JP2013242371A - 光検出装置 - Google Patents

光検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2013242371A
JP2013242371A JP2012114444A JP2012114444A JP2013242371A JP 2013242371 A JP2013242371 A JP 2013242371A JP 2012114444 A JP2012114444 A JP 2012114444A JP 2012114444 A JP2012114444 A JP 2012114444A JP 2013242371 A JP2013242371 A JP 2013242371A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
offset
signal
unit
light
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012114444A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6063642B2 (ja
Inventor
Yohei Kuwabara
洋平 桑原
Akinori Akitani
昭典 顕谷
Kunihiko Sasaki
佐々木  邦彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2012114444A priority Critical patent/JP6063642B2/ja
Priority to US13/895,216 priority patent/US9170151B2/en
Priority to EP13002590.1A priority patent/EP2664902B1/en
Publication of JP2013242371A publication Critical patent/JP2013242371A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6063642B2 publication Critical patent/JP6063642B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J1/46Electric circuits using a capacitor
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

【課題】黒レベルを一定にするとともにAD変換器において安定した光信号のデジタル値を得る。
【解決手段】観察光の受光量を電荷として蓄積して出力する受光部9と、該受光部9の出力信号にオフセット信号を加算するオフセット部10と、該オフセット部10によって得られた、出力信号とオフセット信号との和をデジタル変換するAD変換部11と、受光部9による電荷の充電時と、該充電時より前の電荷の放電時とにおける出力信号とオフセット信号との和をデジタル変換するようにAD変換部11を制御する制御部13と、AD変換部11によって放電時における出力信号とオフセット信号との和から得られた黒レベル値が所定の目標値となるように当該黒レベル値に含まれているオフセット信号の値を加減することによりオフセット部10において用いられるオフセット信号を補正するオフセット補正部12とを備える光検出装置1を提供する。
【選択図】図2

