JP2014092630A - 光走査装置および製造方法 - Google Patents

光走査装置および製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014092630A
JP2014092630A JP2012242069A JP2012242069A JP2014092630A JP 2014092630 A JP2014092630 A JP 2014092630A JP 2012242069 A JP2012242069 A JP 2012242069A JP 2012242069 A JP2012242069 A JP 2012242069A JP 2014092630 A JP2014092630 A JP 2014092630A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
support
rotation axis
piezoelectric
scanning device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012242069A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5853933B2 (ja
Inventor
Koichi Oyama
浩市 大山
Hideaki Nishikawa
英昭 西川
Akio Tsuge
明夫 柘植
Hiroyuki Wado
弘幸 和戸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2012242069A priority Critical patent/JP5853933B2/ja
Publication of JP2014092630A publication Critical patent/JP2014092630A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5853933B2 publication Critical patent/JP5853933B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

【課題】圧電アクチュエータを薄くすることなくその変位を大きくする
【解決手段】光走査装置は、光ビームを反射させる反射面を有するミラーと、ミラーを捻り振動させるための回転軸kとなる弾性連結部と、回転軸kを中心にしてミラーを捻り振動させるための駆動力を発生させる圧電ユニモルフ4xとを備える。また圧電ユニモルフ4xが、圧電膜層31を上部電極層32と下部電極層33との間で挟んで形成された駆動層23と、駆動層23を支持する支持層21とを、回転軸kに対して垂直な方向に沿って積層して構成され、さらに圧電ユニモルフ4xは、一端が固定端として固定されており、上部電極層32と下部電極層33との間に電圧が印加されることで屈曲して、他端が自由端として変位するように構成されている。そして支持層21には、深さが支持層21の厚さと同一の凹部41,42,43,44が形成されている。
【選択図】図2

