JP2014063209A - フラッシュメモリシステム、及び電源供給制御方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】フラッシュメモリのバックアップ電源の遮断を適切に行うことができるようにする。
【解決手段】フラッシュメモリとそのフラッシュメモリに対するアクセスを制御するメモリコントローラへの動作電圧の供給を制御する電源回路は、外部から供給される入力電圧によって充電される入力充電手段と、入力電圧と入力充電手段の充電電圧とのいずれか高い方の電圧を動作電圧に調整して出力する電圧調整手段と、入力電圧が第1の設定値より低くなったことを検出する電圧検知手段と、入力電圧が第1の設定値より低くなったことを検出した場合に、フラッシュメモリの動作状態に基づいて、電力の供給を中止するか否かを判定する供給判定手段と、電力の供給を中止すると判定した場合に、電圧調整手段に対して、動作を停止させる停止指示信号を出力する動作制御手段とを備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、フラッシュメモリとそのフラッシュメモリに対するアクセスを制御するメモリコントローラへの動作電圧の供給を制御するフラッシュメモリシステム、及び電源供給制御方法に関する。
この種の電源回路として、特許文献1に開示の電源回路が知られている。この電源回路は、外部電源の遮断が発生した際に、外部電源から供給される入力電圧によって充電されるコンデンサ(以下、バックアップ電源)から供給される電圧(バッテリ電圧)が、フラッシュメモリの動作下限電圧(2.7V)に降下するまで、バックアップ電源の遮断を待つ。
特開2008−46728号公報
例えば、外部電源の遮断が発生した場合であっても、フラッシュメモリの動作状態によっては、バックアップ電源を直ちに遮断しても問題ない場合もあり得る。しかし、このような場合であっても、電源回路は、バッテリ電圧がフラッシュメモリの動作下限電圧(例えば2.7V)に降下するまで、バックアップ電源の遮断を待つ。
この場合、フラッシュメモリ、メモリコントローラ等の後段のデバイスに対して、電力が供給され続けることになり、不必要な負荷をかけ続けてしまう虞がある。
特に、近年では、フラッシュメモリシステムの高速化に伴って、バックアップ用入力コンデンサに必要なキャパシタンスの容量が増加しており、それに伴って待機時間が長くなる傾向にある。
本発明の目的は、フラッシュメモリのバックアップ電源の遮断を適切に行うことできるようにすることである。
第1の観点に従うフラッシュメモリシステムは、フラッシュメモリと前記フラッシュメモリに対するアクセスを制御するメモリコントローラへの動作電圧の供給を制御する電源回路であって、
外部から供給される入力電圧によって充電される入力充電手段と、
前記入力電圧と前記入力充電手段の充電電圧とのいずれか高い方の電圧を前記動作電圧に調整して出力する電圧調整手段と、
前記入力電圧が第1の設定値より低くなったことを検出する電圧検知手段と、
前記入力電圧が前記第1の設定値より低くなったことを検出した場合に、前記フラッシュメモリの動作状態に基づいて、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止するか否かを判定する供給判定手段と、
前記供給判定手段により前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定した場合に、前記電圧調整手段に対して、動作を停止させる停止指示信号を出力する動作制御手段と
を備える。
第2の観点に従うフラッシュメモリシステムは、第1の観点において、前記供給判定手段は、前記入力電圧が前記第1の設定値より低くなったことを検出された場合において、前記フラッシュメモリの動作状態を逐次取得し、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止するか否かを判定する。
第3の観点に従うフラッシュメモリシステムは、第2の観点において、前記動作制御手段は、前記供給判定手段により前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定された場合に、前記フラッシュメモリに対して、書込み処理を実行させないことを指示する書込み停止信号を出力する。
第4の観点に従うフラッシュメモリシステムは、第2の観点において、前記動作制御手段は、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定された場合、又は、前記動作電圧が第2の設定値より低くなったことを検出した場合に、前記電圧調整手段に対して、動作を停止させる停止指示信号を出力する。
第5の観点に従うフラッシュメモリシステムは、第1乃至第4の観点のうちの少なくとも1つの観点において、前記書込み停止信号が出力されているか否かを報知する報知手段を更に備える。
第6の観点に従う電源供給制御方法は、フラッシュメモリと前記フラッシュメモリに対するアクセスを制御するメモリコントローラへの動作電圧の供給を制御する方法であって、
外部から供給される入力電圧が第1の設定値より低くなったことを検出した場合に、前記フラッシュメモリの動作状態に基づいて、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止するか否かを判定するステップと、
前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定された場合に、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止させるステップと
を有する。
本発明によれば、フラッシュメモリのバックアップ電源の遮断を適切に行うことできる。
実施例1に係るフラッシュメモリシステムの構成例を示す。 実施例1に係る電源回路10の構成例を示す。 実施例2に係る電源回路30の構成例を示す。 実施例3に係る電源回路60の構成例を示す。
以下、本発明の幾つかの実施例を説明する。
図1は、本発明の実施例1に係るフラッシュメモリシステムの構成例を示す。