Description

本発明は、光検出装置に関するものである。
従来、積分回路を利用して電気信号を増幅して信号を取得するレーザ走査型顕微鏡が知られている(例えば特許文献1参照。)。積分回路を利用することにより、標本からの光が微弱であってもSN比の高い画像を取得することができる。さらに、黒レベル信号をオフセット調整することにより、標本からの光が画像において最適な輝度値で表示されるようにコントラストを調節することができる。
特開2005−234500号公報
一般に電気回路においては、環境温度の変化に伴ってオフセットドリフトが生じる。特許文献1では、受光素子から取得した、標本に光が照射されていないときの信号と標本に光が照射されているときの信号とをAD変換器によってデジタル値に変換し、これら2つのデジタル値の差分から光信号の大きさに相当するデジタル値を得て、該デジタル値を画像の輝度値として用いている。この構成においては、黒レベル信号がオフセットドリフトにより変動した場合、AD変換器において光信号の変換に割り当てられるダイナミックレンジが変化し、AD変換器に入力される光信号の大きさが同一であってもAD変換器からは異なるデジタル値が出力される。
そして、黒レベル信号が増大したときには、光信号の変換に割り当てられるダイナミックレンジが狭くなり、比較的大きな光信号についてはAD変換器の出力値が飽和してしまい、正確なデジタル値が得られないこととなる。また、レーザ走査型顕微鏡によって標本を経時的に観察する場合に、画像のコントラストが最適となるように黒レベル信号のオフセット量を最初に設定したとしても、常にその最適なコントラストで画像を取得し続けることができないという問題がある。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって、黒レベルを一定にするとともにAD変換器において安定した光信号のデジタル値を得ることができる光検出装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、レーザ光を標本上において走査することにより前記標本において発生した観察光を検出し、該観察光の強度と前記レーザ光の走査位置とを対応付けた前記標本の画像を取得するレーザ走査型顕微鏡に備えられる光検出装置であって、前記観察光を受光しその受光量に応じた量の信号電荷を出力する光電変換素子と、該光電変換素子から出力された信号電荷をコンデンサに蓄積することにより前記信号電荷を積分する積分回路と、前記コンデンサによる前記信号電荷の充電と放電とを切り替える切替部とを有する受光部と、該受光部の出力信号にオフセット信号を加算するオフセット部と、該オフセット部によって得られた、前記出力信号と前記オフセット信号との和をデジタル変換するAD変換部と、前記受光部における前記コンデンサの充電時と、該充電時より前の前記コンデンサの放電時とにおける前記出力信号と前記オフセット信号との和をデジタル変換するように前記AD変換部の動作タイミングを制御する制御部と、前記AD変換部によって前記放電時における前記出力信号と前記オフセット信号との和から得られた黒レベル値に基づいて前記オフセット部において用いられる前記オフセット信号を補正するオフセット補正部とを備え、該オフセット補正部が、前記黒レベル値が所定の目標値となるように当該黒レベル値に含まれている前記オフセット信号の値を加減して得られたオフセット信号を前記オフセット部に出力する光検出装置を提供する。
本発明によれば、受光部の光電変換素子によって受光された標本からの観察光は、信号電荷に変換された後、積分回路のコンデンサに充電されることにより一定期間積分され、その積分値が受光部より出力され、オフセット部においてオフセットされ、AD変換部においてデジタル変換される。得られたデジタル値は、観察光の強度に対応している。したがって、レーザ走査型顕微鏡は、光検出装置からデジタル値を受け取り、該デジタル値を画素の輝度値とした画像を生成することができる。
この場合に、上記の観察光の強度のデジタル値の取得に先立ち、コンデンサの放電時における受光部の出力信号、すなわち信号電荷が蓄積されていない状態における受光部の出力信号(黒レベル信号)に、オフセット部によるオフセット信号が加算された信号がAD変換部によって変換されるように、受光部の出力信号のAD変換タイミングが制御部によって制御される。AD変換部によって得られたデジタル値は、画像における黒レベルに相当する黒レベル値であり、オフセット補正部において所定の目標値と比較され、黒レベル値が目標値からずれていた場合には目標値と一致するように、放電時における受光部の出力信号にオフセット部によって加算されたオフセット信号が補正される。そして、充電時における受光部の出力信号には、補正されたオフセット信号がオフセット部において加算される。
すなわち、放電時の受光部の出力信号およびオフセット部のオフセット信号の変動によって黒レベルが変動したとしても、その変動を相殺するように補正されたオフセット部のオフセット信号が充電時の受光部の出力信号に加算される。そして、充電時の受光部の出力信号に含まれる、放電時の受光部が有する信号と観察光に起因する光信号とのうち、光信号は常に一定量だけオフセットされた状態でAD変換部に入力されることとなる。これにより、黒レベルを一定にするとともにAD変換部において安定した光信号のデジタル値を得ることができる。
上記発明においては、前記オフセット補正部が、時間軸方向に並ぶ複数の黒レベル値の平均値を用いて前記オフセット信号を補正してもよい。
この場合、オフセット補正部は、複数の画素、例えば、1行分または1フレーム分の画素に相当する黒レベル値の平均値を算出し、該平均値を用いてオフセット信号を補正する。そして、この補正されたオフセット信号が、次に取得される1行分または1フレーム分の画素に相当する充電時の受光部の出力信号に加算される。このようにすることで、局所的なノイズによるオフセット信号の変動を防ぐことができる。
本発明によれば、黒レベルを一定にするとともにAD変換器において安定した光信号のデジタル値を得ることができるという効果を奏する。
本発明の一実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の全体構成図である。 本発明の一実施形態に係る光検出装置の全体構成図である。 図2の光検出装置の動作を説明するタイミングチャートである。 図2の光検出装置の変形例を示す全体構成図である。
以下に、本発明の一実施形態に係る光検出装置1について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る光検出装置1は、図1に示されるように、レーザ走査型顕微鏡(LSM)100に搭載して用いられるものである。まず、本実施形態に係るLSM100について説明する。