Description

本発明は、光ビームを走査する光走査装置および製造方法に関する。
近年、光走査装置の小型化を目的として、MEMS(Micro Electro Mechanical System)技術を利用した光走査装置が種々提案されている。
これに対して本願出願人は、反射面が表面に形成された第3フレームと、第3フレームに対し所定の隙間を介して設けられた第2フレームと、第2フレームに対し所定の隙間を介して設けられた第1フレームと、第1フレームに対し所定の隙間を介して設けられた第0フレームとを備え、さらに、第3フレームと第2フレームと第1フレームとをそれぞれの回転軸を中心に捻り振動可能に構成されることで、3自由度連成振動系を構成した光走査装置を提案している(例えば、特許文献1を参照)。
このように構成された光走査装置では、第1フレームに固有の周期的加振力を作用させることにより、3自由度捻り振動子を共振状態にできる。そして、第2フレームと第3フレームそれぞれの振動に対応した周期的加振力を重畳して与えることにより、第2フレームと第3フレームをそれぞれ異なる周波数および振幅で振動させ、さらに第3フレームの反射面で光を反射させることで、光を2次元走査することができる。
ところで、第1フレームに固有の周期的加振力を作用させるための駆動部として、圧電アクチュエータを用いることが可能である。この圧電アクチュエータは、圧電膜層を第1電極層と第2電極層との間で挟んで形成された駆動層と、駆動層を支持する支持層とを積層して構成されており、圧電アクチュエータの長さに比例して変位を大きくすることができる(例えば、特許文献2を参照)。
特開2008−129068号公報 特開2008−40240号公報
しかし、光走査装置の上記駆動部として用いられる圧電アクチュエータを長くすると、光走査装置の面積が大きくなり、MEMS技術を利用する利点が損なわれる可能性がある。これに対して、上記支持層を薄くすることによって、圧電アクチュエータを長くすることなく圧電アクチュエータの変位を大きくすることが可能である。
しかし、特許文献1に記載の光走査装置に上記の圧電アクチュエータを用いる場合には、第1フレームを捻り振動可能に支持する回転軸となる弾性変形部材と、圧電アクチュエータの支持層とを、シリコン基板を用いて形成する必要がある。すなわち、圧電アクチュエータの支持層を薄くする場合には、上記弾性変形部材も同様に薄くなる。そして、上記弾性変形部材が薄くなると、上記弾性変形部材の厚さの加工誤差は一般に大きくなる。これにより、光走査装置の共振周波数が設計値から大きくずれてしまい、所望の走査特性が得られなくなる可能性がある。これは、3自由度捻り振動子の共振周波数が上記弾性変形部材のバネ定数に応じて変化し、このバネ定数が上記弾性変形部材の厚さに依存することに起因している。
本発明は、こうした問題に鑑みてなされたものであり、圧電アクチュエータを薄くすることなくその変位を大きくすることができる技術を提供することを目的とする。
上記目的を達成するためになされた請求項1に記載の光走査装置は、光ビームを反射させる反射面を有する反射部と、反射部を捻り振動させるための第1回転軸となる第1弾性変形部材とを備え、第1回転軸を中心にして反射部を揺動させることにより、反射面により反射された光ビームを走査する光走査装置である。
ところで、第1弾性変形部材を回転軸として反射部を捻り振動させる場合の共振周波数fは、下式(1)で表される。
なお式(1)において、kは第1弾性変形部材のバネ定数、Jは反射部の慣性モーメントである。
そして、第1弾性変形部材のバネ定数kは、下式(2)で表される。
なお式(2)において、βは、第1弾性変形部材の断面の形状から決まる係数である。また、aは、第1弾性変形部材の断面の長辺の長さである。また、bは、第1弾性変形部材の断面の短辺の長さである。また、Eはヤング率(横弾性係数)である。また、νはポアソン比である。また、lは第1弾性変形部材の長さである。
したがって、第1弾性変形部材を薄くすると(すなわち、第1弾性変形部材の断面の短辺の長さbを小さくすると)、第1弾性変形部材のバネ定数kが低下し、これにより共振周波数fが低下する。
また請求項1に記載の光走査装置では、駆動部が、圧電膜層を第1電極層と第2電極層との間で挟んで形成された駆動層と、駆動層を支持する支持層とを、第1回転軸に対して垂直な方向に沿って積層して構成され、さらに駆動部は、一端が固定端として固定されており、第1電極層と第2電極層との間に電圧が印加されることで屈曲して、他端が自由端として変位するように構成されている。
電圧Vを印加したときの駆動部の変位δは、下式(3)で表される。
なお式(3)において、tsは支持層の厚さ、tpは圧電膜層の厚さ、Ysは支持層のヤング率、Ypは圧電膜層のヤング率、lは圧電ユニモルフ4の固定端から自由端に向かう方向に沿った長さである。また、圧電体の物性値の一つである圧電定数d31は、圧電体に電圧が印加されたときの電極対向面に沿った伸縮のし易さを示す値であり、温度が高くなるほど、圧電定数d31の値が大きくなることが知られている。
したがって、支持層の厚さtsを薄くするほど駆動部の変位δを大きくすることができる。すなわち、支持層を薄くすることは、支持層と駆動層とが積層される方向(以下、積層方向という)への曲げ剛性を下げることと等価である。
そして、請求項1に記載の光走査装置では、支持層には、深さが支持層の厚さと同一の凹部が複数形成されている。このように、支持層に複数の凹部を設けることにより、支持層の積層方向への曲げ剛性を下げることができる。これにより、支持層を薄くすることなく、駆動部の変位を大きくすることができる。
また、請求項9に記載の製造方法では、第1形成工程で、第1シリコン基板の一方の面側からエッチングすることにより凹部を形成し、張合工程で、第1シリコン基板の一方の面側で、第1シリコン基板と第2シリコン基板とを張り合わせ、第2形成工程で、第1シリコン基板の他方の面側に駆動部を形成し、第3形成工程で、第1シリコン基板の他方の面側からエッチングすることにより反射部および第1弾性変形部材を形成し、第4形成工程で、第1シリコン基板と第2シリコン基板とが張り合わされた面を張合面として、第2シリコン基板の張合面と反対側の面側からエッチングすることにより、反射部が捻り振動することができる空間を形成する。
このように構成された光走査装置の製造方法では、請求項1に記載のように凹部が形成されている駆動部を備えた光走査装置を製造することができるため、請求項1に記載の光走査装置と同様の効果を奏する。
光走査装置1の構成を示す平面図である。 第1実施形態の圧電ユニモルフ4xの側面図および底面図である。 第1実施形態の光走査装置1の製造工程の前半部分を示す断面図である。 第1実施形態の光走査装置1の製造工程の後半部分を示す断面図である。 第2実施形態の圧電ユニモルフ4xの底面図である。 圧電ユニモルフ4xで発生するノッチNCを示す平面図である。 第3実施形態の圧電ユニモルフ4xの底面図である。 変位δと(L2/L3)との関係を示すグラフである。 点Paでの変位δを説明する図である。 点Pbでの変位δを説明する図である。 第4実施形態の圧電ユニモルフ4xの底面図である。 第5実施形態の圧電ユニモルフ4xの側面図および底面図である。 第6実施形態における光走査装置1の断面図とミラー13の底面図である。 第2実施形態に関する別の実施形態の圧電ユニモルフ4xの底面図である。 第3実施形態に関する別の実施形態の圧電ユニモルフ4xの底面図である。 第4実施形態に関する別の実施形態の圧電ユニモルフ4xの底面図である。 第4実施形態に関する別の実施形態の圧電ユニモルフ4xの平面図および側面図である。 第5実施形態に関する別の実施形態の圧電ユニモルフ4xの底面図である。 光走査装置401の構成を示す平面図である。
(第1実施形態)
以下に本発明の第1実施形態を図面とともに説明する。
光走査装置1は、図1に示すように、光ビームを走査する光ビーム走査部2と、光ビーム走査部2を支持する支持部3と、光ビーム走査部2を回転駆動させる駆動部4とを備える。
光ビーム走査部2は、外ジンバル11と内ジンバル12とミラー13と弾性連結部14a,14bと弾性連結部15a,15bと弾性連結部16a,16bとから構成される。
これらのうちミラー13は、円形状であり、アルミ薄膜の鏡面部が表面に形成される。
また内ジンバル12は、矩形枠状であり、枠内にミラー13が配置される。また外ジンバル11は、矩形枠状であり、枠内に内ジンバル12が配置される。
また弾性連結部16aは、弾性変形可能な材料で構成されており、内ジンバル12の枠内に配置され、ミラー13と内ジンバル12とを連結する。また弾性連結部16bは、弾性変形可能な材料で構成されており、内ジンバル12の枠内に配置され、ミラー13を挟んで弾性連結部16aと反対側において、ミラー13と内ジンバル12とを連結する。なお、弾性連結部16aおよび弾性連結部16bは、ミラー13の重心JSを通る同一直線上に配置されており、ミラー13の回転軸kとなる。これによりミラー13は、回転軸kを中心に捻り振動可能に構成される。
また弾性連結部15aは、弾性変形可能な材料で構成されており、外ジンバル11の枠内に配置され、内ジンバル12と外ジンバル11とを連結する。また弾性連結部15bは、弾性変形可能な材料で構成されており、外ジンバル11の枠内に配置され、内ジンバル12を挟んで弾性連結部15aと反対側において、内ジンバル12と外ジンバル11とを連結する。なお、弾性連結部15aおよび弾性連結部15bは、ミラー13と内ジンバル12との重心JSを通る同一直線上に配置されており、ミラー13の回転軸jとなる。これにより内ジンバル12は、回転軸jを中心に捻り振動可能に構成される。
