JP2013519868A - 蛍光顕微鏡の適切な評価パラメータを設定する方法およびその装置 - Google Patents
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Abstract
Description
22 コンピュータ端末
24 光源
26 光ビーム
28 ビームスプリッタ
30 対物レンズ
32 試料
34 カラーフィルタ
38 検出器
40 信号線
42 評価ユニット
44 表示ユニット
46 キーボード
48 調整ダイヤル
50 第1の部分画像
51 マーキングされていない小区域
52 マーク
53 マーキングされた小区域
54 第2の部分画像
55 イベント
56 第3の部分画像
58 第4の部分画像
60 完全な画像
62 構造
S2〜S20 ステップ2〜20
y 閾値を調整する。
n 閾値を調整しない。
START プログラム開始
ENDE プログラム終了
Claims (11)
- 蛍光顕微鏡(20)の適切な評価パラメータを設定する方法であって、
試料(32)中の蛍光染料粒子が励起されて蛍光を発生し、
前記染料粒子から発せられた蛍光が検出され、
前記蛍光顕微鏡の検出器上の光量分布を表す、前記蛍光の光分布のグラフィカル表現が求められ、
前記光分布のグラフィカル表現のもとになる信号が生成され、これに基づいて表示ユニット(44)が制御されて、前記光分布のグラフィカル表現が表示され、
前記光分布のグラフィカル表現の小区域の各々が、対応する小区域の光量を表すそれぞれの比較値に関連付けられ、
所定の閾値が評価パラメータとして使用され、
前記比較値が前記閾値と比較され、
前記閾値より大きい比較値を有する前記小区域が前記表示ユニット(44)上で、所定のマーク(52)によってマーキングされ、
使用者の入力に応じて、前記閾値が変更され、
使用者の入力後に、前記比較値が変更後の閾値と比較され、
マーキングされた小区域がイベント(53)と定義され、前記イベント(53)に基づいて前記試料(32)の完全な画像が得られる、方法。 - 前記イベント(53)を定義する前に、設定された閾値より大きい比較値を有する前記小区域が前記表示ユニット(44)上で、所定のマーク(52)によりマーキングされる、請求項1に記載の方法。
- 前記光分布のグラフィカル表現の表示と前記小区域のマーキングが、前記蛍光の検出中に行われる、請求項1または2に記載の方法。
- 前記光分布のグラフィカル表現の表示と前記小区域のマーキングが、前記蛍光の検出後に行われる、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記完全な画像が、前記イベント(53)の原因となった前記染料粒子の位置を表す前記イベント(53)の点を求めることによって得られ、前記試料(32)の完全な画像がこれらの点に基づいて取得される、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記試料のすべての蛍光染料粒子の中の部分集合が不活性状態から活性状態へと移され、活性状態の前記染料粒子が励起されて蛍光を発生し、前記部分集合に含まれる染料粒子の数が、それらの間の平均距離が前記蛍光顕微鏡の回折分解能限界より大きくなるような数である、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記試料(32)のすべての蛍光染料粒子の中の部分集合が活性状態から不活性状態へと移され、残りの前記活性状態の染料粒子の部分集合が励起されて蛍光を発生し、前記部分集合に含まれる蛍光染料の数が、それらの間の平均距離が前記蛍光顕微鏡の回折分解能より大きくなるような数である、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記試料(32)のすべての蛍光染料粒子の前記部分集合が、前記試料(32)に漂白工程を実行することによって前記活性状態から前記不活性状態へと移される、請求項7に記載の方法。
- 不活性状態から活性状態に所定の確率で自動的に変化する蛍光染料粒子が前記試料(32)中に導入され、前記試料(32)のすべての蛍光染料粒子が前記不活性状態へと移され、この確率に応じて選択された所定の期間後に、前記活性状態の染料粒子が励起され、蛍光を発生する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記比較値が、前記比較値が関連付けられる前記光分布のグラフィカル表現の前記小区域の中の全体の光量、光エネルギー、光度エネルギー、輝度または光強度である、請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
- 蛍光顕微鏡(20)の適切な評価パラメータを設定する装置であって、請求項1〜10のいずれか一項に
記載の方法を実行する装置。
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