JP2014068179A - 測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】
複数の測定チャンネルを備えた誤り検出システムに係る測定パラメータを整合させて設定作業の簡便化を図ることのできる測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法を提供する。
【解決手段】
複数の測定チャンネルを備えた被設定機器に既に設定されている複数の測定チャンネルの第１の測定パラメータをそれぞれ取得し、いずれか１つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段を有し、測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに測定パラメータ設定手段によって第２の測定パラメータが設定されたとき、測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの第１の測定パラメータを、測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの第２の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換える。
【選択図】図１

Description

本発明は、被試験デバイスのディジタル信号の伝達特性などを試験する用途に用いられる任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器と、ディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器およびパルスパターン発生器と誤り検出器とから構成される誤り検出装置に係り、この誤り検出装置において、特に複数の測定チャンネルを有する誤り検出装置からなる誤り検出システムの測定条件を設定する測定パラメータの設定時に、各測定チャンネルの測定パラメータを整合させて操作性の向上を図る測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法に関するものである。

近年、各種のディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。そして、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）が知られている。

また、試験対象となる通信規格で規定された通信を行うための光電変換部品等の被試験デバイス（Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）に対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を検出する装置として、たとえば下記特許文献１に開示されるような誤り率測定装置が公知である。

図６は、下記特許文献１に開示される従来の誤り検出システムの概略構成図である。図示のように、誤り検出装置３００ａは、ＲＡＭ等のメモリによって構成されるデータ記憶部３１５と、集積回路等によって構成されるパルスパターン発生部３１６とからなるパルスパターン発生器２１０と、集積回路等によって構成される信号受信部３１７、同期検出部３１８、比較部３１９および誤り率算出部３２０とからなる誤り検出器２１１と、表示制御部３２１と、ＣＲＴや液晶ディスプレイ等の表示機器３２２、およびキーボード等の操作部３２３とによって構成される。被試験デバイス２００から受信した入力データと被試験デバイス２００から受信されるべき既知のデータとを比較部３１９で比較して、誤り率算出部３２０にて誤り率を算出し、その誤り率の算出結果を表示機器３２２に表示する。

また、被試験デバイス２００には従来の１チャンネルのみでは不可能であった大容量の伝送能力が求められているため、大容量化を実現するために被試験デバイス２００が複数の入力および出力を有することから、その被試験デバイスの試験には複数のチャンネルの誤り測定が必要となっている。そこで、それぞれのチャンネルの誤り測定を行うために、誤り検出装置３００ａと同等の誤り検出装置３００ｂ、３００ｃおよび３００ｄを用意して誤り検出システム１３００とし、複数の測定チャンネルの測定に対応する構成となっていた。

特開２００７−２７４４７４号公報

ところで、従来の誤り検出システムのように、複数の測定チャンネルを備えているとき、測定条件を設定する測定パラメータの設定時に、いずれか１つの測定チャンネルの測定パラメータを設定した後に、他の複数の測定チャンネルにおいて対応する測定パラメータを同一にする場合に、他の複数の測定チャンネルの測定パラメータをそれぞれの測定チャンネル毎に設定する必要があった。たとえば、４チャンネルの測定チャンネルを有する誤り検出システムでは、４回の測定パラメータの設定操作が必要となる。このように、全ての測定チャンネルの測定パラメータを同一にしたい場合でも測定チャンネルの数だけ設定する必要があり、設定作業が煩雑であった。このため、操作が極めて煩雑となり、また測定チャンネル毎の設定忘れや設定間違いによる最適な測定ができない問題があり、解決が求められていた。

しかも、誤り検出装置は、通常、送信側となるパルスパターン発生器と、受信側となる誤り検出器との組み合わせで構成され、パルスパターン発生器と誤り検出器で共通する測定パラメータであっても、パルスパターン発生器または誤り検出器の測定チャンネル毎に測定パラメータの設定が独立して具備されている。

ここで、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータを同一に設定する必要がある場合がある。この場合、従来はたとえば４チャンネルの測定チャンネルを有する誤り検出システムでは、パルスパターン発生器で４回の測定パラメータの設定操作、誤り検出器で４回の測定パラメータの設定操作を必要とし、合計８回もの設定操作が必要という問題があった。

