JP2012527185A - 高性能RFRxモジュール - Google Patents

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Abstract

RF信号送受信システムに使用されるRFモジュール。1実施形態では、RFモジュールは、その上に搭載されたデュプレクサーフィルター、第1、第2バンドパスフィルターおよび第1、第2低雑音アンプを少なくとも有する基板を有する。基板は、そこに規定された各RF信号入出力端子および供給電圧端子を有する各エッジを有する。基板の全体的な寸法および/又は各端子の位置は、特定のエア・インタフェースが異なるサイズのおよび/又は追加的なフィルターを必要とするかどうかに関係なく、同じ端子位置を有する同じサイズの基板を、例えば、EGSM、GSM850、DCS、PCSおよびLTEアプリケーションなどのいくつかの異なるエア・インタフェースに使用することが可能となるような態様で事前決定される。
【選択図】 図2

Description

[関連出願の相互参照]
本出願は、本書に全文を参照として引用し本書に参照として明示的に援用する、2009年5月15日に出願された米国仮特許出願第61/216,367号の出願日と開示の利益を主張する。
本発明は、モジュール、より具体的には、衛星バックホールのアプリケーションまたは例えばピコセル通信基地局のようなセルラー基地局のフロントエンドでの使用のために適応される高性能無線周波数(RF)周波数分割双方向受信(Rx)モジュールに関する。
現在、例えば、EGSM、GSM850、DCS、PCSおよびLTEを含め、いくつかの異なる利用可能なRF信号エア・インタフェースに渡り信号を伝送、受信するために、いくつかの形態のセルラー/無線通信基地局又はRF信号送受信システムがある。これらの送受信システムには、ピコセル、すなわち、ショッピングモールやオフィスビルなどのようなビルの内部での配備に適応され約0.25から1ワットの電力を生成する約8×18インチの大きさの基地局が含まれる。ピコセルの受信範囲は、約50ヤードである。
今日、使用されているピコセルは通常、“マザーボード”を含有し、その上には顧客により様々な電気構成要素が取り付けられる。マザーボードのフロントエンド部(すなわち、ピコセルアンテナとそのミキサーのほぼ間に位置するそのRF送受信部)は現在、当業者からは“ノードBローカルエリアフロントエンド”と呼ばれ、すなわち、必要なフィルター、アンプ、カプラーなどを含むすべての無線周波数制御電気構成要素が取り付けられるピコセルの部分となっている。
現在利用可能なマザーボードの形状と構造は満足の行くものであることが判明しているものの、不都合な点は、例えば、EGSM、GSM850、DCSまたはPCSのような各エア・インタフェースは、送受信システムが使用されている特定のエア・インタフェースに固有の必須構成要素すべてを有する自身の別個のマザーボードを含むことを要求するという事実である。
従って、使用されるエア・インタフェースに関係なく同じマザーボードを送受信システムが使用できる設計のモジュールが依然として必要とされている。
本発明は一般に、例えば、複数のエア・インタフェースに渡り動作可能であり、1つの実施例では、その上に位置して相互接続されるデュプレクサーフィルター、第1低雑音アンプおよび第1バンドパスフィルターを少なくとも有する基板を有する周波数分割双方向(デュープレクス)受信(Rx)モジュールのような無線周波数(RF)モジュールに関する。本発明によれば、基板は所定のサイズを有し、また、所定の端子位置に規定される少なくとも第1供給電圧端子および各RF信号入出力端子を備えた各エッジを含有し、それにより、同じサイズと同じ端子位置の同じ基板を複数のエア・インタフェースのために使用することが可能になる。
1つの実施例では、第2低雑音アンプと第2バンドパスフィルターが基板上に位置して第1バンドパスフィルターに相互接続され、基板が対向第1・第2縦基板エッジおよび対向第1・第2横基板エッジを含有し、RF受信信号出力端子が第1横エッジに規定され、RFアンテナ信号入出力端子が第2横エッジに規定され、RF信号伝送入力端子が第2縦エッジに規定され、また、第1・第2供給電圧端子が第1・第2縦エッジの各々に規定される。
