JP2013234977A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2013234977A5
JP2013234977A5 JP2012109188A JP2012109188A JP2013234977A5 JP 2013234977 A5 JP2013234977 A5 JP 2013234977A5 JP 2012109188 A JP2012109188 A JP 2012109188A JP 2012109188 A JP2012109188 A JP 2012109188A JP 2013234977 A5 JP2013234977 A5 JP 2013234977A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
nanostructures
sample analysis
analysis element
substrate
element according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2012109188A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2013234977A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2012109188A priority Critical patent/JP2013234977A/ja
Priority claimed from JP2012109188A external-priority patent/JP2013234977A/ja
Priority to US14/400,193 priority patent/US9222889B2/en
Priority to PCT/JP2013/002926 priority patent/WO2013168404A1/ja
Publication of JP2013234977A publication Critical patent/JP2013234977A/ja
Publication of JP2013234977A5 publication Critical patent/JP2013234977A5/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

JP2012109188A 2012-05-11 2012-05-11 試料分析素子並びに検査装置およびセンサーカートリッジ Withdrawn JP2013234977A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012109188A JP2013234977A (ja) 2012-05-11 2012-05-11 試料分析素子並びに検査装置およびセンサーカートリッジ
US14/400,193 US9222889B2 (en) 2012-05-11 2013-05-02 Sample analysis device, testing apparatus, and sensor cartridge
PCT/JP2013/002926 WO2013168404A1 (ja) 2012-05-11 2013-05-02 試料分析素子並びに検査装置およびセンサーカートリッジ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012109188A JP2013234977A (ja) 2012-05-11 2012-05-11 試料分析素子並びに検査装置およびセンサーカートリッジ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013234977A JP2013234977A (ja) 2013-11-21
JP2013234977A5 true JP2013234977A5 (https=) 2015-06-25

Family

ID=49550468

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012109188A Withdrawn JP2013234977A (ja) 2012-05-11 2012-05-11 試料分析素子並びに検査装置およびセンサーカートリッジ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9222889B2 (https=)
JP (1) JP2013234977A (https=)
WO (1) WO2013168404A1 (https=)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014169955A (ja) 2013-03-05 2014-09-18 Seiko Epson Corp 分析装置、分析方法、これらに用いる光学素子および電子機器、並びに光学素子の設計方法
JP2015152492A (ja) * 2014-02-17 2015-08-24 セイコーエプソン株式会社 分析装置、及び電子機器
JP6365817B2 (ja) 2014-02-17 2018-08-01 セイコーエプソン株式会社 分析装置、及び電子機器
US11268854B2 (en) * 2015-07-29 2022-03-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Spectrometer including metasurface
JP6613736B2 (ja) * 2015-09-07 2019-12-04 セイコーエプソン株式会社 物質検出方法および物質検出装置

