JP2020526777A - シンチレーション検出器のゲイン補正装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図4
Description
具体的には、標準的なシンチレーション検出器を準備して、温度T0及び電圧X0が固定した状態で、前記標準的なシンチレーション検出器のゲインG0を測定し、前記標準的なシンチレーション検出器のゲインG0を測定対象のシンチレーション検出器の目標ゲインとするステップS1と、
温度をT0に固定して、電圧をX2に調整し、前記標準的なシンチレーション検出器のゲインG2を測定して、前記ゲイン温度電圧の方程式に代入し、パラメータk2及びp2(ここで、k2=b、p2=at0+c)を算出するステップS2と、
電圧をX0に固定して、温度をT1に調整し、標準的なシンチレーション検出器のゲインG1を測定して、前記ゲイン温度電圧の方程式に代入し、パラメータk1及びp1(ここで、k1=a、p1=bx0+c)を算出するステップS3と、
パラメータk1、k2、p1及びp2を前記ゲイン温度電圧の方程式に代入し、標準的なシンチレーション検出器のパラメータa、b及びcを算出し、それにより標準的なシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式がG(x,t)=at+bx+cであると決定するステップS4と、
目標ゲインがG0である場合、ゲイン温度電圧の方程式に基づいて前記シンチレーション検出器の電圧xと温度tとの間の関係がx=(G0−at−c)/bであると決定するステップS5と、を含む、標準的なシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式を決定する第1ステップと、
測定対象のシンチレーション検出器と前記標準的なシンチレーション検出器とのゲイン差を測定し、測定対象のシンチレーション検出器の前記目標ゲイン条件での電圧温度の方程式を得る第2ステップと、
前記ステップ2で得られた電圧温度の方程式を補正の参照として、測定対象のシンチレーション検出器の実測温度に基づき、対応する補正電圧を算出し、前記補正電圧に基づき前記シンチレーション検出器の電圧を変化させて測定対象のシンチレーション検出器のゲイン補正を実現する第3ステップと、を含む。
温度をT0、電圧をX0に調整し、測定対象のシンチレーション検出器のゲインG´を測定すると、測定対象のシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式がG(x,t)=at+bx+c+(G´−G0)となるステップS6と、
目標ゲインがG0である場合、測定対象のシンチレーション検出器の電圧温度の方程式がx=(−at−c+2G0−G´)/bとなるステップS7と、を含む。
第1、温度t0が固定した場合、
G(x,t0)=k2x+p2 (2)
(ここで、k2=b、p2=at0+c)
第2、電圧x0が固定した場合、
G(x0,t)=k1t+p1 (3)
(ここで、k1=a、p1=bx0+c)が得られる。
具体的には、標準的なシンチレーション検出器を準備して、温度T0及び電圧X0が固定した状態で、標準的なシンチレーション検出器のゲインG0を測定し、標準的なシンチレーション検出器のゲインG0を他の測定対象のシンチレーション検出器の目標ゲインとするステップS1と、
温度をT0に固定して、電圧をX2に調整し、標準的なシンチレーション検出器のゲインG2を測定して、上記の式(2)に代入し、パラメータk2及びp2を算出するステップS2と、
電圧をX0に固定して、温度をT1に調整し、標準的なシンチレーション検出器のゲインG1を測定して、上記の式(3)に代入し、パラメータk1及びp1を算出するステップS3と、
パラメータk1、k2、p1及びp2を上記の式(1)に代入し、標準的なシンチレーション検出器のパラメータa、b及びcを算出し、それにより標準的なシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式がG(x,t)=at+bx+c(1)であると決定するステップS4と、
目標ゲインがG0である場合、上式に基づきシンチレーション検出器の電圧xと温度tとの間の関係が、x=(G0−at−c)/bであると決定できるステップS5と、を含む、異なる温度でゲイン補正を実現するように標準的なシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式を決定する第1ステップと、
第1ステップにおける温度T0及び電圧X0が固定したという標準的なシンチレーション検出器のサンプル条件において、測定対象のシンチレーション検出器と標準的なシンチレーション検出器とのゲイン差を測定し、固定した目標ゲイン条件での測定対象のシンチレーション検出器の電圧温度の方程式を得て、具体的には、
温度をT0、電圧をX0に調整し、測定対象のシンチレーション検出器のゲインG´を測定すると、測定対象のシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式がG(x,t)=at+bx+c+(G´−G0)となるステップS6と、
目標ゲインがG0である場合、測定対象のシンチレーション検出器の電圧温度の方程式が、x=(−at−c+2G0−G´)/bとなるステップS7と、を含む、第2ステップと、