さらに、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータがたとえば３項目ある場合、パルスパターン発生器と誤り検出器とでそれぞれ３項目設定し、かつ４チャンネル分の測定チャンネルに対して設定することとなり、合計２４回もの設定操作が必要となるため、操作が極めて煩雑となり、また測定チャンネル毎の設定忘れや設定間違いによる最適な測定ができない問題があった。そして、被試験デバイス２００にはさらなる大容量の伝送能力が求められており、大容量化に対応するために被試験デバイス２００が有する複数チャンネルの数も増加が見込まれるため、複数チャンネルの数が増加すればするほど誤り測定システムの設定操作が煩雑となる問題がある。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、複数の測定チャンネルを備えた誤り検出システムの測定パラメータを整合させて設定作業の簡便化を図ることのできる測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法を提供することを目的とするものである。

上記した目的を達成するために、請求項１記載の測定パラメータ設定制御装置は、
表示部（２２）を備え、複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御装置（１２）であって、
前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを取得するとともに、設定後の前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータを前記被設定機器に対して書き換え処理する測定パラメータ処理部（３２）と、
前記表示部の表示画面上に取得した前記第１の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御部（３１）と、
前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか１つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段（５０、７０）と、前記第２の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段（５２、５３、５５、５７、７５、７７）とを前記表示部の前記表示画面上に表示制御する表示制御部（２１）と、
前記測定パラメータ処理部は、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第２の測定パラメータが設定されたとき、前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第１の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第２の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換えることを特徴とする。

請求項２記載の測定パラメータ設定制御装置は、請求項１記載の測定パラメータ設定制御装置において、
前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器（１０）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする。

請求項３記載の測定パラメータ設定制御装置は、請求項１記載の測定パラメータ設定制御装置において、
前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器（１１）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

請求項４記載の測定パラメータ設定制御装置は、請求項１記載の測定パラメータ設定制御装置において、
前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置（１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄ）からなる誤り検出システム（１０００）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわす前記ビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

上記した目的を達成するために、請求項５記載の測定パラメータ設定制御方法は、
複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御方法であって、
前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを取得するパラメータ取得ステップ（Ｓ２０１）と、
取得した前記第１の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御ステップ（Ｓ２０２）と、
前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか１つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段（５０、７０）と、前記第２の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段（５２、５３、５５、５７、７５、７７）とを表示制御する表示制御ステップ（Ｓ２０３）と、
前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第２の測定パラメータが設定されたことを検出する設定検出ステップ（Ｓ２０４）と、
前記被設定機器に対して前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第１の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第２の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換え処理するパラメータ書き換えステップ（Ｓ２０５）とを含むことを特徴とする。

請求項６記載の測定パラメータ設定制御方法は、請求項５記載の測定パラメータ設定制御方法において、
前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器（１０）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする。

請求項７記載の測定パラメータ設定制御方法は、請求項５記載の測定パラメータ設定制御方法において、
前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器（１１）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

請求項８記載の測定パラメータ設定制御方法は、請求項５記載の測定パラメータ設定制御方法において、
前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置（１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄ）からなる誤り検出システム（１０００）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

本発明の測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法によれば、測定条件を設定する測定パラメータの設定時に、いずれか１つの測定チャンネルの測定パラメータを設定した後に、他の複数の測定チャンネルにおける対応する測定パラメータを同一にする場合に、他の複数の測定チャンネルの測定パラメータをそれぞれの測定チャンネル毎に設定する必要がなくなり、いずれか１つの測定チャンネルに対する１回の測定パラメータの設定操作で、他の複数の測定チャンネルについても同一の測定パラメータへと書き換えることが可能となる。さらに、測定チャンネル毎の設定忘れや間違いによる最適な測定ができない問題を解消することが可能となる。

また、本発明の測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法によれば、パルスパターン発生器と誤り検出器とから構成される誤り検出装置からなる誤り検出システムにおいて、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータがある場合、いずれか１つの測定チャンネルに対する１回の測定パラメータの設定操作で、誤り検出システム全体の他の複数の測定チャンネルについても同一の共有する測定パラメータへと書き換えることが可能となる。このように、測定パラメータを設定する場合に、その都度他の測定チャンネルに設定を行う必要がなく、ユーザビリティが向上する。さらに、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータの項目の数が多い場合や、複数チャンネルの数が増加すればするほど誤り測定システムの設定操作が従来よりも簡便となる。

