JP2012203272A - 顕微鏡装置、観察方法および試料搭載機構 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の顕微鏡装置1は、干渉性を有し、試料Sを励起させる励起光ELを発振するランプ光源2と、試料Sに励起光ELを照射したときに蛍光した戻り光RLを検出する撮像素子12と、励起光ELを平行光として試料Sに入射させる対物レンズ8と、対物レンズ8から直接的に入射する励起光ELと干渉させるための反射光を発生させる反射面9aを対物レンズ8の焦点Fの範囲内に配置して、反射面9aに試料Sを搭載した試料搭載部9と、を備えている。励起光ELにおいて直接光と反射光とを干渉させて定在波を発生させており、戻り光RLについても直接光と反射光とを干渉させている。これにより、分解能を高くすることができ、高解像度の画像を得ることができる。
【選択図】 図1
Description
2 ランプ光源
3 集光レンズ
4 ピンホール
5 励起フィルタ
6 投影レンズ
7 ダイクロイックミラー
8 対物レンズ
9 試料搭載部
9a 反射面
10 蛍光フィルタ
12 撮像素子
13 計算機
21 励起光学ユニット
22 光学ユニット移動機構
23 偏光板
33 光走査ユニット
36 ピンホール
37 検出器
42 コリメートレンズ
43 回折格子
44 回折格子駆動部
EL 励起光
RL 戻り光
S 試料
Claims (8)
- 干渉性を有し、試料を励起させる励起光を発振する光源と、
前記試料に前記励起光を照射したときに蛍光した戻り光を検出する検出部と、
前記励起光を平行光として前記試料に入射させる対物レンズと、
この対物レンズから直接的に入射する前記励起光と干渉させるための反射光を発生させる反射面を前記対物レンズの焦点の範囲内に配置して、前記反射面に前記試料を搭載した試料搭載部と、
を備えたことを特徴とする顕微鏡装置。 - 前記励起光が集光する位置を前記対物レンズの瞳位置の中心からずれた位置に配置したことを特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。
- 前記対物レンズに入射する前記励起光をS偏光に変換する偏光変換部を備えたこと
を特徴とする請求項2記載の顕微鏡装置。 - 前記対物レンズの焦点の範囲内の前記戻り光のみを前記検出部に通過させるピンホールと、
前記戻り光を光軸方向に直交する方向に走査する走査部と、
を備えたことを特徴とする請求項3記載の顕微鏡装置。 - 前記光源からの前記励起光を回折する回折格子と、
この回折格子を前記励起光の光軸と直交する方向に移動および前記光軸を中心として回転させる回折格子駆動部と、
この回折格子駆動部により前記回折部を移動および回転させたときに前記検出部が検出した複数の前記戻り光の像に基づいて1つの画像を生成する演算を行う演算部と、
を備えたことを特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。 - 前記光源は、蛍光可能な状態と不可能な状態とを切り替え可能な蛍光分子が導入された前記試料に対してスイッチング用のレーザ光を発振すること
を特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。 - 干渉性を有し、試料を励起させる励起光を対物レンズにより平行光にして、平行光にされた前記励起光を前記試料に照射したときに蛍光した戻り光を検出して観察するときに、
前記試料を搭載する試料搭載部に形成された反射面で反射した反射光と前記対物レンズから直接的に入射する前記励起光とを干渉させていること
を特徴とする観察方法。 - 干渉性を有し、試料を励起させる励起光をレンズにより平行光にして、平行光にされた前記励起光を前記試料に照射したときに蛍光した戻り光を検出して観察を行うときの前記試料を搭載する試料搭載機構であって、
この試料搭載機構の前記励起光が入射する側の面に前記レンズから直接的に入射する前記励起光と干渉させるための反射光を発生させる反射面を形成したこと
を特徴とする試料搭載機構。
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