JP2013110683A - Ad変換回路および撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】VCO100aの出力信号CK0〜CK8のうち出力信号CK7が上位計数部101のカウントクロックとなる。演算部106は、出力信号CK7を基準として定義される出力信号CK0〜CK8の状態(状態0〜状態7)を検出するため、各出力信号の論理状態の変化位置を検出し、検出された変化位置に基づいて下位計数信号を生成する。演算部106がこの変化位置を検出する際の手順では、立下りエッジが略同時になる出力信号CK0と出力信号CK7の論理状態の比較は行われない。このため、エンコードエラーの発生を抑圧することができる。
【選択図】図1
Description
<手順(1)>・・・『状態7』であるか否かの判定
出力信号CK6と出力信号CK4の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態7』と判定される。
<手順(2)>・・・『状態6』であるかを判定
出力信号CK4と出力信号CK2の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態6』と判定される。
<手順(3)>・・・『状態5』であるかを判定
出力信号CK2と出力信号CK0の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態5』と判定される。
<手順(4)>・・・『状態4』であるかを判定
出力信号CK0と出力信号CK7の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態4』と判定される。
<手順(5)>・・・『状態3』であるかを判定
出力信号CK7と出力信号CK5の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態3』と判定される。
<手順(6)>・・・『状態2』であるかを判定
出力信号CK5と出力信号CK3の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態2』と判定される。
<手順(7)>・・・『状態1』であるかを判定
出力信号CK3と出力信号CK1の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態1』と判定される。
<手順(1)>・・・『状態7』であるか否かの判定
出力信号CK8と出力信号CK6の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態7』と判定される。
<手順(2)>・・・『状態6』であるかを判定
出力信号CK6と出力信号CK4の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態6』と判定される。
<手順(3)>・・・『状態5』であるかを判定
出力信号CK4と出力信号CK2の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態5』と判定される。
<手順(4)>・・・『状態4』であるかを判定
出力信号CK2と出力信号CK0の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態4』と判定される。
<手順(5)>・・・『状態3』であるかを判定
出力信号CK0と出力信号CK5の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態3』と判定される。
<手順(6)>・・・『状態2』であるかを判定
出力信号CK5と出力信号CK3の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態2』と判定される。
<手順(7)>・・・『状態1』であるかを判定
出力信号CK3と出力信号CK1の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態1』と判定される。
まず、本発明の第1の実施形態を説明する。図1は、本実施形態に係るAD変換回路の構成の一部を抜粋して示している。図1に示す回路は、VCO100a(クロック生成部)、ラッチ部108、演算部106、下位計数部103、および上位計数部101で構成される。VCO100aは、9個の遅延ユニット(NAND回路NAND0〜NAND8)が接続された発振回路を有する。ラッチ部108はVCO100aの出力信号CK0〜CK8(下位位相信号)を保持する。演算部106は、ラッチ部108のデータ(VCO100aの出力信号CK0〜CK8の状態と等価)に基づいてサーモメータコード(サーモコード、論理状態の変化位置)を検出し、検出したサーモメータコードに基づくカウントクロックである下位計数信号を生成する。下位計数部103は、演算部106からの下位計数信号をカウントクロックとしてカウント(計数)を行うカウンタ回路を有する。上位計数部101は、NAND回路NAND7の出力信号CK7をカウントクロックとしてカウント(計数)を行うカウンタ回路を有する。尚、上位計数部101は出力信号CK7の立上りエッジでカウントを行う。
<手順(1)>・・・『状態7』であるか否かの判定
出力信号CK7と出力信号CK5の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態7』と判定される。
<手順(2)>・・・『状態6』であるかを判定
出力信号CK5と出力信号CK3の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態6』と判定される。
<手順(3)>・・・『状態5』であるかを判定
出力信号CK3と出力信号CK1の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態5』と判定される。
<手順(4)>・・・『状態4』であるかを判定
出力信号CK1と出力信号CK6の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態4』と判定される。
<手順(5)>・・・『状態3』であるかを判定
