JP5744085B2 - X線検出器システムおよびx線ct装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 59
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 44
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 40
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Description
12a 主検出器
12b データ収集装置(DAS)
12b1 積分器
12b2 A/Dコンバータ
12c 基板
Claims (5)
- X線を直接的にまたは一旦光に変換した上で間接的に電気信号に変換する複数の検出素子を配列したX線検出層と、
前記X線検出層と重ねられた状態で、前記X線検出層と上面で電気的に接続されたデータ収集層と、
前記複数の検出素子の各々に対応するものであって、前記データ収集層の上面と下面とを貫通するように設けられ、前記データ収集層の上面と下面とを電気的に導通する複数の貫通電極と、
前記データ収集層の下面と電気的に接続された基板と、
を1つのパッケージとして有し、
前記データ収集層は、前記X線検出層の前記検出素子から出力される前記電気信号に基づいてデジタル信号を生成して前記基板へ出力し、
前記パッケージをチャネル方向および/またはスライス方向に複数組み合わせるX線検出器システム。 - 前記基板は、バンプを介して前記データ収集層と接続される請求項1記載のX線検出器システム。
- 前記X線検出層と前記データ収集層とが電気的に接続される接続箇所の配置間隔と、前記貫通電極の配置間隔とは略同一であり、
前記接続箇所と、前記貫通電極は検出面に対して略垂直方向に並べて設けられる請求項1又は2記載のX線検出器システム。 - X線を直接的にまたは一旦光に変換した上で間接的に電気信号に変換する複数の検出素子を配列したX線検出層と、
前記X線検出層と重ねられた状態で、前記X線検出層と上面で電気的に接続されたデータ収集層と、
前記データ収集層の上面と下面とを貫通するように設けられ、前記データ収集層の上面と下面とを電気的に導通する貫通電極と、
前記データ収集層の下面と電気的に接続された基板と、
を有し、
前記データ収集層は、前記X線検出層の前記検出素子から出力される前記電気信号をデジタル信号に変換して前記基板へ出力し、
前記基板に載置された前記データ収集層の数は、前記X線検出層に対して数が多いX線検出器システム。 - 被検体の周りにX線を照射するX線照射手段と、
前記X線照射手段によって照射され、前記被検体を透過したX線を直接的にまたは一旦光に変換した上で間接的に電気信号に変換する複数の検出素子を配列したX線検出層と、前記X線検出層と重ねられた状態で、前記X線検出層と上面で電気的に接続されたデータ収集層と、前記複数の検出素子の各々に対応するものであって、前記データ収集層の上面と下面とを貫通するように設けられ、前記データ収集層の上面と下面とを電気的に導通する複数の貫通電極と、前記データ収集層の下面と電気的に接続された基板とを1つのパッケージとして有し、前記データ収集層は、前記X線検出層の前記検出素子から出力される前記電気信号に基づいてデジタル信号を生成して前記基板へ出力し、前記パッケージをチャネル方向および/またはスライス方向に複数組み合わせるX線検出器システムと、
前記X線検出器システムによって出力されたデジタル信号に基づいて前記被検体の断層像を形成する画像再構成手段と、
を有するX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013049199A JP5744085B2 (ja) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013049199A JP5744085B2 (ja) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007321197A Division JP5438895B2 (ja) | 2007-12-12 | 2007-12-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013106997A JP2013106997A (ja) | 2013-06-06 |
JP5744085B2 true JP5744085B2 (ja) | 2015-07-01 |
Family
ID=48704353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013049199A Active JP5744085B2 (ja) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | X線検出器システムおよびx線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5744085B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103322915B (zh) * | 2013-06-27 | 2016-02-03 | 青岛歌尔声学科技有限公司 | 测量芯片管脚数量和管脚间距的测试仪及其测量方法 |
JP6548488B2 (ja) | 2014-07-31 | 2019-07-24 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置及びx線検出器 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63198890A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | Hitachi Medical Corp | X線検出装置 |
JP2001242253A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-09-07 | Toshiba Corp | 放射線検出器およびx線ct装置 |
JP2003066149A (ja) * | 2000-08-14 | 2003-03-05 | Toshiba Corp | 放射線検出器、放射線検出システム、x線ct装置 |
US20050286682A1 (en) * | 2004-06-29 | 2005-12-29 | General Electric Company | Detector for radiation imaging systems |
TWI429066B (zh) * | 2005-06-02 | 2014-03-01 | Sony Corp | Semiconductor image sensor module and manufacturing method thereof |
DE102005061358B4 (de) * | 2005-12-21 | 2008-08-21 | Siemens Ag | In ein Halbleitermaterial integrierter Schaltkreis mit Temperaturregelung und Verfahren zur Regelung der Temperatur eines einen integrierten Schaltkreis aufweisenden Halbleitermaterials |
US7586096B2 (en) * | 2006-11-17 | 2009-09-08 | General Electric Company | Interface assembly for thermally coupling a data acquisition system to a sensor array |
JP2008145245A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-26 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線検出器およびx線ct装置 |
US7606346B2 (en) * | 2007-01-04 | 2009-10-20 | General Electric Company | CT detector module construction |
-
2013
- 2013-03-12 JP JP2013049199A patent/JP5744085B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013106997A (ja) | 2013-06-06 |
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