フラッシュメモリシステムは、所定のインターフェース装置、例えば、IDE(Integrated Drive Electronics)インターフェース23を介して、図示しないホストシステムに接続される。このフラッシュメモリシステムは、ブロック単位で記憶データの消去が行われるフラッシュメモリ21と、このフラッシュメモリ21に対するアクセスを制御するメモリコントローラ22と、これらのフラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22に動作電圧を供給する電源回路10とを有している。
メモリコントローラ22は、IDEインターフェース23を介してホストシステムからデータの書込み及び読出しの指示を受けたり、読出しの指示に従ってフラッシュメモリ21から読み出したデータを、IDEインターフェース23を介してホストシステムに送信したりする。
フラッシュメモリ21は、例えば、ブロックよりも小さい単位であるページ単位でデータが入出力されるフラッシュメモリ、典型的にはNAND型のフラッシュメモリである。しかし、フラッシュメモリ21は、NAND型のフラッシュメモリに限られない。
電源回路10は、ホストシステム側の電源供給回路20から供給される電源電圧(Vin)を動作電圧に調整し、調整した動作電圧をフラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22に供給する。本実施例では、動作電圧として、異なる複数の動作電圧が提供される。動作電圧として、例えば、第1の動作電圧と、第1の動作電圧よりも低い第2の動作電圧がある。第1の動作電圧は、例えば、3.3V(ボルト)であり、第2の動作電圧は、例えば、1.2Vである。また、電源回路10は、PORST#信号(Power On Reset信号)をメモリコントローラ22に出力し、FWP#信号(Flash Write Protect信号)をフラッシュメモリ21に出力する。また、電源回路10は、フラッシュメモリ21からR/B#信号(Ready/Busy信号)を受信する。これらの信号については後述する。
図2は、実施例1に係る電源回路10の構成例を示す。なお、図2において、「Vin」が、電源供給回路20からの給電を表している。
電源回路10は、第1の入力充電手段の一例であるコンデンサ(Cap1)と、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)と、第1乃至第4の電圧検出回路(DET1、DET2、DET3、及びDET4)と、供給判定手段の一例としてのデコーダIC(U1A)とを含む。電圧調整回路の数は、電源回路10が供給する動作電圧の種類と同じ数である。つまり、電源回路10が供給する動作電圧は2種類(3.3V及び1.2V)であるため、電圧調整回路の数は、2である。しかし、動作電圧の種類数に応じて、電圧調整回路の数は、2より多くても良い。また、2種類の電圧調整回路が1つのユニットとされても良い。第2及び第3の電圧検出回路は、動作制御手段の一例である。
コンデンサ(Cap1)は、供給される電源電圧(Vin)からダイオードD2での電圧降下(Vd2)を差し引いた入力電圧(Vin−Vd2)によって充電される。電源電圧(Vin)の供給が遮断される或いは電源電圧(Vin)が急激に降下する等の場合、コンデンサ(Cap1)の充電電圧が各電圧調整回路(PWR1、PWR2)に供給される。コンデンサ(Cap1)の容量としては、メモリコントローラ22がフラッシュメモリ21に対して書き込み処理を行っている最中に電源電圧(Vin)が急激に降下しても、それらの処理を完了する制御(以下、処理完了制御)が終了するまで、メモリコントローラ22及びフラッシュメモリ21に所定の動作電圧を供給することができる容量に設定される。コンデンサ(Cap1)は、例えば、複数のコンデンサチップの集合やコンデンサアレイ等である。
第1の電圧検出回路(DET1)は、電圧検知手段の一例であり、この回路(DET1)に入力された電圧(HVCC)が第1の設定値(例えば4.0V)未満になったか否かを判断し、その判断の結果が肯定的のときに、PORST#信号をリセットレベル(例えばローレベル)で出力する回路である。具体的には、この回路(DET1)の入力端子(VDD端子)に、下記(A)及び(B)の電圧、
(A)電源電圧(Vin)からダイオードD1での電圧降下(Vd1)を差し引いた第1の電圧(Vin−Vd1)、
(B)コンデンサ(Cap1)の充電電圧からダイオードD3での電圧降下(Vd3)を差し引いた第2の電圧(Cap1電圧−Vd3)、
のうちの高い方の電圧が入力される。この回路(DET1)は、VDD端子に入力された電圧が第1の設定値以上であれば、出力端子(OUT端子)から出力されるPORST#信号のレベルをリセット解除レベル(例えばハイレベル)としている。例えば、リセット解除レベルの電圧は、抵抗R6でプルアップ(PU)されている、電圧調整回路PWR1の出力3.3Vである。この回路(DET1)は、VDD端子に入力された電圧が第1の設定値未満になったことを検出したときに、PORST#信号のレベルをリセットレベル(例えばローレベル:例えば、0V)とする。PORST#信号は、メモリコントローラ22に入力される。メモリコントローラ22は、PORST#信号のレベルがリセットレベルになったことを検出した場合、メモリコントローラ22のリセットのためのリセット処理を実行する。リセット処理は、例えば、フラッシュメモリ21に対する書き込み処理を完了する制御(つまり処理完了制御)を含んで良い。また、PORST#信号は、デコーダIC(U1A)のEnable端子(G#)及びSelect端子(A)に入力される。
デコーダIC(U1A)は、第1の電圧検出回路(DET1)のOUT端子から出力されたPORST#信号と、フラッシュメモリ21から出力されるR/B#信号とに基づいて、以下のデコード処理を実行し、その結果の信号を出力する。デコーダIC(U1A)は、第1の電源調整回路(PWR1)から供給される電圧により動作している。ここで、R/B#信号は、フラッシュメモリ21の動作状態を示す信号であり、フラッシュメモリ21が書き込み処理等を実行しているビジー状態である場合には、ビジーレベル(例えばローレベル)となっており、フラッシュメモリ21がレディ状態である場合には、レディーレベル(例えばハイレベル)となっている。
デコーダIC(U1A)のEnable端子(G#)及びSelect端子(A)には、第1の電圧検出回路(DET1)のOUT端子から出力されたPORST#信号が入力される。また、デコーダIC(U1A)のSelect端子(B)には、フラッシュメモリ21から出力されたR/B#信号が逐次入力される。デコーダIC(U1A)の出力端子(Y1)は、第2の電圧検出回路(DET2)のVDD端子に接続されている。デコーダIC(U1A)の出力端子(Y1)からは、デコード処理の結果の信号が出力される。
