JP2014143086A - 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1電極層3aおよび第2電極層6用取り出し電極がパターン状に形成された基板の全面に犠牲層4を形成する犠牲層形成工程と、上記第1電極層上に、2層以上の有機層を形成する有機EL層5形成工程と、上記有機EL層上および第2電極層用取り出し電極3c形成領域の上記犠牲層上に第2電極層を形成する第2電極層形成工程とを有する有機EL素子の製造方法であって、上記有機EL層形成工程が、上記犠牲層の全面に2層以上の有機層を形成する有機層全面形成工程と、少なくとも上記第2電極層用取り出し電極形成領域にレーザー光20を照射し、上記レーザー光の照射部分の上記2層以上の有機層を除去するレーザー除去工程とを有することを特徴とする有機EL素子の製造方法。
【選択図】図1
Description
まず、図7(a)に示すように、第1電極層103aおよび第1電極層用取り出し電極103bと、第2電極層用取り出し電極103cとがパターン状に形成された基板102の全面に、複数層の有機層で構成された有機EL層105を形成する。次に、図7(b)に示すように、第1電極層用取り出し電極103bおよび第2電極層用取り出し電極103c上に形成された有機EL層105にレーザー光20を照射して、図7(c)に示すように、レーザー光20が照射された部分の有機EL層105を一括して除去する。この際、上述のように第1電極層用取り出し電極103bおよび第2電極層用取り出し電極103cの厚みが薄いため、レーザー光20の照射部分では有機EL層105だけでなく第1電極層用取り出し電極103bおよび第2電極層用取り出し電極103cも除去されてしまうのである。
図1(a)〜(e)は本発明の有機EL素子の製造方法の一例を示す工程図である。まず、図1(a)に示すように、基板2上に、第1電極層3aおよび第1電極層用取り出し電極3bと第2電極層用取り出し電極3cとをパターン状に形成する。次いで、図1(b)に示すように、第1電極層3aおよび第1電極層用取り出し電極3bと第2電極層用取り出し電極3cとが形成された基板2の全面に犠牲層4を形成する犠牲層形成工程を行う。次に、図1(c)に示すように、犠牲層4の全面に正孔注入層501、正孔輸送層502、発光層503、および電子注入層504の4層の有機層を形成する有機層全面形成工程を行い、その後、図1(d)に示すように、第1電極層用取り出し電極3bが形成されている第1電極層用取り出し電極形成領域および第2電極層用取り出し電極3cが形成されている第2電極層用取り出し電極形成領域にレーザー光20を照射して、レーザー光照射部分の正孔注入層501、正孔輸送層502、発光層503および電子注入層504を除去するレーザー除去工程を行う。そして、第1電極層3aが形成されている第1電極層形成領域の犠牲層4上に、正孔注入層501、正孔輸送層502、発光層503および電子注入層504の4層の有機層を有する有機EL層5がパターン状に形成される。さらに、図1(e)に示すように、有機EL層5上および第2電極層用取り出し電極形成領域の犠牲層4上に第2電極層6を形成する第2電極層形成工程を行う。このようにして、有機EL素子1が作製される。
この理由は明らかではないが、次のように考えられる。すなわち、第2電極層用取り出し電極の一般的な厚みとしては、エッジ部分からのリーク電流の発生や透過率の低下、またスパッタリング法による成膜の際に割れやすくなる等の問題から、約数十nm程度と比較的薄い。そのため、一般的にレーザー光照射による第2電極層用取り出し電極の除去速度は有機層の除去速度よりも遅いものの、従来の有機EL素子のように犠牲層が形成されていない場合には、レーザー光の照射時に有機層が除去されて第2電極層用取り出し電極が露出した際に、第2電極層用取り出し電極の厚みが薄いためにレーザー光の照射によって第2電極層用取り出し電極も除去されてしまうと考えられる。これに対し本発明においては、第1電極層および第2電極層用取り出し電極が形成された基板の全面に所定の厚みを有する犠牲層を設けることにより、第2電極層用取り出し電極上の有機層が除去されて第2電極層用取り出し電極が露出し、レーザー光にさらされるのを防止しているものと推量される。
本発明においては、まず、第1電極層および第2電極層用取り出し電極がパターン状に形成された基板を準備する基板準備工程を行う。