また弾性連結部14aは、弾性変形可能な材料で構成されており、外ジンバル11の上辺11aと支持部3とを連結する。また弾性連結部14bは、弾性変形可能な材料で構成されており、外ジンバル11を挟んで弾性連結部14aと反対側において、外ジンバル11の下辺11bと支持部3とを連結する。なお、弾性連結部14aおよび弾性連結部14bは、ミラー13と内ジンバル12と外ジンバル11との重心JSを通る同一直線上に配置されており、外ジンバル11の回転軸iとなる。これにより外ジンバル11は、回転軸iを中心に捻り振動可能に構成される。
次に支持部3は、上辺11aと連結されていない側の弾性連結部14aの端部と連結される上側支持部3aと、下辺11bと連結されていない側の弾性連結部14bの端部と連結される下側支持部3bと、駆動部4を支持する左側支持部3cおよび右側支持部3dとから構成される。
さらに駆動部4は、圧電ユニモルフ4a,4b,4c,4dから構成される。圧電ユニモルフ4a,4b,4c,4dは、矩形板状に形成されており、その長手方向が回転軸iに直交するように配置される。
そして圧電ユニモルフ4aは、その長手方向の一端が左側支持部3cに固定され、他端が外ジンバル11の上辺11aに連結される。圧電ユニモルフ4bは、その長手方向の一端が左側支持部3cに固定され、他端が外ジンバル11の下辺11bに連結される。圧電ユニモルフ4cは、その長手方向の一端が右側支持部3dに固定され、他端が外ジンバル11の上辺11aに連結される。圧電ユニモルフ4dは、その長手方向の一端が右側支持部3dに固定され、他端が外ジンバル11の下辺11bに連結される。
これにより、圧電ユニモルフ4a,4b,4c,4dは、電圧が印加されると、外ジンバル11に連結されている側の端部が曲げ変位し、回転軸iを中心にして回転する方向に沿って外ジンバル11を移動させることができる。
そして、圧電ユニモルフ4aと圧電ユニモルフ4bとが同位相で曲げ振動するとともに圧電ユニモルフ4cと圧電ユニモルフ4dとが同位相で曲げ振動するように且つ圧電ユニモルフ4a,4bと圧電ユニモルフ4c,4dとが逆位相で曲げ振動するように、圧電ユニモルフ4a,4b,4c,4dへの電圧印加が制御される。これにより、外ジンバル11が回転軸iを中心にして回転振動する。そして、外ジンバル11を所定の共振周波数で振動させることにより、以下に説明する動作原理に基づいて、ミラー13で反射する光ビームを2次元的に走査することができる。
次に、光走査装置1の動作原理を説明する。
光走査装置1は、支持部3を固定端として、回転軸i,j,kに対しての捻り自由度を持つ3自由度捻り振動子になっている。
3自由度捻り振動子は、理論上3つの振動モードを持つ。すなわち、3つの振動モードはそれぞれ異なる共振周波数を持ち、各共振周波数に対する各フレームの捻り振動の角度振幅の比はそれぞれ異なる(これは振動モードと呼ばれる)。以下、これら3つの振動モードをそれぞれ、振動モード1、振動モード2、振動モード3という。
そして、振動モード1、振動モード2、振動モード3の各々に対応した周波数の周期的加振力を与えれば、それぞれの振動モードを励振できる。また、複数の周波数の周期的加振力を重畳して与えれば、複数の振動モードを同時に励振できる。
ここで、例えば、
振動モード1の共振周波数f1を1000Hz、
振動モード2の共振周波数f2を5000Hz、
振動モード3の共振周波数f3を40000Hz、
振動モード1における外ジンバル11、内ジンバル12、ミラー13の振幅比r1を「1:−20:0.5」、
振動モード2における外ジンバル11、内ジンバル12、ミラー13の振幅比r2を「1:0.5:−0.1」、
振動モード3における外ジンバル11、内ジンバル12、ミラー13の振幅比r3を「1:0.01:−30」、
として設計した場合の、3自由度捻り振動子の動作を説明する。
尚、各振動モードにおける振幅比は、左から外ジンバル11、内ジンバル12、ミラー13の順で記述している。例えば、上記の振幅比r1は、外ジンバル11の振幅が「1」とすると、内ジンバル12の振幅が「−20」、ミラー13の振幅が「0.5」となることを示す。
また、3自由度捻り振動子の共振状態においては、理論上、各フレーム間の位相角は0度または180度となる。そこで、振幅比を記述する際に、位相角の差が0度の場合は符号を「+」、180度の場合は符号を「−」とする。例えば、上記の振幅比r1は、外ジンバル11とミラー13との位相角の差が0度となり、外ジンバル11と内ジンバル12との位相角の差が180度となることを示す。
そして、各振動モードの共振周波数と振幅比を上記のように設計すると、振動モード1では、主に内ジンバル12が1000Hzで大きく捻り振動する。また、振動モード3では、主にミラー13が40000Hzで大きく捻り振動する。
このため、ミラー13の鏡面部分でレーザ光を反射させるとともに、振動モード1と振動モード3とを同時に励振させることにより、振動モード3を主走査方向(40000Hz)、振動モード1を副走査方向(1000Hz)として、2次元的にレーザ光を走査することができる。
次に、圧電ユニモルフ4a,4b,4c,4dの構成を説明する。以下、圧電ユニモルフ4a,4b,4c,4dを代表した1個の圧電ユニモルフを圧電ユニモルフ4xという。
図2(a)は圧電ユニモルフ4xの側面図、図2(b)は圧電ユニモルフ4xの底面図である。また図2(c)は、圧電ユニモルフ4xの変位した状態を示す側面図である。
圧電ユニモルフ4xは、図2(a)に示すように、シリコンを材料として形成された支持層21と、酸化膜層(本実施形態では酸化シリコン)22と、圧電膜層31(本実施形態では、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT))を上部電極層32と下部電極層33とで挟んで形成された駆動層23とが順に積層方向D1に沿って積層されて構成されている。
また支持層21には、図2(a),(b)に示すように、複数(本実施形態では4個)の凹部41,42,43,44が設けられている。
凹部41,42,43,44は、図2(a)に示すように、支持層21を積層方向D1に沿って貫通している。すなわち、凹部41,42,43,44の深さは支持層21の厚さと同じである。さらに凹部41,42,43,44は、図2(b)に示すように、矩形板状に形成されている圧電ユニモルフ4xの短手方向D2に沿って支持層21を貫通している。したがって、凹部41,42,43,44の断面は、圧電ユニモルフ4xの短手方向D2に沿った長さL1(以下、縦方向長さL1という)が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さに等しい矩形状である。
そして凹部41,42,43,44は、圧電ユニモルフ4xの長手方向D3に沿った長さL2(以下、横方向長さL2という)が互いに等しくなるように形成されており、圧電ユニモルフ4xの長手方向D3に沿って等間隔に配置されている。
そして、図2(c)に示すように電圧Vを印加したときの圧電ユニモルフ4xの変位δは、下式(3)で表される。
なお式(3)において、tsは支持層21の厚さ、tpは圧電膜層31の厚さ、Ysは支持層21のヤング率、Ypは圧電膜層31のヤング率、lは圧電ユニモルフ4xの長手方向の長さである。また、圧電体の物性値の一つである圧電定数d31は、圧電体に電圧が印加されたときの電極対向面に沿った伸縮のし易さを示す値であり、温度が高くなるほど、圧電定数d31の値が大きくなることが知られている。
次に、光走査装置1の製造方法を図3および図4を用いて説明する。
光走査装置1を製造するために、まず図3(a)に示すように、シリコン基板100に対して熱酸化処理を行う。これにより、シリコン基板100の表面に熱酸化膜110が形成されるとともに、シリコン基板100の裏面にも熱酸化膜120が形成される。
そして図3(b)に示すように、シリコン基板100の裏面側において凹部41,42,43,44が形成される部分に、トレンチ121を形成する。なおトレンチ121は、熱酸化膜120とシリコン基板100を貫通する。
次に図3(c)に示すように、シリコン基板100の裏面側となる熱酸化膜120と、裏面に熱酸化膜130が形成されたシリコン基板140の表面とが接触するようにして、シリコン基板140をシリコン基板100に張り合わせる。
そして、熱酸化膜110上にTi/Pt層150を堆積し、さらにTi/Pt層150上にPZT層160を堆積し、その後にパターニングする。これにより、図3(d)に示すように、トレンチ121の上方に圧電ユニモルフ4xの圧電膜層31と下部電極層33が形成される。
さらに、Ti/Au層170を堆積しパターニングする。これにより、図3(e)に示すように、圧電ユニモルフ4xの上部電極層32と、ミラー13の鏡面部175が形成される。
そして図3(f)に示すように、光走査装置1の隙間に対応する領域(図3(f)では、弾性連結部14aまたは弾性連結部14bと圧電ユニモルフ4xとの間の隙間)のシリコン基板100と熱酸化膜110をDRIEによりエッチングする。
その後、図4(a)に示すように、シリコン基板140の裏面の熱酸化膜130のうち光ビーム走査部2と駆動部4に対応する領域をエッチングにより除去し、その後、除去されなかった熱酸化膜130をマスクとしてシリコン基板140をエッチングすることにより、シリコン基板140に凹部180が形成される。
