JP5080186B2 - 分子分析光検出方法およびそれに用いられる分子分析光検出装置、並びにサンプルプレート - Google Patents
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Description
前記所定の励起光を、前記試料接触面の前記所定領域を含む該所定領域より大きい照射領域に照射し、
前記所定の励起光の照射により生じた前記増強場により増強された前記被分先物質から生じ光のゆらぎを検出することを特徴とするものである。
前記所定の励起光を、前記試料接触面の前記所定領域を含む該所定領域より大きい照射領域に照射する励起光照射光学系と、
前記増強場により増強された前記被分析物質から生じる光のゆらぎを検出する信号検出部とを備えたことを特徴とするものである。
前記試料と接触する試料接触面の、該試料接触面における前記励起光の照射領域よりも狭い微小な所定領域に、前記所定の励起光が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面の他の領域上と比較して前記被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材を備えていることを特徴とするものである。
また、前記試料接触面上に金属薄膜層が形成されており、前記増強部材が、前記金属薄膜層上の、前記所定領域に対応する領域に形成された金属膜により構成されていてもよい(B)。
さらに、前記試料接触面上に金属薄膜層が形成されており、前記増強部材が、前記金属薄膜層上の、前記所定領域に対応する領域に形成された、前記光の消光を防止する不撓性膜により構成されていてもよい(C)。
試料接触面上に金属薄膜層が形成されており、増強部材が、金属薄膜層上の、所定領域に対応する領域に形成された金属膜により構成されていても同様の効果を得ることができる。
複数の所定領域の面積を互いに異なるものとした場合、より狭い面積の所定領域を被分析物質が高濃度な場合の測定に用い、より広い面積の所定領域を低濃度な場合に用いるなど高濃度から低濃度な試料まで対応することができダイナミックレンジの広域化を測ることができる。
また、複数の所定領域のうち少なくとも1つの領域に、被分析物質と特異的に結合する結合膜が固定されており、他の少なくとも1つの領域には、前記結合膜が固定されていないようにすれば、一方を測定領域、他方をリファレンス領域として用いることができる。
図面を参照して、本発明の分子分析光検出方法および装置に係る第1実施形態である分子蛍光検出方法およびそれに用いられる分子蛍光検出装置、並びにサンプルプレートについて説明する。図1は装置の全体図、図2〜図5はサンプルプレートの好適な例を示す図である。各図において説明の便宜上、各部の寸法は実際のものとは異ならせている。
試料接触面10a上において、励起光が照射される照射領域は増強部材12が設けられた所定領域よりも大きく、NAが0.3以下のレンズで照射可能な程度、すなわちNAが0.3より大きなレンズを要しないで照射できる程度に大きい。
光源として、743nmに中心波長を有するLD(シャープ株式会社製 LTO21MFO)、または白色LED(豊田合成株式会社製 E1L5C-AWOA*-04)にAndover社製のバンドパスフィルタ(740FS10-25)を組み合わせたものを用いる場合、蛍光色素として、743nmで励起され767nmの蛍光を生じるCy7もしくは752nmで励起され779nmの蛍光を生じるMolecular probe社のAlexa 750を用いる。
第2の実施形態である分子蛍光検出方法およびそれに用いられる分子蛍光検出装置、ならびにサンプルプレートについて説明する。図6は装置の全体図、図7および図8は本実施形態に好適なサンプルプレートの例を示す図である。各図において説明の便宜上、各部の寸法は実際のものとは異ならせている。なおここでは、第1実施形態と同じ構成要素には同じ参照符号を付してある。