出力信号CK6と出力信号CK4の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態3』と判定される。
<手順(6)>・・・『状態2』であるかを判定
出力信号CK4と出力信号CK2の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態2』と判定される。
<手順(7)>・・・『状態1』であるかを判定
出力信号CK2と出力信号CK0の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態1』と判定される。
制御信号SW5_1および制御信号SW7_2がH状態となると、ラッチ回路D_5の出力信号(H状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_7の出力信号(L状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はH状態となる。制御信号LATSETがL状態からH状態となると、AND回路AND1の出力信号がH状態となる。これにより、RSラッチRS1の出力信号QはH状態となる。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第1の下位計数信号が出力される。
制御信号SW5_1および制御信号SW7_2がL状態となると共に制御信号SW3_1および制御信号SW5_2がH状態となると、ラッチ回路D_3の出力信号(H状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_5の出力信号(H状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態となるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第1の下位計数信号が出力される。
制御信号SW3_1および制御信号SW5_2がL状態となると共に制御信号SW1_1および制御信号SW3_2がH状態となると、ラッチ回路D_1の出力信号(H状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_3の出力信号(H状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第1の下位計数信号が出力される。
制御信号SW1_1および制御信号SW3_2がL状態となると共に制御信号SW6_1および制御信号SW1_2がH状態となると、ラッチ回路D_6の出力信号(H状態またはL状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_1の出力信号(H状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第1の下位計数信号が出力される。
制御信号SW6_1および制御信号SW1_2がL状態となると共に制御信号SW4_1および制御信号SW6_2がH状態となると、ラッチ回路D_4の出力信号(L状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_6の出力信号(H状態またはL状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第1の下位計数信号が出力される。
制御信号SW4_1および制御信号SW6_2がL状態となると共に制御信号SW2_1および制御信号SW4_2がH状態となると、ラッチ回路D_2の出力信号(L状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_4の出力信号(L状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第1の下位計数信号が出力される。
制御信号SW2_1および制御信号SW4_2がL状態となると共に制御信号SW0_1および制御信号SW2_2がH状態となると、ラッチ回路D_0の出力信号(L状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_2の出力信号(L状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第1の下位計数信号が出力される。
制御信号SW5_1および制御信号SW7_2がH状態となると、ラッチ回路D_5の出力信号(H状態またはL状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_7の出力信号(H状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であり、RSラッチRS1の出力信号QはL状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となるが、AND回路AND2から第2の下位計数信号のパルスは出力されない。
制御信号SW5_1および制御信号SW7_2がL状態となると共に制御信号SW3_1および制御信号SW5_2がH状態となると、ラッチ回路D_3の出力信号(L状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_5の出力信号(H状態またはL状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であり、RSラッチRS1の出力信号QはL状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となるが、AND回路AND2から第2の下位計数信号のパルスは出力されない。
制御信号SW3_1および制御信号SW5_2がL状態となると共に制御信号SW1_1および制御信号SW3_2がH状態となると、ラッチ回路D_1の出力信号(L状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_3の出力信号(L状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であり、RSラッチRS1の出力信号QはL状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となるが、AND回路AND2から第2の下位計数信号のパルスは出力されない。