また図4(b)に示すように、熱酸化膜120のうち凹部180の領域と、シリコン基板140の裏面の熱酸化膜130をエッチングにより除去する。これにより、光走査装置1は、光ビーム走査部2が回転可能となるように構成されるとともに、圧電ユニモルフ4xに凹部41,42,43,44が形成される。
このように構成された光走査装置1は、光ビームを反射させる反射面を有するミラー13と、ミラー13を捻り振動させるための回転軸kとなる弾性連結部16a,16bと、回転軸kを中心にしてミラー13を捻り振動させるための駆動力を発生させる圧電ユニモルフ4xとを備え、回転軸kを中心にしてミラー13を揺動させることにより、反射面により反射された光ビームを走査する。
ところで、弾性連結部16a,16bを回転軸としてミラー13を捻り振動させる場合の共振周波数fは、下式(1)で表される。
なお式(1)において、kは弾性連結部16a,16bのバネ定数、Jはミラー13の慣性モーメントである。
そして、弾性連結部16a,16bのバネ定数kは、下式(2)で表される。
なお式(2)において、βは、弾性連結部16a,16bの断面の形状から決まる係数である。また、aは、弾性連結部16a,16bの断面の長辺の長さである。また、bは、弾性連結部16a,16bの断面の短辺の長さである。また、Eはヤング率(横弾性係数)である。また、νはポアソン比である。また、lは弾性連結部16a,16bの長さである。
したがって、弾性連結部16a,16bを薄くすると(すなわち、弾性連結部16a,16bの断面の短辺の長さbを小さくすると)、弾性連結部16a,16bのバネ定数kが低下し、これにより共振周波数fが低下する。
また光走査装置1では、圧電ユニモルフ4xが、圧電膜層31を上部電極層32と下部電極層33との間で挟んで形成された駆動層23と、駆動層23を支持する支持層21とを、回転軸kに対して垂直な方向に沿って積層して構成され、さらに圧電ユニモルフ4xは、一端が固定端として固定されており、上部電極層32と下部電極層33との間に電圧が印加されることで屈曲して、他端が自由端として変位するように構成されている。
電圧Vを印加したときの圧電ユニモルフ4xの変位δは、下式(3)で表される。
なお式(3)において、tsは支持層21の厚さ、tpは圧電膜層31の厚さ、Ysは支持層21のヤング率、Ypは圧電膜層31のヤング率、lは圧電ユニモルフ4xの長手方向D3に沿った長さである。また、圧電体の物性値の一つである圧電定数d31は、圧電体に電圧が印加されたときの電極対向面に沿った伸縮のし易さを示す値であり、温度が高くなるほど、圧電定数d31の値が大きくなることが知られている。
したがって、支持層21の厚さtsを薄くするほど圧電ユニモルフ4xの変位δを大きくすることができる。すなわち、支持層21を薄くすることは、積層方向D1への曲げ剛性を下げることと等価である。
そして、光走査装置1では、支持層21には、深さが支持層21の厚さと同一の凹部41,42,43,44が形成されている。このように、支持層21に凹部41,42,43,44を設けることにより、支持層21の積層方向D1への曲げ剛性を下げることができる。これにより、支持層21を薄くすることなく、圧電ユニモルフ4xの変位δを大きくすることができる。
また圧電膜層31は、一般に利用されている圧電体のなかで圧電定数d31が最も大きいチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)からなるため、圧電ユニモルフ4xによるミラー13の変位量を大きくすることができる。
また、シリコン基板100の一方の面側からエッチングすることにより凹部41,42,43,44を形成し(図3(a)および図3(b)を参照)、シリコン基板100の一方の面側で、シリコン基板100とシリコン基板140とを張り合わせ(図3(c)を参照)、シリコン基板100の他方の面側に圧電ユニモルフ4xを形成し(図3(d)および図3(e)を参照)、シリコン基板100の他方の面側からエッチングすることによりミラー13および弾性連結部16a,16bを形成し(図3(f)を参照)、シリコン基板140の張合面と反対側の面側からエッチングすることにより、ミラー13が捻り振動することができる凹部180を形成する(図4(a)および図4(b)を参照)ことにより、深さが支持層21の厚さと同一の凹部41,42,43,44が支持層21に形成された光走査装置1が製造される。これにより、支持層21を薄くすることなく、圧電ユニモルフ4xの変位δを大きくすることができる。
以上説明した実施形態において、ミラー13は本発明における反射部、回転軸kは本発明における第1回転軸、弾性連結部16a,16bは本発明における第1弾性変形部材、圧電ユニモルフ4a,4b,4c,4dは本発明における駆動部、上部電極層32は本発明における第1電極層、下部電極層33は本発明における第2電極層である。
また、内ジンバル12は本発明における第1支持部、弾性連結部15a,15bは本発明における第2弾性変形部材、回転軸jは本発明における第2回転軸、外ジンバル11は本発明における第2支持部、弾性連結部14a,14bは本発明における第3弾性変形部材、回転軸iは本発明における第3回転軸、支持部3は本発明における第3支持部である。
また、図3(a)の状態から図3(b)の状態にする処理は本発明における第1形成工程、図3(b)の状態から図3(c)の状態にする処理は本発明における張合工程、図3(c)の状態から図3(e)の状態にする処理は本発明における第2形成工程、図3(e)の状態から図3(f)の状態にする処理は本発明における第3形成工程、図3(f)の状態から図4(b)の状態にする処理は本発明における第4形成工程、シリコン基板100は本発明における第1シリコン基板、シリコン基板140は本発明における第2シリコン基板である。
(第2実施形態)
以下に本発明の第2実施形態について図面とともに説明する。なお第2実施形態では、第1実施形態と異なる部分を説明する。
第2実施形態における光走査装置1は、圧電ユニモルフ4xの構成が変更された点以外は第1実施形態と同じである。
そして第2実施形態の圧電ユニモルフ4xは、図5に示すように、凹部41,42,43,44の代わりに凹部51,52,53,54が形成されている点以外は第1実施形態と同じである。
凹部51,52,53,54は、その縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さより短い点以外は凹部41,42,43,44と同じである。
そして凹部51,52,53,54は、その断面の矩形を形成する四辺の全てが圧電ユニモルフ4xの内部に配置されている。すなわち凹部51,52,53,54は、凹部41,42,43,44と異なり、矩形板状に形成されている圧電ユニモルフ4xの長辺と交差しておらず、四角孔状に形成されている。
このように構成された光走査装置1では、凹部51,52,53,54の短手方向D2に沿った長さ(縦方向長さL1)が、支持層21の短手方向D2に沿った長さよりも短い。
これにより、凹部を形成するときに凹部が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2にずれることにより、図6に示すように、矩形板状に形成されている圧電ユニモルフ4xの長辺と凹部とが交差してしまうという事態(図6における破線の長方形を参照)の発生を抑制することができる。このため、圧電ユニモルフ4x内における凹部の領域が減少することと、圧電ユニモルフ4xにノッチNCが発生することを抑制することができる。
これにより、圧電ユニモルフ4xの曲げ剛性が設計値からずれたり圧電ユニモルフ4xの変位が設計値からずれたりすることを抑制することができるとともに、ノッチNCを起点とする破壊を抑制することができる。
以上説明した実施形態において、圧電ユニモルフ4xの長手方向D3は本発明における第1方向、圧電ユニモルフ4xの短手方向D2は本発明における第2方向である。
(第3実施形態)
以下に本発明の第3実施形態について図面とともに説明する。なお第3実施形態では、第2実施形態と異なる部分を説明する。
第3実施形態における光走査装置1は、圧電ユニモルフ4xの構成が変更された点以外は第2実施形態と同じである。
そして第3実施形態の圧電ユニモルフ4xは、図7に示すように、凹部51,52,53,54の代わりに凹部61,62が形成されている点以外は第2実施形態と同じである。
凹部61,62は、凹部51,52,53,54と同様に、縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さより短く、凹部61,62の断面の矩形を形成する四辺の全てが圧電ユニモルフ4xの内部に配置されている。
また凹部61,62は、凹部の横方向長さL2と隣り合う凹部間の間隔との和をL3として、L2がL3の0.8〜0.9倍となるように配置されている。
このように構成された光走査装置1では、圧電ユニモルフ4xを効率良く変位させることができる。この理由を以下に説明する。
図8は、圧電ユニモルフ4xの変位δと(L2/L3)との関係を圧電膜層31の厚さtp毎に示すグラフである。図8では、圧電膜層31の厚さtpが1.5μm(曲線CL1を参照),3μm(曲線CL2を参照),4.5μm(曲線CL3を参照)である場合のシミュレーション結果を示す。
図8に示すように、圧電膜層31の厚さtpに関わらず、(L2/L3)が大きくなるにつれて変位δが大きくなり、(L2/L3)が0.8〜09である場合に変位δが最大値あるいは最大値近傍の大きさとなる。さらに、(L2/L3)が0.9を超えると、(L2/L3)が大きくなるにつれて変位δが小さくなる。
