JP2012507634A - テストガラス変動システム - Google Patents

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Abstract

本発明は、真空被覆装置(3)の被覆チャンバ(1)内でテストガラス(24,24’’)を選択的に被覆しかつ光学的に測定するためのテストガラス変動システム(10)に関する。被覆チャンバ(1)内では、基板(7)がターンテーブル(2)によって、被覆材料の流れを通る軌道において案内される。テストガラス変動システム(10)は、テストガラス(24,24’’)を収容するためのテストガラスプレート(26)と、このテストガラスプレート(26)を選択的に覆うためのカバー(28,28’’)とを備えたテストガラスホルダ(8,8’)を有している。さらに、テストガラス変動システム(10)は、ターンテーブル(2)の回動軸線(5)に対してほぼ平行に方向付けられた軸線(5’)を中心としてテストガラスプレート(26)を回動させるための回動装置(34)を有している。テストガラスホルダ(8,8’’)は、ユニットとしてターンテーブル(2)に位置決め可能であり、被覆チャンバ(1)から取出し可能である。

Description

本発明は、真空被覆装置の被覆チャンバ内でテストガラスを選択的に被覆しかつ光学的に測定するためのテストガラス変動システムであって、被覆チャンバ内に、被覆材料の流れを通る軌道において少なくとも1つの基板を案内するための可動のターンテーブルが配置されており、テストガラス変動システムが、テストガラスホルダを有しており、該テストガラスホルダが、テストガラスを収容するためのテストガラスプレートと、該テストガラスプレートを選択的に覆うためのカバーとを有しており、テストガラス変動システムが、ターンテーブルの回動軸線に対してほぼ平行に方向付けられた軸線を中心としてテストガラスプレートを回動させるための回動装置を有している形式のものに関する。
このような形式のテストガラス変動システムは、たとえばドイツ連邦共和国特許出願公開第3604624号明細書に記載されている。
干渉層とも呼ばれる光学的な多層系の製造は、たとえばバンドパスフィルタ、エッジフィルタ、冷光ミラー、ビームスプリッタおよび反射防止層のような光学式の製品において重要な役割を果たしている。このような被覆の目的は、設定された波長範囲内では多層系において可能な限り十分な透過率または反射率を達成するものの、それ以外の波長範囲では可能な限り滑らかに、無視できる透過率もしくは反射率を得ることである。この要求を満たすためには、多くの数の個別層が前提条件となる。たとえば1つの高屈折率の層と1つの低屈折率の層とが交互に基板に被着される。2つの高屈折率の層と2つの低屈折率の層とが直接連続してもよい。
このような複雑な層系の製造時、特に特殊な機能特性を備えた多層の製造時には、所望の層厚さおよび層特性を保証するために、基板に被着された機能層の規則的な測定もしくは検査が必要となる。このためには、テストガラスが使用される。このテストガラスには、それぞれ個々の層が析出され、検査される。複雑な光学式のフィルタの場合、フィルタ仕様を達成するために、複数回のテストガラス変動が必要となる。要求された精度に対して、テストガラスが基板の場所に配置されていなければならず、主として、基板と同様に被覆されなければならない。さらに、テストガラス変動は個々の被覆シーケンスの間に可能な限り自動化されて、すなわち、オペレータによるテストガラスの手による入れ換えなしに行われることが望ましい。
ドイツ連邦共和国特許出願公開第3604624号明細書に基づき、テストガラス変動器が公知である。この公知のテストガラス変動器によって、1回のテストガラス変動が被覆チャンバの閉鎖時に可能となる。被覆材料の少なくとも1つの流れを通る軌道において基板を案内するターンテーブルには、複数のテストガラスを収容するための保持部材が支承されている。この保持部材はターンテーブルと共に運動させられ、このターンテーブルに対して回動可能に支承されている。ターンテーブルの軌道に沿って配置されたステップ切換機構は、それぞれ1つのテストガラスをターンテーブルに対して相対的に定置の位置に切り換える。この位置では、ステップ切換機構と基板とが、ターンテーブルの設定可能な回転回数に対して交互に測定装置のビーム路と被覆材料の流れとを通して案内される。