するとは限らない。
のエネルギー特性曲線２と、低線量率用放射線検出器の
エネルギー特性曲線４は、基準γ線源を用いて校正され
たエネルギーＥCにおけるレスポンスを１とする。しか
し、一般的に放射線検出器のレスポンスＲはエネルギー
Ｅに依存して変化し、また放射線検出器の種類等に応じ
て変化の仕方が異なる。すなわち、図２に示すように、
２つの放射線検出器のレスポンスＲは、校正を行ったエ
ネルギーＥCではともに１であるが、他のエネルギーＥ
では一致するとは限らない。
【０００９】図３は、入射放射線のエネルギーを一定と
したときの従来の装置の線量率の入出力特性を示す模式
図であり、２つの放射線検出器のレスポンスＲが一致し
ないことによる従来の装置の不都合を示す。この図にお
いて、横軸は装置に入射する放射線の実際の線量率、縦
軸は装置が出力する線量率の測定値である。
したときの従来の装置の線量率の入出力特性を示す模式
図であり、２つの放射線検出器のレスポンスＲが一致し
ないことによる従来の装置の不都合を示す。この図にお
いて、横軸は装置に入射する放射線の実際の線量率、縦
軸は装置が出力する線量率の測定値である。
【００１０】ＥC以外のエネルギー、例えば図２に示す
Ｅ’では、高線量率用放射線検出器のレスポンスが、低
線量率用放射線検出器のレスポンスより低い値を有す
る。そのため、低線量率用放射線検出器の測定レンジ１
０と高線量率用放射線検出器の測定レンジ１２が切り替
わる部分において、高線量率用の放射線検出器から得ら
れる線量率１６が低線量率用の放射線検出器から得られ
る線量率１４より小さくなる。このように一般のエネル
ギーにおいて両放射線検出器のレスポンスに較差が存在
することにより、両放射線検出器から得られる各線量率
にギャップが生じてしまい、その切換え部（境界）を跨
る測定において、連続性、整合性が保たれないという問
題があった。
Ｅ’では、高線量率用放射線検出器のレスポンスが、低
線量率用放射線検出器のレスポンスより低い値を有す
る。そのため、低線量率用放射線検出器の測定レンジ１
０と高線量率用放射線検出器の測定レンジ１２が切り替
わる部分において、高線量率用の放射線検出器から得ら
れる線量率１６が低線量率用の放射線検出器から得られ
る線量率１４より小さくなる。このように一般のエネル
ギーにおいて両放射線検出器のレスポンスに較差が存在
することにより、両放射線検出器から得られる各線量率
にギャップが生じてしまい、その切換え部（境界）を跨
る測定において、連続性、整合性が保たれないという問
題があった。
【００１１】本発明は上記問題点を解消するためになさ
れたもので、入射放射線のエネルギーにかかわらず、検
出器の切換え部を跨る測定において連続性・整合性が保
てる放射線測定装置を提供することを目的とする。
れたもので、入射放射線のエネルギーにかかわらず、検
出器の切換え部を跨る測定において連続性・整合性が保
てる放射線測定装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明に係る放射線測定
装置は、レスポンスが入射放射線のエネルギーに依存す
る第１エネルギー特性を有し第１線量率範囲を担当する
第１放射線検出器と、レスポンスが前記入射放射線のエ
ネルギーに依存する第２エネルギー特性を有し前記第１
線量率範囲とは異なる第２線量率範囲を担当する第２放
射線検出器と、前記第１放射線検出器からの第１検出信
号に基づいて前記入射放射線の線量率を演算する第１線
量率演算手段と、前記第２放射線検出器からの第２検出
信号に基づいて前記入射放射線の線量率を演算する第２
線量率演算手段と、前記第１検出信号及び前記第２検出
信号の少なくとも一方に基づいて前記入射放射線のエネ
ルギーを推定するエネルギー推定手段と、前記第１検出
信号に基づく線量率及び前記第２検出信号に基づく線量
率の少なくとも一方について、前記推定されたエネルギ
ーにおける前記第１エネルギー特性のレスポンス及び前
記第２エネルギー特性のレスポンスの較差を補償するた
