JP2012512008A - 遠隔校正確認を実行するための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
一例として、校正チェック手順と方法は、瞳孔計に応用できる。瞳孔計の基準は、所定の開口を有する校正用標準器の瞳孔画像を介して設定される。したがって、適当な校正用標準器を瞳孔計の前に整列させた後、瞳孔カメラを使って図5Aに示される画像を得る。図5は、所定の開口サイズが5mmの校正用標準器の瞳孔サイズ(開口サイズ)の画像である。この画像は、ステップ300でデジタルデータとして保存される未加工データ集合である。校正用標準器の物理的開口のサイズがわかっているため、画像の分析では具体的なサイズを提供する必要がある。校正用標準器が正確に位置付けられたものと仮定すると、この所定のサイズから少しでも逸脱していれば、問題、たとえば校正パラメータの構成の誤り等があることを示す。
他の例として、校正チェック手順は波面センサに応用してもよい。波面センサは、誤差測定器とも呼ばれ(これらの用語は、本明細書では互換的に使用される)、変形された波面と理想の、または基準となる波面との間の光路の差を測定する装置である。測定により、適正に処理されると、光が伝播するときに通る光学系の、波面を変形させる様々な誤差の数値が得られる。波面センサは様々な用途に使用され、これには高エネルギーレーザ、天文画像生成、および視覚的品質の改善を目指した目の収差の測定等がある。波面センサの一例は、他のパラメータの中でも、より高次の眼球収差を測定するのに使用できるシャック−ハートマン型波面感知器である。
他の例として、校正チェック手順は形状解析装置、たとえばBausch and Lomb社が販売するOrbscan(商標)という装置等に適用してもよい。「Orbscan」の機器は、1つのシステムに2つの異なるモジュール、すなわちプラチド角膜計とスリットスキャン装置を組み込んだ診断システムの例である。校正チェック手順は、これらのモジュールの一方または両方の校正状態を遠隔的に確認するために使用できる。
Claims (21)
- 測定部と該測定部に接続されたコンピュータシステムを備える機器を遠隔的にアップデートし、その校正状態を確認する方法であって、
ソフトウェアのアップデートを遠隔地から通信リンクを介して前記機器に提供する工程と、
前記機器の前記測定部を作動させることなく、該機器の校正チェック手順を実行する工程と、
前記校正チェック手順後に前記機器の前記校正状態を特定する校正状態インジケータを提供する工程と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記校正チェック手順を実行する工程は、
保存されていた未加工の校正テストデータを読み出す工程と、
前記未加工の校正テストデータを処理して、診断値を導出する工程と、
前記診断値を既知の正確な名目値と比較する工程と、
前記比較に基づき、前記校正状態インジケータを生成する工程と、
を含むことを特徴とする、請求項1に記載の方法。 - 前記校正チェック手順を実行する工程は、保存されていた校正パラメータを読み出す工程をさらに含み、
前記未加工の校正テストデータを処理する工程は、前記校正パラメータを使って実行されることを特徴とする、請求項2に記載の方法。 - 前記校正状態インジケータを生成する工程は、前記機器の前記校正状態が動作不可であることを示す前記校正状態インジケータを生成する工程を含むことを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- 前記校正状態インジケータを生成する工程は、破損した校正パラメータを特定するデータを生成する工程を含むことを特徴とする、請求項4に記載の方法。
- 前記校正状態インジケータを生成する工程は、前記機器の前記校正状態が動作可能であることを示す校正状態インジケータを生成する工程を含むことを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 前記保存されていた未加工の校正テストデータを読み出す工程は、保存されていたデジタル画像を読み出す工程を含むことを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 前記校正状態インジケータを提供する工程は、前記機器からの前記校正状態インジケータを、前記通信リンクを介して提供する工程を含むことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 機器の校正状態を確認する方法であって、
保存されていた未加工の校正テストデータを読み出す工程と、
前記未加工の校正テストデータを処理して、診断値を導出する工程と、
前記診断値を既知の名目値と比較する工程と、
前記比較に基づいて、前記機器の前記校正状態を示す出力を生成する工程と、
を含み、
前記機器の前記校正状態を確認する前記工程は、前記機器で校正用標準器を測定することなく実行されることを特徴とする方法。 - 前記保存されていた未加工の校正テストデータを読み出す工程は、保存されていたデジタル画像を読み出す工程を含むことを特徴とする、請求項9に記載の方法。
- 前記未加工の校正テストデータを処理する工程は、前記機器に対し特定の校正パラメータを使用して前記未加工の校正テストデータを処理する工程を含むことを特徴とする、請求項10に記載の方法。
- 前記機器の前記校正状態を示す前記出力を生成する工程は、破損した校正パラメータを特定する出力を生成する工程を含むことを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- 前記機器の前記校正状態を示す前記出力を生成する工程は、前記機器のメンテナンスが必要であることを示す出力を生成する工程を含むことを特徴とする、請求項9に記載の方法。
- 前記機器の前記校正状態を示す前記出力を生成する工程は、前記機器が適正に校正されたことを示す出力を生成する工程を含むことを特徴とする、請求項9に記載の方法。
- 診断システムであって、
測定ヘッドと、
前記測定ヘッドに接続され、該測定ヘッドによって生成された未加工の校正テストデータを保存するストレージデバイスと、
前記ストレージデバイスに接続され、前記測定ヘッドを作動させることなく、前記ストレージデバイスから前記保存されていた未加工の校正テストデータを読み出し、前記未加工の校正テストデータを処理して診断値を導出し、前記診断値を既知の名目値と比較し、前記比較に基づいて、前記診断システムの校正状態を示す出力を生成するように構成されたプロセッサと、
を備えることを特徴とする診断システム。 - 通信リンクおよび前記プロセッサに接続された通信ポートをさらに備え、
前記プロセッサはさらに、前記通信リンクを介して前記出力を遠隔地に伝送するように構成されていることを特徴とする、請求項15に記載の診断システム。 - 前記プロセッサはさらに、前記通信リンクを介してソフトウェアのアップグレードを受け取り、前記ソフトウェアのアップグレードをインストールした後に校正チェック手順を開始するように構成されていることを特徴とする、請求項16に記載の診断システム。
- 前記診断システムは、瞳孔計、波面センサ、プラチド装置およびスリットスキャン装置のうちの少なくとも1つであることを特徴とする、請求項15に記載の診断システム。
- 前記ストレージデバイスは、前記診断システム特定の校正パラメータを保存し、
前記プロセッサはさらに、前記ストレージデバイスから少なくとも1つの校正パラメータを読み出し、前記少なくとも1つの校正パラメータを使用して、前記未加工の校正テストデータを処理し、前記診断値を導出するように構成されていることを特徴とする、請求項15に記載の診断システム。 - 前記出力は、前記診断システムの前記校正状態が無効であることを示し、少なくとも1つの破損した校正パラメータを特定する情報を含むことを特徴とする、請求項19に記載の診断システム。
- 前記保存されていた未加工の校正テストデータは、校正用標準器のデジタル画像を含むことを特徴とする、請求項15に記載の診断システム。
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