保持部材はカバーによって覆われている。このカバーはターンテーブルに定置に取り付けられていて、それぞれ1つのテストガラスしか被覆・測定位置において露出させない。保持部材の回動は、被覆チャンバの内部に配置された可動の切換フィンガによって行われる。この切換フィンガは、ターンテーブルの回転軌道に突入していて、保持部材に設けられた突起と協働する。保持部材の1つの突起への切換フィンガの係合時には、1つのテストガラスが測定窓との合致位置から送り出され、後続のテストガラスがその箇所に移動する。したがって、ドイツ連邦共和国特許出願公開第3604624号明細書のテストガラス変動器によって、1回のテストガラス変動が被覆チャンバの閉鎖時に可能となる。しかし、テストガラス変動器へのローディングには、極めて手間がかかる。なぜならば、個々のテストガラスが基板ロードロック室を通ってテストガラス変動器の保持部材に挿入されなければならないからである。さらに、ドイツ連邦共和国特許出願公開第3604624号明細書に示されたテストガラス変動器は、比較的少ない個数(4つ)のテストガラスしか収容することができず、これによって、多層系の製造時にテストガラスの(少なくとも)1回の手による入れ換えが必要となる。
したがって、本発明の課題は、公知先行技術を改良して、手による介入なしに被覆チャンバの内部で変動させることができるより多くの数のテストガラスが提供されるようにすることである。さらに、被覆チャンバ内へのテストガラスの供給が可能な限り簡単に実行されることが望ましい。
この課題を解決するために本発明に係るテストガラス変動システムでは、テストガラスホルダが、ユニットとしてターンテーブルに位置決め可能であり、被覆チャンバから取出し可能であるようにした。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、テストガラスプレートが、円板状のモニタガラスによって形成されている。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、モニタガラスが、中心の開口を有している。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、テストガラスプレートが、多数のテストガラスを収容するための支持プレートとして形成されている。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、テストガラス回動装置が、持上げ/回動装置として形成されており、該持上げ/回動装置によって、テストガラスプレートが、ターンテーブルに対して軸線方向に移動可能であり、カバーが、テストガラスプレートに対して軸線方向に移動可能であり、テストガラスプレートが、軸線方向を中心として回動可能である。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、持上げ/回動装置が、カバーを持ち上げるための第1の環状体と、テストガラスプレートを持ち上げかつ回動させるための第2の環状体とを有している。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、持上げ/回動装置が、加工チャンバ内に定置に配置されている。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、持上げ/回動装置が、ターンテーブルに配置されている。
本発明に係るテストガラス変動システムの有利な態様によれば、ターンテーブルに前記基板を装着するための基板ロードロック室が設けられている。
本発明によれば、テストガラス変動システムはテストガラスホルダを有している。このテストガラスホルダは、1つまたはそれ以上のテストガラスを収容するためのテストガラスプレートと、カバーとを備えている。このカバーはテストガラスプレートを覆っていて、内部に保持されたテストガラスを被覆に対して防護している。カバーは測定窓を備えている。この測定窓はテストガラスプレートの小さな領域しか被覆に対して露出しない。複数の測定窓および/または基準窓が設けられていてもよい。テストガラス変動システムの一部を成す回動装置によって、テストガラスプレートをカバーに対して回動させることができる。これによって、テストガラスプレートに固定されたそれぞれ異なるテストガラスが、測定窓の、テストガラスを被覆しかつ測定する領域に運動させられる。