JP2014035864A - 成膜装置及び有機el素子の製造方法 - Google Patents

成膜装置及び有機el素子の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014035864A
JP2014035864A JP2012176088A JP2012176088A JP2014035864A JP 2014035864 A JP2014035864 A JP 2014035864A JP 2012176088 A JP2012176088 A JP 2012176088A JP 2012176088 A JP2012176088 A JP 2012176088A JP 2014035864 A JP2014035864 A JP 2014035864A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film forming
chamber
film
forming apparatus
deposition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012176088A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5934604B2 (ja
Inventor
Hideo Yamagishi
英雄 山岸
Katsuhiko Hayashi
克彦 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaneka Corp
Original Assignee
Kaneka Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kaneka Corp filed Critical Kaneka Corp
Priority to JP2012176088A priority Critical patent/JP5934604B2/ja
Publication of JP2014035864A publication Critical patent/JP2014035864A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5934604B2 publication Critical patent/JP5934604B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

【課題】真空蒸着法に加えて他の成膜方法にも対応でき、かつ設置面積が小さくコンパクトな成膜装置、及び当該成膜装置を用いた有機EL素子の製造方法を提供する。
【解決手段】成膜装置1は、第一成膜室2、第二成膜室3、及び真空室5がこの順番に直列配置された構成を有している。第一成膜室2にはエリアソース方式の真空蒸着を実施できるエリア蒸着装置10が設置されている。第二成膜室2には対向型スパッタ装置であるリニア成膜装置20が設置されている。第二成膜室2の幅は、第一成膜室2の幅よりも小さい。第一成膜室2で静止状態のガラス基板8に対してエリア蒸着を行い、第二成膜室3を通過中のガラス基板8に対してリニア成膜を行う。
【選択図】図4

Description

本発明は、基材上に有機EL素子用の薄膜を成膜する成膜装置、及び当該成膜装置を用いた有機EL素子の製造方法に関する。本発明の成膜装置は、異なる方式の成膜を1つの装置で実現可能であり、かつ設置面積が小さくコンパクトなものである。
近年、白熱灯や蛍光灯に変わる照明装置として有機EL装置が注目され、多くの研究がなされている。また、テレビに代表されるディスプレイ部材においても液晶方式やプラズマ方式に変わる方式として有機EL方式が注目されている。
ここで有機EL装置は、ガラス基板や透明樹脂フィルム等の基材に、有機EL素子を積層したものである。また有機EL素子は、一方又は双方が透光性を有する2つの電極を対向させ、この電極の間に有機化合物からなる発光層を積層したものである。有機EL素子は、電気的に励起された電子と正孔との再結合のエネルギーによって発光する。有機EL装置は、自発光デバイスであるため、ディスプレイ材料として使用すると高コントラストの画像を得ることができる。また、発光層の材料を適宜選択することにより、種々の波長の光を発光することができる。また白熱灯や蛍光灯に比べて厚さが極めて薄く、且つ面状に発光するので、設置場所の制約が少ない。
有機EL装置の代表的な層構成は、図14の通りである。図14に示される有機EL装置200は、ボトムエミッション型と称される構成であり、ガラス基板101に、透明電極層102と、機能層103と、裏面電極層105が積層され、これらが封止部106によって封止されたものである。そして、透明電極層102、機能層103、及び裏面電極層105によって、有機EL素子107が構成されている。