図9(a)は、図8のグラフにおける曲線CL1の拡大図である。図9(b)は、図9(a)の点Paにおける変位δを示す圧電ユニモルフ4xの斜視図である。図9(c)は、図9(b)の圧電ユニモルフ4xについて長手方向長さと変位δとの関係を示すグラフである。なお、図9(a)で示す点Paは、変位δが最大となる点である。
図9(b)の斜視図と図9(c)の曲線CL11に示すように、圧電ユニモルフ4xの固定端E1からの距離(圧電ユニモルフ4xの長手方向長さ)が長くなるほど変位δが大きくなり、自由端E2で変位δが最大となっている。
さらに、図10(a)は、図8のグラフにおける曲線CL1の拡大図である。図10(b)は、図10(a)の点Pbにおける変位δを示す圧電ユニモルフ4xの斜視図である。図10(c)は、図10(b)について、圧電ユニモルフ4xの長手方向長さと変位δとの関係を示すグラフである。なお、図10(a)で示す点Pbは、点Paよりも(L2/L3)が大きくなる点である。
図10(b)の斜視図と図10(c)の曲線CL12に示すように、圧電ユニモルフ4xの固定端E1からの距離(圧電ユニモルフ4xの長手方向長さ)が長くなるほど変位δが大きくなり、自由端E2で変位δが最大となっている。但し、図10(c)に示すように、点Pbにおける変位δ(曲線CL12を参照)は、点Paでの変位(曲線CL11を参照)と比較すると、自由端E2での変位δが小さくなる。これは、凹部61,62が形成されている領域(図10(b)の薄膜領域R1,R2を参照)で圧電ユニモルフ4xが大きく撓み、圧電ユニモルフ4xの変位に効率よく変換されないためである。
以上説明した実施形態において、凹部61は本発明における第1凹部、凹部62は本発明における第2凹部である。
(第4実施形態)
以下に本発明の第4実施形態について図面とともに説明する。なお第4実施形態では、第1実施形態と異なる部分を説明する。
第4実施形態における光走査装置1は、圧電ユニモルフ4xの構成が変更された点以外は第1実施形態と同じである。
そして第4実施形態の圧電ユニモルフ4xは、図11に示すように、凹部41,42,43,44の代わりに凹部71,72,73,74,75,76,77が形成されている点以外は第1実施形態と同じである。
凹部71,72,73,74,75,76,77は、その配置が変更された点以外は第1実施形態の凹部41,42,43,44と同じである。
すなわち、凹部71,72,73,74,75,76,77は、圧電ユニモルフ4xの長手方向D3に沿って、圧電ユニモルフ4xの固定端E1に近付くほど、隣り合う凹部間の間隔が長くなるように配置されている点以外は第1実施形態と同じである。なお固定端E1は、圧電ユニモルフ4xの矩形を構成する2つの短辺のうち、支持部3に固定される側の短辺である。
具体的には、まず、長手方向D3に沿って、固定端E1から近い順に、凹部71、凹部72、凹部73、凹部74、凹部75、凹部76、凹部77が配置されている。そして、凹部71と凹部72との間の間隔をL11、凹部72と凹部73との間の間隔をL12、凹部73と凹部74との間の間隔をL13、凹部74と凹部75との間の間隔をL14、凹部75と凹部76との間の間隔をL15、凹部76と凹部77との間の間隔をL16とすると、L11>L12>L13>L14>L15>L16の関係が成り立っている。
このように構成された光走査装置1では、固定端E1に近付くほど、凹部が形成されている領域が少なくなるため、固定端E1に近付くほど、支持層21の積層方向D1への曲げ剛性を大きくすることができる。そして、圧電ユニモルフ4xの駆動力を大きくするためには、圧電ユニモルフ4xの固定端E1に近付くほど、曲げ剛性を大きくする必要がある。
なお、圧電ユニモルフ4xの固定端E1に近付くほど曲げ剛性を大きくする方法として、図17(a)に示すように、固定端E1からの距離(長手方向D3の長さ)が長くなるほど圧電ユニモルフ4xにおける短手方向D2の長さが短くなるように形成するものが考えられる。また図17(b)に示すように、固定端E1からの距離(長手方向D3の長さ)が長くなるほど支持層21が薄くなるように形成するものが考えられる。しかし、図17(a)に示す方法では、固定端E1に近づくほど短手方向D2の長さが長くなるため、圧電ユニモルフ4xの面積が大きくなってしまい、コストが高くなってしまう。また、図17(b)に示す方法では、支持層21のエッチングを段階的に行うなどの複雑なプロセスを実施する必要があり、製造コストが高く現実的でない。
したがって光走査装置1では、コストを上げることなく、支持層21に凹部を形成することにより変位δを大きくすることができるとともに、凹部を形成することによる圧電ユニモルフ4xの駆動力の低下を抑制することができる。
(第5実施形態)
以下に本発明の第5実施形態について図面とともに説明する。なお第5実施形態では、第1実施形態と異なる部分を説明する。
第5実施形態における光走査装置1は、圧電ユニモルフ4xの構成が変更された点以外は第1実施形態と同じである。
図12(a)は圧電ユニモルフ4xの側面図、図12(b)は圧電ユニモルフ4xの底面図である。
第5実施形態の圧電ユニモルフ4xは、図12(a)および図12(b)に示すように、凹部41,42,43,44の代わりに凹部81,82,83,84,85,86が形成されている点以外は第1実施形態と同じである。
凹部81,82,83,84,85,86は、圧電ユニモルフ4xの固定端E1から遠ざかるほど、横方向長さL2が長くなるように形成されている点以外は第1実施形態の凹部41,42,43,44と同じである。なお、凹部81,82,83,84,85,86は、圧電ユニモルフ4xの長手方向D3に沿って等間隔に配置されている。
具体的には、まず、長手方向D3に沿って、固定端E1から近い順に、凹部81、凹部82、凹部83、凹部84、凹部85、凹部86が配置されている。そして、凹部81,82,83,84,85,86の横方向長さL2をそれぞれ、横方向長さL21,L22,L23,L24,L25,L26とすると、L21<L22<L23<L24<L25<L26の関係が成り立っている。
このように構成された光走査装置1では、固定端E1に近付くほど、凹部が形成されている領域が少なくなるため、固定端E1に近付くほど、支持層21の積層方向D1への曲げ剛性を大きくすることができる。そして、圧電ユニモルフ4xの駆動力を大きくするためには、圧電ユニモルフ4xの固定端E1に近付くほど、曲げ剛性を大きくする必要がある。
したがって光走査装置1では、支持層21に凹部を形成することにより変位δを大きくすることができるとともに、凹部を形成することによる圧電ユニモルフ4xの駆動力の低下を抑制することができる。
(第6実施形態)
以下に本発明の第6実施形態について図面とともに説明する。なお第6実施形態では、第1実施形態と異なる部分を説明する。
図13(a)は光走査装置1の断面図、図13(b)はミラー13の底面図である。
第6実施形態における光走査装置1は、リブ90が追加された点以外は第1実施形態と同じである。
リブ90は、図13(a)および図13(b)に示すように、円筒状に形成されており、その円筒軸がミラー13の裏面(すなわち、鏡面部が形成されている面とは反対側の面)と直交するようにしてミラー13の裏面上に配置されている。
このように構成された光走査装置1では、リブ90によりミラー13の剛性を大きくすることができる。なお、ミラー13の剛性が小さいと、製造時の初期応力およびミラー13の走査時の慣性力などによりミラー13が歪み易くなる。そして、ミラー13が歪むと、ミラー13で反射した光ビームも歪むために、光ビームの走査により形成される画像の劣化を招く。
したがって、光走査装置1では、リブ90によりミラー13の剛性を大きくすることができるために、光ビームの走査により形成される画像の劣化を抑制することができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態を採ることができる。
例えば上記第2実施形態では、凹部が矩形状であるものを示したが、図14(a)に示すように、矩形の角が丸まっている形状としてもよい。これにより、凹部の角に掛かる応力を低減することができる。また図14(b)に示すように、圧電ユニモルフ4xの短手方向D2に沿って矩形状の凹部を配置するようにしてもよい。また図14(c)に示すように、圧電ユニモルフ4xの短手方向D2に沿って凹部を配置するとともに凹部の角が丸まっているようにしてもよい。
また上記第3実施形態では、2個の凹部が形成されているものを示したが、図15(a)および図15(b)に示すように、2個より多い凹部が形成されているようにしてもよい。
また上記第4実施形態では、凹部の縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さに等しいものを示したが、図16(a)に示すように、第2実施形態と同様にして、縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さよりも短くなるようにしてもよい。また図16(b)に示すように、縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さよりも短くなるとともに矩形の角が丸まっている形状としてもよい。また図16(c)に示すように、圧電ユニモルフ4xの短手方向D2に沿って円形状の凹部を配置するようにしてもよい。