ドイツ連邦共和国特許出願公開第3604624号明細書と異なり、本発明に係るテストガラス変動システムでは、(テストガラスプレートとカバーとを備えた)テストガラスホルダが、閉鎖されたユニットを形成している。このユニットは、被覆したい基板同様、基板ロードロック室を通して被覆チャンバ内に導入することができ、ターンテーブルに位置決めすることができる。これによって、ターンテーブルへの特に簡単なかつ時間節約的なローディングが可能となる。ドイツ連邦共和国特許出願公開第3604624号明細書において必要となる、(ターンテーブルに固く結合された)テストガラス変動システムへの、基板ロードロック室を通して個々に供給されかつテストガラスプレートに位置決めされなければならないテストガラスの装着の代わりに、本発明に係るテストガラス変動システムの使用時には、テストガラスホルダへの装着もしくはテストガラスホルダの準備を被覆チャンバの外部でかつ時間的に基板交換に左右されずに実施することができる。このことは、人間工学的に有利であり、時間を節約する。さらに、比較的多数のテストガラスをテストガラスホルダに配置することができる。
テストガラスホルダのカバーは、テストガラスプレートに対して回動させることができ、持ち上げることができるように形成されている。被覆チャンバの内部での1回のテストガラス変動は、テストガラスホルダのカバーが持ち上げられ、テストガラスプレートが、設定された角度だけカバーに対して回動させられ、次いで、このカバーが再び降下させられるように実施される。テストガラスプレートを回動させるために使用される回動装置は、有利には持上げ/回動装置として形成されている。この持上げ/回動装置によって、ターンテーブルの回動軸線に対して平行な軸線を中心とした回動と、この軸線の方向への持上げ運動とを実施することができる。1回のテストガラス変動は、テストガラスプレートが軸線方向でターンテーブル(もしくはテストガラスホルダの、ターンテーブルに静止している基体)から持ち上げられ、カバーが軸線方向でテストガラスプレートから持ち上げられるように行われる。この両持上げ運動は同時に実施されてもよいし、時間的に互いにずらされて実施されてもよい。次いで、テストガラスプレートが回動させられる。これによって、テストガラスプレートの、カバーの測定窓の下方に位置する領域が入れ換えられ、カバーの測定窓の下方にテストガラスプレートの新たな領域が位置することになる。この新たな相対角度位置において、テストガラスプレートとカバーとが降下させられる。テストガラスホルダがターンテーブルにおいて被覆チャンバの被覆ステーションを通して運動させられると、テストガラスプレートの、ちょうど測定窓の下方に送り込まれた領域が被覆される。
円形のもしくは円筒状のテストガラスプレートに対するテストガラス変動のためには、持上げ/回動装置が、有利には2つの同心的な環状体を有している。両環状体は(有利には一緒に)高さ調節可能である。両環状体の一方は、制御して回動させることができる。回動可能な環状体がテストガラスプレートの持上げおよび回動のために働くのに対して、他方の環状体はカバーの持上げのために働く。
持上げ/回動装置は、被覆チャンバ内に定置に配置されていてよく、たとえば被覆ステーションの領域に位置していてよい。この態様では、1回のテストガラス変動をターンテーブルの設定された回動位置でしか行うことができない、つまり、テストガラスホルダが持上げ/回動装置の直上に位置している場合にしか行うことができない。択一的には、テストガラス回動装置をターンテーブル(またはターンテーブルと同期的に回動するターンプラットフォーム)に配置することが可能である。これは、テストガラス変動をターンテーブルの速度変更なしに被覆チャンバ内のあらゆる任意の位置で(たとえば測定ステーションと被覆ステーションとの間でのテストガラスホルダの搬送の間に)行うことができるという利点を有している。
本発明の第1の態様では、テストガラスプレートが円板状のモニタガラスである。この態様では、テストガラスプレート全体もしくはテストガラスプレートの、選択された任意の領域が、テストガラスとして働くことができる。モニタガラスは、有利には中心の開口を備えている。この開口を通して、光学的な測定の間に基準ビームを案内することができ、これによって、測定光のドリフトがコントロールされる。