有機EL装置は、ガラス基板101上に、前記した層を順次成膜することによって製造される。ここで上記した各層の内、透明電極層102は、酸化インジウム錫(ITO)等の透明導電膜層であり、主にスパッタリング法あるいはCVD法によって成膜されている。一方、機能層103は、有機化合物等からなる複数の薄膜(正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層など)が積層されたものである。機能層103を構成する各薄膜は、いずれも真空蒸着法によって成膜されている。また裏面電極層105は、アルミニウムや銀等の金属薄膜であり、真空蒸着法によって成膜されている。
このように、有機EL装置(有機EL素子)を製造する際の成膜には、真空蒸着法が多用されている。
上記のように、有機EL装置(有機EL素子)を製造する際には複数の薄膜を成膜することとなる。ここで、有機EL素子をより効率よく生産するためには、1つの成膜装置でできるだけ多種類の薄膜を成膜できることが好ましい。例えば、機能層を構成する複数の薄膜を順次成膜する場合には、基板を成膜室から出し入れすることなく、1つの成膜室内でできるだけ多種類の薄膜を成膜できることが好ましい。特許文献1,2には、成膜室内に設置された基材に対して複数種の薄膜を成膜することができる蒸着装置が開示されている。
また真空蒸着法によって大面積の基材に薄膜を成膜する際には、より均一な膜厚と膜質が得られる点で、エリアソースと称される原料供給方式を採用することが好ましい。エリアソース方式では、面状の広がりをもって分布した複数の孔から薄膜材料を放出し、対向する基材の表面に成膜する。特許文献1,2に開示されている蒸着装置も、エリアソース方式のものである。エリアソース方式は、均一な膜厚と膜質を得られる点で有利であるが、基材のサイズ以上の薄膜材料放出面を必要とするので、成膜室のサイズも相応のものとなり、成膜装置を小型化することが難しい。
また上記のように、機能層を構成する各薄膜は、通常、真空蒸着法で成膜されている。しかし、有機EL素子の技術発展にともなって成膜すべき薄膜の種類も多様化する傾向にある。そのため、薄膜の種類によっては真空蒸着法以外の方法、例えばスパッタリング法やレーザーアブレーション法が適している場合も想定される。しかし、スパッタリング法等の実施も可能な装置とするためには、装置全体がさらに大型化するおそれがある。なお、真空蒸着法ではより高度な真空が求められ、スパッタリング法等と共有できる装置構成は少ない。
なお一般に、成膜室とは別に、基材の仕込み/取り出し室としての真空室を設け、真空状態を維持した状態で基材が成膜室と真空室との間を移動できる構成が採用されている。例えば、成膜室と真空室との間をゲートバルブで繋ぐ構成が採用されている。
特開2012−52187号公報 国際公開第2012/46795号
上記現状に鑑み、本発明は、真空蒸着法に加えて他の成膜方法にも対応でき、かつ設置面積が小さくコンパクトな成膜装置を提供することを目的とする。
上記した課題を解決するための請求項1に記載の発明は、基材上に有機EL素子用の薄膜を成膜する成膜装置であって、第一成膜室、第二成膜室、及び真空室がこの順番に直列配置され、第一成膜室と第二成膜室との間、及び第二成膜室と真空室との間にはそれぞれ開閉部が設けられ、当該開閉部を開放することにより隣接する部屋同士が連通し、前記開閉部を介して基材を搬送する基材搬送手段を備え、第一成膜室は、基材全体を収容可能な内部空間を有し、第一成膜室には、静止状態の基材における成膜すべき面全体に成膜可能なエリア蒸着装置が設置され、第一成膜室には、クライオポンプが全開閉可能に直結されており、第二成膜室は、基材の搬送方向において当該基材の幅よりも小さい内部空間を有し、第二成膜室には、基材の一部である線状の領域に成膜可能でかつ搬送中の基材に対して成膜可能なライン成膜装置が設置され、当該ライン成膜装置は、スパッタリング法及びレーザーアブレーション法からなる群より選ばれた1以上の成膜方法によって成膜するものであり、真空室は、基材全体を収容可能な内部空間を有し、前記開閉部を全て開放した状態で、基材を搬送しながら前記ライン成膜装置による成膜が実施されることを特徴とする成膜装置である。
本発明は基材上に有機EL素子用の薄膜を成膜する成膜装置に係るものである。本発明の成膜装置は、第一成膜室、第二成膜室、及び真空室を備えており、且つこれらがこの順番に直列配置されている。さらに、第一成膜室と第二成膜室との間、及び第二成膜室と真空室との間にはそれぞれ開閉部が設けられており、当該開閉部を開放することにより隣接する部屋同士が連通する。
さらに本発明の成膜装置は、開閉部を介して基材を搬送する基材搬送手段を備えている。そのため、前記した開閉部を開放することにより、基材が第一成膜室、第二成膜室、及び真空室の間を移動することができる。
また本発明の成膜装置においては、第一成膜室にエリア蒸着装置が設置され、第二成膜室にはスパッタリング法又はレーザーアブレーション法用のライン成膜装置が設置されている。ここで、第一成膜室は基材全体を収容可能な内部空間を有するが、第二成膜室の内部空間は、基材の搬送方向において基材の幅よりも小さい。
本発明の成膜装置は、真空蒸着法用の第一成膜室と、スパッタリング法又はレーザーアブレーション法用の第二成膜室を備えているので、1つの装置で多種多様な薄膜製造に対応することができる。
また本発明の成膜装置では、第一成膜室と真空室との間に第二成膜室を設けているが、第二成膜室がライン成膜用であり幅が小さいので、設置面積が小さくコンパクトである。
さらに本発明の成膜装置では、第一成膜室と真空室との間を基材が移動する間に、換言すれば、基材が第二成膜室を通過する間にスパッタリング法等によるライン成膜を行えるので、操作が簡便である。
請求項1に記載の成膜装置において、ライン成膜装置による成膜が、前記クライオポンプを全閉した状態で実施される構成が好ましい(請求項2)。
請求項1又は2に記載の成膜装置において、真空室にはターボ分子ポンプが直結されており、ライン成膜装置による成膜が、前記ターボ分子ポンプで第一成膜室、第二成膜室、及び真空室を真空引きした状態で実施される構成が好ましい(請求項3)。
請求項1乃至3のいずれかに記載の成膜装置において、ライン成膜装置は、対向型スパッタ装置である構成が好ましい(請求項4)。
請求項5に記載の発明は、エリア蒸着装置は薄膜材料を蒸発させる蒸発装置を複数有し、各蒸発装置で蒸発させた薄膜材料を個別に放出させることが可能であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の成膜装置である。
本発明の成膜装置では、エリア蒸着装置が複数の成膜材料を個別に放出可能である。かかる構成により、第一成膜室において、より多種類の薄膜を成膜することができる。
請求項6に記載の発明は、請求項1乃至5のいずれかに記載の成膜装置を用いた有機EL素子の製造方法であって、前記有機EL素子は、少なくとも電極層と機能層を有し、電極層以外の層であって、かつ少なくとも機能層を構成する全ての層を、1つの前記成膜装置のみで成膜することを特徴とする有機EL素子の製造方法である。
本発明は有機EL素子の製造方法に係るものである。本発明の有機EL素子の製造方法では、上記した成膜装置を1つのみ用いて、電極層を除く、少なくとも機能層を構成する全ての層を成膜する。本発明によれば、有機EL素子の製造を効率的に行うことができる。
本発明の成膜装置は、真空蒸着法用の第一成膜室と、スパッタリング法又はレーザーアブレーション法用の第二成膜室を備えているので、1つの装置で多種多様な薄膜製造に対応することができる。また、第一成膜室と真空室との間に第二成膜室を設けているが、第二成膜室がライン成膜用であり幅が小さいので、設置面積が小さくコンパクトである。さらに、第一成膜室と真空室との間を基材が移動する間にスパッタリング法等によるライン成膜を行えるので、操作が簡便である。
本発明の有機EL素子の製造方法によれば、機能層を構成する全ての層を1つの成膜装置のみで成膜するので、有機EL素子の製造を効率的に行うことができる。
本発明の一実施形態に係る成膜装置の外観を表す斜視図である。 第一成膜室と第二成膜室との境界部分を表す斜視図である。 第二成膜室と真空室との境界部分を表す斜視図である。 図1の成膜装置の内部構成を表す斜視図である。 エリア蒸着装置が有する薄膜材料放出チャンバーの斜視図である。 ライン成膜装置の主要部分の構成を表す斜視図である。 エリア蒸着装置とライン成膜装置の位置関係を表す正面図である。 エリア蒸着装置、ライン成膜装置、及びガラス基板の位置関係を表す平面図である。 図1の成膜装置で成膜する手順を表す説明図であり、(a)はエリア蒸着を行っている状態、(b)はライン成膜を行っている状態、(c)は成膜が完了した状態を表す。 図1の成膜装置を備えた薄膜製造装置の構成例を表す説明図である。 本発明の他の実施形態に係る成膜装置の構成を表す平面図である。 本発明の他の実施形態に係る成膜装置の構成を表す平面図である。 本発明の他の実施形態に係る成膜装置の構成を表す平面図である。 有機EL装置の代表的な層構成を表す断面図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、発明の理解を容易にするために、各図面において、各部材の大きさや厚み等については一部誇張して描かれており、実際の大きさや比率等とは必ずしも一致しないことがある。さらに、本発明が以下の実施形態に限定されないことは当然である。
また以下の説明における上下方向、左右方向、奥側と手前側は、図7の正面図を基準とする。例えば「左右方向」は、成膜装置における直列方向、基材の搬送方向・移動方向と一致する。
本発明の一実施形態に係る成膜装置1は、基材上に有機EL素子用の薄膜を成膜するものである。成膜装置1により、例えば、図14に示す有機EL素子107における機能層103を構成する薄膜を成膜することができる。
成膜装置1は、図1に示すように、第一成膜室2、第二成膜室3、及び真空室5がこの順番に直列配置された構成を有している。第一成膜室2、第二成膜室3、及び真空室5は、いずれも直方体状の部屋である。なお図1に示すように、直列方向において、第二成膜室3のサイズ(幅)は第一成膜室2と真空室5のサイズ(幅)よりも小さい。
図2に示すように、第一成膜室2と第二成膜室3との間には成膜室側開閉部(開閉部)6が設けられており、第一成膜室2と第二成膜室3は成膜室側開閉部6を介して隣接している。成膜室側開閉部6は気密性を備えており、成膜室側開閉部6を閉塞することにより、第一成膜室2の気密性が保たれる。一方、成膜室側開閉部6を開放することにより、第一成膜室2と第二成膜室3とが連通する。