LSM100は、図1に示されるように、レーザ光源2と、該レーザ光源2から出力されたレーザ光Lをラスタ走査するスキャナ3と、該スキャナ3により走査されたレーザ光Lを標本Aに照射するとともに標本Aからの観察光L’を集光する対物レンズ4と、該対物レンズ4によって集光された観察光L’を検出し該観察光L’の強度をデジタル値として出力する光検出装置1と、スキャナ3および光検出装置1の動作を制御するとともに光検出装置1から出力されたデジタル値を用いて標本Aの画像を生成する主制御部5とを備えている。
図中、符号6は、レーザ光源2からのレーザ光Lを反射し、対物レンズ4によって集光された観察光L’を透過するダイクロイックミラーを示している。符号7は、スキャナ3から対物レンズ4へレーザ光Lをリレーするリレーレンズ群を示している。符号8は、ダイクロイックミラー6を透過した観察光L’を光検出装置1の位置に集光する集光レンズを示している。
レーザ光源2から出力されたレーザ光Lは、ダイクロイックミラー6およびスキャナ3で反射され、対物レンズ4を介して標本Aに照射される。レーザ光Lが照射されることにより、標本Aからは、レーザ光Lの反射光やレーザ光Lによって励起された蛍光などが観察光L’として発生する。この観察光L’は、対物レンズ4によって集光され、スキャナ3によって反射され、ダイクロイックミラー6を透過し、光検出装置1が備える受光部9(後述)に入力される。
主制御部5は、スキャナ3によるレーザ光Lの走査周期と同期した同期信号を生成し、該同期信号を光検出装置1が備える制御部13に送る。光検出装置1は、主制御部5からの同期信号に基づくタイミングで観察光L’を検出し、検出した観察光L’の強度をデジタル値に変換して主制御部5に出力する。主制御部5は、光検出装置1から受け取った観察光L’の強度を示すデジタル値を、スキャナ3によって走査されるレーザ光Lの位置と対応づけることにより標本Aの画像を生成する。
次に、光検出装置1について詳細に説明する。
本実施形態に係る光検出装置1は、図2に示されるように、対物レンズ4によって集光された観察光L’を受光して受光量に応じた光信号を出力する受光部9と、該受光部9から出力された光信号にオフセット信号を加算するオフセット部10と、該オフセット部10から出力された信号をデジタル値に変換するAD変換器(AD変換部)11と、オフセット部10のオフセット信号を補正するオフセット補正部12と、受光部9およびAD変換器11の動作タイミングを制御する制御部13とを備えている。
受光部9は、観察光L’を検出し該観察光L’の強度に応じた信号電荷を出力する光電変換素子14と、該光電変換素子14から出力された信号電荷を蓄積する積分回路15と、該積分回路15が備えるコンデンサ15aと並列に接続されたスイッチ(切替部)16とを備えている。
積分回路15は、光電変換素子14からの信号電荷が入力されるオペアンプ15bを備え、該オペアンプ15bの入力端と出力端との間にコンデンサ15aが接続されている。スイッチ16が開状態とされているときは、光電変換素子14から送られてきた信号電荷がコンデンサ15aに蓄積され、その蓄積量に応じた光信号Vsが積分回路15から出力される。スイッチ16が閉状態とされているときは、コンデンサ15aに蓄積されていた信号電荷が放電され、積分回路15から出力される信号の大きさが初期化される。
ここで、コンデンサ15aの充電時における受光部9の出力信号Vは、コンデンサ15aの放電時における受光部9の出力信号V’に、観察光L’の受光量に相当する光信号Vsが重畳された信号となる。
スイッチ16の動作のタイミングは、主制御部5から送られてくる同期信号に基づいて制御部13によって制御される。
オフセット部10は、後述するオフセット補正部12から受け取ったオフセット信号Voffを、充電時または放電時の受光部9の出力信号VまたはV’に加算し、得られた信号をAD変換器11へ出力する。
AD変換器11は、放電時の受光部9の出力信号V’と、オフセット部10によるオフセット信号Voffとの和、すなわち、黒レベルに相当する信号(以下、黒レベル電圧という。)をデジタル変換して得られた黒レベル値D’+Doffと、充電時の受光部9の出力信号Vとオフセット部10によるオフセット信号Voffとの和をデジタル変換して得られた信号値D+Doffとを、オフセット補正部12が備える信号選択部17(後述)に出力する。AD変換器11による信号のサンプリングのタイミングは、前述した主制御部5からの同期信号に基づいて制御部13によって制御される。
オフセット補正部12は、AD変換器11から受け取ったデジタル値のうち黒レベル値を差分算出部18(後述)に、信号値を主制御部5にそれぞれ振り分ける信号選択部17と、該信号選択部17から受け取った黒レベル値と所定の目標値との差分を算出する差分算出部18と、該差分算出部18によって算出された差分を用いて補正されたオフセット信号のデジタル値(オフセット値)を算出する補正値算出部19と、該補正値算出部19によって算出された補正されたオフセット値をアナログ信号に変換するDA変換器20とを備えている。
差分算出部18は、所定の目標値を記憶する目標値記憶部18aと、該目標値記憶部18aに記憶されている所定の目標値から黒レベル値を減算する減算部18bとを備えている。目標値記憶部18aに記憶されている所定の目標値は、光信号Vsをオフセットする際の最適なオフセット量であり、例えば、図示しない入力手段を用いてユーザによって目標値記憶部18aに設定される。
補正値算出部19は、オフセット値を記憶するオフセット値記憶部19aと、該オフセット値記憶部19aに記憶されているオフセット値に、減算部18bによって算出された差分を加算する加算部19bとを備えている。
オフセット値記憶部19aは、例えば、目標値記憶部18aに記憶されている所定の目標値と同一の値をオフセット値の初期値として記憶している。加算部19bは、減算部18bから受け取った差分とオフセット値記憶部19aに記憶されているオフセット値とを加算することにより補正されたオフセット値を算出する。そして、加算部19bは、補正されたオフセット値をDA変換器20とオフセット値記憶部19aとに出力する。
オフセット値記憶部19aは、加算部19bから補正されたオフセット値を受け取ると、それまで記憶していたオフセット値を新たに受け取った補正されたオフセット値に置換することにより、保持しているオフセット値を更新していく。
補正値算出部19によって算出された補正されたオフセット値は、DA変換器20によってアナログ信号Voff’に変換されてからオフセット部10に送られる。オフセット部10は、新らたにDA変換器20から受け取った信号Voff’をオフセット信号Voffとして用いる。