デコードIC(U1A)は、次のようなデコード処理を行う。デコードIC(U1A)は、入力されるPORST#信号が第1の検出電圧(例えば、4.0V)以上である場合には、入力されるR/B#信号に関係なく、結果としてハイレベル(例えば、3.3V)の信号を出力する。また、デコードIC(U1A)は、入力されるPORST#信号がローレベルである場合であって、R/B#信号がレディレベル(ハイレベル)である場合には、結果としてローレベルの信号を出力する。また、デコードIC(U1A)は、入力されるPORST#信号がローレベルである場合であって、R/B#信号がビジーレベル(ローレベル)である場合には、フラッシュメモリ21がビジー状態であることを意味しているので、結果としてハイレベルの信号を出力する。
ここで、PORST#信号がローレベルである場合においては、デコードIC(U1A)が出力する信号がハイレベルであることは、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態であることを意味しており、フラッシュメモリ21への電力の供給を行う必要があるとともに、書込み処理等を実行可能にしておく必要があることを意味している。一方、PORST#信号がローレベルである場合においては、デコードIC(U1A)が出力する信号がローレベルであることは、フラッシュメモリ21の動作状態がレディ状態であることを意味しており、フラッシュメモリ21への電力の供給を遮断しても良く、また、フラッシュメモリ21への書込み処理を実行しないようにしても良いことを意味している。したがって、デコードIC(U1A)は、PORST#信号が第1の設定電圧より低くなったことを検出された場合に、フラッシュメモリ21の動作状態に基づいて、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給を中止するか否かを判定する機能を有している。
ここで、デコードIC(U1A)と第2の電圧検出回路(DET2)との間には、第1の電圧調整回路(PWR1)の出力と接続されているプルアップ抵抗R7が接続されている。したがって、第1の電圧調整回路(PWR1)から供給される電圧が低下すると、デコードIC(U1A)から出力される信号の電圧値が低下してしまうこととなる。例えば、第1の電圧調整回路(PWR1)から供給される電圧が第2の設定値未満になると、第2の電圧検出回路(DET2)に入力される信号の電圧値は、第2の設定値未満となる。
第2の電圧検出回路(DET2)は、この回路(DET2)に入力された電圧が第2の設定値(例えば、2.7V)未満になったか否かを判断し、その判断の結果が肯定的のときに、FWP#信号をライトプロテクトレベル(例えばローレベル)として出力し、その判断の結果が否定的のときに、FWP#信号をライトプロテクト解除レベル(例えばハイレベル)として出力する回路である。具体的には、この回路(DET2)の入力端子(VDD端子)に、デコーダIC(U1A)の出力端子(Y1端子)が接続されており、このVDD端子に、デコーダIC(U1A)から出力された信号が入力される。この回路(DET2)は、VDD端子に入力された電圧が第2の設定値以上であれば、出力端子(OUT端子)から出力されるFWP#信号のレベルをライトプロテクト解除レベル(例えばハイレベル)としている。この回路(DET2)は、VDD端子に入力された電圧が第2の設定値未満になったことを検出したときに、FWP#信号のレベルをライトプロテクトレベル(例えばローレベル)とする。FWP#信号は、フラッシュメモリ21に入力される。フラッシュメモリ21は、FWP#信号のレベルがライトプロテクトレベルになったことを検出した場合(つまりライトプロテクト信号(書込み停止信号)が入力された場合)、以後、ライトプロテクト解除が検出されるまで、フラッシュメモリ21に対する書き込み処理を実行しないようにする。また、FWP#信号は、第3の電圧検出回路(DET3)のVDD端子に入力される。
ここで、第2の電圧検出回路(DET2)に入力される電圧値が第2の設定値未満になる場合としては、デコードIC(U1A)からローレベルの信号が出力されている場合や、第1の電圧調整回路(PWR1)から供給される電圧が第2の設定値未満に低下したために、デコードIC(U1A)から到達する信号の電圧が、第2の設定値未満になってしまった場合が含まれる。
第4の電圧検出回路(DET4)は、この回路(DET4)に入力された電圧が上記第1の設定値(例えば、4.0V)よりも高くなったか否かを判断し、その判断の結果が肯定的のときに、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)に、信号(EN)を動作レベル(例えばハイレベル)として出力する回路である。具体的には、この回路(DET4)の入力端子(VDD端子)に、上記第1の電圧(Vin−Vd1)及び第2の電圧(Cap1電圧−Vd3)のうちの高い方の電圧が入力される。この回路(DET4)は、DET4のVDD端子に入力された電圧が第1の設定値以上であれば、出力端子(OUT端子)から出力される信号(EN)のレベルを動作レベル(例えばハイレベル)としている。信号(EN)は、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)のイネーブル端子(EN端子)に入力される。
第3の電圧検出回路(DET3)は、この回路(DET3)に入力された電圧が第2の設定値(例えば、2.7V)未満となったか否かを判断し、その判断の結果が肯定的のときに、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)に、信号(EN)を停止レベル(例えばローレベル)として出力する回路である。具体的には、この回路(DET3)の入力端子(VDD端子)に、第2の電圧検出回路(DET2)から出力されたFWP#信号が入力される。この回路(DET3)は、VDD端子に入力された電圧が第2の設定値未満であれば、出力端子(OUT端子)から出力される信号(EN)のレベルを停止レベル(例えばローレベル)としている。この停止レベルの信号(EN)が、停止指示信号に相当する。信号(EN)は、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)のイネーブル端子(EN端子)に入力される。