1つの実施例では、デュプレクサーフィルターが第2横基板エッジに隣接して基板上に取り付けられ、第2バンドパスフィルターが第1横基板エッジに隣接して基板上に位置し、第1バンドパスフィルターがデュプレクサーフィルターと第2バンドパスフィルターの間の基板上に位置し、第1低雑音アンプが基板上に位置してデュプレクサーフィルターと第1バンドパスフィルターの間に相互接続され、また、第2雑音アンプが基板上に位置して第1バンドパスフィルターと第2バンドパスフィルターの間に相互接続される。
さらなる実施例では、第3低雑音アンプが基板上に位置して第1低雑音アンプと第1バンドパスフィルターの間に相互接続される。
本発明の他の利点と特長は、本発明の2つの実施例に関する以下の詳細な説明、添付の図面および添付の特許請求の範囲から容易に明らかになろう。
本発明のこれらの特長と他の特長は、以下の添付の図面の以下の説明により最も良く理解できる。
図1は、上にカバーを被せた本発明による高性能RFRxモジュールの斜視図である。 図2は、本発明によるRFRxモジュールの1つのブロック実施例である。 図3は、図2のブロック実施例を具体化するRFRxモジュールの基板の簡易上面図である。 図4は、本発明によるRFRxモジュールの別のブロック実施例である。 図5は、図4のブロック実施例を具体化するRFRxモジュールの基板の簡易上面図である。
本発明は多くの異なる形態の実施例が可能であるが、本明細書と添付の図面は、本発明の例として、例えばピコセル携帯電話基地局のフロントエンドでの使用や衛星バックホールのアプリケーションに適応される2つの代表的なRFRxモジュールの実施例を開示する。しかし、本発明は、そのように説明される実施例や応用例に制限されることを意図されない。
図1は、一般に20と指定され、本発明により構築され、基板30とカバーまたは蓋32の2つの主な構成要素を一般に含有するRF(無線周波数)(FDD)周波数分割双方向Rx(受信)モジュールを描写している。
図示した実施例において、基板30は複数の層のGETEK(登録商標)、FR408または同様のラミネート材で作られたプリント配線板であり、厚さが約1mm(すなわち、0.040インチ)である。基板30の全域を覆うように適応される蓋32は、RoRHのコンプライアンスの目的で、Cu/Ni/Sn(銅/ニッケル/錫)めっきされた真鍮であることが好適である。蓋32は、ほこりカバーとファラデーシールドの両方の働きをする。
図3に示す通り、一般に長方形の基板30は、頂面または上面34、底面または下面(図示なし)ならびに対向第1・第2上下横面またはエッジ36と38および対向第3・第4縦面またはエッジ40と42を規定する外周エッジを含有する。
キャスタレーション44と45およびスルーホール48は、基板30の外周エッジの周りに規定され位置する。キャスタレーション45はモジュール20の各接地端子を規定し、キャスタレーション44はモジュール20の各供給電圧入力端子を規定し、また、スルーホール48は以下に詳細に説明する通りモジュール20の各RF信号入出力端子を規定する。
当業者に周知の通り、キャスタレーション44と45は各基板エッジから刻まれる金属化半円形溝により規定され、基板30の頂面と底面の各々の間を延長する。図3の実施例において、上横エッジ36はスルーホール48の両側に2つの離間したキャスタレーション45を規定し、下横エッジ38は別のスルーホール48の両側に2つの離間したキャスタレーション45を規定し、縦辺エッジ40はキャスタレーション44の両側に2つの離間したキャスタレーション45を規定し、また、縦辺エッジ42は5つのキャスタレーション、すなわち、別のスルーホール48の両側の2つのキャスタレーション45および別のキャスタレーション44の両側の2つ別のキャスタレーション45を規定する。キャスタレーション44と45およびスルーホール48、より具体的には、これを覆う導電銅材は、基板30の頂面と底面の間に電気路を作り出す。
どの図にも示していないものの、当業者に周知の通り、キャスタレーション45は底面(図示なし)の導電材の接地層に連結され、さらに、各キャスタレーション44とスルーホール48は、底面(図示なし)の導電材の接地層から分離されて各RF信号入出力端子と供給電圧入力端子を規定する基板30の底面(図示なし)の導電材の各ストリップ/パッドに連結されていることが理解されよう。