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3452837B2 (ja) 1999-06-14 2003-10-06 理化学研究所 局在プラズモン共鳴センサー
JP4231701B2 (ja) 2002-01-08 2009-03-04 富士フイルム株式会社 プラズモン共鳴デバイス
US7079250B2 (en) 2002-01-08 2006-07-18 Fuji Photo Film Co., Ltd. Structure, structure manufacturing method and sensor using the same
JP3897703B2 (ja) 2002-01-11 2007-03-28 キヤノン株式会社 センサ装置およびそれを用いた検査方法
US7399445B2 (en) 2002-01-11 2008-07-15 Canon Kabushiki Kaisha Chemical sensor
US7088449B1 (en) 2002-11-08 2006-08-08 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Dimension measurement approach for metal-material
JP3957199B2 (ja) 2003-03-19 2007-08-15 富士フイルム株式会社 センサチップおよびセンサチップの製造方法並びにそのセンサチップを用いたセンサ
EP1445601A3 (en) 2003-01-30 2004-09-22 Fuji Photo Film Co., Ltd. Localized surface plasmon sensor chips, processes for producing the same, and sensors using the same
US7239076B2 (en) * 2003-09-25 2007-07-03 General Electric Company Self-aligned gated rod field emission device and associated method of fabrication
KR101168654B1 (ko) 2004-05-19 2012-07-25 브이피 호울딩 엘엘씨 표면 증강 라만 산란에 의한 화학기의 증강된 검출을 위한 층상의 플라즈몬 구조를 가진 광센서
JP4156567B2 (ja) 2004-06-16 2008-09-24 日本電信電話株式会社 Ｓｐｒセンサーおよび屈折率測定方法
CA2586197C (en) 2004-11-04 2012-08-14 Mesophotonics Limited Metal nano-void photonic crystal for enhanced raman spectroscopy
JP2006208057A (ja) 2005-01-25 2006-08-10 Taiyo Yuden Co Ltd プラズモン共鳴構造体，その制御方法，金属ドメイン製造方法
JP2007218900A (ja) 2006-01-18 2007-08-30 Canon Inc 標的物質検出用の素子
WO2007083817A1 (en) 2006-01-18 2007-07-26 Canon Kabushiki Kaisha Target substance-detecting element
JP2007240361A (ja) 2006-03-09 2007-09-20 Sekisui Chem Co Ltd 局在プラズモン増強センサ
JP4994682B2 (ja) 2006-03-16 2012-08-08 キヤノン株式会社 検知素子、該検知素子を用いた標的物質検知装置及び標的物質を検知する方法
JP5286515B2 (ja) 2006-05-11 2013-09-11 国立大学法人秋田大学 センサチップ及びセンサチップ製造方法
US8045141B2 (en) 2006-05-12 2011-10-25 Canon Kabushiki Kaisha Detecting element, detecting device and detecting method
JP2008025989A (ja) 2006-07-15 2008-02-07 Keio Gijuku 局在表面プラズモン共鳴法と質量分析法によるリガンドの分析方法及びそのためのセンサー素子
GB2447696A (en) 2007-03-23 2008-09-24 Univ Exeter Photonic biosensor arrays
US7768640B2 (en) 2007-05-07 2010-08-03 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Fluorescence detection enhancement using photonic crystal extraction
JP5116362B2 (ja) 2007-05-28 2013-01-09 株式会社リコー バイオセンサ
US7639355B2 (en) 2007-06-26 2009-12-29 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Electric-field-enhancement structure and detection apparatus using same
JP5080186B2 (ja) 2007-09-26 2012-11-21 富士フイルム株式会社 分子分析光検出方法およびそれに用いられる分子分析光検出装置、並びにサンプルプレート
JP5294600B2 (ja) * 2007-09-28 2013-09-18 キヤノン株式会社 標的物質検出装置、及び標的物質検出方法
JP5288772B2 (ja) * 2007-11-02 2013-09-11 キヤノン株式会社 化学センサ素子、センシング装置およびセンシング方法
JP5175584B2 (ja) 2008-03-13 2013-04-03 地方独立行政法人 東京都立産業技術研究センター 局所表面プラズモン共鳴イメージング装置
AU2009300369B2 (en) 2008-09-30 2014-08-14 Pacific Biosciences Of California, Inc. Ultra-high multiplex analytical systems and methods
JP2010256161A (ja) * 2009-04-24 2010-11-11 Konica Minolta Holdings Inc プラズモン励起センサおよびそれを用いたアッセイ法
US8259381B2 (en) * 2009-06-05 2012-09-04 Exelis Inc. Phase-change materials and optical limiting devices utilizing phase-change materials
JP5621394B2 (ja) 2009-11-19 2014-11-12 セイコーエプソン株式会社 センサーチップ、センサーカートリッジ及び分析装置
EP2325635B1 (en) 2009-11-19 2017-05-03 Seiko Epson Corporation Sensor chip, sensor cartridge, and analysis apparatus
JP5589656B2 (ja) 2009-12-11 2014-09-17 セイコーエプソン株式会社 センサーチップ、センサーカートリッジ及び分析装置
CN102985803A (zh) 2010-02-19 2013-03-20 加利福尼亚太平洋生物科学股份有限公司 集成的分析系统和方法
EP2372348A1 (en) 2010-03-22 2011-10-05 Imec Methods and systems for surface enhanced optical detection
EP2694949A1 (en) 2011-04-05 2014-02-12 Integrated Plasmonics Corporation Integrated plasmonic sensing device and apparatus
EP2769214B1 (en) 2011-10-18 2019-05-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Molecular sensing device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5560891B2 (ja) 光デバイス及び分析装置
JP5821511B2 (ja) 光デバイス及び検出装置
US8976359B2 (en) Nanostructure diffraction gratings for integrated spectroscopy and sensing
JP5810667B2 (ja) 光デバイス及び検出装置
JP2013234977A5 (https=)
TWI674395B (zh) 包含一光柵結構之光感測器模組及光譜儀
US20110001988A1 (en) Apparatus for Measuring Thickness
JP2014512532A5 (https=)
JP2015215351A (ja) 分光センサ、及びそれを採用した分光器
JP2017531168A5 (https=)
BRPI0511255A (pt) sensor óptico com estrutura de plasmon em camadas para detecção intensificada de grupos quìmicos através de sers
JP2013527917A5 (https=)
JP2011232186A (ja) 光デバイス、分析装置及び分光方法
CN107532940A (zh) 光电子装置
JP2014535060A5 (https=)
JP6365817B2 (ja) 分析装置、及び電子機器
US20140242573A1 (en) Optical element, analysis device, analysis method and electronic apparatus
JP2015152493A5 (https=)
JP2015127703A5 (https=)
JP4999707B2 (ja) 表面プラズモン共鳴センサにおける表面プラズモンの分光のための方法およびその使用のためのエレメント
US9664560B2 (en) Double-grating surface-enhanced Raman spectroscopy
Hong et al. Polarization-dependent surface-enhanced Raman scattering (SERS) from microarrays
JP5928026B2 (ja) センサーチップおよびその製造方法並びに検出装置
JP2017020860A5 (https=)
JP2015114219A (ja) 電場増強素子、分析装置、及び電子機器