以上のようにして、コンデンサ15aの放電時において黒レベル電圧の値がAD変換器11によって取得されて、放電時の受光部9の出力信号V’に加算されたオフセット部10のオフセット信号Voffがオフセット補正部12によって補正される度に、オフセット部10がコンデンサ15aの充電時の受光部9の出力信号Vに加算するオフセット信号Voffが更新されることとなる。
なお、上述の信号選択部17、差分算出部18および補正値算出部19によるデジタル値の処理は、例えば、光検出装置1に備えられるCPU(中央演算処理装置)によって実行される。
次に、このように構成された光検出装置1の作用について説明する。
光検出装置1は、図3に示されるように、コンデンサ15aの放電時の受光部9の出力信号V’のデジタル変換と、コンデンサ15aの充電時の受光部9の出力信号Vのデジタル変換とを順番に実行することにより、主制御部5において生成される画像内の1つの画素に対応するデジタル値を生成して出力する。図3において、時間軸上に示されている矢印は、AD変換器11によって受光部9の出力信号をデジタル変換するタイミングを示している。
具体的には、制御部13は、主制御部5から送られる同期信号に同期してスイッチ16を開閉する。スイッチ16が閉状態とされているときは、受光部9の出力信号は信号電荷が蓄積されていない状態における信号となる。スイッチ16が開状態に切り替えられてコンデンサ15aが信号電荷の充電を開始すると、光電変換素子14による観察光L’の受光量に比例して受光部9の出力信号が増加する。次にスイッチ16が閉状態に切り替えられると、コンデンサ15aに蓄積されていた信号電荷の放電が開始されることにより受光部9の出力信号は充電前と略同一の大きさまで低下する。
ここで、制御部13は、放電時と充電時の両方において、受光部9の出力信号VまたはV’にオフセット部10のオフセット信号Voffが加算された信号をサンプリングしてデジタル変換するようにAD変換器11の動作タイミングを制御する。放電時と充電時におけるAD変換器11のサンプリングのタイミングは、スイッチ16が閉状態または開状態に切り替えられてから十分に長い時間が経過したときとされる。すなわち、AD変換器11は、コンデンサ15aが十分に放電して受光部9の出力信号が十分に安定したとき(t0,t0’,t0”)に、放電時の受光部9の出力信号V’にオフセット部10のオフセット信号Voffが重畳された黒レベル電圧をサンプリングする。また、AD変換器11は、光電変換素子14の受光量が十分となったとき(t1,t1’,t1”)に、上記黒レベル電圧V’+Voffと積分回路15によって積分された信号電荷量に相当する光信号Vsとの和V=V’+Voff+Vsをサンプリングする。
AD変換器11によって得られた黒レベル値D’+Doffは差分算出部18に送られ、該差分算出部18において黒レベル値と目標値との差分が算出される。得られた差分は、オフセット補正部12において黒レベル電圧の補正に用いられる。すなわち、加算部19bは、オフセット値記憶部19aに現在記憶されているオフセット値に、差分算出部18から受け取った差分を加算する。これにより、放電時の受光部9の出力信号V’およびオフセット部10によるオフセット信号Voffの少なくとも一方が変動することにより黒レベル値D’+Doffが変化した場合、この黒レベル値の変化を相殺するように補正されたオフセット値が得られる。
補正されたオフセット値はDA変換器20においてアナログ変換され、得られたオフセット信号Voff’=Voffはオフセット部10において充電時の受光部9の出力信号Vに加算される。このオフセット信号Voffは、前述のように黒レベル電圧V’+Voffの大きさが目標値となるような大きさを有しているので、オフセット部10において光信号Vsは0Vに対して目標値の分だけオフセットされる。また、補正されたオフセット値は、次の放電時における黒レベル電圧の補正に備えてオフセット値記憶部19aに保持される。
このように、本実施形態によれば、放電時において黒レベル電圧V’+Voffを測定し、測定された黒レベル電圧V’+Voffの値が所定の目標値からずれていた場合には所定の目標値となるようにオフセット部10のオフセット信号Voffの大きさが補正され、この補正されたオフセット信号Voff’がオフセット部10において充電時の受光部9の出力信号Vに加算される。これにより、環境温度の変化などによって受光部9の出力信号V’がドリフトしたりしたとしても、受光部9の光信号Vsは一定の信号だけオフセットされてAD変換器11に入力される。したがって、制御部5が生成する画像間および各画像内の画素間の黒レベルを一定とすることができる。
また、例えば、LSM100による長期間のタイムラプス観察においても、充電時においてAD変換器11に入力されるときの光信号Vsのオフセット量が常に一定とされることにより、AD変換器11において光信号Vsのデジタル変換に用いられるダイナミックレンジも一定となる。したがって、タイムラプス観察の開始時に画像において観察光L’が最適な輝度値で表示されるように黒レベル電圧の値、すなわち、目標値を設定した場合には、その最適なコントラスト条件で画像を取得し続けることができる。
なお、本実施形態においては、画素単位でオフセット信号を補正することとしたが、これに代えて、画像内の行単位またはフレーム単位でオフセット信号を補正してもよい。すなわち、光検出装置1’が、図4に示されるように、1行分または1フレーム分の画素に対応する黒レベル値の平均値を算出する平均値算出部18cを備えていてもよい。
この場合、差分算出部18は、平均値算出部18cによって算出された平均値を目標値から減算して差分を算出する。オフセット補正部12は、レーザ光Lが1行または1フレーム走査される毎に差分算出部18から黒レベル値の平均値を受け取り、オフセット信号を補正し、補正された新たなオフセット信号をオフセット部10に出力するとともにこのオフセット信号の値をオフセット値記憶部19aに保持する。
このようにすることで、局所的なノイズによるオフセット信号の変動を防ぐことができる。
1,1’ 光検出装置
2 レーザ光源
3 スキャナ
4 対物レンズ
5 主制御部
6 ダイクロイックミラー
7 リレーレンズ群
8 集光レンズ
9 受光部
10 オフセット部
11 AD変換器
12 オフセット補正部
13 制御部
14 光電変換素子
15 積分回路
15a コンデンサ
15b オペアンプ
16 スイッチ(切替部)
17 信号選択部
18 差分算出部
18a 目標値記憶部
18b 減算部
18c 平均値算出部
19 補正値算出部
19a オフセット値記憶部
19b 加算部
20 DA変換器
100 レーザ走査型顕微鏡
A 標本
L レーザ光
L’ 観察光
Voff,Voff’ オフセット信号
V コンデンサの充電時における受光部の出力信号
V’ コンデンサの放電時における受光部の出力信号
Vs 光信号