第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)のうちの少なくとも1つが放電機能を有する。本実施例では、いずれの電圧調整回路(PWR1及びPWR2)も放電機能を有している。
第1の電圧調整回路(PWR1)は、主に下記の2つの機能、
(1)上記第1の電圧(Vin−Vd1)及び上記第2の電圧(Cap1電圧−Vd3)のうちの高い方の電圧を第1の動作電圧(例えば3.3V)に調整して出力する機能、
(2)停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されたときに、第1の動作電圧(例えば3.3V)に調整して出力する機能を停止させるとともに、第1の動作電圧によって充電された出力側コンデンサ(Vout_Cap1)の電荷を放電する放電機能、を有する。
具体的には、第1の電圧調整回路(PWR1)の入力端子(IN端子)に、上記第1及び第2の電圧のうちの高い方の電圧が入力されるようになっており、且つ、そのIN端子に、その高い方の電圧によって充電される入力側コンデンサ(Vin_cap1)が接続されている。第1の電圧調整回路(PWR1)のOUT端子に、第1の動作電圧によって充電される出力側コンデンサ(Vout_cap1)が接続されている。第1の電圧調整回路(PWR1)の所定の端子(GND端子)に、第1の動作電圧よりも低い電圧側(典型的にはGND)が接続される。
第1の電圧調整回路(PWR1)から出力された第1の動作電圧は、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22に供給される。第1の電圧調整回路(PWR1)は、IN端子に入力された電圧の値が第1の動作電圧値(例えば3.3V)以下のときは、その入力された電圧の値とほぼ等しい値の電圧を第1の動作電圧として出力し、入力された電圧の値が第1の動作電圧値より高いときは、第1の動作電圧値の電圧を第1の動作電圧として出力する。
第1の電圧調整回路(PWR1)は、EN端子に動作信号(ハイレベルのEN信号)が入力されていれば、この回路(PWR1)は、IN端子とOUT端子が接続されているような状態である(例えば、IN端子とOUT端子との間にあるスイッチング素子が、その素子に動作信号が入力されている間はオン状態である)。故に、IN端子に入力された電圧に基づく第1の動作電圧が、OUT端子から出力されるようになっている。しかし、第1の電圧調整回路(PWR1)のEN端子に停止指示信号(ローレベルのEN信号)が入力されれば、この回路(PWR1)は、IN端子とOUT端子の接続が切断された状態となる(例えば、IN端子とOUT端子との間にあるスイッチング素子が、その素子に停止信号が入力されたときにターンオフする)。故に、IN端子に入力された電圧に基づく第1の動作電圧をOUT端子から出力せず、出力側コンデンサ(Vout_Cap1)に充電されている電荷が、この回路(PWR1)のGND端子を通じて抜けるようになっている。
第2の電圧調整回路(PWR2)の実質的な機能は、第1の電圧調整回路(PWR1)と同じである。
すなわち、第2の電圧調整回路(PWR2)は、主に下記の2つの機能、
(1)上記第1の電圧(Vin−Vd1)及び上記第2の電圧(Cap1電圧−Vd3)のうちの高い方の電圧を、第1の動作電圧よりも低い第2の動作電圧(例えば1.2V)に調整して出力する機能、
(2)停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されたときに、第2の動作電圧(例えば1.2V)に調整して出力する機能を停止させるとともに、第2の動作電圧によって充電された出力側コンデンサ(Vout_Cap2)の電荷を放電する放電機能、を有する。
具体的には、第2の電圧調整回路(PWR2)の入力端子(IN端子)に、上記第1及び第2の電圧のうちの高い方の電圧が入力されるようになっており、且つ、そのIN端子に、その高い方の電圧によって充電される入力側コンデンサ(Vin_cap2)が接続されている。第2の電圧調整回路(PWR2)のOUT端子に、第2の動作電圧によって充電される出力側コンデンサ(Vout_cap2)が接続されている。第2の電圧調整回路(PWR1)の所定の端子(GND端子)に、第2の動作電圧よりも低い電圧側(典型的にはGND)が接続される。
第2の電圧調整回路(PWR2)から出力された第2の動作電圧は、メモリコントローラ22(特にそのコントローラ22内のマイクロコンピュータ)に供給される。第2の電圧調整回路(PWR2)は、IN端子に入力された電圧の値が第2の動作電圧値(例えば1.2V)以下のときは、入力された電圧の値とほぼ等しい値の電圧を第2の動作電圧として出力し、入力された電圧の値が第2の動作電圧値より高いときは、第2の動作電圧値の電圧を第2の動作電圧として出力する。
第2の電圧調整回路(PWR2)も、EN端子に動作信号(ハイレベルのEN信号)が入力されていれば、IN端子に入力された電圧に基づく第2の動作電圧をOUT端子から出力するが、EN端子に停止指示信号(ローレベルのEN信号)が入力されていれば、IN端子に入力された電圧に基づく第2の動作電圧をOUT端子から出力せず、出力側コンデンサ(Vout_Cap2)に充電されている電荷をこの回路(PWR2)のGND端子を通じて抜くようになっている。
以下、この電源回路10で行われる動作の流れを説明する。
電源回路10での動作の流れとして、以下の3つのケースを例に説明する。
(ケース1)外部電源が遮断された場合において、フラッシュメモリ21の動作状態が既にレディ状態であるケース。
(ケース2)外部電源が遮断された場合において、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態であり、その後、バックアップ電源の電圧がフラッシュメモリ21の動作下限電圧(例えば、2.7V)になる前に、フラッシュメモリ21の動作状態がレディ状態となるケース。
(ケース3)外部電源が遮断された場合において、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態であり、その後、バックアップ電源の電圧がフラッシュメモリ21の動作下限電圧(例えば、2.7V)になるまで、フラッシュメモリ21の動作状態が継続してビジー状態であるケース。