めの補正演算を行う補正手段とを有するものである。
装置は、レスポンスが入射放射線のエネルギーに依存す
る第１エネルギー特性を有し第１線量率範囲を担当する
第１放射線検出器と、レスポンスが前記入射放射線のエ
ネルギーに依存する第２エネルギー特性を有し前記第１
線量率範囲とは異なる第２線量率範囲を担当する第２放
射線検出器と、前記第１放射線検出器からの第１検出信
号に基づいて前記入射放射線の線量率を演算する第１線
量率演算手段と、前記第２放射線検出器からの第２検出
信号に基づいて前記入射放射線の線量率を演算する第２
線量率演算手段と、前記第１検出信号及び前記第２検出
信号の少なくとも一方に基づいて前記入射放射線のエネ
ルギーを推定するエネルギー推定手段と、前記第１検出
信号に基づく線量率及び前記第２検出信号に基づく線量
率の少なくとも一方について、前記推定されたエネルギ
ーにおける前記第１エネルギー特性のレスポンス及び前
記第２エネルギー特性のレスポンスの較差を補償するた
めの補正演算を行う補正手段とを有するものである。
【００１３】第１検出信号に基づく線量率、第２検出信
号に基づく線量率は、実際に各放射線検出器に入射する
線量だけでなく、各放射線検出器のエネルギー特性にも
依存する。この各放射線検出器のレスポンスは入射放射
線のエネルギーに依存する。本発明によれば、エネルギ
ー推定手段が入射放射線のエネルギーを推定する。この
推定されたエネルギーに対応する第１放射線検出器のレ
スポンスの値と第２放射線検出器のレスポンスの値との
間には一般に差異が存在し得る。補正手段は、第１検出
信号に基づく線量率、及び第２検出信号に基づく線量率
のうち少なくとも一方の補正を行う。具体的には、第１
放射線検出器のレスポンスが第２放射線検出器のレスポ
ンスより大きい場合には、例えばそれらレスポンスの差
異の比に応じて、第１検出信号に基づく線量率を割り引
いたり、反対に第２検出信号に基づく線量率を割り増し
したりする補正を行う。なお、第１線量率演算手段と第
２線量率演算手段とは、例えば１つの演算部を用いて一
体に構成することもできる。
号に基づく線量率は、実際に各放射線検出器に入射する
線量だけでなく、各放射線検出器のエネルギー特性にも
依存する。この各放射線検出器のレスポンスは入射放射
線のエネルギーに依存する。本発明によれば、エネルギ
ー推定手段が入射放射線のエネルギーを推定する。この
推定されたエネルギーに対応する第１放射線検出器のレ
スポンスの値と第２放射線検出器のレスポンスの値との
間には一般に差異が存在し得る。補正手段は、第１検出
信号に基づく線量率、及び第２検出信号に基づく線量率
のうち少なくとも一方の補正を行う。具体的には、第１
放射線検出器のレスポンスが第２放射線検出器のレスポ
ンスより大きい場合には、例えばそれらレスポンスの差
異の比に応じて、第１検出信号に基づく線量率を割り引
いたり、反対に第２検出信号に基づく線量率を割り増し
したりする補正を行う。なお、第１線量率演算手段と第
２線量率演算手段とは、例えば１つの演算部を用いて一
体に構成することもできる。
【００１４】本発明の好適な態様は、前記補正手段が、
前記入射放射線のエネルギーに対応付けられた前記第１
エネルギー特性のレスポンス及び前記第２エネルギー特
性のレスポンスの較差情報を保持する比較情報保持手段
と、前記較差情報に基づいて前記補正演算を行う演算手
段とを有する放射線測定装置である。
前記入射放射線のエネルギーに対応付けられた前記第１
エネルギー特性のレスポンス及び前記第２エネルギー特
性のレスポンスの較差情報を保持する比較情報保持手段
と、前記較差情報に基づいて前記補正演算を行う演算手
段とを有する放射線測定装置である。
【００１５】較差情報は、両レスポンスの相違を表す情
報であり、例えば、両レスポンスそのものの組や、その
他、両レスポンスの比、大小関係等の比較結果である。
比較情報保持手段は、そのような較差情報を例えばテー
ブルや数式の形で保持する。
報であり、例えば、両レスポンスそのものの組や、その
