JP2013157269A - ターゲット構造体及びそれを備える放射線発生装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板2の上に、電子の照射により放射線を発生するターゲット層3が20μm以下の厚さで形成された放射線透過型のターゲット構造体であって、ターゲット層3の表面には凹凸が形成され、凹部はターゲット層3の厚さの半分以上の深さを有することを特徴とするターゲット構造体。
【選択図】図1
Description
前記ターゲット層の表面には凹凸が形成され、凹部は前記ターゲット層の厚さの半分以上の深さを有することを特徴とするターゲット構造体を提供するものである。
まず、図1を用いて本発明のターゲット構造体について説明する。図1は本実施形態の放射線透過型のターゲット構造体の模式図であり、図1(a)は上面図、図1(b)は図1(a)における領域30の拡大図、図1(c)(d)は図1(b)のA−A’線における断面図である。
次に、図3を用いて本発明のターゲット構造体について説明する。図3(a)(b)は本実施形態の放射線透過型のターゲット構造体の断面図である。本実施形態は、基板2とターゲット層3の間に中間層5を備えたものであり、その他については第1の実施形態と同様とすることができる。
次に、図4を用いて本発明のターゲット構造体について説明する。図4は本実施形態の放射線透過型のターゲット構造体の断面図である。本実施形態は、ターゲット層3の凹部4を塞ぐことなく、ターゲット層3を覆う保護層6を備えたものであり、その他については第1の実施形態と同様とすることができる。
次に、図5を用いて、本発明の放射線透過型のターゲット構造体を備える放射線発生装置について説明する。本実施形態の放射線発生装置は、放射線発生管10を備えており、この放射線発生管10は収納容器17の内部に収納されている。
次に、第4の実施形態の放射線発生装置を用いた放射線撮影システムについて説明する。図6は本実施形態の放射線撮影システムの構成図である。
Claims (8)
- 基板の上に、電子の照射により放射線を発生するターゲット層が20μm以下の厚さで形成された放射線透過型のターゲット構造体であって、
前記ターゲット層の表面には凹凸が形成され、凹部は前記ターゲット層の厚さの半分以上の深さを有することを特徴とするターゲット構造体。 - 前記ターゲット層は、前記凹部によって複数に分割されていることを特徴とするターゲット構造体。
- 前記凹部は平均の幅が0.1μm以上20μm以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載のターゲット構造体。
- 前記凸部は平均の幅が1μm以上100μm以下であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のターゲット構造体。
- 前記基板と前記ターゲット層の間に中間層が形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載のターゲット構造体。
- 保護層が、前記凹部を塞ぐことなく、かつ前記ターゲット層を覆って形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載のターゲット構造体。
- 請求項1乃至6のいずれか1項に記載のターゲット構造体と、電子を放出する電子放出源とを備えることを特徴とする放射線発生装置。
- 請求項7に記載の放射線発生装置と、該放射線発生装置から放出され、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出装置とを備えることを特徴とする放射線撮影システム。
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---|---|
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Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015050184A (ja) * | 2013-09-03 | 2015-03-16 | 韓國電子通信研究院Electronics and Telecommunications Research Institute | アノード電極を具備するx線チューブ |
US9448190B2 (en) | 2014-06-06 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | High brightness X-ray absorption spectroscopy system |
JP2016533020A (ja) * | 2013-09-18 | 2016-10-20 | 同方威視技術股▲フン▼有限公司 | X線装置及び該x線装置を有するctデバイス |
JP2017022054A (ja) * | 2015-07-14 | 2017-01-26 | 株式会社ニコン | X線発生装置、x線装置、構造物の製造方法、及び構造物製造システム |
US9594036B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-03-14 | Sigray, Inc. | X-ray surface analysis and measurement apparatus |
KR101754277B1 (ko) * | 2013-09-03 | 2017-07-06 | 한국전자통신연구원 | 아노드 전극을 구비하는 엑스선 튜브 |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
US10349908B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
US10416099B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-09-17 | Sigray, Inc. | Method of performing X-ray spectroscopy and X-ray absorption spectrometer system |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
US10658145B2 (en) | 2018-07-26 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | High brightness x-ray reflection source |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
US10845491B2 (en) | 2018-06-04 | 2020-11-24 | Sigray, Inc. | Energy-resolving x-ray detection system |
US10962491B2 (en) | 2018-09-04 | 2021-03-30 | Sigray, Inc. | System and method for x-ray fluorescence with filtering |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US11056308B2 (en) | 2018-09-07 | 2021-07-06 | Sigray, Inc. | System and method for depth-selectable x-ray analysis |
