JP2013106997A - X線検出器システムおよびx線ct装置 - Google Patents
X線検出器システムおよびx線ct装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013106997A JP2013106997A JP2013049199A JP2013049199A JP2013106997A JP 2013106997 A JP2013106997 A JP 2013106997A JP 2013049199 A JP2013049199 A JP 2013049199A JP 2013049199 A JP2013049199 A JP 2013049199A JP 2013106997 A JP2013106997 A JP 2013106997A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- chip
- ray detector
- substrate
- subject
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 33
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 13
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 abstract 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Abstract
【解決手段】X線を直接的にまたは一旦光に変換した上で間接的に電気信号に変換する
複数の検出素子を二次元状に配列したX線検出チップ12aと、このX線検出チップの検出素子からの電気信号をそれぞれ増幅する増幅チップ12b1と、この増幅チップの出力をデジタル信号に変換するA/D変換チップ12b2とを重ねて、その間を順次電気的に貫通電極などで接続したものをセラミックなどの基板12cに載置してX線検出器システム12を構成した。
これにより、従来別構成であったX線検出器とデータ収集装置とを、1チップ化して高精細のX線検出器システムとしたので、X線CT装置に高密度に実装が可能となる。
【選択図】 図3
Description
12a 主検出器
12b データ収集装置(DAS)
12b1 積分器
12b2 A/Dコンバータ
12c 基板
Claims (2)
- X線を直接的にまたは一旦光に変換した上で間接的に電気信号に変換する複数の検出素子を二次元状に配列したX線検出チップと、
このX線検出チップの前記検出素子からの電気信号をそれぞれ増幅する増幅チップと、
この増幅チップの出力をデジタル信号に変換するA/D変換チップと、
前記X線検出チップ、増幅チップ、A/D変換チップを重ねて、その間を順次電気的に接続する接続手段と、
この接続手段によって接続されたものを載置する基板と、
を具備することを特徴とするX線検出器システム。 - 被検体の周りにX線を照射するX線照射手段と、
このX線照射手段によって照射され、前記被検体を透過したX線を直接的にまたは一旦光に変換した上で間接的に電気信号に変換する検出素子を二次元状に配列したX線検出チップと、このX線検出チップの前記検出素子からの電気信号をそれぞれ増幅する増幅チップと、この増幅チップの出力をデジタル信号に変換するA/D変換チップと、前記X線検出チップ、増幅チップ、A/D変換チップ間を順次電気的に接続する接続手段と、この接続手段によって接続されたものを載置する基板とから成るX線検出器システムと、
このX線検出器システムをチャンネル方向および/またはスライス方向に複数組合せたものを介して収集されたデータに基づいて前記被検体の断層像を形成する画像再構成手段と、
を具備することを特徴とするX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013049199A JP5744085B2 (ja) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013049199A JP5744085B2 (ja) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007321197A Division JP5438895B2 (ja) | 2007-12-12 | 2007-12-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013106997A true JP2013106997A (ja) | 2013-06-06 |
JP5744085B2 JP5744085B2 (ja) | 2015-07-01 |
Family
ID=48704353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013049199A Active JP5744085B2 (ja) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5744085B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103322915A (zh) * | 2013-06-27 | 2013-09-25 | 青岛歌尔声学科技有限公司 | 测量芯片管脚数量和管脚间距的测试仪及其测量方法 |
US9547090B2 (en) | 2014-07-31 | 2017-01-17 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray computed tomography apparatus and X-ray detector |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63198890A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | Hitachi Medical Corp | X線検出装置 |
JP2001242253A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-09-07 | Toshiba Corp | 放射線検出器およびx線ct装置 |
JP2003066149A (ja) * | 2000-08-14 | 2003-03-05 | Toshiba Corp | 放射線検出器、放射線検出システム、x線ct装置 |
JP2006026401A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-02-02 | General Electric Co <Ge> | 放射線イメージングシステムの検出器 |
WO2006129762A1 (ja) * | 2005-06-02 | 2006-12-07 | Sony Corporation | 半導体イメージセンサ・モジュール及びその製造方法 |
JP2007220087A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-08-30 | Siemens Ag | 集積回路および集積回路を有する半導体材料の温度調節方法 |
JP2008126064A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | General Electric Co <Ge> | データ取得システムをセンサ・アレイに熱的に結合するインタフェイス・アセンブリ |
JP2008145245A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-26 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線検出器およびx線ct装置 |