図3に示すように、第二成膜室3と真空室5との間には真空室側開閉部(開閉部)7が設けられており、第二成膜室3と真空室5は真空室側開閉部7を介して隣接している。真空室側開閉部7は気密性を備えており、真空室側開閉部7を閉塞することにより、真空室5の気密性が保たれる。一方、真空室側開閉部7を開放することにより、第二成膜室3と真空室5とが連通する。
同様に、成膜室側開閉部6と真空室側開閉部7の両方を閉塞することにより、第二成膜室3の気密性が保たれる。また、成膜室側開閉部6と真空室側開閉部7の両方を開放することにより、第一成膜室2、第二成膜室3、及び真空室5が連通する。
成膜装置1においては、大面積(例えば1平方メートル四方)の被成膜面を有する基材を成膜対象とすることができる。本実施形態では、大面積のガラス基板(基材)8を成膜対象とする。
第一成膜室2は真空蒸着法による成膜を行う部屋であり、ガラス基板8全体を収容できる広さを有する。第一成膜室2の内部には、エリア蒸着装置10が設置されている。
エリア蒸着装置10は、大面積のガラス基板8に対してエリアソース方式の真空蒸着法による成膜を実施できるものである。エリア蒸着装置10は、中空かつ平板状の薄膜材料放出チャンバー11を有している。
薄膜材料放出チャンバー11は、蒸発装置(図示せず)で気化させた薄膜材料の蒸気が導入され、薄膜材料の蒸気を被成膜面に向けて放出させるものである。図4、図5、図7に示すように、薄膜材料放出チャンバー11の一方の平面には、多数の孔12が面状の広がりをもって分布している。薄膜材料放出チャンバー11に導入された薄膜材料の蒸気は、これらの孔12から放出される。また孔12を有する平面が、薄膜材料放出部15として機能する。薄膜材料放出部15のサイズは、ガラス基板8の被成膜面のサイズと略同じである。すなわち、薄膜材料放出部15は大面積であり、そのため、第一成膜室2のサイズも相応のものとなる。
またエリア蒸着装置10は、複数種の薄膜を成膜可能な構成を有する。例えば、薄膜材料を蒸発させる蒸発装置を複数有しており、蒸発装置ごとに異なる種類の薄膜材料を蒸発させることができる。そして、適宜の切り替え手段(バルブ、シャッターなど)にて、薄膜材料放出部15へ送る薄膜材料(蒸気)の種類を選択し、所望の薄膜を成膜することができる。
第一成膜室2には、クライオポンプ17がバルブ18を介して全開閉可能に直結されている。クライオポンプ17を作動させることにより、第一成膜室2内を高真空状態にすることができる。なお、第一成膜室2には粗引きポンプ(図示せず)が別途接続されている。
第二成膜室3はスパッタリング法によるリニア成膜を行う部屋である。第二成膜室3の内部には、ライン成膜装置20が設置されている。
ライン成膜装置20は対向型スパッタ装置であり、図4、図6、図7に示すように、対向する2つのターゲット21a,21bを備えている。ターゲット21a,21bは平板状であり、成膜装置1の直列方向に一定の距離を空けて平行に設置されている。またターゲット21a,21bは、薄膜材料放出部15を構成する平面と直交する向きに配置されている。ターゲット21a,21bの上下方向の長さはガラス基板8の縦の長さと略等しい。一方、ターゲット21a,21b間の距離は、ガラス基板8の横幅よりもかなり小さい。そのため、第二成膜室3のサイズ(幅)は第一成膜室2と比較してかなり小さいものとなっており、第二成膜室3にはガラス基板8全体を収容することができない。
ターゲット21a,21b間の縦長の空間がプラズマ発生空間22となる。
第二成膜室3は、Arガス導入やArプラズマ発生等に必要な構成(図示せず)を全て備えている。
真空室5は第二成膜室3に隣接している。真空室5のサイズは第一成膜室2のサイズと略等しく、ガラス基板8全体を収容可能である。
真空室5にはターボ分子ポンプ25がバルブ24を介して直結されている。ターボ分子ポンプ25を動作させることにより、真空室5内を高真空状態にすることができる。また、成膜室側開閉部6と真空室側開閉部7を開放した状態で、第一成膜室2、第二成膜室3、及び真空室5からなる一連の空間を高真空状態にすることができる。
すなわち、第一成膜室2を超高真空に真空引き可能な状態を維持する観点から、真空室5にはドライ真空系ポンプが直結されていることが好ましく、ターボ分子ポンプが直結されていることがより好ましい。そこで本実施形態では、ターボ分子ポンプ25が真空室5に直結されている構成を採用している。
なお、真空室5には粗引きポンプ(図示せず)が別途接続されている。
図4に示すように、成膜装置1は、第一成膜室2から真空室5にわたって直列方向に敷設されたレール28を有する。そして、保持部材(図示せず)に保持されたガラス基板8がレール28上に設置される。ガラス基板8は、成膜装置1が備える基材搬送手段(図示せず)によって、レール28に沿って第一成膜室2から真空室5の間を移動(搬送)可能である。
レール28は部屋ごとに分断されている(レール28a〜28c)。
エリア蒸着装置10とライン成膜装置20の位置関係について説明すると、第一成膜室2と第二成膜室3が隣接しているので、エリア蒸着装置10とライン成膜装置20は直列方向(左右方向)に並んでいる。詳細には、正面視においてエリア蒸着装置が左に、ライン成膜装置20が右に位置する(図7)。
ガラス基板8とエリア蒸着装置10及びライン成膜装置20との位置関係について説明する。前述のように、ガラス基板8はレール28の上を移動でき、具体的には図8の矢印で示す方向に移動できる。