実測した測定対象のシンチレーション検出器と標準的なシンチレーション検出器とのゲイン差に基づいて、ステップS7で得られた電圧温度の方程式を補正の参照とし、温度センサにより実測された温度に基づき、対応する補正電圧を算出し、シングルチップマイクロコンピューター(MCU)は、補正電圧に基づいて高圧電源を制御して電圧を変化させて、測定対象のシンチレーション検出器の補正を実現する第3ステップと、を含む。
Claims (10)
- シンチレーション検出器のゲイン補正方法であって、
前記シンチレーション検出器のゲインG、温度t及び電圧xが、ゲイン温度電圧の方程式G(x,t)=at+bx+c(ここで、パラメータa、b、cが定数である。)を満たし、前記ゲイン補正方法は、
具体的には、標準的なシンチレーション検出器を準備して、温度T0及び電圧X0が固定した状態で、前記標準的なシンチレーション検出器のゲインG0を測定し、前記標準的なシンチレーション検出器のゲインG0を測定対象のシンチレーション検出器の目標ゲインとするステップS1と、
温度をT0に固定して、電圧をX2に調整し、前記標準的なシンチレーション検出器のゲインG2を測定して、前記ゲイン温度電圧の方程式に代入し、パラメータk2及びp2(ここで、k2=b、p2=at0+c)を算出するステップS2と、
電圧をX0に固定して、温度をT1に調整し、標準的なシンチレーション検出器のゲインG1を測定して、前記ゲイン温度電圧の方程式に代入し、パラメータk1及びp1(ここで、k1=a、p1=bx0+c)を算出するステップS3と、
パラメータk1、k2、p1及びp2を前記ゲイン温度電圧の方程式に代入し、標準的なシンチレーション検出器のパラメータa、b及びcを算出し、それにより標準的なシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式がG(x,t)=at+bx+cであると決定するステップS4と、
目標ゲインがG0である場合、ゲイン温度電圧の方程式に基づいて前記シンチレーション検出器の電圧xと温度tとの間の関係がx=(G0−at−c)/bであると決定するステップS5と、を含む、標準的なシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式を決定する第1ステップと、
測定対象のシンチレーション検出器と前記標準的なシンチレーション検出器とのゲイン差を測定し、測定対象のシンチレーション検出器の前記目標ゲイン条件での電圧温度の方程式を得る第2ステップと、
前記ステップ2で得られた電圧温度の方程式を補正の参照として、測定対象のシンチレーション検出器の実測温度に基づき、対応する補正電圧を算出し、前記補正電圧に基づき前記シンチレーション検出器の電圧を変化させて測定対象のシンチレーション検出器のゲイン補正を実現する第3ステップと、を含む、ことを特徴とするシンチレーション検出器のゲイン補正方法。 - 前記第2ステップのステップは、具体的には、
温度をT0、電圧をX0に調整し、測定対象のシンチレーション検出器のゲインG´を測定すると、測定対象のシンチレーション検出器のゲイン温度電圧の方程式がG(x,t)=at+bx+c+(G´−G0)となるステップS6と、
目標ゲインがG0である場合、測定対象のシンチレーション検出器の電圧温度の方程式がx=(−at−c+2G0−G´)/bとなるステップS7と、を含む、ことを特徴とする請求項1に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正方法。 - 温度センサを使用して測定対象のシンチレーション検出器の実測温度を得て、シングルチップマイクロコンピューターを使用して対応する前記補正電圧を算出する、ことを特徴とする請求項1に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正方法。
- 同じサイズと仕様のシンチレーション検出器の場合、第1ステップを一回実行するだけでよく、他の測定対象のシンチレーション検出器の場合は、第2ステップを実行して目標ゲインでの電圧温度の方程式を得る、ことを特徴とする請求項1に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正方法。
- 互いに結合されたシンチレーション結晶と光電子デバイスを備えるシンチレーション検出器のゲイン補正装置であって、
校正放射線源であって、前記シンチレーション結晶が前記校正放射線源から放出された電離放射線を受信して可視光に変換し、前記光電子デバイスが前記可視光をアナログ電圧信号に変換する校正放射線源と、
それぞれが前記光電子デバイスに通信可能に接続されて異なるエネルギー域の前記アナログ電圧信号をデジタルパルス信号に変換する少なくとも2つのコンパレータと、
それぞれが各前記コンパレータに通信可能に接続されて、各前記コンパレータにより送信されたデジタルパルス信号を受信し、前記デジタルパルス信号の計数率を同時に測定する計数モジュールと、
前記光電子デバイスの外側に設置されて温度データを実測する温度センサと、
前記計数モジュールに通信可能に接続されて前記計数率を受信し、さらに前記温度センサに通信可能に接続されて前記実測温度データを受信し、前記計数率及び前記実測温度データに基づき目標ゲイン及び補正電圧を計算するシングルチップマイクロコンピューターと、
前記シングルチップマイクロコンピューターに接続されて前記補正電圧を受信し、さらに前記光電子デバイスに接続されて前記補正電圧に基づき前記光電子デバイスのゲイン補正を実現する高圧電源とを備える、ことを特徴とするシンチレーション検出器のゲイン補正装置。 - 前記校正放射線源は、単一エネルギー放射線源を用いる、ことを特徴とする請求項5に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正装置。