以下、本工程に用いられる各部材について説明する。
本工程に用いられる基板は、後述の第1電極層および第2電極層用取り出し電極を支持するものである。
本工程に用いられる第1電極層は、上述した基板にパターン状に形成されるものである。
また、第1電極層は、光透過性を有していてもよく有さなくてもよく、発光層から放射される光の取り出し面側に応じて適宜選択される。第1電極層側から光を取り出す場合、第1電極層には光透過性を有する透明電極が用いられる。一方、第2電極層側から光を取り出す場合、第1電極層には光透過性を有さない金属電極が用いられる。中でも、本工程においては第1電極層が透明電極であることが好ましい。後述するように第1電極層および第2電極層用取り出し電極を一括して形成する場合、第1電極層が透明電極であれば第2電極層用取り出し電極も透明電極になる。割れの発生等の抑制のために透明電極の厚みはより薄いことが求められるため、第1電極層および第2電極層用取り出し電極が透明電極である場合には、犠牲層により第2電極層用取り出し電極を保護するという効果を顕著に得ることができる。
本工程に用いられる第2電極層用取り出し電極は、上述した基板にパターン状に形成されるものである。
第2電極層用取り出し電極を構成する材料は、第1電極層を構成する材料と同じであってもよく異なってもよい。中でも、第1電極層および第2電極層用取り出し電極は同一の材料を含有することが好ましい。第1電極層および第2電極層用取り出し電極を一括して形成することができ、製造工程を簡略化することができるからである。
なお、隣り合う第1電極層および第2電極層用取り出し電極の間隔とは、図1(a)に示した距離dを指す。
中でも、第2電極層用取り出し電極を第1電極層と一括して形成することが好ましい。製造工程を簡略化することができるからである。
なお、第1電極層および第2電極層用取り出し電極がパターン状に形成された基板として、市販のものを用いてもよい。
本発明においては、基板上に第1電極層に接して第1電極層用取り出し電極が形成されてもよい。
第1電極層用取り出し電極は、例えば、図1(a)に示すように、第1電極層3aに隣接して形成される。そのため、第1電極層用取り出し電極に用いられる材料としては、通常、上述した第1電極層の材料と同一である。なお、具体的な材料については、上記「(2)第1電極層」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。
本発明における犠牲層形成工程は、第1電極層および第2電極層用取り出し電極がパターン状に形成された基板の全面に犠牲層を形成する工程である。
また、犠牲層の表面抵抗率は、5Ω/□〜350Ω/□の範囲内であることが好ましく、中でも10Ω/□〜220Ω/□の範囲内であることが好ましい。
なお、体積抵抗率および表面抵抗率は、三菱化学株式会社製 抵抗率計ロレスタを用いて四探針法により測定することができる。
ここで、「犠牲層を保持する」とは、レーザー除去工程後に、有機層の除去によって露出した犠牲層が第2電極層用取り出し電極を保護することができる程度の厚みで残存していることをいい、レーザー光の照射により犠牲層の表面が僅かに除去されて犠牲層の厚みが薄くなる場合も含む。
通常、犠牲層には無機系材料が用いられる。例えば、無機系材料単独や、無機系材料およびバインダを混合したものを用いることができる。無機系材料としては、例えば、酸化チタン、モリブデン酸化物、バナジウム酸化物、酸化亜鉛等の金属酸化物が挙げられる。また、バインダとしては、エポキシ樹脂やフェノール樹脂等の熱硬化性樹脂が挙げられる。
また、犠牲層の厚みとしては、レーザー除去工程にて犠牲層により第2電極層用取り出し電極を保護することができ、レーザー除去工程後に犠牲層を保持することができる程度の厚みであれば特に限定されるものではない。
中でも、犠牲層の厚みは第2電極層用取り出し電極の厚みよりも厚いことが好ましい。犠牲層の厚みが第2電極層用取り出し電極の厚みよりも厚いことにより、第2電極層用取り出し電極が露出し、レーザー光にさらされることを防ぐことができるため、第2電極層用取り出し電極を効果的に保護することが可能になるからである。
具体的に、犠牲層の厚みは、100nm〜800nmの範囲内であることが好ましく、150nm〜600nmの範囲内であることがより好ましい。犠牲層の厚みが薄いと、レーザー除去工程において第2電極層用取り出し電極を十分に保護することが困難になる場合がある。また、犠牲層の厚みが厚いと、第1電極層から有機層に電荷の注入および輸送を円滑に行うことが困難になったり、第2電極層および第2電極層用取り出し電極の間での導通が困難になったりする場合がある。