まず、ガラス基板8が第一成膜室2内に位置する状態においては、ガラス基板8と薄膜材料放出部15とが対向し、互いに平行の関係となる。
またガラス基板8の一部が第二成膜室3内に位置する状態においては、ガラス基板8とターゲット21a,21bとが互いに垂直の関係となる。また、ターゲット21a,21b間の縦長の空間(プラズマ発生空間22)の端部がガラス基板8に対向する。より詳細には、プラズマ発生空間22の端部が、ガラス基板8の一部であって上下方向に延びる線状の領域に対向する。なお後述するように、当該線状の領域がライン成膜装置20による成膜領域となる。
各部屋のサイズとガラス基板8のサイズの関係について説明すると、第一成膜室2と真空室5はガラス基板8全体を収容可能な内部空間を有している。すなわち、第一成膜室2において薄膜材料放出チャンバー11に対向する内壁面のサイズは、ガラス基板8の被成膜面のサイズ以上である。真空室についても同様であり、ガラス基板8に対向する真空室の内壁面のサイズは、ガラス基板8の被成膜面のサイズ以上である。
一方、第二成膜室3は横幅が小さく、ガラス基板8全体を収容できない。すなわち、第二成膜室3においてガラス基板8に対向する内壁面のサイズは、ガラス基板8の被成膜面のサイズよりも小さい。そのため、第二成膜室3内にガラス基板8がある状態では、必ずガラス基板8の一部が第二成膜室3及び/又は真空室5にはみ出ることとなる。
成膜装置1の作用について、図9(a)〜(c)を参照しながら説明する。成膜装置1は、真空蒸着法によるエリア蒸着と、スパッタリング法によるライン成膜を、ガラス基板8を移動させることにより連続して行えるものである。以下、ガラス基板8にエリア蒸着による成膜を行い、続いてライン成膜による成膜を行う手順例について説明する。
まず、成膜対象のガラス基板8を成膜装置1のレール28上に設置する。このガラス基板8としては、例えば、ITOからなる透明電極層が予め成膜された状態のものを使用することができる。
次に、レール28上のガラス基板8を第一成膜室2に搬送する。そして、エリア蒸着装置10の薄膜材料放出部15に対向する位置で、ガラス基板8を静止させる(図9(a))。成膜室側開閉部6を閉塞する。
粗引きポンプで粗引きを行った後、クライオポンプ17(図1)を動作させ(全開)、第一成膜室2内を高真空状態にする。
蒸発装置(図示せず)を動作させて薄膜材料を蒸発させ、薄膜材料放出部15から静止状態のガラス基板8に向けて薄膜材料の蒸気を放出させる(図9(a)の矢印)。これにより、ガラス基板8の全面に所望の薄膜が成膜される(エリア蒸着)。必要に応じて、放出される薄膜材料の種類を切り替えて、複数種の薄膜を成膜する。
続いてスパッタリング法による成膜を行う。まず予め、真空室側開閉部7を開放して第二成膜室3と真空室5とを連通させる。そして、真空室5に接続された粗引きポンプにて粗引きした後、ターボ分子ポンプ25(図1)で第二成膜室3と真空室5からなる空間を高真空状態としておく。
第一成膜室2において、バルブ18を全閉してクライオポンプ17による真空引きを止める。そして、成膜室側開閉部6を開放し、第一成膜室2、第二成膜室3、及び真空室5が連通する状態にする。
真空室5のターボ分子ポンプ25を動作させ、一連の空間を真空引きし、高真空状態とする。続いて、スパッタリングに必要な量のArガスを導入する。そして真空度を調整した後、ライン成膜装置20のプラズマ発生空間22にArプラズマを発生させる。
この状態で、ガラス基板8を第一成膜室2から真空室5に向けてレール28上を移動させる(図9(b))。このとき、ガラス基板8が、その被成膜面をプラズマ発生空間22に向けた状態で第二成膜室3を通過する。このとき、プラズマ発生空間22からターゲット由来の薄膜材料がガラス基板8に向かい、第二成膜室3内にあるガラス基板8の線状の領域が順次成膜される(ライン成膜)。すなわち、搬送中(移動中)のガラス基板8に対してスパッタリング法によるライン成膜が行われる。
そのままガラス基板8を真空室5まで搬送する(図9(c))。これにより、ガラス基板8の被成膜面が全て第二成膜室3を通過し、スパッタリング法によるライン成膜が完了する。
この例では、ガラス基板8を第一成膜室2から真空室5に移動させながらライン成膜を行っているが、逆方向、すなわち真空室5から第一成膜室2に移動させながらライン成膜を行ってもよい。
また、この例ではエリア蒸着の後にリニア成膜を行っているが、エリア蒸着とリニア成膜の順番や回数は任意である。例えば、先にリニア成膜を行い、その後にエリア蒸着を行ってもよい。さらにエリア蒸着とリニア成膜とを交互に行ってもよい。
このようにして、例えば、有機EL素子の機能層を構成する全ての層を、1つの成膜装置1のみで成膜することができる。
本実施形態の成膜装置1による成膜は、例えば、図10に示すような薄膜製造装置30を用いることにより、効率的に行うことができる。図10に示す薄膜製造装置30には、本実施形態の成膜装置1が組み込まれている。詳細には、薄膜製造装置30は、成膜装置1に加えて基材搬入室31、基材搬出室32、及び金属薄膜形成用の成膜室33を有している。そして、基材搬入室31、基材搬出室32、及び成膜室33は、成膜装置1の真空室5に接続されている。真空室5と各部屋との間には、気密性を備えた開閉部(図示せず)が設けられており、当該開閉部を介してガラス基板8を搬入・搬出することができる。また真空室5には、ガラス基板8を各部屋に出し入れするために必要な機構が設けられている。図10の矢印はガラス基板8の移動方向を示している。