まず、ケース1について説明する。
第1の電圧検出回路(DET1)は、第1の電圧(Vin−Vd1)及び第2の電圧(Cap1電圧−Vd3)のうちの高い方の電圧(この回路(DET1)のVDD端子に入力された電圧)が第1の設定値(例えば4.0V)より低いことを検出すると、メモリコントローラ22にリセット信号を出力する(PORST#信号をローレベルにする)。これにより、メモリコントローラ22がフラッシュメモリ21に対する書き込み処理を停止する。
デコードIC(U1A)には、第1の電圧検出回路(DET1)からローレベルのPORST#信号が入力される。また、フラッシュメモリ21の動作状態がレディ状態であるので、デコードIC(U1A)には、フラッシュメモリ21からレディレベル(ハイレベル)のR/B#信号が入力される。この結果、デコードIC(U1A)は、結果としてローレベルの信号を第2の電圧検出回路(DET2)に出力する。
第2の電圧検出回路(DET2)は、デコードIC(U1A)から入力された信号の電圧が第2の設定値未満になったことを検出するので、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のFWP#信号をフラッシュメモリ21と、第3の電圧検出回路(DET3)に出力する。
フラッシュメモリ21は、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のR/B#信号が入力されると、フラッシュメモリ21に対する書き込み処理を実行しないようにする。一方、第3の電圧検出回路(DET3)は、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のFWP#信号が入力されると、入力された電圧が第2の設定値未満であるので、出力端子(OUT端子)から停止レベル(例えば、ローレベル)の信号(EN)を、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)に出力する。
第1の電圧調整回路(PWR1)は、停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されると、第1の動作電圧(例えば3.3V)に調整して出力する機能を停止させる。これにより、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給が遮断される。また、第2の電圧調整回路(PWR2)は、停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されると、第2の動作電圧(例えば1.2V)に調整して出力する機能を停止させる。これにより、メモリコントローラ22への電力の供給が遮断される。
ケース1においては、第2の電圧が第2の設定値(例えば2.7V)より低くなるまで待つことなく、早期にフラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給を遮断することができ、無駄な待ち時間の発生を防止することができる。また、早期に、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給を遮断することができるので、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への負荷を低減することができる。例えば、バックアップ電圧が電圧調整回路の出力レベルと同等レベルまで落ちた場合には、電圧調整回路の出力リップル電圧が増大する可能性があるが、出力リップル電圧がフラッシュメモリ21やメモリコントローラ22に供給されることを効果的に回避することができる。
次に、ケース2について説明する。
第1の電圧検出回路(DET1)は、第1の電圧(Vin−Vd1)及び第2の電圧(Cap1電圧−Vd3)のうちの高い方の電圧(この回路(DET1)のVDD端子に入力された電圧)が第1の設定値(例えば4.0V)より低いことを検出すると、メモリコントローラ22にリセット信号を出力する(PORST#信号をローレベルにする)。これにより、メモリコントローラ22がフラッシュメモリ21に対する書き込み処理を停止する。
デコードIC(U1A)には、第1の電圧検出回路(DET1)からローレベルのPORST#信号が入力される。また、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態であるので、デコードIC(U1A)には、フラッシュメモリ21からビジーレベル(ローレベル)のR/B#信号が入力される。この結果、デコードIC(U1A)は、結果としてハイレベルの信号を第2の電圧検出回路(DET2)に出力する。
第2の電圧検出回路(DET2)には、ハイレベルの信号が入力されているので、ライトプロテクト解除レベル(ハイレベル)のFWP#信号を、フラッシュメモリ21と、第3の電圧検出回路(DET3)とに出力する。この結果、フラッシュメモリ21では、書込み処理が実行され、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)では、電圧の調整処理が継続して実行される。
この後、バックアップ電源の電圧がフラッシュメモリ21の動作下限電圧(例えば、2.7V)になる前に、フラッシュメモリ21の動作状態がレディ状態となると、デコードIC(U1A)には、フラッシュメモリ21からレディレベル(ハイレベル)のR/B#信号が入力されることとなる。デコードIC(U1A)には、第1の電圧検出回路(DET1)からローレベルのPORST#信号が入力されているので、結果としてローレベルの信号を第2の電圧検出回路(DET2)に出力する。
第2の電圧検出回路(DET2)は、デコードIC(U1A)から入力された信号の電圧が第2の設定値未満になったことを検出するので、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のFWP#信号を、フラッシュメモリ21と、第3の電圧検出回路(DET3)とに出力する。
フラッシュメモリ21は、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のR/B#信号が入力されると、フラッシュメモリ21に対する書き込み処理を実行しないようにする。一方、第3の電圧検出回路(DET3)は、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のFWP#信号が入力されると、入力された電圧が第2の設定値未満であるので、出力端子(OUT端子)から停止レベル(例えば、ローレベル)の信号(EN)を、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)に出力する。