光源21から出射された励起光L0はハーフミラー23により反射されてサンプルプレート10の試料接触面10a上に入射される。この励起光L0の照射領域は、増強部材72が設けられた所定領域を含む該所定領域よりも大きい領域である。この励起光の照射により、増強部材72の表面で局在プラズモンが励起される。この局在プラズモンにより増強部材72上には、電界分布D(図中実線で模式的に示す)が生じ、電場増強領域が形成される。一方、励起光L0が照射された試料中の領域においては蛍光標識fが励起されて蛍光が発生する。このとき、電場増強領域にある蛍光標識f1からの蛍光Lf1の強度は増強されるが、電場増強領域外にある蛍光標識f2からの蛍光Lf2強度は増強されない。信号検出部30においては、図示しない集光レンズにより蛍光を集光し、光検出器により蛍光検出を行う。この際には電場増強領域を含む広範囲の蛍光標識からの蛍光が集光され得るが、例えば、該蛍光を減衰させるフィルタを集光レンズと光検出器との間に備えることにより、蛍光強度が増強された強度の大きいもののみを検出することが可能となる。
第3の実施形態の分子蛍光検出方法および装置3を図9から図11を参照して説明する。ここでは、第1実施形態と同じ構成要素には同じ参照符号を付してある。
step1:注入口53aから被分析物質である抗原Aを含む血液(全血)S0を注入する。図11中において全血S0は網掛け領域で示している。
図12および図13は第3の実施形態の変更例を示すものである。第1の測定エリア57および第2の測定エリア58内の、試料接触面10aにはそれぞれ微小な所定領域に増強部材として金属微細構造体73が形成されている。第2の実施形態で説明したように、増強部材として金属微細構造体73を備えたことにより、励起光として全反射光でなく、落射光、透過光などを用いることができる。なおこの場合、蛍光を励起するのはエバネッセント光ではなく、励起光L0自体である。
本発明の分子分析光検出方法および装置に係る第4の実施形態であるラマン分光分析法および装置の構成について説明する。図14は装置の全体図を示す図である。なお、装置構成は第1の実施形態で説明した分子蛍光検出装置とほぼ同様であり、同一部材には同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
第5の実施形態であるラマン分光分析方法および装置、ならびにサンプルプレートについて説明する。図15は装置の全体図を示す図である。ここでは、上述の実施形態と同じ構成要素には同じ参照符号を付してある。
光源121から出射された励起光L0はハーフミラー123により反射されてサンプルプレート10の試料接触面10a上に入射される。この励起光L0の照射領域は、増強部材72が設けられた所定領域を含む該所定領域よりも大きい領域である。この励起光の照射により、増強部材72の表面で局在プラズモンが励起される。この局在プラズモンにより増強部材72上には、電界分布D(図中実線で模式的に示す)が生じ、電場増強領域が形成される。一方、励起光L0が照射された試料中の領域においては被分析物質Aからラマン散乱光が発生する。このとき、電場増強領域にある被分析物質A1からのラマン散乱光LA1の強度は増強されるが、電場増強領域外にある被分析物質A2からのラマン散乱光LA2の強度は増強されない。信号検出部130においては、図示しない集光レンズによりラマン散乱光を集光し、光検出器によりラマン散乱光の検出を行う。ラマン散乱光は非常に微弱な光であることから、増強された光のみが検出される。
10、10A〜10K サンプルプレート
10a 試料接触面
11 誘電体プレート
12、12A〜12J、72、72A〜72D 増強部材
13 金属膜
14a 金属薄膜層
14b 金属膜
14c 金属粒子層
15 Ag膜
16 Au膜
17 金属膜
18 不撓性膜
19 誘電体多層膜
19a スペーサ層
19b キャビティー層
20、120 励起光照射光学系
21、121 光源
22 プリズム
30、130 信号検出部
31 集光レンズ
34 ピンホール
35 光検出器(APD)
36 自己相関器
50 試料セル
101、102 ラマン分光分析装置
Claims (16)
- 被分析物質を含む試料と接触する試料接触面の微小な所定領域に、所定の励起光が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面の他の領域上と比較して前記被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材を備えたサンプルプレートを用意し、
前記所定の励起光を、前記試料接触面の前記所定領域を含む該所定領域より大きい照射領域に照射し、
前記所定の励起光の照射により生じた前記増強場により増強された前記被分析物質から生じる光を受光し、