Claims (2)

  1. レーザ光を標本上において走査することにより前記標本において発生した観察光を検出し、該観察光の強度と前記レーザ光の走査位置とを対応付けた前記標本の画像を取得するレーザ走査型顕微鏡に備えられる光検出装置であって、
    前記観察光を受光しその受光量に応じた量の信号電荷を出力する光電変換素子と、該光電変換素子から出力された信号電荷をコンデンサに蓄積することにより前記信号電荷を積分する積分回路と、前記コンデンサによる前記信号電荷の充電と放電とを切り替える切替部とを有する受光部と、
    該受光部の出力信号にオフセット信号を加算するオフセット部と、
    該オフセット部によって得られた、前記出力信号と前記オフセット信号との和をデジタル変換するAD変換部と、
    前記受光部における前記コンデンサの充電時と、該充電時より前の前記コンデンサの放電時とにおける前記出力信号と前記オフセット信号との和をデジタル変換するように前記AD変換部の動作タイミングを制御する制御部と、
    前記AD変換部によって前記放電時における前記出力信号と前記オフセット信号との和から得られた黒レベル値に基づいて前記オフセット部において用いられる前記オフセット信号を補正するオフセット補正部とを備え、
    該オフセット補正部が、前記黒レベル値が所定の目標値となるように当該黒レベル値に含まれている前記オフセット信号の値を加減して得られたオフセット信号を前記オフセット部に出力する光検出装置。
  2. 前記オフセット補正部が、時間軸方向に並ぶ複数の黒レベル値の平均値を用いて前記オフセット信号を補正する請求項1に記載の光検出装置。
JP2012114444A 2012-05-18 2012-05-18 光検出装置 Active JP6063642B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012114444A JP6063642B2 (ja) 2012-05-18 2012-05-18 光検出装置
US13/895,216 US9170151B2 (en) 2012-05-18 2013-05-15 Photodetector, for use in a laser microscope, with offset correction for uniform black levels
EP13002590.1A EP2664902B1 (en) 2012-05-18 2013-05-16 Laser scanning microscope with photodetector having offset correction