他、両レスポンスの比、大小関係等の比較結果である。
比較情報保持手段は、そのような較差情報を例えばテー
ブルや数式の形で保持する。
【００１６】本発明の他の好適な態様は、前記第１検出
信号及び前記第２検出信号の少なくとも一方に基づいて
前記入射放射線についてのエネルギースペクトラムを求
めるスペクトル分析部を有し、前記エネルギー推定手段
は、前記エネルギースペクトラムに基づいて前記入射放
射線のエネルギーを推定する放射線測定装置である。
信号及び前記第２検出信号の少なくとも一方に基づいて
前記入射放射線についてのエネルギースペクトラムを求
めるスペクトル分析部を有し、前記エネルギー推定手段
は、前記エネルギースペクトラムに基づいて前記入射放
射線のエネルギーを推定する放射線測定装置である。
【００１７】本発明のさらに他の好適な態様は、前記補
正演算が、前記第１放射線検出器が担当する前記第１線
量率範囲と前記第２放射線検出器が担当する前記第２線
量率範囲との境界を跨る線量率範囲にて行われる放射線
測定装置である。
正演算が、前記第１放射線検出器が担当する前記第１線
量率範囲と前記第２放射線検出器が担当する前記第２線
量率範囲との境界を跨る線量率範囲にて行われる放射線
測定装置である。
【００１８】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
【００１９】図１は、本発明に係る実施形態である放射
線測定装置の概略のブロック図である。この放射線測定
装置は、ＮａＩ（Ｔｌ）を用いたシンチレーション検出
器３０と半導体検出器３２とを備えている。シンチレー
ション検出器３０は低線量率範囲にて良好な直線性を示
す低線量用放射線検出器として構成される。一方、半導
体検出器３２は、検出部である半導体を小型にすること
により高線量用放射線検出器として構成され、その高線
量率範囲はシンチレーション検出器３０が数え落としに
より感度低下を生じる範囲に設定される。
線測定装置の概略のブロック図である。この放射線測定
装置は、ＮａＩ（Ｔｌ）を用いたシンチレーション検出
器３０と半導体検出器３２とを備えている。シンチレー
ション検出器３０は低線量率範囲にて良好な直線性を示
す低線量用放射線検出器として構成される。一方、半導
体検出器３２は、検出部である半導体を小型にすること
により高線量用放射線検出器として構成され、その高線
量率範囲はシンチレーション検出器３０が数え落としに
より感度低下を生じる範囲に設定される。
【００２０】シンチレーション検出器３０が放射線の入
射に応じて出力する電気パルスは、増幅器３４にて増幅
された後、アナログ・デジタル変換器（analog-to-digi
talconverter：ＡＤＣ）３６にてその波高に応じたデジ
タル値に変換される。スペクトル分析部３８は、ＡＤＣ
３６から出力されるデジタル値のヒストグラムを生成す
る。波高値は放射線のエネルギーに対応するので、この
ヒストグラムは本装置に入射する放射線のエネルギース
ペクトラムを表す。また、計数部４０は、ヒストグラム
における関心のあるエネルギー範囲に蓄積される単位時
間当たりのイベント数をカウントし線量率として出力す
る。ここで、関心のあるエネルギー範囲は、例えば、ノ
イズに起因する低いエネルギーのイベントを除去するよ
うに設定することができる。線量率表示部４２は、計数
部４０が出力する線量率を、例えばデジタル表示する。
射に応じて出力する電気パルスは、増幅器３４にて増幅
された後、アナログ・デジタル変換器（analog-to-digi
talconverter：ＡＤＣ）３６にてその波高に応じたデジ
タル値に変換される。スペクトル分析部３８は、ＡＤＣ
３６から出力されるデジタル値のヒストグラムを生成す
る。波高値は放射線のエネルギーに対応するので、この
ヒストグラムは本装置に入射する放射線のエネルギース
ペクトラムを表す。また、計数部４０は、ヒストグラム
における関心のあるエネルギー範囲に蓄積される単位時