薄膜製造装置30によって有機EL素子を製造する場合には、例えば、透明電極層が予め成膜されたガラス基板8を、基材搬入室31に搬入する。そして、基材搬入室31から真空室5にガラス基板8を搬送する。
次に、成膜装置1を用いて機能層の成膜を行う。すなわち、第一成膜室2におけるエリア蒸着と第二成膜室3におけるリニア成膜により、所望の機能層を成膜する。すなわち、機能層を構成する全ての層を、1つの成膜装置1のみを用いて行う。機能層の成膜が完了したら、ガラス基板8を真空室5に搬送する。
次に、ガラス基板8を成膜室33に搬送し、金属の裏面電極層を成膜する。裏面電極層の成膜が完了したら、ガラス基板8を再び真空室5に搬送する。
最後に、ガラス基板8を基材搬出室32に搬送し、外部に取り出す。これにより、ガラス基板8上に、透明電極層、機能層、及び裏面電極層からなる有機EL素子を形成させることができる。
図9に示す薄膜製造装置30においては、機能層に加えて、機能層以外の層(電極層を除く)を成膜装置1にて成膜することもできる。
上記した実施形態では、第二成膜室3に設置されたライン成膜装置20がスパッタリング法を実施するものであるが、ライン成膜装置はレーザーアブレーション法を実施するものでもよい。図11に示す成膜装置51では、第二成膜室3内にレーザーアブレーション法を実施できるライン成膜装置55を備えている。
ライン成膜装置55は、板状のターゲット56を備えている。ターゲット56は、ガラス基板8に対して所定の角度を成すように設置されている。ライン成膜装置55にてライン成膜を行う場合には、成膜装置51が備えるパルスレーザー発生装置(図示せず)でレーザー光を発生させて、ターゲット56に照射する(図11の矢印)。これによりターゲット56の一部が蒸発し、第二成膜室3を通過中のガラス基板8にライン成膜(蒸着)することができる。成膜装置51の他の構成は、基本的に成膜装置1と同じである。作用についても同様である。
上記した実施形態は、1枚のガラス基板8に対して成膜するものであるが、複数のガラス基板8を成膜する実施形態も可能である。例えば、図12に示す成膜装置71では、エリア蒸着装置72の薄膜材料放出チャンバー73が2面の薄膜材料放出部15a,15bを有しており、両面から薄膜材料の蒸気を放出することができる(図12の矢印)。成膜装置71では、2枚のガラス基板8が薄膜材料放出チャンバー73を挟んで設置され、各部屋間を移動できる。
一方、図13に示す成膜装置81では、2枚のガラス基板8がレール28(図4)上に並べて配置されている。そして、2枚のガラス基板8が一組となって、各部屋間を移動する。
上記した実施形態では、スパッタリング法用のライン成膜装置として対向型スパッタ装置を採用しているが、基材とターゲットが対向する方式のスパッタ装置を採用してもよい。
上記した実施形態では、ボトムエミッション方式の有機EL装置における有機EL素子用薄膜を成膜しているが、トップエミッション方式の有機EL装置であっても同様の成膜が可能である。
1 成膜装置
2 第一成膜室
3 第二成膜室
5 真空室
6 成膜室側開閉部(開閉部)
7 真空室側開閉部(開閉部)
8 ガラス基板(基材)
10 エリア蒸着装置
17 クライオポンプ
20 ライン成膜装置
25 ターボ分子ポンプ
51 成膜装置
55 ライン成膜装置
61 成膜装置
71 成膜装置
72 エリア蒸着装置
81 成膜装置
101 ガラス基板(基材)
107 有機EL素子

Claims (6)

  1. 基材上に有機EL素子用の薄膜を成膜する成膜装置であって、
    第一成膜室、第二成膜室、及び真空室がこの順番に直列配置され、
    第一成膜室と第二成膜室との間、及び第二成膜室と真空室との間にはそれぞれ開閉部が設けられ、当該開閉部を開放することにより隣接する部屋同士が連通し、
    前記開閉部を介して基材を搬送する基材搬送手段を備え、
    第一成膜室は、基材全体を収容可能な内部空間を有し、
    第一成膜室には、静止状態の基材における成膜すべき面全体に成膜可能なエリア蒸着装置が設置され、
    第一成膜室には、クライオポンプが全開閉可能に直結されており、
    第二成膜室は、基材の搬送方向において当該基材の幅よりも小さい内部空間を有し、
    第二成膜室には、基材の一部である線状の領域に成膜可能でかつ搬送中の基材に対して成膜可能なライン成膜装置が設置され、当該ライン成膜装置は、スパッタリング法及びレーザーアブレーション法からなる群より選ばれた1以上の成膜方法によって成膜するものであり、
    真空室は、基材全体を収容可能な内部空間を有し、
    前記開閉部を全て開放した状態で、基材を搬送しながら前記ライン成膜装置による成膜が実施されることを特徴とする成膜装置。
  2. ライン成膜装置による成膜が、前記クライオポンプを全閉した状態で実施されることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。