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012114444A JP6063642B2 (ja) 2012-05-18 2012-05-18 光検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013242371A true JP2013242371A (ja) 2013-12-05
JP6063642B2 JP6063642B2 (ja) 2017-01-18

Family

ID=48444043

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012114444A Active JP6063642B2 (ja) 2012-05-18 2012-05-18 光検出装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9170151B2 (ja)
EP (1) EP2664902B1 (ja)
JP (1) JP6063642B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104333717B (zh) * 2014-07-31 2017-07-07 吉林省福斯匹克科技有限责任公司 一种用于cmos图像传感器的暗电平校正的算法及其系统
WO2016096077A1 (en) * 2014-12-18 2016-06-23 Merck Patent Gmbh Spectrophotometer and method for carrying out a spectrophotometric measurement
WO2018089839A1 (en) 2016-11-10 2018-05-17 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Rapid high-resolution imaging methods for large samples
JP6920943B2 (ja) * 2017-09-25 2021-08-18 浜松ホトニクス株式会社 光計測装置および光計測方法
CN113358654B (zh) * 2018-07-05 2022-07-19 深圳辉煌耀强科技有限公司 一种图像获取与分析系统

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63167573A (ja) * 1986-12-29 1988-07-11 Toshiba Corp 画像読取装置
JPH04170867A (ja) * 1990-11-05 1992-06-18 Canon Inc 画像読取装置
JPH0556213A (ja) * 1991-08-27 1993-03-05 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
JPH09297269A (ja) * 1996-05-01 1997-11-18 Olympus Optical Co Ltd 走査型画像入力装置及び走査型プローブ顕微鏡
JP2002281343A (ja) * 2001-01-12 2002-09-27 Mitsubishi Electric Corp 黒レベル補正装置
US20050133692A1 (en) * 2003-11-21 2005-06-23 Olympus Corporation Photodetection circuit and confocal microscope that has it
JP2005234500A (ja) * 2004-02-23 2005-09-02 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡の受光装置及びこれを用いた走査型レーザ顕微鏡
US20060033918A1 (en) * 2004-08-13 2006-02-16 Nikon Corporation Scanning microscope and laser microscope
US20060044424A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-02 Canon Kabushiki Kaisha Image signal processing apparatus, image signal processing method and camera using the image signal processing apparatus
JP2006157242A (ja) * 2004-11-26 2006-06-15 Canon Inc 画像信号のクランプ装置及びクランプ方法
JP2006243604A (ja) * 2005-03-07 2006-09-14 Nikon Corp 顕微鏡
JP2008064564A (ja) * 2006-09-06 2008-03-21 Hamamatsu Photonics Kk 光検出装置
JP2008205549A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Fujifilm Corp クランプ装置及び撮像装置
US20080218609A1 (en) * 2007-03-07 2008-09-11 Altasens, Inc. Cross-coupled differential Dac-based black clamp circuit