本発明の第2の態様では、テストガラスプレートが、個別のテストガラスを収容するための多数の収容領域を備えている。この態様では、テストガラスがカバーの測定窓の直下に位置することになるように、テストガラスプレートが1回のテストガラス変動時にカバーに対して、設定された角度だけ回動させられる。
図2の1a−1a線に沿った、ターンテーブルを備えた被覆装置の断面図である。 図2の1b−1b線に沿った、ターンテーブルを備えた被覆装置の断面図である。 図1aおよび図1bのターンテーブルの概略的な平面図である。 第1の実施の形態における本発明に係るテストガラス変動システムのテストガラスホルダの平面図である。 第1の実施の形態における本発明に係るテストガラス変動システムのテストガラスホルダの断面図である。 第1の実施の形態における本発明に係るテストガラス変動システムの持上げ/回動装置の断面図である。 別の実施の形態における本発明に係るテストガラス変動システムのテストガラスホルダの平面図である。 別の実施の形態における本発明に係るテストガラス変動システムのテストガラスホルダの断面図である。 別の実施の形態における本発明に係るテストガラス変動システムの持上げ/回動装置の断面図である。
以下に、本発明を、図面に示した実施の形態につき詳しく説明する。
図1aおよび図1bには、被覆チャンバ1の概略的な断面図が示してある。この被覆チャンバ1は真空被覆装置3の一部を成している。被覆チャンバ1内には、ターンテーブル2が位置している。このターンテーブル2は、制御可能なもしくは調整可能な回動装置4によって回動軸線5を中心として回動することができる。図2には、ターンテーブル2の平面図が示してある。このターンテーブル2には、複数の凹部6が設けられている。これらの凹部6は、軸線5を中心とした1つの共通の大円23に配置されている。凹部6には、ディスク状の基板7またはテストガラスホルダ8を選択的に装着することができる。この基板7およびテストガラスホルダ8には、被覆チャンバ1において残ガス下で酸化物層が析出される。テストガラスホルダ8は、テストガラス回動装置9と一緒にテストガラス変動システム10の部分を成している。
ターンテーブル2への基板7もしくはテストガラスホルダ8の装着は、被覆チャンバ1の1つの側壁に設けられた基板ロードロック室20を通して行われる。基板7もしくはテストガラスホルダ8を取り出すために、被覆チャンバ1には、基板ロードロック室20に直接対向して、軸線方向5に移動可能なパンチ22を備えた持上げ装置21が配置されている。1回の基板交換時には、持上げ装置21のパンチ22が下方から、ターンテーブル2の凹部領域6に設けられた貫通孔6’を通して案内され、その際、凹部領域6に位置する基板ディスク7もしくはテストガラスホルダ8がターンテーブル2から持ち上げられ、これによって、基板ディスク7もしくはテストガラスホルダ8を基板ロードロック室20を介して取り出すことができる。この基板ロードロック室20によって、第2以降のテストガラスホルダ8を容易に入れ換えることができ、ひいては、層の数が極めて多い場合でも、真空を遮断することなしにまたはテストガラスホルダに対して多くのスペースを失うことなしに、十分にモニタガラスを提供することができる。
被覆チャンバ1は被覆ステーション11と測定ステーション13とを有している。両ステーション11,13は、有利には遮蔽体によって互いに仕切られていて、この遮蔽体に設けられたスリットによってのみ互いに接続されている。被覆ステーション11内には、スパッタリング装置12が位置している。このスパッタリング装置12では、公知の形式で反応性スパッタリングによってターゲットのスパッタリング材料が飛散させられる。被覆チャンバ1の壁および基板7もしくはテストガラスホルダ8には、スパッタリング材料・酸素複合体が堆積させられる。測定ステーション13内には、光学式の測定装置14が位置している。この光学式の測定装置14によって、成長した層の光学的な特性、特に透過率および/または反射率を測定することができる。光学式の測定装置14は、被覆チャンバ1の上方に配置された測定光源と、被覆チャンバ1の下方にかつ/または上方に配置された、透過放射線および/または反射放射線を測定するためのディテクタ16とを有している。被覆チャンバ1の天井17もしくは床18には、真空密に窓19が挿入されている。この窓19を介して、測定光線15が被覆チャンバ1を通して案内される。光学式の測定装置14は、有利には単波長分光計または多波長分光計、特に分光光度計または分光楕円偏光計である。設定された層厚さの析出後、光学式の測定装置14によって、光学的な損失を測定することができ、光学式の測定装置14の信号に関連して層特性の調整を実施することができる。分光光度計の使用時には、設定されたスペクトル範囲内でかつ層厚さの関数として、透過率、吸収率および反射率を簡単に検出することができる。