  3. 真空室にはターボ分子ポンプが直結されており、ライン成膜装置による成膜が、前記ターボ分子ポンプで第一成膜室、第二成膜室、及び真空室を真空引きした状態で実施されることを特徴とする請求項1又は2に記載の成膜装置。
  4. ライン成膜装置は、対向型スパッタ装置であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の成膜装置。
  5. エリア蒸着装置は薄膜材料を蒸発させる蒸発装置を複数有し、各蒸発装置で蒸発させた薄膜材料を個別に放出させることが可能であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の成膜装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれかに記載の成膜装置を用いた有機EL素子の製造方法であって、
    前記有機EL素子は、少なくとも電極層と機能層を有し、
    電極層以外の層であって、かつ少なくとも機能層を構成する全ての層を、1つの前記成膜装置のみで成膜することを特徴とする有機EL素子の製造方法。
JP2012176088A 2012-08-08 2012-08-08 成膜装置及び有機el素子の製造方法 Active JP5934604B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012176088A JP5934604B2 (ja) 2012-08-08 2012-08-08 成膜装置及び有機el素子の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012176088A JP5934604B2 (ja) 2012-08-08 2012-08-08 成膜装置及び有機el素子の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014035864A true JP2014035864A (ja) 2014-02-24
JP5934604B2 JP5934604B2 (ja) 2016-06-15

Family

ID=50284761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012176088A Active JP5934604B2 (ja) 2012-08-08 2012-08-08 成膜装置及び有機el素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5934604B2 (ja)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001135704A (ja) * 1999-11-09 2001-05-18 Sharp Corp 基板処理装置及び基板搬送用トレイの搬送制御方法
JP2003301255A (ja) * 2002-02-06 2003-10-24 Eiko Engineering Co Ltd 薄膜堆積用分子線源セルと薄膜堆積方法
JP2004031181A (ja) * 2002-06-27 2004-01-29 Sony Corp パターン成膜装置およびパターン成膜方法
JP2005015869A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 製造装置
JP2006063447A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Samsung Sdi Co Ltd 有機物蒸着装置
JP2006063446A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Samsung Sdi Co Ltd 有機物蒸着装置
JP2007227086A (ja) * 2006-02-22 2007-09-06 Tokyo Electron Ltd 成膜装置および発光素子の製造方法
JP2008038224A (ja) * 2006-08-09 2008-02-21 Tokyo Electron Ltd 成膜装置、成膜システムおよび成膜方法
JP2008156743A (ja) * 2006-11-30 2008-07-10 Kobe Steel Ltd 対向ターゲットスパッタ装置及び対向ターゲットスパッタ方法
JP2010024469A (ja) * 2008-07-15 2010-02-04 Japan Steel Works Ltd:The スパッタ装置
JP2010163680A (ja) * 2008-12-19 2010-07-29 Hitachi Zosen Corp 透明導電膜の製造方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001135704A (ja) * 1999-11-09 2001-05-18 Sharp Corp 基板処理装置及び基板搬送用トレイの搬送制御方法
JP2003301255A (ja) * 2002-02-06 2003-10-24 Eiko Engineering Co Ltd 薄膜堆積用分子線源セルと薄膜堆積方法