また上記第5実施形態では、凹部の縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さに等しいものを示したが、図18(a)に示すように、第2実施形態と同様にして、縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さよりも短くなるようにしてもよい。また図18(b)に示すように、縦方向長さL1が圧電ユニモルフ4xの短手方向D2の長さよりも短くなるとともに矩形の角が丸まっている形状としてもよい。また図18(c)に示すように、圧電ユニモルフ4xの短手方向D2に沿って円形状または楕円形状の凹部を配置するようにしてもよい。
また上記実施形態においては、3自由度連成振動系を構成する光走査装置1を適用したものを示したが、以下に示す光走査装置に本発明の連結変位部を適用してもよい。
光走査装置401は、図19に示すように、光ビームを走査する光ビーム走査部402と、光ビーム走査部402を支持する支持部403と、光ビーム走査部402を回転駆動させる駆動部404とを備える。
光ビーム走査部402は、ジンバル411とミラー412と弾性連結部413a,413bと弾性連結部414a,414bとから構成される。
これらのうちミラー412は、第1実施形態のミラー13と同一である。
またジンバル411は、矩形枠状であり、枠内にミラー412が配置される。
また弾性連結部414aは、弾性変形可能な材料で構成されており、ジンバル411の枠内に配置され、ミラー412とジンバル411とを連結する。また弾性連結部414bは、弾性変形可能な材料で構成されており、ジンバル411の枠内に配置され、ミラー412を挟んで弾性連結部414aと反対側において、ミラー412とジンバル411とを連結する。なお、弾性連結部414aおよび弾性連結部414bは、ミラー412の回転軸kとなる。これによりミラー412は、回転軸kを中心に捻り振動可能に構成される。
また弾性連結部413aは、弾性変形可能な材料で構成されており、ジンバル411の上辺411aと支持部403とを連結する。また弾性連結部413bは、弾性変形可能な材料で構成されており、ジンバル411を挟んで弾性連結部413aと反対側において、ジンバル411の下辺411bと支持部403とを連結する。なお、弾性連結部413aおよび弾性連結部413bは、ジンバル411の回転軸iとなる。これによりジンバル411は、回転軸iを中心に捻り振動可能に構成される。
次に支持部403は、上辺411aと連結されていない側の弾性連結部413aの端部と連結される上側支持部403aと、下辺411bと連結されていない側の弾性連結部413bの端部と連結される下側支持部403bと、駆動部4を支持する左側支持部403cおよび右側支持部403dとから構成される。
さらに駆動部404は、圧電ユニモルフ404a,404b,404c,404d,404e,404f,404g,404hから構成される。
圧電ユニモルフ404a,404b,404c,404dは、矩形板状に形成されており、その長手方向が回転軸iに直交するように配置される。そして圧電ユニモルフ404aは、その長手方向の一端が左側支持部403cに固定され、他端がジンバル411の上辺411aに連結される。圧電ユニモルフ404bは、その長手方向の一端が左側支持部403cに固定され、他端がジンバル411の下辺411bに連結される。圧電ユニモルフ404cは、その長手方向の一端が右側支持部403dに固定され、他端がジンバル411の上辺411aに連結される。圧電ユニモルフ404dは、その長手方向の一端が右側支持部403dに固定され、他端がジンバル411の下辺411bに連結される。
また圧電ユニモルフ404e,404f,404g,404hは、矩形板状に形成されており、その長手方向が回転軸kに直交するように配置される。そして圧電ユニモルフ404eは、その長手方向の一端がジンバル411に固定され、他端が弾性連結部414bに連結される。また圧電ユニモルフ404fは、ミラー412を挟んで圧電ユニモルフ404eと反対側に配置され、その長手方向の一端がジンバル411に固定され、他端が弾性連結部414aに連結される。また圧電ユニモルフ404gは、弾性連結部414bを挟んで圧電ユニモルフ404eと反対側に配置され、その長手方向の一端がジンバル411に固定され、他端が弾性連結部414bに連結される。また圧電ユニモルフ404hは、弾性連結部414aを挟んで圧電ユニモルフ404fと反対側に配置され、その長手方向の一端がジンバル411に固定され、他端が弾性連結部414aに連結される。
そして、圧電ユニモルフ404aと圧電ユニモルフ404bとが同位相で曲げ振動するとともに圧電ユニモルフ404cと圧電ユニモルフ404dとが同位相で曲げ振動するように且つ圧電ユニモルフ404a,404bと圧電ユニモルフ404c,404dとが逆位相で曲げ振動するように、圧電ユニモルフ404a,404b,404c,404dへの電圧印加が制御される。これにより、ジンバル411が回転軸iを中心にして回転振動する。
また、圧電ユニモルフ404eと圧電ユニモルフ4fとが同位相で曲げ振動するとともに圧電ユニモルフ404gと圧電ユニモルフ404hとが同位相で曲げ振動するように且つ圧電ユニモルフ404e,404fと圧電ユニモルフ404g,404hとが逆位相で曲げ振動するように、圧電ユニモルフ404e,404f,404g,404hへの電圧印加が制御される。これにより、ミラー412が回転軸kを中心にして回転振動する。
このように構成された光走査装置401によれば、回転軸kを中心とした揺動と、回転軸iを中心とした揺動によって、ミラー412で反射する光ビームを2次元的に走査することができる。
なお、ミラー412は本発明における反射部、弾性連結部414a,414bは本発明における第1弾性変形部材、ジンバル411は本発明における第1支持部、弾性連結部413a,413bは本発明における第2弾性変形部材、回転軸iは本発明における第2回転軸、支持部403は本発明における第2支持部である。
1,401…光走査装置、4a,4b,4c,4d,404a,404b,404c,404d,404e,404f,404g,404h…圧電ユニモルフ、13,412…ミラー、16a,16b,414a,414b…弾性連結部、21…支持層、23…駆動層、31…圧電膜層、32…上部電極層、33…下部電極層、41,42,43,44,51,52,53,54,61,62,71,72,73,74,75,76,77,81,82,83,84,85,86…凹部、100,140…シリコン基板