図1に示した被覆ステーション11のほかに、被覆チャンバ1内には、さらに別の加工領域(たとえばプラズマ加工領域、別のスパッタリング装置等)が設けられていてよい。さらに、別の測定ステーションが設けられていてよい。
回動装置4によって、ターンテーブル2が被覆チャンバ1内で制御もしくは調整されて回動軸線5を中心として回動させられる。その際、基板7とテストガラスホルダ8とが、1つの円形の運動軌道において少なくとも1回連続して被覆ステーション11と測定ステーション13とを通して運動させられる。テストガラスホルダ8は、図2に示したように、基板ディスク7にほぼ等しい直径を有しており、これによって、テストガラスホルダ8ならびに基板ディスク7をターンテーブル2の1つの任意の凹部6内に収容することができ、持上げ装置21の使用下でターンテーブル2から取り出すことができる。
基板7に被着された被覆層を規則的に検査するためには、測定装置14によって、テストガラスホルダ8内に収容されたテストガラス24の測定が実施される。図3aおよび図3bには、図1のテストガラスホルダ8の平面図(図3a)もしくは断面図(図3b)が示してある。テストガラスホルダ8は管状の基体25を有している。この基体25には、円板状のテストガラスプレート26が載置されている。このテストガラスプレート26は中心の開口27を有している。図3aおよび図3bの実施の形態では、テストガラスプレート26がモニタガラス26’として、すなわち、中心の開口27を備えた一様なディスク状のガラスプレートとして形成されている。モニタガラス26’の選択された領域の、目的に即した被覆を達成するためには、モニタガラス26’が、取外し可能な円形のカバー28によって覆われている。このカバー28は2つの開口、つまり、測定窓29と基準窓30とを備えている。ターンテーブル2に設けられたテストガラスホルダ8が被覆ステーション11を通して運動させられると、モニタガラス26’の、測定窓29の下方に位置する領域31が被覆されるのに対して、モニタガラス26’の、カバー28によって覆われた残り領域は被覆されないままである。
測定窓29は、測定ステーション13でのモニタガラス26’の、測定窓29に位置する領域31の層厚さもしくは層特性を光学的に測定するために働く。カバー28の真ん中に配置された基準窓30は、モニタガラス26’に被着された層を100%測定するために働く。これによって、測定光のドリフトが回避される。図3の実施の形態では、両窓29,30が長方形の形を有している。しかし、両窓29,30は円形、楕円形等であってもよい。テストガラスホルダ8が被覆ステーション11内にもたらされると、モニタガラス26’の、測定窓29の下方に位置する領域31がスパッタリング媒体にさらされ、被覆される。被覆層の厚さおよび組成は測定ステーション13で検出される。テストガラスホルダ8に位置するモニタガラス26’は変動ステーション32において、設定された角度33だけ回動させられ、これによって、モニタガラス26’の、(これまで被覆されていない)別の領域31’が測定窓29の下方に配置される。モニタガラス26’のこの回動は、変動ステーション32内に配置された回動装置9によって行われる。この回動装置9は、有利には持上げ/回動装置34として形成されていて、図1bに示したように、ターンテーブル2の下方で被覆チャンバ1の床18に取り付けられている。図1bの実施の形態では、変動ステーション32が、被覆チャンバ1の、被覆ステーション11と同じ領域に位置しており、これによって、持上げ/回動装置34がスパッタリング装置12の下方に配置されている。