JP2008161689A (ja) * | 2007-01-04 | 2008-07-17 | General Electric Co <Ge> | 計算機式断層写真法検出器モジュール構成 |
-
2013
- 2013-03-12 JP JP2013049199A patent/JP5744085B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63198890A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | Hitachi Medical Corp | X線検出装置 |
JP2001242253A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-09-07 | Toshiba Corp | 放射線検出器およびx線ct装置 |
JP2003066149A (ja) * | 2000-08-14 | 2003-03-05 | Toshiba Corp | 放射線検出器、放射線検出システム、x線ct装置 |
JP2006026401A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-02-02 | General Electric Co <Ge> | 放射線イメージングシステムの検出器 |
WO2006129762A1 (ja) * | 2005-06-02 | 2006-12-07 | Sony Corporation | 半導体イメージセンサ・モジュール及びその製造方法 |
JP2007220087A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-08-30 | Siemens Ag | 集積回路および集積回路を有する半導体材料の温度調節方法 |
JP2008126064A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | General Electric Co <Ge> | データ取得システムをセンサ・アレイに熱的に結合するインタフェイス・アセンブリ |
JP2008145245A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-26 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線検出器およびx線ct装置 |
JP2008161689A (ja) * | 2007-01-04 | 2008-07-17 | General Electric Co <Ge> | 計算機式断層写真法検出器モジュール構成 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103322915A (zh) * | 2013-06-27 | 2013-09-25 | 青岛歌尔声学科技有限公司 | 测量芯片管脚数量和管脚间距的测试仪及其测量方法 |
US9547090B2 (en) | 2014-07-31 | 2017-01-17 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray computed tomography apparatus and X-ray detector |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5744085B2 (ja) | 2015-07-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9818182B2 (en) | X-ray CT device | |
JP5356078B2 (ja) | X線検出器およびx線ct装置 | |
US10456099B2 (en) | Radiation detecting device and medical imaging device | |
CN110546944B (zh) | 有源像素传感器计算机断层摄影(ct)检测器和读出方法 | |
US9480446B2 (en) | X-ray detection submodule, X-ray detection module, and X-ray CT apparatus | |
JP2003066149A (ja) | 放射線検出器、放射線検出システム、x線ct装置 | |
WO2017170408A1 (ja) | X線検出システム、x線装置、並びに、x線検出データを処理する装置及び方法 | |
JP2009118943A (ja) | 放射線検出器及びこれを用いたx線ct装置 | |
EP2981987B1 (en) | Integrated diode das detector | |
JP2008122116A (ja) | 放射線検出器およびx線断層撮影装置 | |
JP5438895B2 (ja) | X線検出器システムおよびx線ct装置 | |
JP5744085B2 (ja) | X線検出器システムおよびx線ct装置 | |
JP5450188B2 (ja) | 放射線検出装置、放射線検出装置の製造方法および画像撮影装置 | |
US9547090B2 (en) | X-ray computed tomography apparatus and X-ray detector | |
JP5475830B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP5743420B2 (ja) | X線ct装置 | |
JPWO2014136734A1 (ja) | 放射線検出器とそれを備えたx線ct装置 | |
JP2008145245A (ja) | X線検出器およびx線ct装置 | |
JP5238452B2 (ja) | 放射線検出装置及びこれを用いたx線ct装置 | |
JP5981273B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
US11650337B2 (en) | Converter array, detector, and photodiode array | |
JP7399720B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2004181017A (ja) | X線ct装置 | |
JP2021148468A (ja) | 放射線検出器及び放射線診断装置 | |
JP6000757B2 (ja) | X線ct装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130411 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130411 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140516 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140520 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140722 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141216 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150216 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150407 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150428 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5744085 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |