JP2012520992A - 高周波測定用のテストプロッド - Google Patents
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- 平面構造物(38)に電気接触するための接触側端部(16)と、ケーブル、特に同軸ケーブルに接続するためのケーブル側端部(12)、特に同軸ケーブル側端部とを有し、前記接触側端部(16)と前記ケーブル側端部(12)との間に、少なくとも2つの導体(18,20)、特に3つの導体を有する共平面導体構造物が配設され、前記共平面導体構造物(18,20)に対して、前記ケーブル側端部(12)と前記接触側端部(16)との間の所定区間にわたって、前記共平面導体構造物(18,20)を支持する誘電体(24)が片側または両側に配設され、前記共平面導体構造物の前記導体(18,20)が、空間内で自由に、前記支持誘電体(24)に対して懸架された状態で配設されるように、前記誘導体(24)と前記接触側端部(16)との間に設計された高周波測定用のテストプロッドにおいて、前記平面構造物(38)との接触時に前記平面構造物に面する前記テストプロッドの片側(32)には、前記誘電体(24)と前記接触側端部(16)との間で、空間内で自由に、前記支持誘電体(24)に対して懸架された状態で配設された前記共平面導体構造物(18,20)の領域(26)へと延出するように、シールドエレメント(34)が配設および設計されることを特徴とする、テストプロッド。
- 請求項1に記載のテストプロッドにおいて、
前記シールド要素(34)が導電性材料で製造されることを特徴とするテストプロッド。 - 請求項1又は請求項2に記載のテストプロッドにおいて、
前記シールドエレメント(34)は、前記支持誘電体に対して、空間内で自由に、かつ弾性的に懸架された状態で配設された、前記共平面導体構造物の少なくとも1つの導体(20)に電気的に接続されることを特徴とするテストプロッド。 - 請求項3に記載のテストプロッドにおいて、
前記シールドエレメント(34)は、前記テストプロッドの前記接触側端部(16)に面する端部において、前記支持誘電体に対して、空間内で自由に、かつ弾性的に懸架された状態で配設された、前記共平面導体構造物の少なくとも1つの導体(20)に電気的に接続されることを特徴とするテストプロッド。 - 請求項3又は請求項4に記載のテストプロッドにおいて、
前記シールドエレメント(34)は、付加的に、前記支持誘電体に対して、空間内で自由に、かつ弾性的に懸架された状態で配設された前記共平面導体構造物の前記少なくとも1つの導体(20)と、付加的に、機械的に接続されることを特徴とするテストプロッド。 - 請求項3から請求項5のいずれか1項に記載のテストプロッドにおいて、
前記シールドエレメント(34)が電気的または機械的に接続された前記共平面導体構造物の前記導体は、接地導体(20)であることを特徴とするテストプロッド。 - 先行する請求項のいずれか1項に記載のテストプロッドにおいて、
前記テストプロッドは、導電性材料からなるハウジング(10)を備え、前記シールドエレメント(34)は、前記ハウジング(10)と電気的に接続されることを特徴とするテストプロッド。 - 先行する請求項のいずれか1項に記載のテストプロッドにおいて、
前記共平面導体構造物は、3つの導体(18,20)を備え、中央導体(18)は信号導体であり、他の2つの導体(20)は接地導体であることを特徴とするテストプロッド。 - 先行する請求項のいずれか1項に記載のテストプロッドにおいて、
前記誘電体(24)と前記接触側端部(16)との間で、前記支持誘導体(24)に対して弾性的に、且つ空間内で自由に懸架された前記共平面導体構造物(18,20)の領域(26)へと延出するように、前記テストプロッドの側と反対の側(32)に、付加的シールドエレメントが配設および設計されることを特徴とするテストプロッド。
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