持上げ/回動装置34は、同心的に配置された2つの環状体35,37(図3c参照)を有していて、両環状体35,37の共通の中心点39が、ターンテーブル2に支承された基板ディスク7の大円23のすぐ下方に位置するような被覆ステーション11における位置に配置されている。内側の環状体35は、制御装置(図示せず)によって軸線5’を中心として回動することができる。この軸線5’は内側の環状体35の中心点39を通って延びていて、ターンテーブル2の回動軸線5に対してほぼ平行に方向付けられている。さらに、環状体35,37は、制御装置によって一緒に軸線5’に対して平行に移動することができる。持上げ/回動装置34は、両環状体35,37が個別に移動することができるように形成されていてもよいものの、これには、付加的な運動軸線が必要となる。したがって、両環状体35,37の共通の送り運動を提案することが有利である。
各環状体35,37は、一組の持上げエレメント36,38、本実施の形態では、ピン36’,38’を備えている。これらの持上げエレメント36,38は環状体35,37から移動方向5’に突出している。1回のテストガラス変動を実施したい(すなわち、テストガラスホルダ8のモニタガラス26’を所定の角度33だけ回動させたい)場合には、テストガラスホルダ8の中心点40が環状体35,37の中心点39の上方に位置することになるように、テストガラスホルダ8がターンテーブル2によって持上げ/回動装置34に対して位置決めされる。その後、両環状体35,37が上向きに運動させられ、外側の環状体37のピン38’が、テストガラスホルダ8の基体25に設けられた中空室41内に進入するのに対して、内側の環状体35のピン36’は基体25の内室42に収容される。ピン36’,38’の長さは、環状体35,37の更なる送り時に外側の環状体37のピン38’がテストガラスホルダ8のカバー28を持ち上げるのに対して、内側の環状体35のピン36’はモニタガラス26’を持ち上げ、しかも、カバー28がモニタガラス26’から持ち上げられる間、モニタガラス26’が基体25から持ち上げられ、これによって、モニタガラス26’もしくはカバー28が、相互の接触および基体25への接触なしに、ピン36’;38’に止まるように寸法設定されている。この位置では、モニタガラス26’が内側の環状体35の回転によって角度33だけ回動させられるのに対して、基体25およびカバー28はその位置に留まる。こうして、当初に測定窓29の下方に位置していたモニタガラス領域31の代わりに、いまや、モニタガラス26’の別の領域31’が測定窓29の下方に位置することになる。すなわち、モニタガラス26’のこの回動によって、いわば1回の「テストガラス変動」が実施される。カバー28に対するモニタガラス26’の連続した回動によって、モニタガラス26’のそれぞれ異なる領域31,31’を測定窓29の領域に運動させることが可能となる。したがって、持上げ/回動装置34によって、閉鎖された被覆チャンバ1の内部での全自動的なテストガラス変動が可能となる。
測定窓29のサイズおよび位置は、モニタガラス26’を回動によって少なくとも6つの異なる測定位置、有利には8つ(またはそれ以上)の異なる測定位置に運動させることができるように設定されている。図3aおよび図3bの実施の形態では、モニタガラス26’が125mmの直径を有しているのに対して、測定窓29は38mm×15mmの寸法を有している。
被覆シーケンスは以下の通り実行される。まず、基板7と、被覆されていないモニタガラス26’を有するテストガラスホルダ8とが、基板ロードロック室20を通して被覆チャンバ1内に搬入され、ターンテーブル2の、基板7とテストガラスホルダ8とに対して設けられた位置6に搭載される。第1の被覆シーケンスでは、スパッタリング装置12において、基板7と、モニタガラス26’の、測定窓29の下方に位置する領域31とが、第1の被覆にさらされる。測定ステーション13では、被覆の間、透過率および/または反射率の変化強度がその場測定され、ひいては、モニタガラス26’の領域31に堆積させられた層の厚さおよび性質が光学的に測定される。少なくとも1つの層、しかし、一般的には、多数の層の析出を含むこの第1の被覆プロセス後、テストガラスホルダ8が持上げ/回動装置34に対して位置決めされ、上述したように、モニタガラス26’の回動によって1回のテストガラス変動が実施され、これによって、いまや、領域31の代わりに、モニタガラス26’の新たな領域31’が測定窓29の下方に位置する。次いで、第2のその場測定を伴う第2の被覆シーケンスが実施される。このことは、最後の被覆シーケンスまで繰り返される。所望される被覆シーケンスの回数が、モニタガラス26’に配置可能な被覆領域31,31’の数よりも多い場合には、テストガラスホルダ8を基板ロードロック室20を介して、被覆されていない新たなテストガラスホルダに入れ換えることができる。