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060131484A1 (en) * 2004-12-17 2006-06-22 Mark Peting High-dynamic range image sensors
JP2012002732A (ja) 2010-06-18 2012-01-05 Olympus Corp 光検出回路

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63167573A (ja) * 1986-12-29 1988-07-11 Toshiba Corp 画像読取装置
JPH04170867A (ja) * 1990-11-05 1992-06-18 Canon Inc 画像読取装置
JPH0556213A (ja) * 1991-08-27 1993-03-05 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
JPH09297269A (ja) * 1996-05-01 1997-11-18 Olympus Optical Co Ltd 走査型画像入力装置及び走査型プローブ顕微鏡
JP2002281343A (ja) * 2001-01-12 2002-09-27 Mitsubishi Electric Corp 黒レベル補正装置
US20050133692A1 (en) * 2003-11-21 2005-06-23 Olympus Corporation Photodetection circuit and confocal microscope that has it
JP2005234500A (ja) * 2004-02-23 2005-09-02 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡の受光装置及びこれを用いた走査型レーザ顕微鏡
US20060033918A1 (en) * 2004-08-13 2006-02-16 Nikon Corporation Scanning microscope and laser microscope
US20060044424A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-02 Canon Kabushiki Kaisha Image signal processing apparatus, image signal processing method and camera using the image signal processing apparatus
JP2006157242A (ja) * 2004-11-26 2006-06-15 Canon Inc 画像信号のクランプ装置及びクランプ方法
JP2006243604A (ja) * 2005-03-07 2006-09-14 Nikon Corp 顕微鏡
JP2008064564A (ja) * 2006-09-06 2008-03-21 Hamamatsu Photonics Kk 光検出装置
US20100108862A1 (en) * 2006-09-06 2010-05-06 Hamamatsu Phonics K.K. Photodetector
JP2008205549A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Fujifilm Corp クランプ装置及び撮像装置
US20080218609A1 (en) * 2007-03-07 2008-09-11 Altasens, Inc. Cross-coupled differential Dac-based black clamp circuit

Also Published As

Publication number Publication date
US20130306839A1 (en) 2013-11-21
JP6063642B2 (ja) 2017-01-18
EP2664902B1 (en) 2017-10-25
US9170151B2 (en) 2015-10-27
EP2664902A1 (en) 2013-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6063642B2 (ja) 光検出装置
JP4377840B2 (ja) デジタルカメラ
US9191590B2 (en) Signal processing device and imaging system
JP6553318B2 (ja) 高いダイナミックレンジの撮像センサアレイ
JP5677864B2 (ja) 顕微鏡用撮像装置および顕微鏡観察方法
KR20110065989A (ko) 전자 셔터를 이용한 다단계 노출 방법 및 이를 이용한 촬영 장치
US8199225B2 (en) Generating column offset corrections for image sensors
JP2016092593A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP2013017040A (ja) 画像処理装置及び固体撮像装置
JP2020089714A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6305115B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP2012002732A (ja) 光検出回路
JP5018409B2 (ja) 光量測定装置
JP2019201248A (ja) 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体
JP6147008B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡装置
JP4667754B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡の受光装置及びこれを用いた走査型レーザ顕微鏡
KR100749096B1 (ko) 자동 초점 조절 장치를 포함하는 비디오 카메라 및 이를이용한 자동 초점 조절 방법
JP2016158940A (ja) 撮像装置及びその作動方法
JP6238686B2 (ja) 光検出回路および顕微鏡システム
JP2006243604A (ja) 顕微鏡
JP2014158253A (ja) 光検出回路および顕微鏡システム
JP4812276B2 (ja) 光検出回路および該光検出回路を備えたレーザ顕微鏡
JP6147122B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
US11243388B2 (en) Sampling circuit and laser scanning microscope
US20130076946A1 (en) Imaging apparatus, computer readable storage medium and imaging method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150408

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160324

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160405

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160601

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161219

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6063642

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250