JP2014107446A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014107446A5
JP2014107446A5 JP2012260067A JP2012260067A JP2014107446A5 JP 2014107446 A5 JP2014107446 A5 JP 2014107446A5 JP 2012260067 A JP2012260067 A JP 2012260067A JP 2012260067 A JP2012260067 A JP 2012260067A JP 2014107446 A5 JP2014107446 A5 JP 2014107446A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor region
region
semiconductor
hole
photodiode array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012260067A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6068955B2 (ja
JP2014107446A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2012260067A external-priority patent/JP6068955B2/ja
Priority to JP2012260067A priority Critical patent/JP6068955B2/ja
Priority to DE112013005685.2T priority patent/DE112013005685T5/de
Priority to PCT/JP2013/081801 priority patent/WO2014084215A1/ja
Priority to US14/646,406 priority patent/US10461115B2/en
Priority to CN201380050908.7A priority patent/CN104685631B/zh
Priority to TW102143589A priority patent/TWI589028B/zh
Publication of JP2014107446A publication Critical patent/JP2014107446A/ja
Publication of JP2014107446A5 publication Critical patent/JP2014107446A5/ja
Publication of JP6068955B2 publication Critical patent/JP6068955B2/ja
Application granted granted Critical
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (6)

  1. 半導体基板に形成された複数のフォトダイオードを備えるフォトダイオードアレイであって、
    前記フォトダイオードのそれぞれは、
    前記半導体基板に設けられた第1導電型の第1半導体領域と、
    所定領域を囲むように前記第1半導体領域に対して前記半導体基板の一方の面側に設けられ、前記第1半導体領域と共に光検出領域を構成する第2導電型の第2半導体領域と、
    前記第1半導体領域及び前記所定領域を通るように前記一方の面と前記半導体基板の他方の面との間を貫通する貫通孔内に設けられ、前記第2半導体領域と電気的に接続された貫通電極と、を有し、
    前記貫通孔は、前記一方の面から前記他方の面に向かって拡がった部分を含んでいる、フォトダイオードアレイ。
  2. 前記所定領域には、前記貫通孔が通り前記第1半導体領域の不純物濃度よりも高い不純物濃度を有する前記第1導電型の第3半導体領域が存在し、
    前記第2半導体領域と前記第3半導体領域とは、離間しており、
    前記第2半導体領域と前記第3半導体領域との間には、前記第3半導体領域を囲むように前記第1半導体領域の一部が存在している、請求項1記載のフォトダイオードアレイ。
  3. 記第3半導体領域の内縁と外縁との間隔は、前記第3半導体領域の外縁と前記第2半導体領域の内縁との間隔よりも大きい、請求項2記載のフォトダイオードアレイ。
  4. 前記第2半導体領域の内縁は、前記半導体基板の厚さ方向から見た場合に、前記他方の面側の前記貫通孔の開口を囲んでいる、請求項1〜3のいずれか一項記載のフォトダイオードアレイ。
  5. 前記フォトダイオードのそれぞれは、前記一方の面上に形成され、前記第2半導体領域と前記貫通電極とを電気的に接続させるコンタクト電極を含んでおり、
    前記コンタクト電極の外縁は、前記半導体基板の厚さ方向から見た場合に、前記他方の面側の前記貫通孔の開口を囲んでいる、請求項1〜4のいずれか一項記載のフォトダイオードアレイ。
  6. 前記一方の面側の前記貫通孔の開口は、円形状を呈している、請求項1〜5のいずれか一項記載のフォトダイオードアレイ。
JP2012260067A 2012-11-28 2012-11-28 フォトダイオードアレイ Active JP6068955B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012260067A JP6068955B2 (ja) 2012-11-28 2012-11-28 フォトダイオードアレイ
CN201380050908.7A CN104685631B (zh) 2012-11-28 2013-11-26 光电二极管阵列
PCT/JP2013/081801 WO2014084215A1 (ja) 2012-11-28 2013-11-26 フォトダイオードアレイ
US14/646,406 US10461115B2 (en) 2012-11-28 2013-11-26 Photodiode array
DE112013005685.2T DE112013005685T5 (de) 2012-11-28 2013-11-26 Fotodiodenanordnung
TW102143589A TWI589028B (zh) 2012-11-28 2013-11-28 Photo diode array

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012260067A JP6068955B2 (ja) 2012-11-28 2012-11-28 フォトダイオードアレイ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014107446A JP2014107446A (ja) 2014-06-09
JP2014107446A5 true JP2014107446A5 (ja) 2015-09-10
JP6068955B2 JP6068955B2 (ja) 2017-01-25