第1の電圧調整回路(PWR1)は、停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されると、第1の動作電圧(例えば3.3V)に調整して出力する機能を停止させる。これにより、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給が遮断される。また、第2の電圧調整回路(PWR2)は、停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されると、第2の動作電圧(例えば1.2V)に調整して出力する機能を停止させる。これにより、メモリコントローラ22への電力の供給が遮断される。
ケース2においては、第2の電圧が第2の設定値(例えば2.7V)より低くなるまで待つことなく、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態からレディ状態に変ったことにより、早期にフラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給を遮断することができ、無駄な待ち時間の発生を防止することができる。また、早期に、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給を遮断することができるので、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への負荷を低減することができる。例えば、バックアップ電圧が電圧調整回路の出力レベルと同等レベルまで落ちた場合には、電圧調整回路の出力リップル電圧が増大する可能性があるが、出力リップル電圧がフラッシュメモリ21やメモリコントローラ22に供給されることを効果的に回避することができる。
次に、ケース3について説明する。
第1の電圧検出回路(DET1)は、第1の電圧(Vin−Vd1)及び第2の電圧(Cap1電圧−Vd3)のうちの高い方の電圧(この回路(DET1)のVDD端子に入力された電圧)が第1の設定値(例えば4.0V)より低いことを検出すると、メモリコントローラ22、デコードIC(U1A)にリセット信号を出力する(PORST#信号をローレベルにする)。これにより、メモリコントローラ22がフラッシュメモリ21に対する書き込み処理を停止する。
デコードIC(U1A)には、第1の電圧検出回路(DET1)からローレベルのPORST#信号が入力される。また、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態であるので、デコードIC(U1A)には、フラッシュメモリ21からビジーレベル(ローレベル)のR/B#信号が入力される。この結果、デコードIC(U1A)は、結果としてハイレベルの信号を第2の電圧検出回路(DET2)に出力する。
第2の電圧検出回路(DET2)には、ハイレベルの信号が入力されているので、ライトプロテクト解除レベル(ハイレベル)のFWP#信号をフラッシュメモリ21と、第3の電圧検出回路(DET3)に出力する。この結果、フラッシュメモリ21では、書込み処理が実行され、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)では、電圧の調整処理が継続して実行される。
この後、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態として継続されて、第1の電圧調整回路(PWR1)から供給される電圧が第2の設定値(例えば、2.7V)未満になると、デコードIC(U1A)から第2の電圧検出回路(DET2)に入力される信号が第2の設定値未満の電圧になる。
第2の電圧検出回路(DET2)は、デコードIC(U1A)から入力された信号の電圧が第2の設定値未満になったことを検出すると、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のFWP#信号を、フラッシュメモリ21と、第3の電圧検出回路(DET3)とに出力する。
フラッシュメモリ21は、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のR/B#信号が入力されると、フラッシュメモリ21に対する書き込み処理を実行しないようにする。一方、第3の電圧検出回路(DET3)は、ライトプロテクトレベル(ローレベル)のFWP#信号が入力されると、入力された電圧が第2の設定値未満であるので、出力端子(OUT端子)から停止レベル(例えば、ローレベル)の信号(EN)を、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)に出力する。
第1の電圧調整回路(PWR1)は、停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されると、第1の動作電圧(例えば3.3V)に調整して出力する機能を停止させる。これにより、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給が遮断される。また、第2の電圧調整回路(PWR2)は、停止指示信号(ローレベルの信号(EN))がEN端子に入力されると、第2の動作電圧(例えば1.2V)に調整して出力する機能を停止させる。これにより、メモリコントローラ22への電力の供給が遮断される。
ケース3においては、フラッシュメモリ21の動作状態がビジー状態からレディ状態に変ることなく、第2の電圧が第2の設定値(例えば2.7V)より低くなった場合には、その時点で、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電力の供給を適切に遮断することができる。
以下、本発明の実施例2を説明する。その際、実施例1との相違点を主に説明し、実施例1との共通点については説明を省略或いは簡略する。
図3は、実施例2に係る電源回路30の構成例を示す。なお、図2に示す実施例1に係る電源回路10と同一部分には、同一符号を付している。
