JP2013506152A5 - - Google Patents

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  1. 顕微鏡であって、
    照明装置(19)であって、該照明装置を用いて、試料領域(P)を照明するための光のシートが生成され、該光のシートが、照明ビーム経路(35)の照明軸(X)の方向、および前記照明軸(X)に交差して位置する横軸(Y)の方向において、略平面状に延在している、前記照明装置(19)と、
    検出ビーム経路の検出軸(Z)に沿って、前記試料領域(P)から放射される光を検出するために用いられる検出装置(1)であって、照明軸(X)と検出軸(Z)との間の角度、および横軸(Y)と検出軸(Z)との間の角度がゼロではない、前記検出装置(1)とを備え、
    前記照明装置(19)が、照明光を別の照明ビーム経路(36)内に偏向させ、前記照明軸(X)の方向および前記横軸(Y)の方向において、略平面状に延在する別の光のシートを生成するための手段を含み、前記照明ビーム経路(35)と、前記別の照明ビーム経路(36)とが、本質的に同一の光学素子で構成され、かつ等しい光学波長を有し、前記光のシートと、前記別の光のシートとは、それらが、同じ照明軸(X)上の逆方向から前記試料領域(P)を照らすように互いに対して位置合わせされており、
    前記照明装置(19)は、前記照明ビーム経路(35)と前記別の照明ビーム経路(36)との間で、前記照明光を切替えるための切替え手段をさらに含み、
    前記検出装置(1)は、前記試料領域(P)から放射される光を、光の位置依存検出のための空間分解アレイ検出器(4)に結像するための検出対物レンズ(2)を含む、顕微鏡において、
    前記切替え手段は、10ms未満の切替間隔を有する素早く切替可能な切替え素子を含み、前記アレイ検出器(4)の所定の積分時間と、前記切替え素子の切替間隔とは、前記試料領域(P)が、前記積分時間中に、前記照明軸(X)上の各方向から少なくとも一度は照明されるように互いに調整されていることを特徴とする顕微鏡。
  2. 前記切替え素子は、切替えミラー(34)として設計されることを特徴とする、請求項1に記載の顕微鏡。
  3. 切替えミラー(34)が、照明瞳の平面と共役である平面内に配置されることを特徴とする、請求項1または請求項2に記載の顕微鏡。
  4. 前記照明装置(19)が、光のシートの生成のための手段を含み、該生成のための手段が、回転対称光ビームを生成するための手段と、前記横軸(Y)に沿った前記試料領域(P)の光シート状走査のための走査手段と、角度走査手段であって、該角度走査手段を用いて前記光のシートと前記照明軸(X)との間の角度を変えることができる、前記角度走査手段とを含む、顕微鏡において、前記走査手段が、素早く切替可能な走査ミラー(23)と走査対物レンズ(24)とを含み、前記角度走査手段が、素早く切替可能な角度走査ミラー(28)を含むことを特徴とする、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  5. 前記照明装置(19)は、非点収差的に作用する光学素子を含み、前記非点収差的に作用する光学素子は、前記照明ビーム経路内および前記別の照明ビーム経路内のうちの少なくとも一方に配置され、前記非点収差的に作用する光学素子は、瞳面への切替えミラー(34)または走査ミラー(23)の正確な結像のためのものであることを特徴とする、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  6. 前記切替えミラー(34)は、検流計駆動部を有することを特徴とする、請求項2、3、及び5のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  7. 前記非点収差的に作用する光学素子は、円柱光学素子(33)を含むことを特徴とする、請求項5に記載の顕微鏡。
  8. 前記試料領域(P)は、前記アレイ検出器(4)の積分時間中に、前記照明光が一方の照明ビーム経路から別の照明ビーム経路へ少なくとも一度は切替えられるように、前記照
    明軸(X)に沿って反対方向から実質的に同時に照明されることを特徴とする、請求項1乃至請求項のいずれか一項に記載の顕微鏡を用いた画像の記録のための方法。
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5692969B2 (ja) 2008-09-01 2015-04-01 浜松ホトニクス株式会社 収差補正方法、この収差補正方法を用いたレーザ加工方法、この収差補正方法を用いたレーザ照射方法、収差補正装置、及び、収差補正プログラム
DE102011054914A1 (de) 2011-10-28 2013-05-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
US20150198794A1 (en) 2014-01-14 2015-07-16 Applied Scientific Instrumentation, Inc. Light sheet generator
WO2015164843A1 (en) * 2014-04-24 2015-10-29 Vutara, Inc. Galvo scanning mirror for super-resolution microscopy
DE102014112648A1 (de) * 2014-08-29 2016-03-03 Carl Zeiss Ag Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Bildaufnahme
DE102014112666A1 (de) * 2014-08-29 2016-03-03 Carl Zeiss Ag Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Bildaufnahme
JP6391427B2 (ja) * 2014-11-04 2018-09-19 オリンパス株式会社 顕微鏡および顕微鏡画像取得方法