Family

ID=50827851

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012260067A Active JP6068955B2 (ja) 2012-11-28 2012-11-28 フォトダイオードアレイ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10461115B2 (ja)
JP (1) JP6068955B2 (ja)
CN (1) CN104685631B (ja)
DE (1) DE112013005685T5 (ja)
TW (1) TWI589028B (ja)
WO (1) WO2014084215A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015061041A (ja) * 2013-09-20 2015-03-30 株式会社東芝 放射線検出器および放射線検出装置
EP3651213A4 (en) 2017-08-09 2020-05-20 Kaneka Corporation PHOTOELECTRIC CONVERSION ELEMENT AND PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE
JP7110210B2 (ja) 2017-09-13 2022-08-01 株式会社カネカ 光電変換素子および光電変換装置
JP7163306B2 (ja) 2017-11-15 2022-10-31 株式会社カネカ 光電変換装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6541755B1 (en) * 1998-11-25 2003-04-01 Ricoh Company, Ltd. Near field optical probe and manufacturing method thereof
JP2001318155A (ja) * 2000-02-28 2001-11-16 Toshiba Corp 放射線検出器、およびx線ct装置
GB2392307B8 (en) 2002-07-26 2006-09-20 Detection Technology Oy Semiconductor structure for imaging detectors
JP2004057507A (ja) * 2002-07-29 2004-02-26 Toshiba Corp X線検出装置、貫通電極の製造方法及びx線断層撮影装置
JP4440554B2 (ja) * 2002-09-24 2010-03-24 浜松ホトニクス株式会社 半導体装置
US6853046B2 (en) * 2002-09-24 2005-02-08 Hamamatsu Photonics, K.K. Photodiode array and method of making the same
EP2768025B1 (en) 2002-09-24 2016-01-06 Hamamatsu Photonics K. K. Photodiode array
JP4220808B2 (ja) * 2003-03-10 2009-02-04 浜松ホトニクス株式会社 ホトダイオードアレイおよびその製造方法並びに放射線検出器
US7057254B2 (en) * 2003-05-05 2006-06-06 Udt Sensors, Inc. Front illuminated back side contact thin wafer detectors
US7655999B2 (en) * 2006-09-15 2010-02-02 Udt Sensors, Inc. High density photodiodes
US7656001B2 (en) * 2006-11-01 2010-02-02 Udt Sensors, Inc. Front-side illuminated, back-side contact double-sided PN-junction photodiode arrays
US20050275750A1 (en) * 2004-06-09 2005-12-15 Salman Akram Wafer-level packaged microelectronic imagers and processes for wafer-level packaging
GB2449853B (en) * 2007-06-04 2012-02-08 Detection Technology Oy Photodetector for imaging system
US7791159B2 (en) * 2007-10-30 2010-09-07 Panasonic Corporation Solid-state imaging device and method for fabricating the same
JP4808760B2 (ja) * 2008-11-19 2011-11-02 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器の製造方法
JP5709435B2 (ja) * 2010-08-23 2015-04-30 キヤノン株式会社 撮像モジュール及びカメラ
JP5791461B2 (ja) * 2011-10-21 2015-10-07 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
JP6068954B2 (ja) * 2012-11-28 2017-01-25 浜松ホトニクス株式会社 フォトダイオードアレイ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2731137A3 (en) Light emitting device
WO2016064134A3 (en) Light emitting device and method of fabricating the same
EP2879189A3 (en) Solar cell and method of manufacturing the same
JP2015173289A5 (ja)
JP2015122525A5 (ja)
JP2014096591A5 (ja)
WO2014197370A3 (en) Sensor package with exposed sensor array and method of making same
EP2538462A3 (en) Light emitting device module
JP2013135234A5 (ja)
JP2013211537A5 (ja)
JP2014515560A5 (ja)
JP2014022561A5 (ja)
EP2421057A3 (en) Solar cell
JP2011003608A5 (ja)
JP2012253318A5 (ja)
JP2020526004A5 (ja)
JP2015153787A5 (ja)
JP2014131041A5 (ja)
JP2015201557A5 (ja)
JP2016012707A5 (ja)
JP2014150257A5 (ja)
JP2012049545A5 (ja)
JP2014107446A5 (ja)
JP2015103606A5 (ja)
JP2012238850A5 (ja)