US11152183B2 (en) | 2019-07-15 | 2021-10-19 | Sigray, Inc. | X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure |
JP7567177B2 (ja) | 2019-03-20 | 2024-10-16 | 株式会社プロテリアル | ソレノイドチューブの製造方法 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8831179B2 (en) | 2011-04-21 | 2014-09-09 | Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. | X-ray source with selective beam repositioning |
JP6207246B2 (ja) * | 2013-06-14 | 2017-10-04 | キヤノン株式会社 | 透過型ターゲットおよび該透過型ターゲットを備える放射線発生管、放射線発生装置、及び、放射線撮影装置 |
US20150092924A1 (en) * | 2013-09-04 | 2015-04-02 | Wenbing Yun | Structured targets for x-ray generation |
US9570265B1 (en) | 2013-12-05 | 2017-02-14 | Sigray, Inc. | X-ray fluorescence system with high flux and high flux density |
CN105556637B (zh) * | 2013-09-19 | 2019-12-10 | 斯格瑞公司 | 使用线性累加的x射线源 |
US9390881B2 (en) * | 2013-09-19 | 2016-07-12 | Sigray, Inc. | X-ray sources using linear accumulation |
US9449781B2 (en) | 2013-12-05 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | X-ray illuminators with high flux and high flux density |
US9823203B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-11-21 | Sigray, Inc. | X-ray surface analysis and measurement apparatus |
FR3022683B1 (fr) * | 2014-06-19 | 2018-03-09 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Anode structuree en multiples sites de generation de photons x, tube de rayons x et utilisation pour imagerie de source codee |
US9715989B2 (en) * | 2015-04-09 | 2017-07-25 | General Electric Company | Multilayer X-ray source target with high thermal conductivity |
US9646801B2 (en) * | 2015-04-09 | 2017-05-09 | General Electric Company | Multilayer X-ray source target with high thermal conductivity |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52127089A (en) * | 1976-04-16 | 1977-10-25 | Toshiba Corp | X-ray tube |
JPH02297850A (ja) * | 1989-02-20 | 1990-12-10 | Hamamatsu Photonics Kk | X線発生管用ターゲットおよびx線発生管 |
JPH07260713A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Hitachi Ltd | X線撮像装置 |
JP2000306533A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-11-02 | Toshiba Corp | 透過放射型x線管およびその製造方法 |
JP2002195961A (ja) * | 2000-12-25 | 2002-07-10 | Shimadzu Corp | X線撮像装置 |
JP2002352754A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-06 | Shimadzu Corp | 透過型x線ターゲット |
JP2005276760A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Shimadzu Corp | X線発生装置 |
JP2008157702A (ja) * | 2006-12-22 | 2008-07-10 | Stanley Electric Co Ltd | 電子線・x線源装置およびエアロゾル分析装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011106433A1 (en) * | 2010-02-24 | 2011-09-01 | Accuray Incorporated | Gantry image guided radiotherapy system and related treatment delivery methods |
JP5645449B2 (ja) * | 2010-04-14 | 2014-12-24 | キヤノン株式会社 | X線源及びx線撮影装置 |
-
2012
- 2012-01-31 JP JP2012018561A patent/JP5984403B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-01-28 US US13/751,965 patent/US20130195246A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52127089A (en) * | 1976-04-16 | 1977-10-25 | Toshiba Corp | X-ray tube |
JPH02297850A (ja) * | 1989-02-20 | 1990-12-10 | Hamamatsu Photonics Kk | X線発生管用ターゲットおよびx線発生管 |
JPH07260713A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Hitachi Ltd | X線撮像装置 |
JP2000306533A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-11-02 | Toshiba Corp | 透過放射型x線管およびその製造方法 |
