JP5356078B2 - X線検出器およびx線ct装置 - Google Patents
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Description
課題を解決するための発明は、第9の観点では、前記検出セルのアレイは、前記個別電極側にX線が入射されることを特徴とする第4の観点に記載のX線検出器である。
課題を解決するための発明は、第19の観点では、前記検出セルのアレイは、前記個別電極側にX線が入射されることを特徴とする第14の観点に記載のX線CT装置である。
前記第1群の個別電極および前記第2群の個別電極はピクセルを共有しないので、第1群の個別電極と第2群の個別電極を、それぞれのデータ収集モードに最適な構成とすることができる。
前記検出セルのアレイは、前記個別電極側にX線が入射されるので、X線の2次元分布に適応することができる。
なお、テーブル200は、図2に示すように、テーブルトップ202がベース208に対して垂直に昇降する方式のものであってよい。テーブルトップ202の昇降は内蔵の昇降機構によって行われる。このテーブル200においては、昇降に伴うテーブルトップ202の水平移動は生じない。
これによって、X線検出器150は、単層の半導体基板500で低フラックスレートから高フラックスレートまで対応可能なX線検出器となる。このX線検出器150においては、検出セル154の大きさ、すなわち、ピクセルサイズ(pixel size)を0.1mm程度とすることは容易である。したがって、空間分解能が高いX線検出器を容易に得ることができる。また、検出層が単層なので、製造コストは多層型のものよりはるかに低い。
100 : ガントリ
110 :X線照射・検出装置
130 : X線管
132 : 焦点
134 : X線
150 : X線検出器
152 : X線入射面
154 : 検出セル
200 : テーブル
202 : テーブルトップ
204 : クレードル
206 : 支柱
208 : ベース
300 : オペレータコンソール
500 : 半導体基板
510 : 電極
520 : 電極
522 : 電極
524 : 電極
530 : 絶縁層
610 : フォトン計数回路
620 : 電流測定回路
Claims (16)
- X線のフォトンを直接電気信号に変換する半導体を用いるX線検出器であって、
X線のフォトンを直接電気信号に変換する検出セルのアレイを有する単層の半導体基板と、
前記検出セルについてフォトン計数モードでデータ収集を行う第1のデータ収集手段と、
前記検出セルについて電流測定モードでデータ収集を行う第2のデータ収集手段
を具備することを特徴とするX線検出器。 - 前記第1のデータ収集手段および前記第2のデータ収集手段は、共通の検出セルについてデータ収集を行う
ことを特徴とする請求項1に記載のX線検出器。 - 前記第1のデータ収集手段および前記第2のデータ収集手段は、別々な検出セルについてそれぞれデータ収集を行う
ことを特徴とする請求項1に記載のX線検出器。 - 前記検出セルのアレイは、
前記半導体基板の表面と裏面のうちの一方に配置された共通電極と、
前記半導体基板の表面と裏面のうちの他方に配置された複数の個別電極を有する
ことを特徴とする請求項1に記載のX線検出器。 - 前記複数の個別電極は、
前記第1のデータ収集手段用の第1群の個別電極と、
前記第2のデータ収集手段用の第2群の個別電極の混合である
ことを特徴とする請求項4に記載のX線検出器。 - 前記検出セルのアレイは、
前記共通電極側にX線が入射される
ことを特徴とする請求項4に記載のX線検出器。 - 前記検出セルのアレイは、
前記個別電極側にX線が入射される
ことを特徴とする請求項4に記載のX線検出器。 - 前記検出セルのアレイは、
前記個別電極と前記共通電極の間の半導体層にX線が入射される
ことを特徴とする請求項4に記載のX線検出器。 - 対象をX線でスキャンして投影データを収集しこの投影データに基づいて画像を再構成するX線CT装置であって、
X線のフォトンを直接電気信号に変換する検出セルのアレイを有する単層の半導体基板と、
前記検出セルについてフォトン計数モードでデータ収集を行う第1のデータ収集手段と、
前記検出セルについて電流測定モードでデータ収集を行う第2のデータ収集手段と、
前記第1のデータ収集手段で収集されたデータに基づく画像および前記第2のデータ収集手段で収集されたデータに基づく画像をそれぞれ再構成する画像再構成手段
を具備することを特徴とするX線CT装置。 - 前記第1のデータ収集手段および前記第2のデータ収集手段は、共通の検出セルについてデータ収集を行う
ことを特徴とする請求項9に記載のX線CT装置。 - 前記第1のデータ収集手段および前記第2のデータ収集手段は、別々な検出セルについてそれぞれデータ収集を行う
ことを特徴とする請求項9に記載のX線CT装置。 - 前記検出セルのアレイは、
前記半導体基板の表面と裏面のうちの一方に配置された共通電極と、
前記半導体基板の表面と裏面のうちの他方に配置された複数の個別電極を有する
ことを特徴とする請求項9に記載のX線CT装置。 - 前記複数の個別電極は、
前記第1のデータ収集手段用の第1群の個別電極と、
前記第2のデータ収集手段用の第2群の個別電極の混合である
ことを特徴とする請求項9に記載のX線CT装置。 - 前記検出セルのアレイは、
前記共通電極側にX線が入射される
ことを特徴とする請求項12に記載のX線CT装置。 - 前記検出セルのアレイは、
前記個別電極側にX線が入射される
ことを特徴とする請求項12に記載のX線CT装置。 - 前記検出セルのアレイは、
前記個別電極と前記共通電極の間の半導体層にX線が入射される
ことを特徴とする請求項12に記載のX線CT装置。
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