JP2010163680A - 透明導電膜の製造方法 - Google Patents

透明導電膜の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010163680A
JP2010163680A JP2009075951A JP2009075951A JP2010163680A JP 2010163680 A JP2010163680 A JP 2010163680A JP 2009075951 A JP2009075951 A JP 2009075951A JP 2009075951 A JP2009075951 A JP 2009075951A JP 2010163680 A JP2010163680 A JP 2010163680A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal film
transparent conductive
conductive film
film
transparent substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009075951A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Sugio
剛 杉生
Tetsuya Inoue
鉄也 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Zosen Corp
Original Assignee
Hitachi Zosen Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Zosen Corp filed Critical Hitachi Zosen Corp
Priority to JP2009075951A priority Critical patent/JP2010163680A/ja
Publication of JP2010163680A publication Critical patent/JP2010163680A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
  • Hybrid Cells (AREA)

Abstract

【課題】真空チャンバなどの高真空下の環境を形成するための大掛かりな装置を必要とせず、低コストで透明導電膜を製造する方法を提供する。
【解決手段】透明基板3上に透明導電膜となる金属膜4を不活性気体雰囲気中でスパッタ法により形成する工程と、前記金属膜4を酸化させる工程とを含み、前記金属膜4を形成する工程において不活性気体雰囲気に微量の酸素を添加し、金属膜4を僅かに酸化させることを特徴とする透明導電膜の製造方法である。
【選択図】図1