本発明における有機EL層形成工程は、第1電極層上に、2層以上の有機層を含む有機EL層を形成する工程であり、犠牲層の全面に2層以上の有機層を形成する有機層全面形成工程と、少なくとも第2電極層用取り出し電極形成領域にレーザー光を照射し、レーザー光の照射部分の2層以上の有機層を除去するレーザー除去工程とを有する。
以下、本工程における有機層全面形成工程、レーザー除去工程、および本工程により形成される有機EL層の構成について説明する。
本発明における有機層全面形成工程は、犠牲層の全面に2層以上の有機層を形成する工程である。
本工程は、少なくとも第2電極層用取り出し電極形成領域の2層以上の有機層にレーザー光を照射し、レーザー光が照射された部分の2層以上の有機層を除去する工程である。
本発明における有機EL層形成工程においては、図2(a)〜(e)に例示するように、有機層全面形成工程前に、犠牲層上に有機層をパターン状に形成する第1の有機層形成工程を行ってもよく、図4(a)〜(f)に例示するように、レーザー除去工程後に、2層以上の有機層上に有機層をパターン状に形成する第2の有機層形成工程を行ってもよく、図3(a)〜(f)に例示するように、犠牲層形成工程前に、第1電極層上に有機層をパターン状に形成する第3の有機層形成工程を行ってもよい。
本工程により形成される有機EL層は、少なくとも発光層を有し、発光層を含む2層以上の有機層を有するものである。発光層以外に有機EL層を構成する層としては、正孔注入層、電子注入層、正孔輸送層、電子輸送層等を挙げることができる。正孔輸送層は、正孔注入層に正孔輸送の機能を付与することにより、正孔注入層と一体化される場合がある。また、電子輸送層は、電子注入層に電子輸送の機能を付与することにより、電子注入層と一体化される場合がある。さらに、有機EL層を構成する層としては、キャリアブロック層のような正孔もしくは電子の突き抜けを防止し、再結合効率を高めるための層等を挙げることができる。
本工程により形成される発光層の材料としては、例えば、色素系材料、金属錯体系材料、高分子系材料等の発光材料を挙げることができる。
本工程により形成される有機EL層は正孔注入層を含んでいてもよく、この場合、正孔注入層は発光層と陽極である第1電極層または第2電極層との間に形成される。
本工程により形成される有機EL層は正孔輸送層を含んでいてもよく、この場合、正孔輸送層は発光層と陽極である第1電極層または第2電極層との間に形成される。
本工程により形成される有機EL層は電子注入層を含んでいてもよく、この場合、電子注入層は発光層と陰極である第1電極層または第2電極層との間に形成される。
ものではないが、具体的には0.1nm〜200nmの範囲内であることが好ましく、より好ましくは0.5nm〜100nmの範囲内である。
本工程により形成される有機EL層は電子輸送層を含んでいてもよく、この場合、電子輸送層は発光層と陰極である第1電極層または第2電極層との間に形成される。
本発明により得られる有機EL素子がマルチフォトン構造を有する場合には、隣接する発光ユニットの間に電荷発生層が形成される。
本発明における第2電極層形成工程は、有機EL層上および上記第2電極層用取り出し電極が形成されている第2電極層用取り出し電極形成領域の上記犠牲層上に第2電極層を形成する工程である。
第2電極層の光透過性、材料、形成方法等については、上記「1.基板準備工程」の項に記載した第1電極層と同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。
本発明の有機EL素子の製造方法は、上述した犠牲層形成工程、有機EL層形成工程および第2電極層形成工程を有していればよいが、この他にも、図6に示すような封止基板112を配置する封止工程等のその他の工程を有していてもよい。
本発明における有機EL素子は、例えば、表示装置、照明装置、光源等に適用することができる。
また、本発明においては、少ない工程数で有機EL素子を製造することができることから、生産性に優れている。
(第1電極層の形成)