間当たりのイベント数をカウントし線量率として出力す
る。ここで、関心のあるエネルギー範囲は、例えば、ノ
イズに起因する低いエネルギーのイベントを除去するよ
うに設定することができる。線量率表示部４２は、計数
部４０が出力する線量率を、例えばデジタル表示する。
【００２１】一方、半導体検出器３２が出力する電気パ
ルスは、増幅器５０にて増幅された後、波高弁別器５２
に入力される。波高弁別器５２は所定の閾値以上の入力
パルスに応答して出力パルスを生じ、計数部５４がこれ
をカウントする。
ルスは、増幅器５０にて増幅された後、波高弁別器５２
に入力される。波高弁別器５２は所定の閾値以上の入力
パルスに応答して出力パルスを生じ、計数部５４がこれ
をカウントする。
【００２２】本装置では計数部５４が出力する線量率に
対して、補正演算部５６が補正演算を行う。この補正演
算は、シンチレーション検出器３０と半導体検出器３２
とのレスポンスの差を補償するためのものであり、後に
詳述する。補正演算部５６にて補正された線量率が線量
率表示部５８に表示される。
対して、補正演算部５６が補正演算を行う。この補正演
算は、シンチレーション検出器３０と半導体検出器３２
とのレスポンスの差を補償するためのものであり、後に
詳述する。補正演算部５６にて補正された線量率が線量
率表示部５８に表示される。
【００２３】エネルギー推定部７０は、スペクトル分析
部３８にて得られるエネルギースペクトラムを利用し
て、装置に入射する放射線のエネルギーＥを推定する。
例えば、エネルギー推定部７０は各エネルギーのヒスト
グラムの度数によって重み付けされた平均のエネルギー
を計算して出力する。
部３８にて得られるエネルギースペクトラムを利用し
て、装置に入射する放射線のエネルギーＥを推定する。
例えば、エネルギー推定部７０は各エネルギーのヒスト
グラムの度数によって重み付けされた平均のエネルギー
を計算して出力する。
【００２４】また補正定数決定部７２は、両検出器３
０，３２のレスポンスの相違を補正する補正定数を補正
演算部５６へ出力する。補正演算部５６はこの補正定数
を用いて補正演算を行う。上述したように、シンチレー
ション検出器３０と半導体検出器３２とのレスポンスの
違いは、入射放射線のエネルギーＥに依存する。補正定
数決定部７２は、エネルギー推定部７０にて推定される
エネルギー値に応じた補正定数を出力する。例えば、補
正定数決定部７２はエネルギーＥと補正定数とが対応付
けられたテーブルを、メモリ等の記憶手段に格納し、保
持する。エネルギーＥに対する補正定数として、例え
ば、エネルギーＥにおけるシンチレーション検出器３０
のレスポンスＲ1(E)と半導体検出器３２のレスポンスＲ
2(E)との比λ（≡Ｒ1(E)／Ｒ2(E)）を用いることができ
る。
０，３２のレスポンスの相違を補正する補正定数を補正
演算部５６へ出力する。補正演算部５６はこの補正定数
を用いて補正演算を行う。上述したように、シンチレー
ション検出器３０と半導体検出器３２とのレスポンスの
違いは、入射放射線のエネルギーＥに依存する。補正定
数決定部７２は、エネルギー推定部７０にて推定される
エネルギー値に応じた補正定数を出力する。例えば、補
正定数決定部７２はエネルギーＥと補正定数とが対応付
けられたテーブルを、メモリ等の記憶手段に格納し、保
持する。エネルギーＥに対する補正定数として、例え
ば、エネルギーＥにおけるシンチレーション検出器３０
のレスポンスＲ1(E)と半導体検出器３２のレスポンスＲ
2(E)との比λ（≡Ｒ1(E)／Ｒ2(E)）を用いることができ
る。
【００２５】次に、本装置の動作を説明する。シンチレ
ーション検出器３０、半導体検出器３２は例えば並んで
設けられ、それぞれ入射放射線を検知する。上述の構成
によりシンチレーション検出器３０で検知される放射線
に基づいて、低線量率範囲での線量率の測定値ｎ1が得
られ、線量率表示部４２に表示される。
ーション検出器３０、半導体検出器３２は例えば並んで
設けられ、それぞれ入射放射線を検知する。上述の構成