- 前記校正放射線源が使用した放射性核種は、Cs−137、Co−60又はEu−152である、ことを特徴とする請求項6に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正装置。
- 同じ種類のシンチレーション検出器を校正するとき、前記校正放射線源と前記シンチレーション結晶との間の相対位置は、固定されている、ことを特徴とする請求項5に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正装置。
- 前記複数のコンパレータは、それぞれが前記光電子デバイス及び前記計算モジュールに通信可能に接続される2つのコンパレータを含む、ことを特徴とする請求項5に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正装置。
- 前記光電子デバイスは、シリコン光電子増倍管である、ことを特徴とする請求項5に記載のシンチレーション検出器のゲイン補正装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710614096.4 | 2017-07-25 | ||
CN201710614096.4A CN107247284B (zh) | 2017-07-25 | 2017-07-25 | 一种闪烁探测器的增益校正装置和方法 |
PCT/CN2017/108116 WO2019019451A1 (zh) | 2017-07-25 | 2017-10-27 | 一种闪烁探测器的增益校正装置和方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020526777A true JP2020526777A (ja) | 2020-08-31 |
JP6978125B2 JP6978125B2 (ja) | 2021-12-08 |
Family
ID=60012275
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020522767A Active JP6978125B2 (ja) | 2017-07-25 | 2017-10-27 | シンチレーション検出器のゲイン補正装置及び方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3637147B1 (ja) |
JP (1) | JP6978125B2 (ja) |
CN (1) | CN107247284B (ja) |
FI (1) | FI3637147T3 (ja) |
WO (1) | WO2019019451A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107247284B (zh) * | 2017-07-25 | 2023-09-22 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 一种闪烁探测器的增益校正装置和方法 |
CN109211946B (zh) * | 2018-08-29 | 2021-08-27 | 苏州瑞迈斯医疗科技有限公司 | 校正X-ray探测器中的探测通道的方法 |
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CN107247284B (zh) * | 2017-07-25 | 2023-09-22 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 一种闪烁探测器的增益校正装置和方法 |
-
2017
- 2017-07-25 CN CN201710614096.4A patent/CN107247284B/zh active Active
- 2017-10-27 FI FIEP17919344.6T patent/FI3637147T3/fi active
- 2017-10-27 EP EP17919344.6A patent/EP3637147B1/en active Active
- 2017-10-27 JP JP2020522767A patent/JP6978125B2/ja active Active
- 2017-10-27 WO PCT/CN2017/108116 patent/WO2019019451A1/zh unknown
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EP3637147A4 (en) | 2020-07-01 |
WO2019019451A1 (zh) | 2019-01-31 |
CN107247284A (zh) | 2017-10-13 |
EP3637147A1 (en) | 2020-04-15 |
EP3637147B1 (en) | 2023-12-13 |
FI3637147T3 (fi) | 2024-03-15 |
CN107247284B (zh) | 2023-09-22 |
JP6978125B2 (ja) | 2021-12-08 |
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A621 | Written request for application examination |
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