受光した前記光に基づく信号を自己相関法により統計的に処理することで、前記所定領域上に生じた前記増強場の有効な領域により規定される測定体積中への前記被分析物質の出入りに起因して生じる前記信号の変化に基づいて、前記被分析物質の数および/または動き易さを求めることを特徴とする分子分析光検出方法。 - 前記被分析物質として予め蛍光標識したものを用い、前記被分析物質から生じる光として該被分析物質の前記蛍光標識から生じる蛍光を受光することを特徴とする請求項1記載の分析光検出方法。
- 前記被分析物質から生じる光として該被分析物質から生じるラマン散乱光を受光することを特徴とする請求項1記載の分析光検出方法。
- 被分析物質を含む試料と接触する試料接触面の微小な所定領域に、所定の励起光が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面の他の領域上と比較して前記被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材を備えたサンプルプレートと、
前記所定の励起光を、前記試料接触面の前記所定領域を含む該所定領域より大きい照射領域に照射する励起光照射光学系と、
前記増強場により増強された前記被分析物質から生じる光を受光し、受光した前記光に基づく信号を自己相関法により統計的に処理することで、前記所定領域上に生じた前記増強場の有効な領域により規定される測定体積中への前記被分析物質の出入りに起因して生じる前記信号の変化に基づいて、前記被分析物質の数および/または動き易さを求める信号検出部とを備えたことを特徴とする分子分析光検出装置。 - 被分析物質を含む試料に所定の励起光を照射して生じる光のゆらぎを検出する請求項1から3いずれか1項記載の分子分析光検出方法に用いられるサンプルプレートであって、
前記試料と接触する試料接触面の、該試料接触面における微小な所定領域に、前記所定の励起光が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面の他の領域上と比較して前記被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材を備え、
前記所定領域は、該所定領域上に生じた前記増強場の有効な領域により規定される測定体積中への前記被分析物質の出入りに起因して生じる前記光に基づく信号を、自己相関法により統計的に処理することで、前記信号の変化に基づいて前記被分析物質の数および/または動き易さを求めることができる程度の微小面積を有することを特徴とするサンプルプレート。 - 前記微小面積が324〜3600μm 2 であることを特徴とする請求項5記載のサンプルプレート。
- 前記増強部材が、前記所定領域上に備えられた金属膜により構成されていることを特徴とする請求項5または6記載のサンプルプレート。
- 前記試料接触面上に金属薄膜層が形成されており、
前記増強部材が、前記金属薄膜層上の、前記所定領域に対応する領域に形成された金属膜により構成されていることを特徴とする請求項5または6記載のサンプルプレート。 - 前記試料接触面上に金属薄膜層が形成されており、
前記増強部材が、前記金属薄膜層上の、前記所定領域に対応する領域に形成された、前記光の消光を防止する不撓性膜により構成されていることを特徴とする請求項5または6記載のサンプルプレート。 - 前記金属膜がAgからなり、
前記金属膜がAu膜に覆われていることを特徴とする請求項7記載のサンプルプレート。 - 前記増強部材が、前記所定領域上に備えられた誘電体多層膜により構成されていることを特徴とする請求項5または6記載のサンプルプレート。
- 前記増強部材が、前記所定領域上に備えられた、前記所定の励起光の波長よりも小さい周期の凹凸を表面に有する金属微細構造体により構成されていることを特徴とする請求項5または6記載のサンプルプレート。
- 前記増強部材が、前記所定領域上に配置された、前記所定の励起光の波長よりも小さいサイズの複数の金属ナノロッドにより構成されていることを特徴とする請求項5または6記載のサンプルプレート。
- 前記試料接触面に前記増強部材を備えた前記所定領域が複数設けられていることを特徴とする請求項5から13いずれか1項記載のサンプルプレート。
- 前記複数の所定領域の面積が互いに異なることを特徴とする請求項14記載のサンプルプレート。
- 前記複数の所定領域のうち少なくとも1つの領域上に、前記被分析物質と特異的に結合する結合膜が固定されており、他の少なくとも1つの領域には、前記結合膜が固定されていないことを特徴とする請求項14記載のサンプルプレート。
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