本発明に係る測定パラメータ設定制御装置の装置構成を示す概略ブロック図である。 本発明に係るパルスパターン発生器の各測定項目等の画面例を示す説明図である。 本発明に係る誤り検出器の各測定項目等の画面例を示す説明図である。 パラメータ値設定時の処理動作を示す処理シーケンス図である。 パラメータ値設定時の処理動作を示すフローである。 従来の誤り検出システムの装置構成を示す概略ブロック図である。

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者等によりなされる実施可能な他の形態、実施例および運用技術等はすべて本発明の範疇に含まれる。

（装置構成）
まず、本発明が適用される測定パラメータ設定制御装置１２が組み込まれた誤り検出システム１０００のシステム構成について、図１を参照しながら説明する。

図１に示すように、本例の誤り検出システム１０００は、被試験デバイス２００の誤り率の測定を行うための測定システムであり、パルスパターン発生器１０と、誤り検出器１１とからなる誤り検出装置１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄと、測定パラメータ設定制御装置１２を含んでいる。パルスパターン発生器１０は、データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６を備えている。誤り検出器１１は、信号受信部１７、同期検出部１８、比較部１９、誤り率算出部２０を備えている。測定パラメータ設定制御装置１２は、表示制御部２１、測定パラメータ制御部３１、測定パラメータ処理部３２、表示部２２、操作部２３を備えている。

パルスパターン発生器１０は、データ記憶部１５に記憶された所定のパルスパターンのテスト信号を、指定されたビットレートにてパルスパターン発生部１６によって発生し、被試験デバイス２００に対して送信するパルスパターン発生装置（Ｐｕｌｓｅ Ｐａｔｔｅｒｎ Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ：ＰＰＧ）の機能を有している。

また、誤り検出器１１は、パルスパターン発生器１０からのテスト信号を被試験デバイス２００を介して信号受信部１７で受信して、同期検出部１８にてパルスパターン発生器１０に含まれるデータ記憶部１５とのデータの同期を行い、比較部１９にてパルスパターンのビットを比較し、比較結果から全ビット中で誤ったビットの数から誤り率を算出する誤り率算出部２０により誤り率を測定する誤り率検出装置（Ｅｒｒｏｒ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ：ＥＤ）の機能を有している。

パルスパターン発生器１０および誤り検出器１１は、表示制御部２１の制御により、操作部２３で設定された測定パラメータに基づき誤り測定に関する処理を行い、得られた測定結果を表示制御部２１に出力している。

表示制御部２１は、パルスパターン発生器１０および誤り検出器１１を駆動制御するためのアプリケーションソフトウェアとして機能実現している。

表示部２２は、たとえば液晶ディスプレイやＣＲＴ等の表示機器で構成され、表示制御部２１の表示制御に基づき、パルスパターン発生器１０および誤り検出器１１に関する設定項目画面の表示、パルスパターン発生器１０および誤り検出器１１で得られた測定結果の表示、誤り検出装置１００ａ、１００ｂ、１００ｃおよび１００ｄの駆動や各種制御に関する表示内容を表示している。

操作部２３は、たとえば表示部２２の表示画面に対応する設定面への接触操作による接触位置を検出するためのタッチセンサを備えるタッチパネルで構成される。操作部２３は、ユーザが表示部２２に表示されている設定項目画面のうち、特定の項目の位置を指やスタイラス等で触れることで、タッチセンサが画面上で検出した位置と項目の位置とが一致することを認識し、各項目に割り当てられた機能を実行するための項目選択信号を表示制御部２１に出力している。ここでは、操作部２３として、図２、図３に示す複数の測定チャンネルのうちいずれか１つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段５０、７０および各種の測定パラメータを設定するための測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７が、たとえばソフトキーとして表示部２２に表示されているものとして説明する。

ここで、複数の測定チャンネルとして、たとえば「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の４チャンネルがあるものとする。この４チャンネルのうち、いずれか１つの測定チャンネルをチャンネル選択手段５０、７０にて選択し、この選択した測定チャンネルに対して設定したいパラメータである第２の測定パラメータを設定する。例として、「ＣＨ１」が選択されたものとする。

たとえば「ＣＨ１」に対して測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７から第２の測定パラメータが設定されると、測定パラメータ処理部３２は、パルスパターンのデータを記憶しているデータ記憶部１５、指定されたビットレートにてパルスパターンを発生するパルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０の誤り率の測定条件に関して、既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータ、すなわち「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の４チャンネルの第１の測定パラメータをそれぞれ取得するために、問合せ信号をデータ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０に出力している。

データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０は、測定パラメータ処理部３２から問合せ信号が入力されると、既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを測定パラメータ制御部３１および測定パラメータ処理部３２に出力している。

測定パラメータ制御部３１は、データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０から既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータが入力されると、表示部２２の表示を既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータに対応する内容に更新するように、表示部２２に出力する。

表示部２２は、既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータに対応する内容に表示を更新する。

測定パラメータ処理部３２は、データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０から既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータが入力されると、「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の測定パラメータを、チャンネル選択手段５０、７０にて選択された「ＣＨ１」に対して設定された第２の測定パラメータとなるように複数の測定チャンネルのデータ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０にそれぞれの第２の測定パラメータを出力する。

また、測定パラメータ処理部３２は、表示部２２に複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータを表示させるために測定パラメータ制御部３１に複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータを出力する。なお、第２の測定パラメータが設定されなくても、所定の時間間隔で自動的に複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを取得し、表示部２２の表示を複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータに対応する内容に適時更新してもよい。

データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０は、測定パラメータ処理部３２から複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータが入力されると、入力された複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータとなるように測定条件の設定をそれぞれ行う。すなわち、測定チャンネル選択手段５０、７０にて選択されなかった「ＣＨ２」、「ＣＨ３」、「ＣＨ４」の測定パラメータは、選択された「ＣＨ１」に対して測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７から設定された第２の測定パラメータになるようにデータ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０の測定条件が設定される。

表示部２２は、測定パラメータ制御部３１を経由して測定パラメータ処理部３２からの複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータが入力されると、複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータに対応する内容に表示を更新する。

このようにして、測定チャンネル選択手段５０、７０によってたとえば「ＣＨ１」が選択された場合、選択されなかった「ＣＨ２」、「ＣＨ３」、「ＣＨ４」の測定パラメータは、「ＣＨ１」の測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７に設定された第２の測定パラメータと同じ測定パラメータに設定される。

ここで、複数の測定チャンネルを有する誤り検出システム１０００の表示画面例を図２および図３を用いて説明する。はじめに、パルスパターン発生器１０に対応する表示画面例を図２（ａ）、（ｂ）に示す。ここでは、たとえば４つの測定チャンネル、Ｄａｔａ１からＤａｔａ４を備えているとして説明する。なお、図示の設定項目画面は、あくまでも表示例であり、誤り測定システム１０００を駆動する上で必要最小限の設定項目のみを表示した一例であり、システムの仕様や構成内容、使用環境等に応じてユーザ所望の設定項目を任意に追加した画面構成とすることもできる。

（パルスパターン発生器における動作例）
図２（ａ）は、パルスパターン発生器１０の各測定項目の画面例４０である。測定チャンネル選択手段５０の実現手段の一例としたソフトキーは、既に表示されている各測定項目がＤａｔａ１からＤａｔａ４のうち、何れのチャンネルに対して設定を行っているかを示しており、プルダウンにより各チャンネルを選択できる。ここでは、たとえばＤａｔａ１が選択されている。

次に、測定パラメータ設定手段に属する「Ｂｉｔ Ｒａｔｅ」５２、「Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ」５３、「Ｐａｔｔｅｒｎ」５５および「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄｉｔｉｏｎ」ボタン５７、各チャンネルの各測定パラメータを共通させるか否かを設定する機能に関する「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン５９および「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン６０について説明する。

「Ｏｕｔｐｕｔ」項目５１では、パルスパターン発生器１０が出力するパルスパターンの伝送速度をあらわすビットレートである「Ｂｉｔ Ｒａｔｅ」５２、パルスパターンの電圧の振幅値である「Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ」５３を数値で設定できる。ここでは、ビットレートがたとえば３２．１００００００Ｇｂｐｓ、振幅値は１．０００Ｖｐｐに設定されている。なお、これらの値は、図示しないキーボード、ロータリーエンコーダ等の設定手段から設定可能である。

「Ｐａｔｔｅｒｎ」項目５４では、パルスパターン発生器１０が出力するパルスパターンを「Ｐａｔｔｅｒｎ」５５にて指定でき、たとえば擬似ランダム符号の１つであるＰＲＢＳ７といったパターンを指定している。

