JP2014063810A - プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ロードロック部4のカセット21には搬送キャリア13とカバー17が出し入れ可能に収納されている。搬送キャリア13は、基板14の保持シート15とフレーム16とを備える。搬送装置25の支持フォーク26は、搬送キャリア13とカバー17を、搬送キャリア13の上方にカバー17が位置する状態でカセット21から取り出し、プラズマ処理部2のステージ35に載置する。基板14のプラズマ処理中、フレーム16と保持シート15はカバー17によりプラズマから遮蔽される。プラズマ処理後、支持フォーク26は、搬送キャリア13とカバー17をステージ35から受け取り、カセット21に順に戻す。
【選択図】図1
Description
図1及び図2は本発明の実施形態に係るプラズマ処理装置の一例であるドライエッチング装置1を示す。このドライエッチング装置1は、対象物の一例であるウエハないし基板14に対するドライエッチングを実行するプラズマ処理部2と、プラズマ処理部2に隣接して設けられて搬送部3を備える。搬送部3には搬送装置25が収容されている。また、搬送部3に隣接して、ロードロック部4が設けられている。搬送部3はプラズマ処理部2とロードロック部4に連通している。搬送部3とプラズマ処理部2の連通口5Aと、搬送部3とロードロック部4の連通口5Bとには、これらを開閉するためのゲートバルブ6A,6Bが設けられている。搬送部3とロードロック部4は、仕切バルブ7A,7Bを介して不活性ガス源の一例である窒素ガス源8に接続され、仕切バルブ9A,9Bを介して真空排気部10に接続されている。
図21は本発明の第2実施形態に係るドライエッチング装置のカセット21を示す。カセット21を除くドライエッチング装置の構成(例えば図1及び図2参照)は、第1実施形態と同様である。本実施形態におけるカセット21は、カバー17を水平な姿勢で出し入れ可能に収納したカバー棚部23が1段のみである点が第1実施形態と異なる。言い換えれば、第1実施形態ではカバー17は2枚あったのに対し、本実施形態ではカバー17は1枚のみである。図22は第2実施形態のドライエッチング装置の動作を示す。図22のステップS1〜S8は、第1実施形態の動作を示す図15のステップS1〜S8と同一である。カバー17は1枚のみであるので、図15のステップS9〜S13の動作、すなわち基板14に対するプラズマ処理中に、プラズマの遮蔽のために使用されていないカバー17を冷却する動作は実行されない。
2 プラズマ処理部
3 搬送部
4 ロードロック部
4a 搬入出口
4b ゲート
5A,5B 連通口
6A,6B ゲートバルブ
7A,7B,9A,9B 仕切バルブ
8 窒素ガス源
10 真空排気部
11 制御装置
13 搬送キャリア
14 基板
15 保持シート
16 フレーム
17 カバー
17a 本体
17b 窓部
17c 被支持部
17d 主逃げ溝
17e 補助逃げ溝
17f 突起
20 リフター
21 カセット
21a 天板
21b 底板
21c 側壁
21d 奥壁
21e 開口部
22 キャリア棚部
23A,23B カバー棚部
25 搬送装置
26 支持フォーク
26a 基部
26b フィンガー部
26c キャリア載置部
26d 凹部
26e カバー載置部
26f,26g 傾斜面
27 水平移動機構
28 旋回軸
31 上部電極
32 高周波電源
33 プロセスガス供給口
34 プロセスガス供給部
35 ステージ
36 下部電極
37 テーブル部
38 基板保持機構
39 冷却機構
40 排気口
41 真空排気部
42 突上げピン
43 昇降駆動部
Claims (10)
- 対象物に対してプラズマ処理を実行するプラズマ処理部と、
前記対象物を保持した保持シートと、前記保持シートが取り付けられたフレームとを備える搬送キャリアを、出し入れ可能に収納した第1の収納部と、
前記保持シートと前記フレームとを覆うための本体と、前記本体に厚み方向に貫通するように形成された、前記対象物を露出させるための窓部とを備えるカバーを、出し入れ可能に収納した第2収納部と、
前記搬送キャリアと前記カバーとを、前記搬送キャリア上に前記カバーが位置するように保持して搬送可能な搬送装置と、
前記搬送装置を制御して、前記第1の収納部から前記対象物がプラズマ処理前である前記搬送キャリアを取り出させた後、前記取り出された搬送キャリア上に位置するように前記第2の収納部から前記カバーを取り出させ、前記搬送キャリアを前記カバーと共に前記プラズマ処理部へ搬入させ、かつ前記対象物がプラズマ処理済みとなった前記搬送キャリアを前記カバーと共に前記プラズマ処理部から搬出させ、前記第2の収納部に前記カバーを収納させた後、前記第1の収納部に前記搬送キャリアを収納させる制御装置と
を備える、プラズマ処理装置。 - 前記第1の収納部は、それぞれ前記搬送キャリアが収納された多段配置の複数の第1の棚部を備え、