Claims (9)

  1. 光ビームを反射させる反射面を有する反射部(13,412)と、
    前記反射部を捻り振動させるための第1回転軸となる第1弾性変形部材(16a,16b,414a,414b)と、
    前記第1回転軸を中心にして前記反射部を捻り振動させるための駆動力を発生させる駆動部(4a,4b,4c,4d,404a,404b,404c,404d,404e,404f,404g,404h)とを備える光走査装置(1,401)であって、
    前記駆動部は、圧電膜層(31)を第1電極層(32)と第2電極層(33)との間で挟んで形成された駆動層(23)と、前記駆動層を支持する支持層(21)とを、前記第1回転軸に対して垂直な方向に沿って積層して構成され、
    さらに前記駆動部は、一端が固定端として固定されており、前記第1電極層と前記第2電極層との間に電圧が印加されることで屈曲して、他端が自由端として変位するように構成されており、
    前記支持層には、深さが前記支持層の厚さと同一の凹部(41,42,43,44,51,52,53,54,61,62,71,72,73,74,75,76,77,81,82,83,84,85,86)が複数形成されている
    ことを特徴とする光走査装置。
  2. 前記支持層の面上において前記固定端から前記自由端に向かう方向を第1方向とし、前記支持層の面上において第1方向に対して垂直な方向を第2方向として、
    前記凹部(51,52,53,54)の前記第2方向に沿った長さが、前記支持層の前記第2方向に沿った長さよりも短い
    ことを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
  3. 前記支持層の面上において前記固定端から前記自由端に向かう方向を第1方向とし、前記支持層の面上において第1方向に対して垂直な方向を第2方向として、
    前記第1方向に沿って隣接する2つの前記凹部の間隔が、前記固定端に近づくほど長くなるように、複数の前記凹部(71,72,73,74,75,76)が配置されている
    ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光走査装置。
  4. 前記支持層の面上において前記固定端から前記自由端に向かう方向を第1方向として、
    前記凹部(81,82,83,84,85,86)の前記第1方向に沿った長さが、前記固定端に近づくほど短くなる
    ことを特徴とする請求項1〜請求項3の何れか1項に記載の光走査装置。
  5. 前記支持層の面上において前記固定端から前記自由端に向かう方向を第1方向として、
    前記第1方向に沿って隣接する2つの前記凹部のうち、前記固定端に近い前記凹部を第1凹部(61)とし、残りの前記凹部を第2凹部(62)として、
    前記第1凹部の前記第1方向に沿った長さを第1凹部幅とし、
    前記第1凹部と前記第2凹部との間の間隔を凹部間隔とし、
    前記第1凹部幅は、前記第1凹部幅と前記凹部間隔との加算値の0.8〜0.9倍である
    ことを特徴とする請求項1〜請求項4の何れか1項に記載の光走査装置。
  6. 前記圧電膜層は、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)からなる
    ことを特徴とする請求項1〜請求項5の何れか1項に記載の光走査装置。
  7. 前記第1弾性変形部材(414a,414b)を支持する第1支持部(411)と、
    前記第1支持部に連結された弾性変形可能な第2弾性変形部材(413a,413b)を有し、該第2弾性変形部材を第2回転軸として前記第1支持部を揺動可能に支持する第2支持部(403)とを備え、
    前記第2回転軸は、前記第1回転軸と交差するように配置され、
    前記第2回転軸を中心にして前記第1支持部を揺動させると共に、前記第1回転軸を中心にして前記反射部を揺動させることにより、前記反射面により反射された光ビームを2次元に走査する
    ことを特徴とする請求項1〜請求項6の何れか1項に記載の光走査装置(401)。
  8. 前記第1弾性変形部材(16a,16b)を支持する第1支持部(12)と、
    前記第1支持部に連結された弾性変形可能な第2弾性変形部材(15a,15b)を有し、該第2弾性変形部材を第2回転軸として前記第1支持部を揺動可能に支持する第2支持部(11)と、
    前記第2支持部に連結された弾性変形可能な第3弾性変形部材(14a,14b)を有し、該第3弾性変形部材を第3回転軸として前記第2支持部を揺動可能に支持する第3支持部(3)とを備え、
    前記第2回転軸は、前記第1回転軸と交差するように配置され、
    前記第3回転軸は、前記第1回転軸および前記第2回転軸と交差するように配置され、
    前記反射部、前記第1支持部、前記第2支持部、前記第3支持部、前記第1弾性変形部材、前記第2弾性変形部材、および前記第3弾性変形部材が、固有の周期的外力が作用した場合に大きい回転角で捻り振動する3自由度連成振動系を構成し、
    前記3自由度連成振動系に前記固有の周期的外力を作用させることにより、前記第3回転軸を中心にして前記第2支持部を揺動させるとともに、前記第2回転軸を中心にして前記第1支持部を揺動させ、さらに前記第1回転軸を中心にして前記反射部を揺動させることにより、前記反射面により反射された光ビームを2次元に走査する
    ことを特徴とする請求項1〜請求項6の何れか1項に記載の光走査装置(1)。
  9. 請求項1〜請求項8の何れか1項に記載の光走査装置の製造方法であって、
    第1シリコン基板(100)の一方の面側からエッチングすることにより前記凹部を形成する第1形成工程と、
    前記第1シリコン基板の前記一方の面側で、前記第1シリコン基板と第2シリコン基板(140)とを張り合わす張合工程と、
    前記第1シリコン基板の他方の面側に前記駆動部を形成する第2形成工程と、
    前記第1シリコン基板の前記他方の面側からエッチングすることにより前記反射部および前記第1弾性変形部材を形成する第3形成工程と、
    前記第1シリコン基板と前記第2シリコン基板とが張り合わされた面を張合面として、前記第2シリコン基板の前記張合面と反対側の面側からエッチングすることにより、前記反射部が捻り振動することができる空間を形成する第4形成工程とを備える
    ことを特徴とする製造方法。
JP2012242069A 2012-11-01 2012-11-01 光走査装置および製造方法 Active JP5853933B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012242069A JP5853933B2 (ja) 2012-11-01 2012-11-01 光走査装置および製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012242069A JP5853933B2 (ja) 2012-11-01 2012-11-01 光走査装置および製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014092630A true JP2014092630A (ja) 2014-05-19
JP5853933B2 JP5853933B2 (ja) 2016-02-09