当業者に周知の通り、また、どの図にも示していないものの、基板30の底面(図示なし)に規定されるパッドにより、モジュール20は、ピコセル(図示なし)などのフロントエンドでマザーボード(図示なし)の頂面に位置する対応パッドにリフローはんだ付けなどにより直接、表面実装されることが可能になる。
図2はRFRxモジュール20での使用のために適応されるRF信号Rx回路50の1つのブロック実施例を描写しており、前記モジュールが回路線53経由で第1低雑音アンプ(LNA)54に連結されて通信するデュプレクサーフィルター(デュプレクサー)52を含有し、これが次に回路線55経由で第1バンドパスフィルター(BPF)56に連結されて通信し、これが次に回路線57経由で第2低雑音アンプ(LNA)58に連結されて通信し、これが次に回路線77経由で第2バンドパスフィルター(BPF)60に連結されて通信し、これが次に回路線73経由で受信(Rx)出力端子またはピン62に連結されて通信し、これが次にピコセルなどのマザーボードの対応Rx信号ポートまたはパッド(図示なし)に連結されるように適応される。
RF信号Rx回路50は、回路線65経由でデュプレクサーフィルター46の入力に連結されて通信するRFアンテナ信号入出力端子またはピン64経由でアンテナ信号を受信、伝送するように適応される。
図2の参照を継続するが、Rx回路50は、一方の端でピコセルのRFTx信号ポート(図示なし)に連結され、もう一方の端で回路線67経由でデュプレクサーフィルター52に連結されるRF信号伝送(Tx)信号入力端子またはピン66をさらに含有する。
Vdd(電力アンプ供給電圧)が、各回路線69と71経由で各LNAVdd供給電圧入力端子またはピン68と70を通じて各低雑音アンプ54と58に供給される。
図2に示したブロック要素を組み込んだモジュール20の基板30のレイアウトの1つの簡易実施例を図3に示しており、そこでは、アンテナパッドまたは端子64が基板30の下横エッジ38に位置して分離するスルーホール48により規定され、RFRx出力信号端子またはピン62が基板30の上横エッジ36に位置するスルーホール48により規定され、低雑音アンプ供給電圧(Vdd)端子またはピン68が基板30の縦辺エッジ40に位置するキャスタレーション44により規定され、また、低雑音アンプ58用の低雑音アンプ供給電圧(Vdd)端子またはピン70とRFTx信号入力端子またはピン66の両方が基板30の縦辺エッジ42に位置するカスタレーション44とスルーホール48の各々により規定される。
RFTx信号入力端子またはピン66を基板30に組み込むことにより、電力アンプ(図示なし)が最適な熱散逸のためにマザーボード(図示なし)かヒートシンク(図示なし)のどちらにでも直接取り付けることが可能になる。
図示した実施例において、縦辺基板エッジ40の端子68は下横基板エッジ38に隣接して位置決めされるがそこから離間し、端子64は下横基板エッジ38のほぼ中央に位置し、縦辺基板エッジ42の端子66は下横基板エッジ38に隣接して位置決めされるがそこから離間し、同様に縦辺基板エッジ42に位置する端子70は端子66から離間して上横基板エッジ36に隣接して位置決めされ、また、上横基板エッジ36に位置する端子62は縦辺基板エッジ40に隣接して位置決めされるがそこから離間する。
図示した実施例において、デュプレクサーフィルター52はデュプレクサーフィルター52の長辺が基板30の下横エッジ38と隣接、離間、平行して位置決めされる関係で基板30に位置し、バンドパスフィルター60はバンドパスフィルター60の長辺が基板30の上横エッジ36と隣接、離間、平行して位置決めされる関係で基板30に位置し、バンドパスフィルター56はデュプレクサーフィルター52とバンドパスフィルター60の間にあり基板30のほぼ中央に、より具体的には、バンドパスフィルター56の対向長辺エッジがデュプレクサーフィルター46の長辺、バンドパスフィルター50および基板30の左右横辺エッジ40と42と離間、平行した関係で位置決めされる関係で位置する。