「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄｉｔｉｏｎ」項目５６では、「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄｉｔｉｏｎ」ボタン５７を押すと、図示しないＥｒｒｏｒ Ａｄｄｉｔｉｏｎ設定画面が開き、ビットパターンの中で任意の場所にエラー挿入、たとえば０であるべきビットを任意に１としたり、たとえば１であるべきビットを任意に０とすることができる。

「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目５８には、「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン５９と、「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン６０が含まれている。「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン５９は、Ｄａｔａ１からＤａｔａ４の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための画面を新たに開くためのボタンである。

「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン６０は、各チャンネルの測定パラメータを共通にせず、プルダウンにより選択されているチャンネル、ここでは例としてＤａｔａ１を単独で設定するためのボタンである。

図２（ｂ）は、パルスパターン発生器１０の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目６１の画面例４１である。各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するためのチェックボックス「Ｏｕｔｐｕｔ」６２、「Ｐａｔｔｅｒｎ」６３および「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄ．」６４について説明する。ここでは、Ｄａｔａ１が「ＣＨ１」に、Ｄａｔａ２が「ＣＨ２」に、Ｄａｔａ３が「ＣＨ３」に、Ｄａｔａ４が「ＣＨ４」にそれぞれ対応している。

「Ｏｕｔｐｕｔ」６２は、たとえば「ＣＨ１」から「ＣＨ４」のチェックボックスが全てオンに設定されており、これは「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の全ての「Ｏｕｔｐｕｔ」項目６１の設定が共通となることを示している。すなわち、パルスパターン発生器１０が出力するパルスパターンのビットレートである「Ｂｉｔ Ｒａｔｅ」５２、パルスパターンの振幅である「Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ」５３について、「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の全てが共通となる。

「Ｐａｔｔｅｒｎ」６３は、たとえば「ＣＨ１」と「ＣＨ２」のみチェックボックスがオンに設定されており、これは「ＣＨ１」と「ＣＨ２」のみ「Ｐａｔｔｅｒｎ」６２の設定が共通となることを示している。すなわち、パルスパターン発生器１０が出力するパルスパターンは「Ｐａｔｔｅｒｎ」５５で指定されたパターンについて、「ＣＨ１」と「ＣＨ２」のみが共通となる。そして、「ＣＨ３」と「ＣＨ４」に対してはそれぞれ独立した設定を図２（ａ）に示すパルスパターン発生器の各測定項目の画面例４０において、測定チャンネル選択手段５０の実現手段の一例としたソフトキーのプルダウンによりチャンネルを選択することにより行う。

「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄ．」６４は、たとえば「ＣＨ１」から「ＣＨ４」のチェックボックスが全てオフに設定されており、これは「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の全ての「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄ．」６４が独立となることを示している。すなわち、「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄｉｔｉｏｎ」ボタン５７で行うビットパターンの中で任意の場所にエラー挿入する設定について、「ＣＨ１」から「ＣＨ４」でそれぞれ独立した設定を図２（ａ）のパルスパターン発生器の各測定項目の画面例４０で測定チャンネル選択手段５０の実現手段の一例としたソフトキーのプルダウンによりチャンネルを選択することにより行う。

（誤り検出器における動作例）
次に、誤り検出器１１に対応する表示画面例を図３（ａ）、（ｂ）に示す。ここでは、たとえば４つの測定チャンネル、Ｄａｔａ１からＤａｔａ４を備えているとして説明する。

図３（ａ）は、誤り検出器１１の各測定項目の画面例４３である。プルダウン７０は既に表示されている各測定項目がＤａｔａ１からＤａｔａ４のうち、何れのチャンネルに対して設定を行っているかを示しており、プルダウンにより各チャンネルを選択できる。

次に、誤り率測定結果に関する「ＥＲ」７２および「ＥＣ」７３、測定パラメータ設定手段に属する「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」ボタン７５および「Ｐａｔｔｅｒｎ」７７、各チャンネルの各測定パラメータを共通させるか否かを設定する機能に関する「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン７９および「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン８０について説明する。