によりシンチレーション検出器３０で検知される放射線
に基づいて、低線量率範囲での線量率の測定値ｎ1が得
られ、線量率表示部４２に表示される。
【００２６】また、シンチレーション検出器３０で検知
される放射線に基づいて、スペクトル分析部３８がエネ
ルギースペクトラムを求め、それに基づいてエネルギー
推定部７０が、測定対象の放射線のエネルギーＥを推定
する。
される放射線に基づいて、スペクトル分析部３８がエネ
ルギースペクトラムを求め、それに基づいてエネルギー
推定部７０が、測定対象の放射線のエネルギーＥを推定
する。
【００２７】補正定数決定部７２は、エネルギー推定部
７０により推定されたエネルギーを入力され、そのエネ
ルギーに対応する補正定数を例えばテーブルから読み出
して、補正演算部５６に渡す。
７０により推定されたエネルギーを入力され、そのエネ
ルギーに対応する補正定数を例えばテーブルから読み出
して、補正演算部５６に渡す。
【００２８】補正演算部５６は、半導体検出器３２で検
知される放射線に基づいた線量率の測定値ｎ2を計数部
５４から入力され、この測定値ｎ2に対して、補正定数
決定部７２から得た補正定数を用いて補正演算を行う。
例えば補正定数が上述した比Ｒである場合には、ｎ2の
補正値ｎ2'は測定値ｎ2にλを乗算することにより求め
られる。λを掛けることにより、半導体検出器３２のエ
ネルギー特性がシンチレーション検出器３０のエネルギ
ー特性に置き換わることになる。
知される放射線に基づいた線量率の測定値ｎ2を計数部
５４から入力され、この測定値ｎ2に対して、補正定数
決定部７２から得た補正定数を用いて補正演算を行う。
例えば補正定数が上述した比Ｒである場合には、ｎ2の
補正値ｎ2'は測定値ｎ2にλを乗算することにより求め
られる。λを掛けることにより、半導体検出器３２のエ
ネルギー特性がシンチレーション検出器３０のエネルギ
ー特性に置き換わることになる。
【００２９】このようにして得られた補正値ｎ2'は、半
導体検出器３２がシンチレーション検出器３０と同じレ
スポンスを有していたならば得られたであろう線量率を
表している。したがって、シンチレーション検出器３０
が担当する低線量率範囲と半導体検出器３２が担当する
高線量率範囲との境界部分で、線量率表示部４２に表示
される測定値ｎ1と、線量率表示部５８に表示される補
正値ｎ2'とが放射線のエネルギーにかかわらず整合し、
この部分に跨って線量率が変化する場合でも、両表示部
４２，５８に表示される値にギャップが生じることがな
い。
導体検出器３２がシンチレーション検出器３０と同じレ
スポンスを有していたならば得られたであろう線量率を
表している。したがって、シンチレーション検出器３０
が担当する低線量率範囲と半導体検出器３２が担当する
高線量率範囲との境界部分で、線量率表示部４２に表示
される測定値ｎ1と、線量率表示部５８に表示される補
正値ｎ2'とが放射線のエネルギーにかかわらず整合し、
この部分に跨って線量率が変化する場合でも、両表示部
４２，５８に表示される値にギャップが生じることがな
い。
【００３０】なお、上述の構成では、半導体検出器３２
に基づいて得られる線量率を、シンチレーション検出器
３０のエネルギー特性に合わせる補正が行われたが、こ
れとは反対に、シンチレーション検出器３０に基づいて
得られる線量率を、半導体検出器３２のエネルギー特性
に合わせる補正を行うような構成も可能である。
に基づいて得られる線量率を、シンチレーション検出器
３０のエネルギー特性に合わせる補正が行われたが、こ
れとは反対に、シンチレーション検出器３０に基づいて
得られる線量率を、半導体検出器３２のエネルギー特性
に合わせる補正を行うような構成も可能である。
【００３１】また、シンチレーション検出器３０、半導
体検出器３２のエネルギー特性とは別に、エネルギーＥ
とレスポンスＲとの依存関係（基準エネルギー特性と称
する）を定め、両検出器３０，３２のそれぞれの線量率
の測定値を、この基準エネルギー特性のレスポンスに合