基板頂面34に形成される複数の回路線53、55、57、67、69、71、73およびパッド90は銅などの導電材で作られ、以下に詳細に説明する通り各端子と電気構成要素の間に延長し、それらを相互接続する。金属化系は、ENIG、すなわち、銅上の無電解ニッケル/置換金メッキであることが好適である。
回路線65はRFアンテナ端子64とデュプレクサーフィルター52の間を延長し、それらを相互接続する。回路線67はRFTx信号端子66とデュプレクサーフィルター52の間を延長し、それらを相互接続する。回路線73はバンドパスフィルター60の出力とRFRx信号出力端子62の間を延長し、それらを相互接続する。回路線53はデュプレクサーフィルター52と第1バンドパスフィルター56の間を延長し、それらを相互接続する。回路線57は第1バンドパスフィルター56と第2バンドパスフィルター60の間を延長し、それらを相互接続する。
低雑音アンプ54は、縦辺基板エッジ40とデュプレクサーフィルター52の左辺エッジの間にあり基板30に位置する。低雑音アンプ58は、縦辺基板エッジ42とバンドパスフィルター56の右辺エッジの間にあり基板30に位置する。低雑音アンプ54は回路線53に位置し、低雑音アンプ58は回路線57に位置する。回路線69はLNAVdd端子68を低雑音アンプ54に連結、相互接続し、回路線71はLNAVdd供給電圧端子70を低雑音アンプ58に連結、相互接続する。
本書では図示せず詳細に説明しないものの、低雑音アンプ54と58は各フィルター52、56および60の間に位置決め、相互接続されて信号を増幅して最小NF(雑音指数)を保証し、また、当業者に周知の通り複数の適当な抵抗器、コンデンサーおよび誘導子が分離、フィルタリング、偏向の機能のために単数または複数の各回路線に位置決めされ取り付けられることが理解されよう。
また、図3に示す通り、基板30は、その中に形成され、その頂面と底面の間を延長する複数の伸長のスロット200を含有する。図示した実施例において、1対の離間した平行のスロット200は各フィルター52、56および60の下に位置する基板200の領域に形成され、各フィルター52、56および60の長さに対しほぼ垂線の関係で配置される。さらに、図示した実施例において、スロット200は各スロット200の各対向端部が各フィルター52、56および60の対向上下縦エッジから外側に突出する関係で基板30中に形成され位置する。
スロット200は、モジュール20が過熱、冷却される間、フィルター52、56および60の材料と基板30の材料との熱的不整合を減少させる。例えば、フィルター52、56および60が基板30にはんだ付けされるはんだリフローの作業からモジュール20が冷却した後、基板30とフィルター52、56および60は約200℃で共に“凍結”される。基板30の材料はフィルター52、56および60のセラミック材の熱膨張係数より4−5倍大きい熱膨張係数を持つため、モジュール20が室温以下に冷却されると、フィルターのセラミック材に高応力が生じる。また、セラミック材の応力は、セラミック材と基板材の間の接着の長さと面積に応じて増大する。スロット200はセラミック材と基板材の間の有効な板の長さと面積を3倍減少させ、それによりフィルター52、56および60のセラミック材の誘発応力を大幅に低下させる。
図1と3に示したモジュール20の全体寸法と面積は基板30に取り付けられたフィルター52、56および60のサイズ(すなわち、長さと幅)に応じて決定され、概ね、幅43mm、長さ53mm、最大高さ11.2mmである。従って、図示した実施例において、モジュール20の全幅は最大のフィルターの長さに基づき、一方、モジュール20の全長はデュプレクサーフィルター52、バンドパスフィルター56およびバンドパスフィルター60の合計幅に基づく。
同様に、第1、第2、第3、第4基板エッジ36、38、40および42に沿う各RF信号入出力端子62、64、66および供給電圧端子68と70の位置は、基板30の頂面34に取り付けられた各フィルター52、56、60および低雑音アンプ54と58の位置とサイズ(すなわち、長さと幅)に基づく。