「Ｒｅｓｕｌｔ」項目７１では、誤り検出器１１が検出した誤り率であるＥｒｒｏｒ Ｒａｔｅを表す「ＥＲ」７２、誤り検出器１１が所定期間内に検出した誤りの数であるＥｒｒｏｒ Ｃｏｕｎｔを表す「ＥＣ」７３が数値で表示される。ここでは、誤り率ＥＲがたとえば７．９７４４Ｅ−１３、誤りの数ＥＣは１０と結果表示されている。

「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」項目７４では、「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」ボタン７５を押すと、図示しないＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ設定画面が開き、誤り検出器１１が受信した信号との同期を行う際に自動で同期確立を行うか否かの設定、同期確立方式に関する設定等が行える。

「Ｐａｔｔｅｒｎ」７７では、誤り検出器１１に入力されるパルスパターンを「Ｐａｔｔｅｒｎ」７７にて指定でき、たとえば擬似ランダム符号の１つであるＰＲＢＳ７といったパターンを指定している。

「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目７８には、「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン７９と、「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン８０が含まれている。「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン７９は、Ｄａｔａ１からＤａｔａ４の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための画面を新たに開くためのボタンである。

「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン８０は、各チャンネルの測定パラメータを共通にせず、プルダウンにより選択されているチャンネル、ここでは例としてＤａｔａ１を単独で設定するためのボタンである。

図３（ｂ）は、誤り検出器１１の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目８１の画面例４４である。各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するためのチェックボックス「Ｍｅａｓｕｒｅ．」８２および「Ｐａｔｔｅｒｎ」８３について説明する。ここでは、Ｄａｔａ１が「ＣＨ１」に、Ｄａｔａ２が「ＣＨ２」に、Ｄａｔａ３が「ＣＨ３」に、Ｄａｔａ４が「ＣＨ４」にそれぞれ対応している。

「Ｍｅａｓｕｒｅ．」８２は、たとえば「ＣＨ１」から「ＣＨ４」のチェックボックスが全てオンに設定されており、これは「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の全ての「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」項目７４の設定が共通となることを示している。すなわち、誤り検出器１１が受信した信号との同期を行う際に自動で同期確立を行うか否かの設定、同期確立方式に関する設定等について、「ＣＨ１」から「ＣＨ４」の全てが共通となる。

「Ｐａｔｔｅｒｎ」８３は、たとえば「ＣＨ１」と「ＣＨ２」のみチェックボックスがオンに設定されており、これは「ＣＨ１」と「ＣＨ２」のみ「Ｐａｔｔｅｒｎ」項目７６の設定が共通となることを示している。すなわち、パルスパターン発生器１０が出力するパルスパターンは「Ｐａｔｔｅｒｎ」７７で指定されたパターンについて、「ＣＨ１」と「ＣＨ２」のみが共通となる。そして、「ＣＨ３」と「ＣＨ４」に対してはそれぞれ独立した設定を図３（ａ）に示す誤り検出器の各測定項目の画面例４３において、測定チャンネル選択５０の実現手段の一例としたソフトキーのプルダウンによりチャンネルを選択することにより行う。

（誤り検出装置における動作例）
パルスパターン発生器１０と、誤り検出器１１からなる誤り検出装置において、パルスパターン発生器１０と、誤り検出器１１に亘って各チャンネルの各測定パラメータを設定する際の動作を図２（ｂ）と図３（ｂ）を用いて説明する。

図２（ｂ）の「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目６１にある「ＥＤ Ｃｏｍｂｉ．」６５において、たとえば「ＣＨ１」と「ＣＨ３」のチェックボックスがオンに設定されている。これは「ＣＨ１」と「ＣＨ３」において、パルスパターン発生器１０で設定した「Ｐａｔｔｅｒｎ」５５の設定内容を、誤り検出器１１（ＥＤ）と共有する測定項目となっている「Ｐａｔｔｅｒｎ」７７の設定内容と一致させることを示している。すなわち、たとえば擬似ランダム符号の１つであるＰＲＢＳ７といったパターンをパルスパターン発生器１０にて設定すれば、誤り検出器１１においても「ＣＨ１」と「ＣＨ３」において共通のパターンが設定される。