JP6419532B2 (ja) * 2014-11-04 2018-11-07 オリンパス株式会社 顕微鏡および顕微鏡画像取得方法
US10181190B2 (en) * 2014-11-04 2019-01-15 Olympus Corporation Microscope and microscope image acquisition method
JP6635052B2 (ja) * 2015-02-05 2020-01-22 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡、及び観察方法
LU92695B1 (de) * 2015-04-17 2016-10-18 Leica Microsystems Verfahren und vorrichtung zur spim-untersuchung einer probe
WO2016178856A1 (en) * 2015-05-01 2016-11-10 The Board Of Regents Of The University Of Texas System Uniform and scalable light-sheets generated by extended focusing
JP6436862B2 (ja) * 2015-06-09 2018-12-12 オリンパス株式会社 顕微鏡および顕微鏡画像取得方法
JP6552881B2 (ja) * 2015-06-12 2019-07-31 オリンパス株式会社 顕微鏡および顕微鏡画像取得方法
US10509215B2 (en) * 2016-03-14 2019-12-17 Olympus Corporation Light-field microscope
WO2017180680A1 (en) 2016-04-12 2017-10-19 The Board Of Regents Of The University Of Texas System LIGHT-SHEET MICROSCOPE WITH PARALLELIZED 3D lMAGE ACQUISITION
DE102016108384B3 (de) 2016-05-04 2017-11-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur lichtblattartigen Beleuchtung einer Probe
DE102018210603A1 (de) * 2018-06-28 2020-01-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Erzeugen eines Übersichtsbilds unter Verwendung eines hochaperturigen Objektivs
JP7101561B2 (ja) * 2018-08-09 2022-07-15 浜松ホトニクス株式会社 二光子顕微鏡
US10871439B2 (en) * 2018-10-29 2020-12-22 University Of Wyoming Enhancement of sensitivity of fountain flow cytometry by background attenuation
JP2022069273A (ja) * 2020-10-23 2022-05-11 株式会社リガク 結像型x線顕微鏡
JP7105006B1 (ja) * 2021-03-25 2022-07-22 株式会社CUBICStars 走査型蛍光顕微鏡

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10257423A1 (de) 2002-12-09 2004-06-24 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) Mikroskop
DE102007015063B4 (de) * 2007-03-29 2019-10-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007045897A1 (de) 2007-09-26 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen Abbildung einer Probe
DE102007047464B4 (de) 2007-09-28 2023-03-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zur Photomanipulation
DE102007047461A1 (de) * 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und optische Anordnung zur Untersuchung einer Probe
DE102007063274B8 (de) * 2007-12-20 2022-12-15 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Mikroskop
US9134521B2 (en) * 2008-07-30 2015-09-15 The Regents Of The University Of California Multidirectional selective plane illumination microscopy
DE102011051042B4 (de) * 2011-06-14 2016-04-28 Leica Microsystems Cms Gmbh Abtastmikroskop und Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes

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