制御信号SW1_1および制御信号SW3_2がL状態となると共に制御信号SW6_1および制御信号SW1_2がH状態となると、ラッチ回路D_6の出力信号(L状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_1の出力信号(L状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であり、RSラッチRS1の出力信号QはL状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となるが、AND回路AND2から第2の下位計数信号のパルスは出力されない。
制御信号SW6_1および制御信号SW1_2がL状態となると共に制御信号SW4_1および制御信号SW6_2がH状態となると、ラッチ回路D_4の出力信号(H状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_6の出力信号(L状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はH状態となる。制御信号LATSETがL状態からH状態となると、AND回路AND1の出力信号がH状態となる。これにより、RSラッチRS1の出力信号QはH状態となる。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第2の下位計数信号が出力される。
制御信号SW4_1および制御信号SW6_2がL状態となると共に制御信号SW2_1および制御信号SW4_2がH状態となると、ラッチ回路D_2の出力信号(H状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_4の出力信号(H状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第2の下位計数信号が出力される。
制御信号SW2_1および制御信号SW4_2がL状態となると共に制御信号SW0_1および制御信号SW2_2がH状態となると、ラッチ回路D_0の出力信号(H状態)がAND回路AND0に入力されると共に、ラッチ回路D_2の出力信号(H状態)を反転した信号がAND回路AND0に入力される。これにより、AND回路AND0の出力信号はL状態となる。AND回路AND0の出力信号がL状態であるため、AND回路AND1の出力信号はL状態であるが、RSラッチRS1に入力される制御信号RSLRSTがL状態であるため、RSラッチRS1の出力信号QはH状態である。続いて、計数信号LATCNTがL状態からH状態となり再度L状態となると、AND回路AND2から1パルス分の第2の下位計数信号が出力される。
次に、本発明の第2の実施形態を説明する。図7は、本実施形態に係るAD変換回路の構成の一部を抜粋して示している。図7に示す回路は、VCO100b(クロック生成部)、ラッチ部108、演算部106、下位計数部103、および上位計数部101で構成される。図7に示す構成のうち図1に示した構成と同様の構成については説明を省略する。本実施形態では、上位計数部101のカウントクロックとなる信号が第1の実施形態と異なり、NAND回路NAND6の出力信号CK6が上位計数部101のカウントクロックとなる。また、本実施形態の上位計数部101は出力信号CK6の立下りエッジでカウントを行う。
<手順(1)>・・・『状態7』であるか否かの判定
出力信号CK6と出力信号CK4の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態7』と判定される。
<手順(2)>・・・『状態6』であるかを判定
出力信号CK4と出力信号CK2の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態6』と判定される。
<手順(3)>・・・『状態5』であるかを判定
出力信号CK2と出力信号CK7の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態5』と判定される。
<手順(4)>・・・『状態4』であるかを判定
出力信号CK7と出力信号CK5の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態4』と判定される。
<手順(5)>・・・『状態3』であるかを判定
出力信号CK5と出力信号CK3の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態3』と判定される。
<手順(6)>・・・『状態2』であるかを判定
出力信号CK3と出力信号CK1の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態2』と判定される。
<手順(7)>・・・『状態1』であるかを判定
出力信号CK1と出力信号CK8の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態1』と判定される。
次に、本発明の第3の実施形態を説明する。図10は、本実施形態に係るAD変換回路の構成の一部を抜粋して示している。図10に示す回路は、VCO100c(クロック生成部)、ラッチ部108、演算部106、下位計数部103、および上位計数部101で構成される。図10に示す構成のうち図1に示した構成と同様の構成については説明を省略する。
<手順(1)>・・・『状態7』であるか否かの判定
出力信号CK6と出力信号CK4の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態7』と判定される。
<手順(2)>・・・『状態6』であるかを判定
出力信号CK4と出力信号CK2の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態6』と判定される。
<手順(3)>・・・『状態5』であるかを判定
出力信号CK2と出力信号CK7の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態5』と判定される。
<手順(4)>・・・『状態4』であるかを判定