わせるように補正する構成とすることも可能である。例
えば、基準エネルギー特性のレスポンスは両検出器３
０，３２のそれぞれのエネルギー特性のレスポンスの中
間値をとるように定めることができる。
体検出器３２のエネルギー特性とは別に、エネルギーＥ
とレスポンスＲとの依存関係（基準エネルギー特性と称
する）を定め、両検出器３０，３２のそれぞれの線量率
の測定値を、この基準エネルギー特性のレスポンスに合
わせるように補正する構成とすることも可能である。例
えば、基準エネルギー特性のレスポンスは両検出器３
０，３２のそれぞれのエネルギー特性のレスポンスの中
間値をとるように定めることができる。
【００３２】さらに、低線量率範囲と高線量率範囲との
境界部におけるエネルギー推定をいずれの検出器の測定
結果に基づいて行うかは自由である。例えば、半導体検
出器３２の測定値ｎ2に対して補正を行う場合に、半導
体検出器３２の信号処理系にスペクトル分析部を設け、
そのエネルギースペクトラムからエネルギーを推定して
もよい。
境界部におけるエネルギー推定をいずれの検出器の測定
結果に基づいて行うかは自由である。例えば、半導体検
出器３２の測定値ｎ2に対して補正を行う場合に、半導
体検出器３２の信号処理系にスペクトル分析部を設け、
そのエネルギースペクトラムからエネルギーを推定して
もよい。
【００３３】また、低線量率範囲と高線量率範囲との間
で計数部４０、補正演算部５６から出力される線量率は
連続的に変化するので、これら複数の線量率範囲を統一
的に扱って、例えば線量率表示部を１つにまとめる構成
としてもよい。
で計数部４０、補正演算部５６から出力される線量率は
連続的に変化するので、これら複数の線量率範囲を統一
的に扱って、例えば線量率表示部を１つにまとめる構成
としてもよい。
【００３４】また、上述の実施形態では、放射線検出器
は２つであり、また線量率範囲は２つであったが、より
多くの放射線検出器、線量率範囲の場合にもその境界に
おいて同様の補正を行う放射線測定装置を実現すること
ができる。
は２つであり、また線量率範囲は２つであったが、より
多くの放射線検出器、線量率範囲の場合にもその境界に
おいて同様の補正を行う放射線測定装置を実現すること
ができる。
【００３５】
【発明の効果】本発明の放射線測定装置によれば、複数
の放射線検出器を用いて広い線量率範囲の計測を可能と
する場合に、各放射線検出器のレスポンスのエネルギー
依存性が互いに異なる場合であっても、それらを整合さ
せる補正を行うことにより、検出器の切換え部における
連続性・整合性が保てる効果がある。
の放射線検出器を用いて広い線量率範囲の計測を可能と
する場合に、各放射線検出器のレスポンスのエネルギー
依存性が互いに異なる場合であっても、それらを整合さ
せる補正を行うことにより、検出器の切換え部における
連続性・整合性が保てる効果がある。
【図１】 本発明に係る実施形態である放射線測定装置
の概略のブロック図である。
の概略のブロック図である。
【図２】 高線量率用、低線量率用それぞれの放射線検
出器のエネルギー感度特性を示す模式図である。
出器のエネルギー感度特性を示す模式図である。
【図３】 従来の装置の線量率の入出力特性を示す模式
図である。
図である。
３０ シンチレーション検出器、３２ 半導体検出器、
３４，５０ 増幅器、３６ ＡＤＣ、３８ スペクトル
分析部、４０，５４ 計数部、４２，５８ 線量率表示
部、５２ 波高弁別器、５６ 補正演算部、７０ エネ
ルギー推定部、７２ 補正定数決定部。
３４，５０ 増幅器、３６ ＡＤＣ、３８ スペクトル
分析部、４０，５４ 計数部、４２，５８ 線量率表示
部、５２ 波高弁別器、５６ 補正演算部、７０ エネ
ルギー推定部、７２ 補正定数決定部。
Claims (4)
- 【請求項１】 レスポンスが入射放射線のエネルギーに
依存する第１エネルギー特性を有し、第１線量率範囲を
担当する第１放射線検出器と、 レスポンスが前記入射放射線のエネルギーに依存する第