前記第2の収納部は、前記第1の棚部と共に多段配置され、前記カバーが収納された少なくとも1個の第2の棚部を備える、請求項1に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第1の棚部と前記第2の棚部が単一のカセットに設けられている、請求項2に記載のプラズマ処理装置。
- 前記搬送装置は、前記搬送キャリアと前記カバーを同時に載置可能な支持部を備える、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記支持部は、前記搬送キャリアを載置するための第1の載置部と、この第1の部分よりも外側かつ上方に位置する前記カバーを載置するための第2の載置部とを備える、請求項4に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1の載置部と前記第2の載置部の高さの差は、前記第1の載置部に載置された前記搬送キャリアと前記第2の載置部に載置された前記カバーとの間に隙間が形成されるように設定されている、請求項5に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第2の収納部は複数の前記カバーを取り出し可能に収納し、
複数の前記カバーのうちの1個が前記プラズマ処理部内で前記搬送キャリアの前記保持シートと前記フレームのプラズマからの遮蔽に使用されている間に、他の前記カバーが冷却される、請求項1に記載のプラズマ処理装置。 - 前記搬送装置が収納された搬送部と、
前記搬送部に対する不活性ガスの注入と排気を行うガス冷却機構と
を備え、
前記制御装置は、複数の前記カバーのうちの1個が前記プラズマ処理部内にある間に、前記搬送装置に他の前記カバーを前記第2の収納部から取り出させて前記搬送部に移動させ、前記冷却機構に前記搬送部に対する前記不活性ガスの注入と排気を実行させた後、前記搬送装置に他の前記カバーを前記搬送部から前記第2の収納部に戻させる、請求項7に記載のプラズマ処理装置。 - プラズマ処理の対象物を保持した保持シートと、前記保持シートが取り付けられたフレームとを備える搬送キャリアを第1の収納部から取り出し、
前記保持シートと前記フレームとを覆うための本体と、前記本体に厚み方向に貫通するように形成された窓部とを備えるカバーを、前記取り出した搬送キャリア上に位置するように、第2の収納部から取り出し、
前記搬送キャリアを前記カバーと共にプラズマ処理部へ搬入し、
前記カバーの前記本体が前記保持シートと前記フレームとを覆い、前記カバーの前記窓部から前記対象物が露出するように、前記カバーと共に前記搬送キャリアをプラズマ処理部内のステージに載置し、
前記プラズマ処理部内でプラズマを発生させて前記対象物をプラズマ処理する、プラズマ処理方法。 - 前記対象物のプラズマ処理後、前記搬送キャリアを前記カバーと共に前記プラズマ処理部の前記ステージから持ち上げて、前記プラズマ処理部から搬出し、
前記カバーを前記第2の収納部に戻し、
前記搬送キャリアを前記第1の収納部に戻す、請求項9に記載のプラズマ処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012206909A JP5849232B2 (ja) | 2012-09-20 | 2012-09-20 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012206909A JP5849232B2 (ja) | 2012-09-20 | 2012-09-20 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2014063810A true JP2014063810A (ja) | 2014-04-10 |
JP5849232B2 JP5849232B2 (ja) | 2016-01-27 |
Family
ID=50618809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2012206909A Active JP5849232B2 (ja) | 2012-09-20 | 2012-09-20 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5849232B2 (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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A711 | Notification of change in applicant |
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