電源回路30では、電源回路10におけるデコーダIC(U1A)に代えて、論理回路31を備えている。論理回路31は、NOT回路(U2A)と、NAND回路(U2B)とを有する。
NOT回路(U2A)は、入力端子から入力された信号を反転させて、出力端子から出力する。NOT回路(U2A)の入力端子には、第1の電圧検出回路(DET1)のOUT端子から出力されたPORST#信号が入力される。従って、NOT回路(U2A)は、リセット解除レベル(例えばハイレベル)のPORST#信号が入力されると、ローレベルの信号を出力する一方、リセットレベル(例えばローレベル)のPORST#信号が入力されると、ハイレベルの信号を出力する。NOT回路(U2A)の出力端子から出力される信号は、NAND回路(U2B)の一方の入力端子に入力される。
NAND回路(U2B)は、2つの入力端子から入力された信号のNAND(否定論理積)の結果を出力端子から出力する。NAND回路(U2B)の一方の入力端子には、NOT回路(U2A)の出力が入力され、他方の入力端子には、フラッシュメモリ21から出力されるR/B#信号が入力される。
NAND回路(U2B)は、NOT回路(U2A)の出力信号がハイレベル(すなわち、PORST#信号がリセットレベル)であって、且つ、R/B#信号がハイレベル(すなわち、フラッシュメモリ21の動作状態がレディ状態)である場合には、ローレベルの信号を出力し、それ以外の場合には、ハイレベルの信号を出力する。このように、論理回路31は、デコーダIC(U1A)と同じ信号が入力されると、同じ信号を出力することができる。すなわち、論理回路31は、デコーダIC(U1A)と同様な動作をすることができる。なお、論理回路31の回路構成は、これに限られず、デコーダIC(U1A)と同様な動作を行うことができる回路であれば任意の回路構成で良い。
実施例2によると、電源回路30は、実施例1の電源回路10と同様な動作をすることができるので、同様な効果を得ることができる。また、デコーダICではなく、簡易な構成で同様の効果を得ることができる。
以下、本発明の実施例3を説明する。その際、実施例1との相違点を主に説明し、実施例1との共通点については説明を省略或いは簡略する。
図4は、実施例3に係る電源回路60の構成例を示す。なお、図2に示す実施例1に係る電源回路10と同一部分には、同一符号を付している。
電源回路60は、電源回路10において、第2の電圧検出回路(DET2)の後段に、FWP#信号が入力される報知手段の一例としての報知回路61を備えるようにしたものである。なお、実施例2に係る電源回路30の第2の電圧検出回路(DET2)の後段に、報知回路61を接続するようにしても良い。
報知回路61は、例えば、トランジスタQ1と、LED(LED1)とを備える。報知回路61は、FWP#信号がハイレベル(ライトプロテクト解除レベル)である場合に、LED(LED1)を常時点灯し、FWP#信号がローレベル(ライトプロテクトレベル)である場合に、LED(LED1)を消灯する回路構成となっている。
実施例3によると、LED(LED1)の点灯状態に基づいて、ユーザが、FWP#信号がライトプロテクトレベルであるか否か、すなわち、フラッシュメモリ21における書込み処理が停止されているか否かを容易且つ適切に把握することができる。また、本実施例では、FWP#信号のレベルに基づいて、第1及び第2の電圧調整回路(PWR1及びPWR2)の動作を停止する停止指示信号が制御されるので、電圧調整回路(PWR1及びPWR2)の動作が停止しているか否か、すなわち、フラッシュメモリ21及びメモリコントローラ22への電圧の供給が遮断されているか否かについても同様に把握することができる。
これにより、フラッシュメモリ21やメモリコントローラ22の動作中に、フラッシュメモリシステムをコネクタからユーザが誤って抜き取ってしまう事態の発生を適切に防止できる。
以上、本発明の幾つかの実施例を説明したが、これらは、本発明の説明のための例示であって、本発明の範囲をこれらの実施例にのみ限定する趣旨ではない。すなわち、本発明は、他の種々の形態でも実施する事が可能である。
10,30,60…電源回路、21…フラッシュメモリ、22…メモリコントローラ、31…論理回路、61…報知回路。

Claims (6)

  1. フラッシュメモリと前記フラッシュメモリに対するアクセスを制御するメモリコントローラへの動作電圧の供給を制御するフラッシュメモリシステムであって、
    外部から供給される入力電圧によって充電される入力充電手段と、
    前記入力電圧と前記入力充電手段の充電電圧とのいずれか高い方の電圧を前記動作電圧に調整して出力する電圧調整手段と、
    前記入力電圧が第1の設定値より低くなったことを検出する電圧検知手段と、
    前記入力電圧が前記第1の設定値より低くなったことを検出した場合に、前記フラッシュメモリの動作状態に基づいて、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止するか否かを判定する供給判定手段と、
    前記供給判定手段により前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定した場合に、前記電圧調整手段に対して、動作を停止させる停止指示信号を出力する動作制御手段と
    を備えるフラッシュメモリシステム。
  2. 前記供給判定手段は、前記入力電圧が前記第1の設定値より低くなったことを検出された場合において、前記フラッシュメモリの動作状態を逐次取得し、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止するか否かを判定する、
    請求項1記載のフラッシュメモリシステム。
  3. 前記動作制御手段は、前記供給判定手段により前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定された場合に、前記フラッシュメモリに対して、書込み処理を実行させないことを指示する書込み停止信号を出力する、
    請求項2記載のフラッシュメモリシステム。
  4. 前記動作制御手段は、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定された場合、又は、前記動作電圧が第2の設定値より低くなったことを検出した場合に、前記電圧調整手段に対して、動作を停止させる停止指示信号を出力する、
    請求項2記載のフラッシュメモリシステム。