図4a〜図4cには、本発明に係るテストガラス変動システムの別の実施の形態が示してある。このテストガラス変動システム10’’はテストガラスホルダ8’’を有している。このテストガラスホルダ8’’のテストガラスプレート26は支持プレート26’’によって形成されている。この支持プレート26’’は個別の測定ガラス24’,24’’に対する開口を有している。本実施の形態では、測定ガラス24’,24’’が、40mmの長さおよび16mmの幅を備えた端側で丸められた細長いガラスプレート24’’によって形成されている。このガラスプレート24’’は対称的に支持プレート26’’に配置されている。図4bの実施の形態では、支持プレート26’’が8つの測定ガラス24’’を収容することができる。これらの測定ガラス24’’は、それぞれ隣り合った測定ガラスに対して45゜の角度33’’だけ回動させられている。支持プレート26’’は真ん中に開口27’’を有している。選択された測定ガラス24’の、目的に即した被覆を達成するためには、支持プレート26’’が、取外し可能な円形のカバー28’’によって覆われている。図4bの断面図から明らかであるように、カバー28’’は、(選択された1つの測定ガラス24’を露呈させるための)測定窓29’’と、(測定ステーション13での光学的な測定の間の基準測定のための)基準窓30’’とを有している。ターンテーブル2に設けられたテストガラスホルダ8’’が被覆ステーション11を通して運動させられると、測定窓29’’の下方に位置する測定ガラス24’が被覆されるのに対して、カバー28’’によって覆われた別の測定ガラス24’’は被覆されないままである。被覆層の厚さおよび組成は測定ステーション13で検出される。変動ステーション32では、テストガラスホルダ8’’の支持プレート26’’が、設定された角度33’’だけ回動させられ、これによって、別の測定ガラス24’’が、カバー28’’に設けられた測定窓29’’の下方に配置される。支持プレート26’’のこの回動は、持上げ/回動装置34’’として形成された回動装置9’’によって行われる。この回動装置9’’は被覆チャンバ1の床18に取り付けられていて、同心的に配置された2つの環状体35’’,37’’(図4c参照)を有している。両環状体35’’,37’’の中心点39’’は、ターンテーブル2に支承された基板ディスク7の大円23のすぐ下方に位置している。外側の環状体35’’が、制御されて軸線5’を中心として回動することができるのに対して、環状体35’’,37’’は一緒に軸線5’に対して平行に移動することができる。各環状体35’’,37’’は、上向きに突出した環状のウェブ36’’,38’’の形の持上げエレメント36,38を備えている。1回のテストガラス変動時には、両環状体35’’,37’’が上方に運動させられる。その際、内側の環状体37’’のウェブ38’’が、カバー28’’の、下向きに突出した管区分43’’に衝突し、カバー28’’を上方に押し上げるのに対して、外側の環状体35’’のウェブ36’’は支持プレート26’’の下側の縁部44’’に衝突し、支持プレート26’’を持ち上げる。ウェブ36’’,38’’の長さは、両環状体35’’,37’’の共通の送り時に支持プレート26’’がターンテーブル2から持ち上げられるのに対して、カバー28’’は支持プレート26’’から持ち上げられ、これによって、支持プレート26’’とカバー28’’とが、相互の接触およびターンテーブル2への接触なしにウェブ36’’,38’’に止まるように寸法設定されている。この位置では、支持プレート26’’が外側の環状体35’’の回転によって角度33’’だけ回動させられるのに対して、環状体38’’に保持されたカバー28’’はその位置に留まり、これによって、当初に測定窓29’’の下方に位置しているテストガラス24’の代わりに、いまや、別のテストガラス24’’が測定窓29’’の下方に位置することになる。すなわち、カバー28’’に対する支持プレート26’’の連続した回動によって、それぞれ異なるテストガラス24’,24’’が測定窓29’’の領域に運動することができる。すなわち、持上げ/回動装置34’’によって、閉鎖された被覆チャンバ1の内部での全自動的なテストガラス変動が可能となる。
1 被覆チャンバ
2 ターンテーブル
3 真空被覆装置
4 回動装置
5 回動軸線