出力信号CK7と出力信号CK5の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態4』と判定される。
<手順(5)>・・・『状態3』であるかを判定
出力信号CK5と出力信号CK3の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態3』と判定される。
<手順(6)>・・・『状態2』であるかを判定
出力信号CK3と出力信号CK1の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態2』と判定される。
<手順(7)>・・・『状態1』であるかを判定
出力信号CK1と出力信号CK8の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態1』と判定される。
次に、本発明の第4の実施形態を説明する。図13は、本実施形態に係るAD変換回路の構成の一部を抜粋して示している。図13に示す回路は、VCO100d(クロック生成部)、ラッチ部108、演算部106、下位計数部103、および上位計数部101で構成される。図13に示す構成のうち図10に示した構成と同様の構成については説明を省略する。本実施形態では、上位計数部101のカウントクロックとなる信号が第3の実施形態と異なり、NOR回路NOR6の出力信号CK7が上位計数部101のカウントクロックとなる。また、本実施形態の上位計数部101は出力信号CK7の立下りエッジでカウントを行う。
<手順(1)>・・・『状態7』であるか否かの判定
出力信号CK7と出力信号CK5の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態7』と判定される。
<手順(2)>・・・『状態6』であるかを判定
出力信号CK5と出力信号CK3の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態6』と判定される。
<手順(3)>・・・『状態5』であるかを判定
出力信号CK3と出力信号CK1の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態5』と判定される。
<手順(4)>・・・『状態4』であるかを判定
出力信号CK1と出力信号CK6の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態4』と判定される。
<手順(5)>・・・『状態3』であるかを判定
出力信号CK6と出力信号CK4の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態3』と判定される。
<手順(6)>・・・『状態2』であるかを判定
出力信号CK4と出力信号CK2の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態2』と判定される。
<手順(7)>・・・『状態1』であるかを判定
出力信号CK2と出力信号CK0の論理状態が比較され、ここにサーモメータコードがあれば、『状態1』と判定される。
次に、本発明の第5の実施形態を説明する。図16は、本実施形態による(C)MOS撮像装置の構成の一例を示している。図16に示す撮像装置1は、撮像部2、垂直選択部12、読出電流源部5、クロック生成部18、ランプ部19(参照信号生成部)、カラム処理部15、水平選択部14、出力部17、制御部20で構成されている。
最初に、上位計数部101および下位計数部103がリセットされる。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への1回目の読出しが安定した後、制御部20は、ランプ部19に対して、ランプ波生成の制御データを供給する。これを受けてランプ部19は、比較部109の一方の入力端子に与える比較電圧として、波形が全体として時間的にランプ状に変化するランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波とリセットレベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。尚、VCO100の出力信号の出力開始のタイミングと、ランプ波の出力開始のタイミングとは略同時であることが好ましいが、これに限らない。
続いて、2回目の読出し時には、単位画素3毎の入射光量に応じた信号レベルを読み出し、1回目の読出しと同様な動作を行う。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への2回目の読出しが安定した後、制御部20は、ランプ部19に対して、ランプ波生成の制御データを供給する。これを受けてランプ部19は、比較部109の一方の入力端子に与える比較電圧として、波形が全体として時間的にランプ状に変化するランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波と信号レベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。尚、VCO100のクロック信号の出力開始のタイミングと、ランプ波の出力開始のタイミングとは略同時であることが好ましいが、これに限らない。
最初に、制御信号CLMODE/CHMODEがL状態となり、下位計数部103および上位計数部101の動作モードがカウントモードに設定される。続いて、制御信号LRSTにより、ラッチ回路D_1〜D_8がリセットされる。同時に、制御信号CLRST/CHRSTにより、下位計数部103および上位計数部101の計数値がリセットされる。制御信号SELはL状態に設定されているので、上位計数部101のカウントクロックはラッチ部108のラッチ回路D_6の出力に設定される。したがって、比較処理の終了時点まで、出力信号CK6がラッチ回路D_6および切換え部MUXを介して上位計数部101に入力され、上位計数部101は出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。比較処理の開始時点で、下位計数部103が保持している値は3’b000、上位計数部101が保持している値は9’b0000_0000_0である。これらの値を12ビットで表現すると、12’b0000_0000_0000となる。