2つの低周波数アプリケーションまたはプロトコル、すなわち、EGSMとGSM850のアプリケーションでは、図1〜3に表したモジュール実施例20の変形例が使用される。2つの高周波数アプリケーションまたはプロトコル、すなわち、約1710MHz超でのDCSとPCSのアプリケーションでは、ブロック実施例150が図4に示され、基板30の簡易表示が図5に示され、以下に追加の詳細が記載されるモジュール実施例120の変形例が使用される。
図4と5に示す通り、図示した実施例において周波数分割双方向(FDD)モジュールでもあるRFRxモジュール120は、デュプレクサーフィルター152、第1、第2、第3低雑音アンプ154、158、161の各々および第1・第2バンドパスフィルター156と160の各々といった基板30も搭載された主構成要素を組み込んでいる。
回路線165はRFアンテナ信号入出力端子64をデュプレクサーフィルター152の入力に接続し、これが次に回路線153経由で第1低雑音アンプ(LNA)154に接続され、これが次に回路線175経由で第2低雑音アンプ(LNA)158に接続され、これが次に回路線159経由で第1バンドパスフィルター(BPF)156に接続され、これが次に回路線157経由で第3低雑音アンプ(LNA)161に接続され、これが次に回路線177経由で第2バンドパスフィルター(BPF)160に接続され、これが次に回路線179経由でRF受信(Rx)出力信号端子62に接続される。
回路線169はLNAVdd端子68を低雑音アンプ154と158の両方に共通の回路線173に接続し、回路線171はLNAVdd供給電圧入力端子70を第3低雑音アンプ161に接続する。最後に、回路線167は、RF伝送(Tx)入力信号端子66をデュプレクサーフィルター(デュプレクサー)152に接続する。
本発明によれば、ここに開示したモジュール20と120を含め、例えば、EGSM、GSM850、DCSおよびPCSのような各エア・インタフェースと関連して使用される各モジュールは、モジュール製造組立工程を簡易化、迅速化してコストを下げるために、同じ設置面積、すなわち、同じ総面積や全長と全幅の寸法および/または同じ端子位置の同じ基本基板30を共有するように設計される。
従って、本発明によれば、上に特定した最低4つの各エア・インタフェース用に同じ端子位置を持つ同じサイズの基板を使用できるように、最長のフィルターと最大幅と最も多い全フィルター数を要求するエア・インタフェースで使用される基板がモジュール20と120を含めた4つの各モジュールのテンプレートとして使用される。モジュール20が最長のフィルターと最大幅と最も多い全フィルター数(すなわち、デュプレクサーフィルター52および追加的なバンドフィルター56と60)を使用する限り、モジュール20の基板30が、ここでは2つだけ(モジュール20と120)図示し説明しているが、4つの各モジュールで使用される基板用のテンプレートとなる。
上を考慮し、モジュール120の基板30がモジュール20の基板30と同じ総面積、寸法および端子配置/位置であるため、同じ要素を指定するために同じ番号を図4と5で使用しており、また、以下に詳細な説明がある場合を除き、RFRxモジュール実施例20に関するそれらの要素の前述の説明、より具体的には、第1、第2、第3、第4周辺エッジ36、38、40および42の各々の端子62、64、66、68および78の位置と配置をRFRxモジュール実施例120に関して、より具体的には、モジュール120の基板30の第1、第2、第3、第4周辺エッジ36、38、40および42の各々の対応端子62、64、66、68および70の位置と配置に関してここに参照として援用する。
RFRxモジュール20と120の基板30の相違は、各基板30の各電気構成要素と回路線、すなわち、主にデュプレクサーフィルターとバンドパスフィルターの各々のサイズにより決定される2つの変数の選択、数、サイズ、位置および配置だけであり、これにより、これらを相互接続する様々な回路線の基板30上の位置が決定される。