Family

ID=50936750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012242069A Active JP5853933B2 (ja) 2012-11-01 2012-11-01 光走査装置および製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5853933B2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018179589A1 (ja) * 2017-03-30 2018-10-04 三菱電機株式会社 光走査装置およびその製造方法
WO2018230065A1 (ja) * 2017-06-13 2018-12-20 三菱電機株式会社 光走査装置および光走査装置の調整方法
WO2019167616A1 (ja) * 2018-02-27 2019-09-06 パイオニア株式会社 光偏向器
CN110221425A (zh) * 2018-03-02 2019-09-10 三美电机株式会社 促动器以及光扫描装置
WO2022100829A1 (en) * 2020-11-12 2022-05-19 Huawei Technologies Co., Ltd. Deflection device with a mirror for use in scanner technical field
US11644664B2 (en) 2019-08-07 2023-05-09 Ricoh Company, Ltd. Light deflector, optical scanning system, image projection device, image forming apparatus, and lidar device
EP4202529A1 (en) * 2021-12-22 2023-06-28 Silicon Austria Labs GmbH Optical deflector and method operating an optical deflector
EP3521894B1 (en) * 2018-02-06 2023-11-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. Mems reflector system with trajectory control

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0510715A (ja) * 1991-06-28 1993-01-19 Canon Inc カンチレバー型プローブ、その製造方法、該プローブを用いた走査型トンネル顕微鏡及び情報処理装置
JPH09101474A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Denso Corp 光スキャナ装置
JPH10253912A (ja) * 1997-01-13 1998-09-25 Denso Corp 光走査装置
JP2007188073A (ja) * 2006-01-10 2007-07-26 Samsung Electronics Co Ltd 2軸マイクロスキャナー
JP2009169089A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Stanley Electric Co Ltd 光偏向器
JP2011108705A (ja) * 2009-11-13 2011-06-02 Seiko Epson Corp シリコン基板の加工方法および液体噴射ヘッドの製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0510715A (ja) * 1991-06-28 1993-01-19 Canon Inc カンチレバー型プローブ、その製造方法、該プローブを用いた走査型トンネル顕微鏡及び情報処理装置
JPH09101474A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Denso Corp 光スキャナ装置
JPH10253912A (ja) * 1997-01-13 1998-09-25 Denso Corp 光走査装置
JP2007188073A (ja) * 2006-01-10 2007-07-26 Samsung Electronics Co Ltd 2軸マイクロスキャナー
JP2009169089A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Stanley Electric Co Ltd 光偏向器
JP2011108705A (ja) * 2009-11-13 2011-06-02 Seiko Epson Corp シリコン基板の加工方法および液体噴射ヘッドの製造方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11762192B2 (en) 2017-03-30 2023-09-19 Mitsubishi Electric Corporation Optical scanning device and method of manufacturing the same
WO2018179589A1 (ja) * 2017-03-30 2018-10-04 三菱電機株式会社 光走査装置およびその製造方法
CN110462485A (zh) * 2017-03-30 2019-11-15 三菱电机株式会社 光扫描装置及其制造方法
JPWO2018179589A1 (ja) * 2017-03-30 2019-12-12 三菱電機株式会社 光走査装置およびその製造方法
EP3605186A4 (en) * 2017-03-30 2020-03-18 Mitsubishi Electric Corporation OPTICAL SCANNING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
CN110462485B (zh) * 2017-03-30 2021-07-20 三菱电机株式会社 光扫描装置及其制造方法
WO2018230065A1 (ja) * 2017-06-13 2018-12-20 三菱電機株式会社 光走査装置および光走査装置の調整方法
JP6448875B1 (ja) * 2017-06-13 2019-01-09 三菱電機株式会社 光走査装置および光走査装置の調整方法
US11150464B2 (en) 2017-06-13 2021-10-19 Mitsubishi Electric Corporation Optical scanning device and method of adjusting optical scanning device
EP3521894B1 (en) * 2018-02-06 2023-11-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. Mems reflector system with trajectory control
WO2019167616A1 (ja) * 2018-02-27 2019-09-06 パイオニア株式会社 光偏向器
CN110221425A (zh) * 2018-03-02 2019-09-10 三美电机株式会社 促动器以及光扫描装置
CN110221425B (zh) * 2018-03-02 2023-08-04 三美电机株式会社 促动器以及光扫描装置
US11644664B2 (en) 2019-08-07 2023-05-09 Ricoh Company, Ltd. Light deflector, optical scanning system, image projection device, image forming apparatus, and lidar device
WO2022100829A1 (en) * 2020-11-12 2022-05-19 Huawei Technologies Co., Ltd. Deflection device with a mirror for use in scanner technical field
EP4202529A1 (en) * 2021-12-22 2023-06-28 Silicon Austria Labs GmbH Optical deflector and method operating an optical deflector

Also Published As

Publication number Publication date
JP5853933B2 (ja) 2016-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5853933B2 (ja) 光走査装置および製造方法
JP4984117B2 (ja) 2次元光スキャナ、それを用いた光学装置および2次元光スキャナの製造方法
JP5055832B2 (ja) 駆動装置、光走査型装置及び物体情報検知装置
JP6205587B2 (ja) 光学反射素子
CN103827725B (zh) 光学反射元件
JP5915446B2 (ja) 光走査装置
JP6447683B2 (ja) 走査型微小電気機械反射鏡システム、光検出及び測距(lidar)装置、及び走査型微小電気機械反射鏡システムの作動方法
JP5458837B2 (ja) 光走査装置
JP5423680B2 (ja) 光スキャナ
JP6451078B2 (ja) 光走査装置
KR20130108515A (ko) 광학 반사 소자
JP6390508B2 (ja) 光走査装置
JP2014215534A (ja) 光走査装置
JP2015087443A (ja) 光スキャナー、画像表示装置、ヘッドマウントディスプレイおよびヘッドアップディスプレイ
JP2011069954A (ja) 光スキャナ
JP5506976B2 (ja) 光偏向器
JP2009098253A (ja) 光学反射素子およびこれを用いた画像投影装置
JP5045470B2 (ja) 光学反射素子
JP5846097B2 (ja) 光走査装置
JP2014202801A (ja) 光学反射素子
WO2023281993A1 (ja) 光偏向器
JP2013186224A (ja) 光学反射素子
JP2011137911A (ja) 振動ミラー素子
JP7209082B2 (ja) マイクロミラーデバイス
JP6956019B2 (ja) 2次元光偏向器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150825

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150826

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151016

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151110

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151123

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5853933

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250