続いて、制御信号LRSTにより、ラッチ回路D_1〜D_8がリセットされる。ここでは、制御信号CLRST/CHRSTによる下位計数部103および上位計数部101の計数値のリセットは行われない。その後、制御信号CLMODE/CHMODEがL状態となる。これにより、下位計数部103および上位計数部101の動作モードがカウントモードとなる。この時点で、下位計数部103が保持している値は3’b001(1に相当)、上位計数部101が保持している値は9’b0000_0001_1(3に相当)である。これらの値を12ビットで表現すると、12’b0000_0001_1001となる。
次に、本発明の第6の実施形態を説明する。本実施形態による撮像装置の構成は、列AD変換部16を除いて、図16に示した構成と同様である。それ以外は、略同様であるので説明を省略する。
最初に、上位計数部101および下位計数部103がリセットされる。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への1回目の読出しが安定した後、ランプ部19はランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波とリセットレベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。
続いて、2回目の読出し時には、単位画素3毎の入射光量に応じた信号レベルを読み出し、1回目の読出しと同様な動作を行う。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への2回目の読出しが安定した後、ランプ部19はランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波と信号レベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。
最初に、制御信号CLMODE/CHMODEがL状態となり、下位計数部103および上位計数部101の動作モードがカウントモードに設定される。続いて、制御信号LRSTにより、ラッチ回路D_1〜D_8がリセットされる。同時に、制御信号CLRST/CHRSTにより、下位計数部103および上位計数部101の計数値がリセットされる。制御信号SELはL状態に設定されているので、上位計数部101のカウントクロックはラッチ部108のラッチ回路D_6の出力に設定される。したがって、比較処理の終了時点まで、出力信号CK6がラッチ回路D_6および切換え部MUXを介して上位計数部101に入力され、上位計数部101は出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。比較処理の開始時点で、下位計数部103が保持している値は3’b[0]000、上位計数部101が保持している値は9’b0000_0000_0である。これらの値を12ビットで表現すると、12’b0000_0000_0000となる。
続いて、制御信号LRSTにより、ラッチ回路D_1〜D_8がリセットされる。ここでは、制御信号CLRST/CHRSTによる下位計数部103および上位計数部101の計数値のリセットは行われない。その後、制御信号CLMODE/CHMODEがL状態となる。これにより、下位計数部103および上位計数部101の動作モードがカウントモードとなる。この時点で、下位計数部103が保持している値は3’b[0]110(6に相当)、上位計数部101が保持している値は9’b1111_1110_0(-4に相当)である。これらの値を12ビットで表現すると、12’b1111_1110_0110となる。
次に、本発明の第7の実施形態を説明する。本実施形態による撮像装置の構成は、図16に示した構成と同様であり、列AD変換部16の構成は、図17に示した構成と同様であるので説明を省略する。
最初に、上位計数部101および下位計数部103がリセットされる。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への1回目の読出しが安定した後、ランプ部19はランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波とリセットレベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。
続いて、2回目の読出し時には、単位画素3毎の入射光量に応じた信号レベルを読み出し、1回目の読出しと同様な動作を行う。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への2回目の読出しが安定した後、ランプ部19はランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波と信号レベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。
次に、本発明の第8の実施形態を説明する。本実施形態による撮像装置の構成は、図16に示した構成と同様であり、列AD変換部16の構成は、図22に示した構成と同様であるので説明を省略する。
最初に、上位計数部101および下位計数部103がリセットされる。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への1回目の読出しが安定した後、ランプ部19はランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波とリセットレベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。
続いて、2回目の読出し時には、単位画素3毎の入射光量に応じた信号レベルを読み出し、1回目の読出しと同様な動作を行う。任意の画素行の単位画素3から垂直信号線13への2回目の読出しが安定した後、ランプ部19はランプ波を出力する。比較部109は、このランプ波と信号レベルとを比較する。この間、上位計数部101は、VCO100の出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。
最初に、制御信号CLMODE/CHMODEがL状態となり、下位計数部103および上位計数部101の動作モードがカウントモードに設定される。尚、下位計数部103および上位計数部101のカウントモードはダウンカウントモードである。続いて、制御信号LRSTにより、ラッチ回路D_1〜D_8がリセットされる。同時に、制御信号CLRST/CHRSTにより、下位計数部103および上位計数部101の計数値がリセットされる。制御信号SELはL状態に設定されているので、上位計数部101のカウントクロックはラッチ部108のラッチ回路D_6の出力に設定される。したがって、比較処理の終了時点まで、出力信号CK6がラッチ回路D_6および切換え部MUXを介して上位計数部101に入力され、上位計数部101は出力信号CK6をカウントクロックとしてカウントを行う。比較処理の開始時点で、下位計数部103が保持している値は3’b[0]000、上位計数部101が保持している値は9’b0000_0000_0である。これらの値を12ビットで表現すると、12’b0000_0000_0000となる。
続いて、制御信号LRSTにより、ラッチ回路D_1〜D_8がリセットされる。ここでは、制御信号CLRST/CHRSTによる下位計数部103および上位計数部101の計数値のリセットは行われない。その後、制御信号CLMODE/CHMODEがL状態となる。これにより、下位計数部103および上位計数部101の動作モードがカウントモードとなる。尚、下位計数部103および上位計数部101のカウントモードはアップカウントモードである。この時点で、下位計数部103が保持している値は3’b[1]001(-7に相当)、上位計数部101が保持している値は9’b1111_1110_1(-3に相当)である。これらの値を12ビットで表現すると、12’b1111_1110_1001となる。
Claims (8)
- 時間の経過とともに増加または減少する参照信号を生成する参照信号生成部と、
AD変換の対象となるアナログ信号と前記参照信号とを比較し、前記参照信号が前記アナログ信号に対して所定の条件を満たしたタイミングで比較処理を終了する比較部と、
n個(nは3以上の奇数)の遅延ユニットで構成され、前記n個の遅延ユニットのそれぞれを信号が伝送する第1の経路と、前記n個の遅延ユニットの一部を迂回して信号が伝送する第2の経路とを含む発振回路を有し、複数の前記遅延ユニットから出力される複数の信号からなる下位位相信号を出力するクロック生成部と、
前記比較処理の終了に係るタイミングで前記下位位相信号をラッチするラッチ部と、
前記第2の経路の両端に位置する2つの遅延ユニットの間に配置され、かつ、前記第1の経路上に配置される遅延ユニットの何れかから出力される信号をカウントクロックとしてカウントを行って上位計数値を取得する第1のカウンタ回路で構成される上位計数部と、
前記第1のカウンタ回路のカウントクロックを基準として定義される前記下位位相信号の状態を検出するため、前記ラッチ部にラッチされた前記下位位相信号を構成する複数の信号からなる信号群における論理状態の変化位置を検出し、検出された前記変化位置に基づいて下位計数信号を生成する演算部と、
前記下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行って下位計数値を取得する第2のカウンタ回路で構成される下位計数部と、
を備え、前記アナログ信号に応じたデジタルデータを出力するAD変換回路。 - 前記演算部は、前記第1のカウンタ回路がカウントクロックの立上りと立下りのどちらを基準にカウントを行うのかに応じて、前記比較処理の間に前記クロック生成部から出力される前記下位位相信号を構成する複数の信号を、所定の時間間隔で順に立ち上がる、または、所定の時間間隔で順に立ち下がる信号群となるように並べたときの当該信号群の順番と同じ順番になるように、前記ラッチ部にラッチされた前記下位位相信号を構成する複数の信号を並べた後の信号群における論理状態の変化位置を検出する請求項1に係るAD変換回路。
- 前記ラッチ部は、第1のアナログ信号に応じた第1の比較処理の終了に係るタイミングで第1の下位位相信号をラッチした後、第2のアナログ信号に応じた第2の比較処理の終了に係るタイミングで第2の下位位相信号をラッチし、
前記演算部は、前記ラッチ部にラッチされた前記第1の下位位相信号に応じて第1の下位計数信号を生成した後、前記ラッチ部にラッチされた前記第2の下位位相信号に応じて第2の下位計数信号を生成し、
前記下位計数部は、前記第1の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行うと共に第1の上位用カウントクロックを出力して第1の下位計数値を取得し、前記第1の下位計数値を構成する各ビットの値を反転した後、前記第2の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行うと共に第2の上位用カウントクロックを出力して第2の下位計数値を取得し、
前記上位計数部は、前記クロック生成部から出力される前記第1の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行い、更に前記第1の上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第1の上位計数値を取得し、前記第1の上位計数値を構成する各ビットの値を反転した後、前記クロック生成部から出力される前記第2の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行い、更に前記第2の上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第2の上位計数値を取得する
ことで、前記第1のアナログ信号と前記第2のアナログ信号との差分に応じたデジタルデータを出力する請求項1または請求項2に係るAD変換回路。 - 前記ラッチ部は、第1のアナログ信号に応じた第1の比較処理の終了に係るタイミングで第1の下位位相信号をラッチした後、第2のアナログ信号に応じた第2の比較処理の終了に係るタイミングで第2の下位位相信号をラッチし、
前記演算部は、前記ラッチ部にラッチされた前記第1の下位位相信号に応じて第1の下位計数信号を生成した後、前記ラッチ部にラッチされた前記第2の下位位相信号に応じて第2の下位計数信号を生成し、