図３（ｂ）の「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目８１にある「ＰＰＧ Ｃｏｍｂｉ．」８４において、たとえば「ＣＨ１」と「ＣＨ３」のチェックボックスがオンに設定されている。これは「ＣＨ１」と「ＣＨ３」において、誤り検出器１１で設定した「Ｐａｔｔｅｒｎ」７７の設定内容を、パルスパターン発生器１０（ＰＰＧ）と共有する測定項目となっている「Ｐａｔｔｅｒｎ」５５の設定内容と一致させることを示している。すなわち、たとえば擬似ランダム符号の１つであるＰＲＢＳ７といったパターンを誤り検出器１１にて設定すれば、パルスパターン発生器１０においても「ＣＨ１」と「ＣＨ３」において共通のパターンが設定される。

ところで、上述した形態において、操作部２３の構成としてタッチパネルを採用し、表示部２２に表示されるソフトキーをユーザが指やスタイラスによって設定操作を行う例で説明したが、これに限定されることはなく、たとえば装置筐体に設けられた操作キーやテンキー等のハードキーを操作したり、表示部２２に表示されるソフトキーをマウス等のポインティングデバイスで操作する等の外部入力装置からの信号に基づき測定パラメータの設定を行う構成とすることもできる。

（測定パラメータ設定時の処理動作）
まず、図４を参照しながら、測定パラメータの設定時の処理動作について説明する。ユーザは、測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７からパルスパターン発生器１０および誤り検出器１１の各種設定項目における第２の測定パラメータの設定を行う（ＳＴ１）。

次に、測定パラメータ処理部３２は、データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０に既に設定されている第１の測定パラメータを取得するために、問合せ信号をデータ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０に出力する（ＳＴ２）。

データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０は、問合せ信号が入力されると、既に設定されている第１の測定パラメータを測定パラメータ制御部３１および測定パラメータ処理部３２に出力する（ＳＴ３）。

測定パラメータ制御部３１は、データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０から既に設定されている第１の測定パラメータが入力されると、表示部２２の表示を既に設定されている第１の測定パラメータに対応する値に更新するように、表示部２２に出力する（ＳＴ４）。

表示部２２は、既に設定されている第１の測定パラメータに対応する値に表示を更新する（ＳＴ５）。

測定パラメータ処理部３２は、データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０から既に設定されている第１の測定パラメータが入力されると、測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７から設定された第２の測定パラメータとなるようにデータ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０に第２の測定パラメータを出力する。また、表示部２２に第２の測定パラメータを表示させるために表示部２２に第２の測定パラメータを出力する（ＳＴ６）。

データ記憶部１５、パルスパターン発生部１６および誤り率算出部２０は、測定パラメータ処理部３２から第２の測定パラメータが入力されると、入力された第２の測定パラメータとなるように測定条件の設定をそれぞれ行う（ＳＴ７）。

表示部２２は、測定パラメータ処理部３２からの第２の測定パラメータが入力されると、第２の測定パラメータに対応する値に表示を更新する（ＳＴ８）。

次に、図５を参照しながらパラメータ値設定時の処理方法について説明する。はじめに、パルスパターン発生器１０および誤り検出器１１に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを取得する（Ｓ２０１）。

次に、取得した複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを表示部２２に表示する（Ｓ２０２）。

複数の測定チャンネルのうち、いずれか１つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段５０、７０と、測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７とを表示部２２に表示する（Ｓ２０３）。なお、測定チャンネル選択手段５０、７０と、測定パラメータ設定手段５２、５３、５５、５７、７５、７７は表示部２２に常に表示または操作部２３から表示させるべく指定があったときに表示してもよい。

次に、測定チャンネル選択手段５０、７０により選択された測定チャンネルに、第２の測定パラメータが設定されたか否かを検出する（Ｓ２０４）。

次に、測定チャンネル選択手段５０、７０により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの第１の測定パラメータを、測定チャンネル選択手段５０、７０により選択された測定チャンネルの第２の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換え処理する（Ｓ２０５）。