２エネルギー特性を有し、前記第１線量率範囲とは異な
る第２線量率範囲を担当する第２放射線検出器と、 前記第１放射線検出器からの第１検出信号に基づいて、
前記入射放射線の線量率を演算する第１線量率演算手段
と、 前記第２放射線検出器からの第２検出信号に基づいて、
前記入射放射線の線量率を演算する第２線量率演算手段
と、 前記第１検出信号及び前記第２検出信号の少なくとも一
方に基づいて、前記入射放射線のエネルギーを推定する
エネルギー推定手段と、 前記第１検出信号に基づく線量率及び前記第２検出信号
に基づく線量率の少なくとも一方について、前記推定さ
れたエネルギーにおける前記第１エネルギー特性のレス
ポンス及び前記第２エネルギー特性のレスポンスの較差
を補償するための補正演算を行う補正手段と、 を有することを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の放射線測定装置におい
て、 前記補正手段は、 前記入射放射線のエネルギーに対応付けられた前記第１
エネルギー特性のレスポンス及び前記第２エネルギー特
性のレスポンスの比較情報を保持する比較情報保持手段
と、 前記比較情報に基づいて前記補正演算を行う演算手段
と、 を有することを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項３】 請求項１又は請求項２に記載の放射線測
定装置において、 前記第１検出信号及び前記第２検出信号の少なくとも一
方に基づいて、前記入射放射線についてのエネルギース
ペクトラムを求めるスペクトル分析部を有し、 前記エネルギー推定手段は、前記エネルギースペクトラ
ムに基づいて前記入射放射線のエネルギーを推定するこ
と、 を特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項４】 請求項１から請求項３のいずれかに記載
の放射線測定装置において、 前記補正演算は、前記第１放射線検出器が担当する前記
第１線量率範囲と前記第２放射線検出器が担当する前記
第２線量率範囲との境界を跨る線量率範囲にて行われる
こと、を特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000200585A JP2002022839A (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000200585A JP2002022839A (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | 放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002022839A true JP2002022839A (ja) | 2002-01-23 |
Family
ID=18698435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000200585A Pending JP2002022839A (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002022839A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013088319A (ja) * | 2011-10-19 | 2013-05-13 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出装置 |
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- 2000-07-03 JP JP2000200585A patent/JP2002022839A/ja active Pending
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