Description

本発明は、光電変換素子等への適用が可能な透明導電膜の製造方法に関する。
インジウムを主成分とする透明導電膜には、スズをドープした酸化インジウム(ITO)が一般的に使用されている。これら透明導電膜の製造方法としては、マグネトロンスパッタ法等のスパッタリング法がよく知られている(特許文献1)。
また、これら透明導電膜の適用分野は様々であるが、例えば、透明基板に前記方法にて透明導電膜を形成し、その上にTiOなどの金属酸化物の層を形成し、さらにルテニウム錯体などの光増感色素で染色してなる電極と、対極用基板上に透明導電膜を形成してなる対極とを形成して、両電極間にヨウ素系などの電解質の層を介在させた光電変換素子などが知られている(特許文献2)。
特開2008−156708号公報 特開2005−347003号公報
例えば、前記色素増感型太陽電池の製造において、透明基板上の透明導電膜の形成は、導電性を高くするため、前記のようにスパッタリング法などにより、高真空下で行われるのが一般的である。
この場合、真空チャンバなどを用いた高真空下の環境が必要であり、装置が大掛かりとなり、コスト高の要因となっていた。また、透明基板に透明導電膜を形成してなる電極を連続的に製造しようとする場合には、高真空下の環境を要する工程が存在するため、すべての工程を連続的に行うことは非常に困難であった。
そこで、本発明は、真空チャンバなどの高真空下の環境を形成するための大掛かりな装置を必要とせず、低コストで透明導電膜を製造する方法を提供することを課題とする。
請求項1に係る発明は、透明基板上に透明導電膜となる金属膜を不活性気体雰囲気中でスパッタ法により形成する工程と、前記金属膜を酸化させる工程とを含み、前記金属膜を形成する工程において不活性気体雰囲気に微量の酸素を添加し、金属膜を僅かに酸化させることを特徴とする透明導電膜の製造方法である。
請求項2に係る発明は、前記金属膜を酸化させる工程を電解酸化により行うことを特徴とする請求項1記載の透明導電膜の製造方法である。
請求項3に係る発明は、前記透明基板が可撓性を有した絶縁性の連続シートまたは連続フィルムであることを特徴とする請求項1または2記載の透明導電膜の製造方法である。
本発明方法によれば、透明基板上に不活性気体雰囲気中でスパッタ法により金属膜を形成するので、従来のように真空チャンバのような大掛かりな装置を用いずに、表面抵抗率ρ=8〜10Ω/□、透過率>80%程度といった良好な性能の透明導電膜を形成することができる。
また、金属膜形成時に不活性気体雰囲気に微量の酸素を添加しておくので、後続の金属膜酸化工程をスムーズに行うことができると共に透明度にむらのない透明導電膜を得ることができる。その結果、通常のスパッタリングにより基板に透明導電膜を形成する従来法と比較して、成膜速度を数分の一程度に短縮することができる。
従来の透明導電膜の製造方法では、基板を例えば200℃に加熱しなければ、抵抗の低い透明導電膜は得られないが、本発明による方法では、最初に金属膜を作製し、次いでこの金属膜を酸化させて透明導電膜を作製するので、基板の加熱が必要でない。そのため、熱に弱いプラスチック製の基板であっても適用可能である。
請求項3の方法によれば、可撓性の連続基板の使用により透明導電膜の連続製造が可能である。
実施例1の金属膜形成工程を示す垂直縦断面図である。 実施例1の金属膜酸化工程を示す垂直縦断面図である。 実施例2の金属膜形成工程および金属膜酸化工程を示す垂直縦断面図である。 実施例3のアルゴン雰囲気中の酸素含有量と成膜速度の関係を示すグラフである。
まず、透明基板上に透明導電膜となる金属膜を不活性気体雰囲気中でスパッタ法により形成する工程について、説明をする。
透明基板としては、合成樹脂板、ガラス板などが適宜使用されるが、PEN(ポリエチレン・ナフタレート)フィルムなどの熱可塑性樹脂フィルムが好ましい。合成樹脂は、PENの他に、ポリエチレン・テレフタレート、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリオレフィンなどであってもよい。
透明基板上への金属膜の形成は、スパッタ法により行われる。スパッタ法での金属ターゲット、すなわち金属膜の材料としては、In−Sn合金、Zn、In−Zn合金、Sn、Ga−Zn合金、Al−Zn合金などの非酸化物金属が好適に使用される。金属ターゲットは非酸化物金属で透明導電膜が形成できるものであれば特に限定はされないが、In−Sn合金が好適に使用される。
金属(非酸化物)ターゲットを用いた場合、酸化物ターゲットと比べると約数倍〜十数倍程度の成膜速度が得られるため、例えば図1に示すような金属膜形成装置を用いてスパッタリングを行うことで、高い成膜速度で金属膜(透明導電膜の前駆体)を形成することができる。
図1では、対向ターゲット式スパッタ方式により金属膜を形成する例を示すが、スパッタ方式はこれに限定されるものではなく、例えば、2極、3極、4極、RF、マグネトロン、ミラートロン、ECRなどのスパッタ方式も適用可能である。また、金属膜形成装置は図1の構成に限らず、透明基板上の少なくとも金属膜形成箇所が酸素含有不活性気体雰囲気中に維持できる構成であればよい。
本発明では、前記金属膜を形成する工程において不活性気体雰囲気に微量の酸素を添加し、金属膜を僅かに酸化させることを特徴とする。不活性気体としては、アルゴン、ヘリウム、窒素などが用いられるが、特に限定されない。不活性気体雰囲気中の酸素添加量は、不活性気体20容積部に対して、酸素1〜5容積部、好ましくは1〜2容積部である。金属膜を僅かに酸化させるとは、(金属中に微小に酸素を入れ、前駆体を作製する)ことをいう。このように、金属膜形成時に不活性気体雰囲気に微量の酸素を添加しておくことで、後続の金属膜酸化工程がスムーズに行われると共に透明度にむらのない透明導電膜を得ることができる。
つぎに、前記金属膜を酸化させる工程について、説明をする。
この工程では、前工程で透明基板上に形成された金属膜を酸化させることにより、透明基板上に透明導電膜を形成する。金属膜の酸化方法は、電解酸化による方法、レーザビーム照射による方法などが適用できるが、広範囲の金属膜を効率よく酸化させるには電解酸化による方法が好ましい。
電解酸化は、図2に示すように、電解液に金属膜付の透明基板を浸漬して、金属膜を正極とし、電解液中に設けた加工電極を負極として、両極間に直流電圧を印加することで行われる。このようにすると、金属膜はプラスに印加されることで酸素を呼び込み、これによって金属膜が電解酸化により酸化され、透明導電膜が得られる。前記電解液は、抵抗率ρ=0.1〜1kΩ・cm程度にするのが好ましい。
電解酸化装置の構成は、図2に示すものに限らず、前記金属膜が電解酸化可能な構成であればよい。
前記金属膜を酸化させる工程をレーザビーム照射によって行う場合、レーザとしては、CO2レーザ、YAGレーザ、アルゴンレーザ、クリプトンレーザなどの連続波及びYAGなどのパルスレーザを適宜用いることができる。酸化雰囲気中に水を供給し、レーザビーム照射で透明基板およびその上の金属膜を加熱すると同時に、水を分解させ、生じた酸素分子を金属膜に供給することで金属膜の酸化を促進させ留ことも好ましい。
透明基板の供給および回収はフィルム巻取り装置等を用いて行うことができる。また、必要に応じて金属膜形成を行う前工程として、プラズマ洗浄により透明基板を洗浄するのが好ましい。
必要であれば、金属膜形成工程および金属膜酸化工程をそれぞれ複数設けることもできる。
つぎに、本発明を具体的に説明するために、本発明の実施例をいくつか挙げる。
実施例1
a)金属膜形成工程
図1において、中央区画(A)の頂部に金属膜形成装置として、対向スパッタリング装置(1)が設けられ、同区画(A)の前後にそれぞれ前段区画(B)および後段区画(C)が設けられている。前段区画(B)の頂部にはプラズマ洗浄装置(2)が設けられている。(3)は巻取り装置によって前段区画(B)、中央区画(A)および後段区画(C)を流れ方向に連続的に通過させられるポリエチレン・ナフタレート製の透明基板で、可撓性を有した絶縁性の連続シートまたは連続フィルムからなる。(4)は同基板(3)上に対向ターゲット式スパッタ方式により形成された金属膜、(5)は金属膜形成装置(1)のガス通過スリットで、ここから中央区画(A)内に酸素含有アルゴンガスが導入される。(6)(6)はガス通過スリット(5)内面に対向状に設けられた一対のターゲットで、In−Sn合金からなる。(7)(7)は一対の磁石、(8)は前段区画(B)、中央区画(A)および後段区画(C)の各底壁に設けられたターボ分子ポンプである。