  5. 前記書込み停止信号が出力されているか否かを報知する報知手段、
    を更に備える請求項1乃至4のうちのいずれか1項に記載のフラッシュメモリシステム。
  6. フラッシュメモリと前記フラッシュメモリに対するアクセスを制御するメモリコントローラへの動作電圧の供給を制御する方法であって、
    外部から供給される入力電圧が第1の設定値より低くなったことを検出した場合に、前記フラッシュメモリの動作状態に基づいて、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止するか否かを判定するステップと、
    前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止すると判定された場合に、前記フラッシュメモリ及び前記メモリコントローラへの電力の供給を中止させるステップと
    を有する電源供給制御方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015230513A (ja) * 2014-06-03 2015-12-21 Tdk株式会社 電源回路及びこれを備えるフラッシュメモリシステム
JP2018142392A (ja) * 2017-02-24 2018-09-13 アズビル株式会社 メモリ電源供給回路、制御装置、およびメモリ電源供給方法
US10700546B2 (en) 2015-12-22 2020-06-30 Murata Manufacturing Co., Ltd. Circuit design apparatus, backup power supply, circuit design program, and capacitor energy amount calculation method
WO2020217303A1 (ja) * 2019-04-23 2020-10-29 株式会社Fuji 情報処理装置及び作業機

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04354041A (ja) * 1991-05-31 1992-12-08 Nippondenso Co Ltd 車載用制御装置
JPH05143479A (ja) * 1991-11-21 1993-06-11 Koufu Nippon Denki Kk データ保持制御装置
JPH09204366A (ja) * 1996-01-24 1997-08-05 Nec Corp バックアップ装置
JP2001282402A (ja) * 2000-04-03 2001-10-12 Mitsubishi Electric Corp 記録媒体制御装置
WO2004092962A1 (ja) * 2003-04-17 2004-10-28 Fujitsu Limited 半導体装置、リセット制御システム及びメモリリセット方法
JP2007156864A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd データ保持装置
JP2008046728A (ja) * 2006-08-11 2008-02-28 Tdk Corp 電源回路、フラッシュメモリシステム及び電源供給方法
JP2009237602A (ja) * 2008-03-25 2009-10-15 Toshiba Memory Systems Co Ltd メモリシステム

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04354041A (ja) * 1991-05-31 1992-12-08 Nippondenso Co Ltd 車載用制御装置
JPH05143479A (ja) * 1991-11-21 1993-06-11 Koufu Nippon Denki Kk データ保持制御装置
JPH09204366A (ja) * 1996-01-24 1997-08-05 Nec Corp バックアップ装置
JP2001282402A (ja) * 2000-04-03 2001-10-12 Mitsubishi Electric Corp 記録媒体制御装置
WO2004092962A1 (ja) * 2003-04-17 2004-10-28 Fujitsu Limited 半導体装置、リセット制御システム及びメモリリセット方法
JP2007156864A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd データ保持装置
JP2008046728A (ja) * 2006-08-11 2008-02-28 Tdk Corp 電源回路、フラッシュメモリシステム及び電源供給方法
JP2009237602A (ja) * 2008-03-25 2009-10-15 Toshiba Memory Systems Co Ltd メモリシステム

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015230513A (ja) * 2014-06-03 2015-12-21 Tdk株式会社 電源回路及びこれを備えるフラッシュメモリシステム
US10700546B2 (en) 2015-12-22 2020-06-30 Murata Manufacturing Co., Ltd. Circuit design apparatus, backup power supply, circuit design program, and capacitor energy amount calculation method
JP2018142392A (ja) * 2017-02-24 2018-09-13 アズビル株式会社 メモリ電源供給回路、制御装置、およびメモリ電源供給方法
WO2020217303A1 (ja) * 2019-04-23 2020-10-29 株式会社Fuji 情報処理装置及び作業機
JPWO2020217303A1 (ja) * 2019-04-23 2021-10-21 株式会社Fuji 情報処理装置及び作業機
JP7111892B2 (ja) 2019-04-23 2022-08-02 株式会社Fuji 情報処理装置及び作業機

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