5’ 軸線
6 凹部
6’ 貫通孔
7 基板
8,8’’ テストガラスホルダ
9,9’’ 回動装置
10,10’’ テストガラス変動システム
11 被覆ステーション
12 スパッタリング装置
13 測定ステーション
14 光学式の測定装置
15 測定光線
16 ディテクタ
17 天井
18 床
19 窓
20 基板ロードロック室
21 持上げ装置
22 パンチ
23 大円
24 テストガラス
24’,24’’ 測定ガラス
25 基体
26 テストガラスプレート
26’ モニタガラス
26’’ 支持プレート
27,27’’ 開口
28,28’’ カバー
29,29’’ 測定窓
30,30’’ 基準窓
31 領域
31’ 別の領域
32 変動ステーション
33,33’’ 角度
34,34’’ 持上げ/回動装置
35,35’’ 環状体
36 持上げエレメント
36’ ピン
36’’ ウェブ
37,37’’ 環状体
38 持上げエレメント
38’ ピン
38’’ ウェブ
39,39’’ 中心点
40 中心点
41 中空室
42 内室
43’’ 管区分
44’’ 縁部

Claims (9)

  1. 真空被覆装置(3)の被覆チャンバ(1)内でテストガラス(24,24’’)を選択的に被覆しかつ光学的に測定するためのテストガラス変動システム(10,10’’)であって、被覆チャンバ(1)内に、被覆材料の流れを通る軌道において少なくとも1つの基板(7)を案内するための可動のターンテーブル(2)が配置されており、
    −テストガラス変動システム(10,10’’)が、テストガラスホルダ(8,8’’)を有しており、該テストガラスホルダ(8,8’’)が、テストガラス(24,24’’)を収容するためのテストガラスプレート(26)と、該テストガラスプレート(26)を選択的に覆うためのカバー(28,28’’)とを有しており、
    −テストガラス変動システム(10)が、ターンテーブル(2)の回動軸線(5)に対してほぼ平行に方向付けられた軸線(5’)を中心としてテストガラスプレート(26)を回動させるための回動装置(9)を有している形式のものにおいて、
    テストガラスホルダ(8,8’’)が、ユニットとしてターンテーブル(2)に位置決め可能であり、被覆チャンバ(1)から取出し可能であることを特徴とする、真空被覆装置の被覆チャンバ内でテストガラスを選択的に被覆しかつ光学的に測定するためのテストガラス変動システム。
  2. テストガラスプレート(26)が、円板状のモニタガラス(26’)によって形成されている、請求項1記載のテストガラス変動システム。
  3. モニタガラス(26’)が、中心の開口(27)を有している、請求項2記載のテストガラス変動システム。
  4. テストガラスプレート(26)が、多数のテストガラス(24’’)を収容するための支持プレート(26’’)として形成されている、請求項1記載のテストガラス変動システム。
  5. テストガラス回動装置(9)が、持上げ/回動装置(34)として形成されており、該持上げ/回動装置(34)によって、
    −テストガラスプレート(26)が、ターンテーブル(2)に対して軸線方向(5’)に移動可能であり、
    −カバー(28,28’’)が、テストガラスプレート(26)に対して軸線方向(5’)に移動可能であり、
    −テストガラスプレート(26)が、軸線方向(5’)を中心として回動可能である、
    請求項1から4までのいずれか1項記載のテストガラス変動システム。
  6. 持上げ/回動装置(34)が、カバー(28,28’’)を持ち上げるための第1の環状体(37,37’’)と、テストガラスプレート(26)を持ち上げかつ回動させるための第2の環状体(35,35’’)とを有している、請求項5記載のテストガラス変動システム。
  7. 持上げ/回動装置(34)が、加工チャンバ(1)内に定置に配置されている、請求項5または6記載のテストガラス変動システム。
  8. 持上げ/回動装置(34)が、ターンテーブル(2)に配置されている、請求項5または6記載のテストガラス変動システム。
  9. ターンテーブル(2)に前記基板を装着するための基板ロードロック室(20)が設けられている、請求項1から8までのいずれか1項記載のテストガラス変動システム。
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