１０…パルスパターン発生器
１１…誤り検出器
１２…測定パラメータ設定制御装置
１５…データ記憶部
１６…パルスパターン発生部
１７…信号受信部
１８…同期検出部
１９…比較部
２０…誤り率算出部
２１…表示制御部
２２…表示部
２３…操作部
３１…測定パラメータ制御部
３２…測定パラメータ処理部
４０…パルスパターン発生器の各測定項目の画面例
４１…パルスパターン発生器の「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目の画面例
４２…誤り検出器の各測定項目の画面例
４３…誤り検出器の「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目の画面例
５０…測定チャンネル選択手段（パルスパターン発生器）
５１…「Ｏｕｔｐｕｔ」項目
５２…「Ｂｉｔ Ｒａｔｅ」（測定パラメータ設定手段）
５３…「Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ」（測定パラメータ設定手段）
５４…「Ｐａｔｔｅｒｎ」項目
５５…「Ｐａｔｔｅｒｎ」（測定パラメータ設定手段）
５６…「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄｉｔｉｏｎ」項目
５７…「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄｉｔｉｏｎ」ボタン（測定パラメータ設定手段）
５８…「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目
５９…「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン
６０…「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン
６１…「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目
６２…「Ｏｕｔｐｕｔ」チェックボックス
６３…「Ｐａｔｔｅｒｎ」チェックボックス
６４…「Ｅｒｒｏｒ Ａｄｄ．」チェックボックス
６５…「ＥＤ Ｃｏｍｂｉ．」チェックボックス
７０…測定チャンネル選択手段（誤り検出器）
７１…「Ｒｅｓｕｌｔ」項目
７２…「ＥＲ」（Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）
７３…「ＥＣ」（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｕｎｔ）
７４…「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」項目
７５…「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」ボタン（測定パラメータ設定手段）
７６…「Ｐａｔｔｅｒｎ」項目
７７…「Ｐａｔｔｅｒｎ」
７８…「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目
７９…「Ｓｅｔｔｉｎｇ」ボタン
８０…「Ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ」ボタン
８１…「Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ Ｓｅｔｔｉｎｇ」項目
８２…「Ｍｅａｓｕｒｅ．」チェックボックス
８３…「Ｐａｔｔｅｒｎ」チェックボックス
８４…「ＰＰＧ Ｃｏｍｂｉ．」チェックボックス
１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄ…誤り検出装置
２００…被試験デバイス
２１０…パルスパターン発生器（従来）
２１１…誤り検出器（従来）
３００ａ、３００ｂ、３００ｃ、３００ｄ…誤り検出装置（従来）
３１５…データ記憶部（従来）
３１６…パルスパターン発生部（従来）
３１７…信号受信部（従来）
３１８…同期検出部（従来）
３１９…比較部（従来）
３２０…誤り率算出部（従来）
３２１…表示制御部（従来）
３２２…表示部（従来）
３２３…操作部（従来）
１０００…誤り検出システム
１３００…誤り検出システム（従来）

Claims (8)

1. 表示部（２２）を備え、複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御装置（１２）であって、
   前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを取得するとともに、設定後の前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第２の測定パラメータを前記被設定機器に対して書き換え処理する測定パラメータ処理部（３２）と、
   前記表示部の表示画面上に取得した前記第１の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御部（３１）と、
   前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか１つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段（５０、７０）と、前記第２の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段（５２、５３、５５、５７、７５、７７）とを前記表示部の前記表示画面上に表示制御する表示制御部（２１）と、
   前記測定パラメータ処理部は、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第２の測定パラメータが設定されたとき、前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第１の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第２の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換えることを特徴とする測定パラメータ設定制御装置。
2. 前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器（１０）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする請求項１に記載の測定パラメータ設定制御装置。
3. 前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器（１１）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項１に記載の測定パラメータ設定制御装置。
4. 前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置（１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄ）からなる誤り検出システム（１０００）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわす前記ビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項１に記載の測定パラメータ設定制御装置。
5. 複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御方法であって、
   前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第１の測定パラメータを取得するパラメータ取得ステップ（Ｓ２０１）と、
   取得した前記第１の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御ステップ（Ｓ２０２）と、
   前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか１つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段（５０、７０）と、前記第２の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段（５２、５３、５５、５７、７５、７７）とを表示制御する表示制御ステップ（Ｓ２０３）と、
   前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第２の測定パラメータが設定されたことを検出する設定検出ステップ（Ｓ２０４）と、
   前記被設定機器に対して前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第１の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第２の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換え処理するパラメータ書き換えステップ（Ｓ２０５）とを含むことを特徴とする測定パラメータ設定制御方法。
6. 前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器（１０）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする請求項５に記載の測定パラメータ設定制御方法。
7. 前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器（１１）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項５に記載の測定パラメータ設定制御方法。
8. 前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置（１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄ）からなる誤り検出システム（１０００）であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の０と１との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項５に記載の測定パラメータ設定制御方法。

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