前記構成において、前段区画(B)、中央区画(A)および後段区画(C)を流れ方向に連続的に通過させられる透明基板(1)をまず前段区画(B)にてプラズマ洗浄装置(2)でよく洗浄した。次いで、洗浄された透明基板(1)に表面に、中央区画(A)において、対向ターゲット式スパッタ方式により、酸素含有アルゴンガス雰囲気中でIn−Sn合金からなる金属膜(4)を形成した。対向ターゲット式スパッタの操作条件は、ターゲット間距離(20mm)、ターゲット−透明基板間距離(100mm)、スパッタ電圧(400V)、中央区画(A)の気圧(ターボ分子ポンプで(1×10-1Pa以下)まで排気減圧)、スパッタ温度(150℃以下)、アルゴン雰囲気中の酸素含有量(アルゴン20容積部に対して、酸素2容積部)とした。
b)金属膜酸化工程
図2において、電解槽(10)に満たされた電解液(11)中に、前工程すなわち金属膜形成工程から送られて来た金属膜(4)付きの透明基板(1)を浸漬して、金属膜(4)を正極とし、電解液(11)中に設けた加工電極(12)を負極として、両極間に直流電圧を印加した。(13)(14)(15)は金属膜(4)付きの透明基板(1)を電解液(11)中に導いて浸漬させるガイドローラである。(16)は接触兼ガイドローラである。操作条件は、電解液の抵抗率ρ=0.5kΩ・cm、金属膜(4)と加工電極(12)の間の直流電圧100Vとした。この操作によって、金属膜はプラスに印加されることで酸素を呼び込み、これによって金属膜が電解酸化により酸化され、面抵抗(10Ω/□)の透明導電膜(ITO)(17)が得られた。
実施例2
a)金属膜形成工程
図3において、実施例1の金属膜形成工程と同じ操作を行って、In−Sn合金からなる金属膜(4)を形成した。
b)金属膜酸化工程
図3において、(C)は金属膜形成工程のための中央区画(A)の後段に連接された後段区画、(18)は後段区画(C)の上方に下向きに設けられかつ下端に1軸ガルバノスキャナ(19)を備えたレーザ発振器で、同区画(C)の頂壁に開けられた開口(20)を経て同区画(C)内にレーザビームを照射する。(21)は後段区画(C)の頂壁に設けられたガス導入口で、ここから同区画(C)内に酸化性ガスが導入され、同区画(C)内が酸化雰囲気とされる。
前工程すなわち金属膜形成工程から送られて来た金属膜(4)付きの透明基板(3)の金属膜(4)に、後段区画(C)において酸化雰囲気中でレーザ発振器(18)から開口(20)を経てレーザビームを照射し、金属膜(4)を酸化させた。レーザビーム照射の操作条件は、固体レーザやCO2レーザを用い、照射時間を1秒未満として金属膜(4)から面抵抗(10Ω/□)の透明導電膜(ITO)(22)を形成した。
実施例3
a)金属膜形成工程
対向ターゲット式スパッタにおいて、一対のターゲットをZnからなるものに代え、アルゴン雰囲気中の酸素含有量を所定範囲で変化させた以外、実施例1の金属膜形成工程と同じ操作を行った。
b)金属膜酸化工程
実施例1の金属膜酸化工程と同じ操作を行った。
アルゴン雰囲気中の酸素含有量と成膜速度の関係を図4のグラフに示す。このグラフから明らかなように、アルゴン雰囲気中の酸素含有量が増すに連れて金属膜の成膜速度は若干低下するものの、十分に高い成膜速度が維持できた。金属膜形成時に不活性気体雰囲気に微量の酸素を添加しておくことで、後続の金属膜酸化工程がスムーズに行われると共に透明度にむらのない透明導電膜を得ることができる。
(A) 中央区画
(B) 前段区画
(C) 後段区画
(2) プラズマ洗浄装置
(3) 透明基板
(4) 金属膜
(5) ガス通過スリット
(6) ターゲット
(7) 磁石
(8) ターボ分子ポンプ
(10) 電解槽
(11) 電解液
(12 加工電極
(13)(14)(15) ガイドローラ
(16) 接触兼ガイドローラ
(17) (22) 透明導電膜
(18) レーザ発振器
(19) 1軸ガルバノスキャナ
(20) 開口
(21) ガス導入口

