JP2012242378A - 電子機器、開回路検出システム及びその検出方法 - Google Patents
電子機器、開回路検出システム及びその検出方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】本実施の形態に係る開回路検出システムは、対象回路120に接続され、対象回路120の寄生容量130の特性インピーダンスによって誘導される仮想グランドを介して電気信号を取得し、電気信号に応じて対象回路120がオープンであるかを決定するものである。開回路検出システムによって取得される電気信号は、正常な回路の寄生容量130のキャパシタンスが、開回路の寄生容量のキャパシタンスよりも大きいことを示す。
【選択図】図3
Description
120 対象回路
130 寄生容量
210 開回路検出システム
220 対象回路
230 寄生容量
212 テストユニット
214 サンプリングユニット
216 信号処理ユニット
310 開回路検出システム
320 対象回路
330 寄生容量
312 テストユニット
313 浮遊容量ブースターユニット
314 サンプリングユニット
316 信号処理ユニット
3162 インバータ
3164 コンパレータ
3166 ANDゲート
402 参照電圧
410 バーストパルス
420 インバータ出力信号
422 信号線
424 信号線
430 大容量コンパレータ出力信号
440 小容量コンパレータ出力信号
450 ゲートパルス
460 大容量ANDゲート出力信号
470 小容量ANDゲート出力信号
Claims (20)
- 対象回路に接続され、前記対象回路の寄生容量の特性インピーダンスによって誘導される仮想グランドを介して電気信号を取得し、前記電気信号に応じて前記対象回路がオープンであるかを決定する開回路検出システム。
- 前記開回路検出システムによって取得される前記電気信号は、正常な回路の寄生容量のキャパシタンスが、開回路の寄生容量のキャパシタンスよりも大きいことを示すことを特徴とする請求項1に記載の開回路検出システム。
- 前記対象回路に接続され、前記寄生容量のキャパシタンスをテストするテストユニットと、
前記テストユニットに接続され、前記寄生容量の状態を反映するサンプリングユニットと、
を備える請求項1又は2に記載の開回路検出システム。 - 前記テストユニットは、前記寄生容量を充電するバーストパルスを生成し、
前記サンプリングユニットは、充電された前記寄生容量を放電させる、
請求項3に記載の開回路検出システム。 - 前記バーストパルスの立ち上がりエッジは、当該バーストパルスの立下りエッジの前に存在する請求項4に記載の開回路検出システム。
- 前記対象回路、前記テストユニット及び前記サンプリング回路に接続され、荷電効果、放電効果を増幅する浮遊容量ブースターユニットをさらに備える請求項4又は5に記載の開回路検出システム。
- 前記浮遊容量ブースターユニットは、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ、三極管、又は、ダーリントントランジスタである請求項6に記載の開回路検出システム。
- 前記サンプリングユニットは、サンプリングレジスタである請求項3〜6のいずれか1項に記載の開回路検出システム。
- 前記サンプリングユニットに接続され、前記電気信号を識別信号に変換する信号処理ユニットをさらに備える、
請求項3〜7のいずれか1項に記載の開回路検出システム。 - 前記信号処理ユニットは、前記電気信号を前記寄生容量のキャパシタンスに相当するパルスに変換することを特徴とする請求項9に記載の開回路検出システム。
- 前記信号処理ユニットは、
インバータと、
前記インバータに接続されたコンパレータと、
前記コンパレータに接続されたANDゲートと、
を有する請求項9又は10に記載の開回路検出システム。 - テストユニット、浮遊容量ブースターユニット、サンプリングユニット、信号処理ユニットを備え、
前記サンプリングユニットはサンプリングレジスタであり、
前記信号処理ユニットはインバータ、前記インバータに接続されたコンパレータ、前記コンパレータに接続されたANDゲートを有し、
前記テストユニットの一端は、電源に接続され、
前記テストユニットの他端は、前記浮遊容量ブースターユニットの第1端子に接続され、
前記浮遊容量ブースターユニットの第2端子は、対象回路に接続され、
前記浮遊容量ブースターユニットの出力は、前記サンプリングレジスタの一端に接続され、
前記サンプリングレジスタの他端は、グランドに接続され、
前記インバータの入力は、前記浮遊容量ブースターユニットと前記サンプリングレジスタの共通点に接続され、
前記インバータの出力は、前記コンパレータの負端子に接続され、
前記コンパレータの正端子は、参照電圧を受信し、
前記コンパレータの出力は、前記ANDゲートの第1入力に接続され、
前記ANDゲートの第2入力は、ゲートパルスを受信し、
前記ANDゲートの出力は、前記寄生容量のキャパシタンスに相当するパルスを出力する、
請求項2に記載の開回路検出システム。 - 対象回路の寄生容量の特性インピーダンスによって誘導される仮想グランドを介して電気信号を取得し、
前記電気信号に応じて、前記対象回路がオープンであるかを決定する、
開回路検出方法。 - 前記電気信号は、正常な回路の寄生容量のキャパシタンスが開回路の寄生容量のキャパシタンスよりも大きいことを示す請求項13に記載の開回路検出方法。
- 対象回路の寄生容量を、当該寄生容量の特性インピーダンスを介して仮想グランドに接続し、
前記寄生容量のキャパシタンスをテストし、当該寄生容量のキャパシタンスを示す電気信号を生成し、
前記電気信号に応じて前記対象回路がオープンであるかを決定する、
開回路検出方法。 - 前記電気信号は、正常な回路の寄生容量のキャパシタンスが、開回路の寄生容量のキャパシタンスよりも大きいことを示す請求項15に記載の開回路検出方法。
- 前記寄生容量のキャパシタンスをテストするステップでは、前記寄生容量を充電するバーストパルスを生成し、サンプリングユニットを介して前記寄生容量を放電して前記電子信号を生成することを特徴とする請求項15又は16に記載の開回路検出方法。
- 前記対象回路がオープンであるかを決定するステップでは、電気信号を識別信号に変換し、前記識別信号に応じて前記対象回路がオープンであるかを決定する請求項15〜17のいずれか1項に記載の開回路検出方法。
- 対象回路と、
前記対象回路に接続された開回路検出システムを有し、
前記開回路検出システムは、前記対象回路の寄生容量の特性インピーダンスによって誘導される仮想グランドを介して電気信号を取得し、前記電気信号に応じて前記対象回路がオープンであるか、又は当該開回路検出システムに電気的に接続されていないかを決定する電子デバイス。 - 前記開回路検出システムで取得される電気信号は、正常な回路の寄生容量のキャパシタンスが、前記対象回路が内部的にオープン又は前記開回路検出システムに電気的に接続されていないときのキャパシタンスよりも大きいことを示す請求項19に記載の電子デバイス。
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