JP2002195961A (ja) * | 2000-12-25 | 2002-07-10 | Shimadzu Corp | X線撮像装置 |
JP2002352754A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-06 | Shimadzu Corp | 透過型x線ターゲット |
JP2005276760A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Shimadzu Corp | X線発生装置 |
JP2008157702A (ja) * | 2006-12-22 | 2008-07-10 | Stanley Electric Co Ltd | 電子線・x線源装置およびエアロゾル分析装置 |
Cited By (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101754277B1 (ko) * | 2013-09-03 | 2017-07-06 | 한국전자통신연구원 | 아노드 전극을 구비하는 엑스선 튜브 |
US9368316B2 (en) | 2013-09-03 | 2016-06-14 | Electronics And Telecommunications Research Institute | X-ray tube having anode electrode |
JP2015050184A (ja) * | 2013-09-03 | 2015-03-16 | 韓國電子通信研究院Electronics and Telecommunications Research Institute | アノード電極を具備するx線チューブ |
JP2016533020A (ja) * | 2013-09-18 | 2016-10-20 | 同方威視技術股▲フン▼有限公司 | X線装置及び該x線装置を有するctデバイス |
US10416099B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-09-17 | Sigray, Inc. | Method of performing X-ray spectroscopy and X-ray absorption spectrometer system |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US10976273B2 (en) | 2013-09-19 | 2021-04-13 | Sigray, Inc. | X-ray spectrometer system |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
US10653376B2 (en) | 2013-10-31 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | X-ray imaging system |
US10349908B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US9594036B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-03-14 | Sigray, Inc. | X-ray surface analysis and measurement apparatus |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
US9448190B2 (en) | 2014-06-06 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | High brightness X-ray absorption spectroscopy system |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
JP2017022054A (ja) * | 2015-07-14 | 2017-01-26 | 株式会社ニコン | X線発生装置、x線装置、構造物の製造方法、及び構造物製造システム |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
US10466185B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-11-05 | Sigray, Inc. | X-ray interrogation system using multiple x-ray beams |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
US10845491B2 (en) | 2018-06-04 | 2020-11-24 | Sigray, Inc. | Energy-resolving x-ray detection system |
US10989822B2 (en) | 2018-06-04 | 2021-04-27 | Sigray, Inc. | Wavelength dispersive x-ray spectrometer |
JP2021532547A (ja) * | 2018-07-26 | 2021-11-25 | シグレイ、インコーポレイテッド | 高輝度x線反射源 |
US10658145B2 (en) | 2018-07-26 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | High brightness x-ray reflection source |
US10991538B2 (en) | 2018-07-26 | 2021-04-27 | Sigray, Inc. | High brightness x-ray reflection source |
JP7117452B2 (ja) | 2018-07-26 | 2022-08-12 | シグレイ、インコーポレイテッド | 高輝度反射型x線源 |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
US10962491B2 (en) | 2018-09-04 | 2021-03-30 | Sigray, Inc. | System and method for x-ray fluorescence with filtering |
US11056308B2 (en) | 2018-09-07 | 2021-07-06 | Sigray, Inc. | System and method for depth-selectable x-ray analysis |
JP7567177B2 (ja) | 2019-03-20 | 2024-10-16 | 株式会社プロテリアル | ソレノイドチューブの製造方法 |
US11152183B2 (en) | 2019-07-15 | 2021-10-19 | Sigray, Inc. | X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5984403B2 (ja) | 2016-09-06 |
US20130195246A1 (en) | 2013-08-01 |
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---|---|---|
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