前記下位計数部は、前記第1の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行って第1の下位計数値を取得し、前記第1の下位計数値を構成する各ビットの値を反転した後、前記第2の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行って第2の下位計数値を取得し、前記第2の下位計数値のフラグ用ビットに基づく上位用カウントクロックを出力し、
前記上位計数部は、前記クロック生成部から出力される前記第1の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行って第1の上位計数値を取得し、前記第1の上位計数値を構成する各ビットの値を反転した後、前記クロック生成部から出力される前記第2の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行い、更に前記上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第2の上位計数値を取得する
ことで、前記第1のアナログ信号と前記第2のアナログ信号との差分に応じたデジタルデータを出力する請求項1または請求項2に係るAD変換回路。 - 前記ラッチ部は、第1のアナログ信号に応じた第1の比較処理の終了に係るタイミングで第1の下位位相信号をラッチした後、第2のアナログ信号に応じた第2の比較処理の終了に係るタイミングで第2の下位位相信号をラッチし、
前記演算部は、前記ラッチ部にラッチされた前記第1の下位位相信号に応じて第1の下位計数信号を生成した後、前記ラッチ部にラッチされた前記第2の下位位相信号に応じて第2の下位計数信号を生成し、
前記下位計数部は、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか一方のモードで、前記第1の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行うと共に第1の上位用カウントクロックを出力して第1の下位計数値を取得した後、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか他方のモードで、前記第2の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行うと共に第2の上位用カウントクロックを出力して第2の下位計数値を取得し、
前記上位計数部は、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか一方のモードで、前記クロック生成部から出力される前記第1の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行い、更に前記第1の上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第1の上位計数値を取得した後、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか他方のモードで、前記クロック生成部から出力される前記第2の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行い、更に前記第2の上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第2の上位計数値を取得する
ことで、前記第1のアナログ信号と前記第2のアナログ信号との差分に応じたデジタルデータを出力する請求項1または請求項2に係るAD変換回路。 - 前記ラッチ部は、第1のアナログ信号に応じた第1の比較処理の終了に係るタイミングで第1の下位位相信号をラッチした後、第2のアナログ信号に応じた第2の比較処理の終了に係るタイミングで第2の下位位相信号をラッチし、
前記演算部は、前記ラッチ部にラッチされた前記第1の下位位相信号に応じて第1の下位計数信号を生成した後、前記ラッチ部にラッチされた前記第2の下位位相信号に応じて第2の下位計数信号を生成し、
前記下位計数部は、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか一方のモードで、前記第1の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行って第1の下位計数値を取得した後、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか他方のモードで、前記第2の下位計数信号をカウントクロックとしてカウントを行って第2の下位計数値を取得し、前記第2の下位計数値のフラグ用ビットに基づく上位用カウントクロックを出力し、
前記上位計数部は、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか一方のモードで、前記クロック生成部から出力される前記第1の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行って第1の上位計数値を取得した後、アップカウントモードおよびダウンカウントモードの何れか他方のモードで、前記クロック生成部から出力される前記第2の下位位相信号を構成する複数の信号の1つをカウントクロックとしてカウントを行い、更に前記上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第2の上位計数値を取得する
ことで、前記第1のアナログ信号と前記第2のアナログ信号との差分に応じたデジタルデータを出力する請求項1または請求項2に係るAD変換回路。 - 光電変換素子を有し、画素信号を出力する画素が複数、行列状に配置された撮像部と、
前記画素信号に応じたアナログ信号が入力される請求項1または請求項2に係るAD変換回路と、
を有する撮像装置。 - 光電変換素子を有し、画素信号を出力する画素が複数、行列状に配置された撮像部と、
リセットレベルに基づく第1の画素信号に応じた第1のアナログ信号と、前記光電変換素子に入射された電磁波の大きさに基づく第2の画素信号に応じた第2のアナログ信号とが入力される請求項3〜請求項6の何れか一項に係るAD変換回路と、
を有する撮像装置。
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