図5に示したRFRxモジュール120のデュプレクサーフィルターとバンドパスフィルター152、156および160の各々は、異なるアプリケーションの結果として、RFRxモジュール20で使用されるデュプレクサーフィルターとバンドパスフィルター52、56および60の各々よりもサイズが小さい。しかし、デュプレクサーフィルターとバンドパスフィルター152、156および160の各々はRFRxモジュール20のデュプレクサーフィルター52およびバンドパスフィルター56と60とほぼ同じ位置に基板30上に位置決めされ取り付けられ、従って、RFRxモジュール20のデュプレクサー52およびバンドパスフィルター56と60の位置と取付の説明をRFRxモジュール120の基板30のデュプレクサー152およびバンドパスフィルター156と160の位置と取付に関してここに参照として援用する。
低雑音アンプ154は、縦辺基板エッジ40とデュプレクサーフィルター152の左辺エッジの間にあり基板30に位置して取り付けられる。低雑音アンプ158は、低雑音アンプ154とほぼ共線の関係でデュプレクサー152とバンドパスフィルター156のほぼ間にあり基板30に位置して取り付けられる。低雑音アンプ161は、縦辺基板エッジ42と隣接、離間してデュプレクサー152とバンドパスフィルター156の右端の間にあり基板30に位置して取り付けられる。
図4でブロック形式により特定し図5に示した複数の回路線153、159、165、167、169、171、173、175、177および179はRFRxモジュール120の基板30の頂面34に形成され、銅などの導電材で作られ、図4に関して上で説明したように、また、その説明をここに参照として援用するが、様々な構成要素152、154、156、158および160を相互および各端子62、64、66、68、70に相互接続する。
さらに、図5には示していないものの、RFRxモジュール120もRFRxモジュール20と同様に、当業者に周知の通り適当な抵抗器、コンデンサーおよび誘導子を分離、フィルタリング、偏向および他の電気機能を果たすために基板30に組み込むことが理解されよう。さらに、ここには図示も説明もないものの、モジュール120もモジュール20の蓋32と同様の蓋を組み込むことが理解されよう。
これまで説明してきたものは、異なるアプリケーション要件を満たすために異なるサイズおよび/または追加のフィルターと電気構成要素を組み込むと同時に、製造組立工程を簡易化、迅速化して低コストのRFRxモジュールを提供するために同じRF信号入出力端子と供給電圧端子62、64、66、68および70を持つ同じサイズの基板30を有利に共有するように適応されるRFRxモジュール20と120である。
2つのモジュール実施例20と120を具体的に参照して本発明を教示してきたが、当業者は、添付の特許請求の範囲で説明する本発明の真髄と範囲から逸脱することなく、例えば、様々なRF要素と回路の選択、数、配置、相互接続値およびパターンのような形態と詳細において変更が可能であると認識することが理解されよう。説明した実施例は、すべての観点において例証的なものであり限定的なものでないことを考慮されたい。
国際公開WO2006/138667

Claims (13)

  1. 複数のエア・インタフェースに渡り動作可能な無線通信システムで使用されるRFモジュールであって、
    前記モジュールは、その上に位置して相互接続されるデュプレクサーフィルター、第1低雑音アンプおよび第1バンドパスフィルターを少なくとも備えた基板を有し、
    前記基板は所定のサイズを有し、また、所定の端子位置に規定される少なくとも第1供給電圧端子および各RF信号入出力端子を備えた各エッジを有し、それにより、同じサイズと同じ端子位置を有する同じ基板を前記複数のエア・インタフェースのために使用することが可能になる、RFモジュール。
  2. 前記基板上に位置して前記第1バンドパスフィルターに相互接続される第2低雑音アンプと第2バンドパスフィルターをさらに有し、前記基板が対向する第1・第2縦基板エッジおよび対向する第1・第2横基板エッジを有し、
    RF受信信号出力端子が前記第1横エッジに沿って規定され、RFアンテナ信号入出力端子が前記第2横エッジに沿って規定され、RF信号伝送入力端子が前記第2縦エッジに沿って規定され、第1・第2供給電圧端子が前記第1・第2縦エッジの各々に沿って規定される請求項1のRFモジュール。