JP2004031181A (ja) * 2002-06-27 2004-01-29 Sony Corp パターン成膜装置およびパターン成膜方法
JP2005015869A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 製造装置
JP2006063447A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Samsung Sdi Co Ltd 有機物蒸着装置
JP2006063446A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Samsung Sdi Co Ltd 有機物蒸着装置
JP2007227086A (ja) * 2006-02-22 2007-09-06 Tokyo Electron Ltd 成膜装置および発光素子の製造方法
JP2008038224A (ja) * 2006-08-09 2008-02-21 Tokyo Electron Ltd 成膜装置、成膜システムおよび成膜方法
JP2008156743A (ja) * 2006-11-30 2008-07-10 Kobe Steel Ltd 対向ターゲットスパッタ装置及び対向ターゲットスパッタ方法
JP2010024469A (ja) * 2008-07-15 2010-02-04 Japan Steel Works Ltd:The スパッタ装置
JP2010163680A (ja) * 2008-12-19 2010-07-29 Hitachi Zosen Corp 透明導電膜の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5934604B2 (ja) 2016-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100696547B1 (ko) 증착 방법
JP5356627B2 (ja) 蒸着粒子射出装置および蒸着装置
JP2017045728A (ja) 成膜方法および発光装置の作製方法
JP2011140717A (ja) 薄膜蒸着装置
JP4789535B2 (ja) スパッタリング装置、成膜方法
EP2607516B1 (en) Method for forming a gas blocking layer
TW201404906A (zh) 真空蒸鍍裝置
KR20040020793A (ko) 전자 부품을 덮는 보호막의 형성 방법 및 보호막을포함하는 전자 기기
JP5934604B2 (ja) 成膜装置及び有機el素子の製造方法
KR101925064B1 (ko) 면증발원을 이용한 고해상도 amoled 소자의 양산장비
JP6302786B2 (ja) 蒸着装置、蒸着方法、及び有機el素子の製造方法
JP2010272229A (ja) 有機電界発光素子の透明電極の製造方法
KR20150072726A (ko) 증착장치
JP5557700B2 (ja) 蒸着装置及び有機el装置の製造方法
US9797038B2 (en) Organic material deposition apparatus, and organic material deposition method using same
JP2008293675A (ja) 蒸着装置および有機el素子
KR100762683B1 (ko) 유기 증발 증착원 및 이를 포함한 유기 증발 증착장치
KR101648489B1 (ko) 박막 증착 장치 및 이를 이용한 박막 증착 방법
JP2015117429A (ja) 蒸着装置、及び有機el装置の製造方法
JP2012052187A (ja) 蒸着装置、成膜方法及び有機el装置の製造方法
KR102150456B1 (ko) 스퍼터링 장치 및 방법
JP2005216724A (ja) 有機el表示装置の製造装置及び製造方法並びに有機el表示装置
WO2012108363A1 (ja) 坩堝、蒸着装置、蒸着方法、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
KR20220118331A (ko) 성막 장치, 전자 디바이스의 제조 방법 및 성막원의 유지보수 방법
JP4172206B2 (ja) 有機膜形成装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150623

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160407

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160414

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160509

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5934604

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250