膜厚0.7mmのガラス基板に対して、イオンプレーティング法により膜厚150nmのITO薄膜を成膜し、このITO薄膜上に感光性レジストを塗布し、マスク露光、現像、ITO薄膜のエッチングを行った。その後、感光性レジストを剥離して、第1電極層と、第1電極層と連続している第1電極層用取り出し電極と、第1電極層と分離している第2電極層用取り出し電極とを形成した。
次に、第1電極層上にルチル結晶型の酸化チタン及びビスフェノールA型エポキシ樹脂を含有したインキを膜厚200nmとなるようにスピンコート法にて塗布し、犠牲層を形成した。
次に、犠牲層上に、ポリエチレンジオキシチオフェン−ポリスチレンスルホネート(PEDOT−PSS)をスピンコート法にて塗布し、正孔注入層を形成した。
次いで、正孔注入層上に、ポリフルオレン誘導体系の緑色発光材料をスピンコート法にて塗布し、発光層を形成した。
その後、エネルギー0.6mJのYAGレーザー光を照射して、第1電極層用取り出し電極形成領域および第2電極層用取り出し電極形成領域における正孔注入層および発光層を除去した。
続いて、メタルマスクを用いて、発光層上にフッ化リチウム(LiF)を膜厚0.5nmとなるように成膜し、電子注入層を形成した。
有機EL層上および第2電極層用取り出し電極形成領域の犠牲層上に、Alを膜厚100nmとなるように、圧力:1×10−4Paの真空中にて、抵抗加熱蒸着法により成膜し、陰極である第2電極層を形成した。
最後に、第2電極層側を封止ガラスおよびUV硬化型エポキシ接着剤により封止し、有機EL素子を作製した。
正孔注入層及び発光層をインクジェット法にてパターン状に塗布し、レーザー除去工程を行わなかったこと以外は、実施例と同様にして、有機EL素子を作製した。
犠牲層を形成しなかったこと以外は、実施例と同様にして有機EL素子を作製した。
実施例および比較例2のレーザー除去後ならびに比較例1の発光層塗布後の基板について、触診式膜厚計にて発光エリアの膜厚断面プロファイルを測定し、平均膜厚に対する膜厚レンジ(MAX−MIN)を比較した。その結果、表1に示すように、平均膜厚に対する膜厚レンジは、比較例1が15%であるのに対して実施例および比較例2では5%以内であり、レーザー除去工程を行うことにより高いエッジ精度が得られることが示された。
また、有機EL素子について2次元色彩輝度計にて発光エリア50mm□の面内9点の輝度を測定し、輝度レンジを比較した。その結果、表1に示すように、比較例1では面内9点の輝度レンジが15%であるのに対し、実施例では10%以内に収まり、実施例の面内均一性が良好であることが示された。さらに、比較例2では発光せず、レーザー光の照射部分のITO薄膜が除去されたことが示された。
2 … 基板
3a … 第1電極層
3b … 第1電極層用取り出し電極
3c … 第2電極層用取り出し電極
4 … 犠牲層
5 … 有機EL層
501 … 正孔注入層
502 … 正孔輸送層
503 … 発光層
504 … 電子注入層
6 … 第2電極層
Claims (3)
- 第1電極層および第2電極層用取り出し電極がパターン状に形成された基板の全面に犠牲層を形成する犠牲層形成工程と、
前記第1電極層上に、2層以上の有機層を含む有機エレクトロルミネッセンス層を形成する有機エレクトロルミネッセンス層形成工程と、
前記有機エレクトロルミネッセンス層上および前記第2電極層用取り出し電極が形成されている第2電極層用取り出し電極形成領域の前記犠牲層上に第2電極層を形成する第2電極層形成工程と
を有する有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法であって、
前記有機エレクトロルミネッセンス層形成工程が、前記犠牲層の全面に2層以上の有機層を形成する有機層全面形成工程と、少なくとも前記第2電極層用取り出し電極形成領域にレーザー光を照射し、前記レーザー光の照射部分の前記2層以上の有機層を除去するレーザー除去工程とを有することを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法。 - 前記犠牲層の厚みが前記第2電極層用取り出し電極の厚みよりも厚いことを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
- 前記第1電極層および前記第2電極層用取り出し電極が同一の材料を含有し、透明電極であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
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