  3. 前記デュプレクサーフィルターが前記第2横基板エッジに隣接して前記基板上に取り付けられ、前記第2バンドパスフィルターが前記第1横基板エッジに隣接して前記基板上に位置し、前記第1バンドパスフィルターが前記デュプレクサーフィルターと前記第2バンドパスフィルターの間で前記基板上に位置し、前記第1低雑音アンプが前記基板上に位置して前記デュプレクサーフィルターと前記第1バンドパスフィルターの間で相互接続され、前記第2低雑音アンプが前記基板上に位置して前記第1バンドパスフィルターと前記第2バンドパスフィルターの間に相互接続される請求項2のRFモジュール。
  4. 前記基板上に位置して前記第1低雑音アンプと前記第1バンドパスフィルターの間に相互接続される第3低雑音アンプをさらに有する請求項3のRFモジュール。
  5. 前記複数のエア・インタフェースがEGSM、GSM、DCSおよびPCSを含む請求項1のRFモジュール。
  6. RF信号出力端子が第1基板エッジに沿って規定され、RF信号アンテナ端子が第2基板エッジに沿って規定され、第1供給電圧端子が第3基板エッジに沿って規定され、RF信号入力端子と第2供給電圧端子が第4基板エッジに規定される対向する前記第1・第2基板エッジと対向する前記第3・第4基板エッジを有する基板、
    前記第2基板エッジに隣接して前記基板上に位置するデュプレクサーフィルター、
    前記デュプレクサーフィルターに隣接して前記基板上に位置する第1バンドパスフィルター、
    前記第1基板エッジに隣接して前記基板上に位置する第2バンドパスフィルターであって、前記第1バンドパスフィルターが前記デュプレクサーフィルターと前記第2バンドパスフィルターの間の前記基板上に位置する、前記第2バンドパスフィルターと、
    前記基板上に位置して前記デュプレクサーフィルターと前記第1バンドパスフィルターの間に相互接続される第1低雑音アンプ、
    前記基板上に位置して前記第1バンドパスフィルターと前記第2バンドパスフィルターの間に相互接続される第2低雑音アンプ、および
    前記基板上に形成されて各フィルター、アンプおよび端子を相互接続する複数の回路線
    を有するRFモジュール。
  7. 前記基板上に位置して前記第1低雑音アンプと前記第1バンドパスフィルターの間に相互接続される第3低雑音アンプをさらに有する請求項6のRFモジュール。
  8. 基板を備え、
    前記基板が、前記基板の第1エッジに沿って規定されるRF信号出力端子、前記基板の第2エッジに沿って規定されるRF信号アンテナ端子、前記基板の第3エッジに沿って規定される第1供給電圧端子および前記基板の第4エッジに沿って規定されるRF信号入力端子を有するRFモジュール。
  9. 前記基板の前記第2エッジと隣接、平行して前記基板上に位置するデュプレクサーフィルターおよび前記基板上に位置する第1バンドパスフィルターを少なくともさらに有し、
    前記RFモジュールが前記基板上に位置して前記デュプレクサーフィルターと前記第1バンドパスフィルターの間に相互接続される第1低雑音アンプをさらに含有し、前記第1供給電圧端子が前記第1低雑音アンプに接続される請求項8のRFモジュール。
  10. 少なくとも第1スロットが前記デュプレクサーフィルターと前記第1バンドパスフィルターの下に位置する前記基板の領域に形成される請求項9のRFモジュール。
  11. 前記基板の前記第1エッジと隣接、平行して前記基板上に位置する第2バンドパスフィルターであって、前記第1バンドパスフィルターが前記デュプレクサーフィルターと前記第2バンドパスフィルターの間で前記基板上に位置する、前記第2バンドパスフィルターと、前記基板上に位置して前記第1・第2バンドパスフィルターの間に相互接続される第2低雑音アンプと、前記基板の前記第4エッジに沿って規定されて前記第2低雑音アンプに接続される第2供給電圧端子をさらに含有する請求項9のRFモジュール。
  12. 少なくとも第1スロットが前記第2バンドパスフィルターの下に位置する前記基板の領域に形成される請求項11のRFモジュール。
  13. 前記基板上に位置して前記第1低雑音アンプと前記第1バンドパスフィルターの間に相互接続される第3低雑音アンプをさらに含有し、前記第1供給電圧端子が前記第3低雑音アンプに接続される請求項11のRFモジュール。
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