Claims (3)

  1. 透明基板上に透明導電膜となる金属膜を不活性気体雰囲気中でスパッタ法により形成する工程と、前記金属膜を酸化させる工程とを含み、前記金属膜を形成する工程において不活性気体雰囲気に微量の酸素を添加し、金属膜を僅かに酸化させることを特徴とする透明導電膜の製造方法。
  2. 前記金属膜を酸化させる工程を電解酸化により行うことを特徴とする請求項1記載の透明導電膜の製造方法。
  3. 前記透明基板が可撓性を有した絶縁性の連続シートまたは連続フィルムであることを特徴とする請求項1または2記載の透明導電膜の製造方法。
JP2009075951A 2008-12-19 2009-03-26 透明導電膜の製造方法 Pending JP2010163680A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009075951A JP2010163680A (ja) 2008-12-19 2009-03-26 透明導電膜の製造方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008323353 2008-12-19
JP2009075951A JP2010163680A (ja) 2008-12-19 2009-03-26 透明導電膜の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010163680A true JP2010163680A (ja) 2010-07-29

Family

ID=42580068

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009075951A Pending JP2010163680A (ja) 2008-12-19 2009-03-26 透明導電膜の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010163680A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014035864A (ja) * 2012-08-08 2014-02-24 Kaneka Corp 成膜装置及び有機el素子の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0315536B2 (ja) * 1984-09-28 1991-03-01 Teijin Ltd
JPH07193359A (ja) * 1993-12-27 1995-07-28 Casio Comput Co Ltd 透明導電膜の形成方法
JP2003293118A (ja) * 2002-04-01 2003-10-15 Nitto Denko Corp 透明導電積層体の製造方法
WO2005076292A1 (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Asahi Glass Company, Limited 透明電極の製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0315536B2 (ja) * 1984-09-28 1991-03-01 Teijin Ltd
JPH07193359A (ja) * 1993-12-27 1995-07-28 Casio Comput Co Ltd 透明導電膜の形成方法
JP2003293118A (ja) * 2002-04-01 2003-10-15 Nitto Denko Corp 透明導電積層体の製造方法
WO2005076292A1 (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Asahi Glass Company, Limited 透明電極の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014035864A (ja) * 2012-08-08 2014-02-24 Kaneka Corp 成膜装置及び有機el素子の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Whitaker et al. Scalable slot-die coating of high performance perovskite solar cells
Yu et al. Superfast room‐temperature activation of SnO2 thin films via atmospheric plasma oxidation and their application in planar perovskite photovoltaics
Ahmadi et al. The role of physical techniques on the preparation of photoanodes for dye sensitized solar cells
US8822308B2 (en) Methods and apparatus for transfer of films among substrates
CN103031556B (zh) 一种ZnO/Al/ZnO光电透明导电薄膜的沉积制备方法
CN103171187A (zh) 一种三明治式透明导电薄膜及制备方法
JP2010163680A (ja) 透明導電膜の製造方法
Shestakov et al. Picosecond laser writing of highly conductive copper micro-contacts from deep eutectic solvents
JP6725122B2 (ja) グラフェンシートの導電性改善方法及び導電性が改善されたグラフェンシートを用いた電極構造
JP3829183B2 (ja) 光触媒体及びその製造方法
US20100200067A1 (en) Substrate for semiconductor device and method for its manufacture
US20100200060A1 (en) Solution based non-vacuum method and apparatus for preparing oxide materials
Rajani et al. Ultrathin chromium transparent metal contacts by pulsed dc magnetron sputtering
JP2005108468A (ja) 透明導電性シート、透明導電性シートの製造方法および上記透明導電性シートを用いた光増感太陽電池
Chang In‐Line Sputtered Gallium and Aluminum Codoped Zinc Oxide Films for Organic Solar Cells
CN103824649A (zh) 一种利用电磁加热优化透明导电氧化物薄膜质量的方法
CN114220925A (zh) 一种钙钛矿电池电荷传输层的制备方法
US20100200413A1 (en) Solution deposition method and apparatus with partiphobic substrate orientation
Kim et al. Properties of the mesoporous perovskite solar cell by plasma surface activation with a titanium dioxide electrode
US20160189879A1 (en) Dye-Sensitized Solar Cell Structure and Manufacturing Method Thereof
JP5438953B2 (ja) 透明導電膜の製造方法
JP2007187993A (ja) エレクトロクロミック素子及びその製造方法
KR101913909B1 (ko) 전도성 투명 기판 및 그 제조방법
JP6337369B2 (ja) 低オリゴマー性ポリエステルフィルムの製造方法、低オリゴマー性ポリエステルフィルム及びその低オリゴマー性ポリエステルフィルムを用いた離型フィルム
KR100613405B1 (ko) 전기장 결합형 플라즈마 화학 증착법에 의한 투명한 도전성 금속 복합박막의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130419

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130423

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130820