JP2012149981A - スイッチング素子の劣化診断回路及びその動作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】スイッチ部11及びスイッチ部11に対して接続された容量部12を含むと共に、入力波形に対してローパスフィルタ処理を実行するローパスフィルタ部1と、前記入力波形の入力に応じたローパスフィルタ部1の出力と参照電圧とに基づいて、ローパスフィルタ部1に含まれるスイッチ部11の状態を示す状態値を生成する状態判定部2を備える劣化診断回路。
【選択図】図1
Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は、本実施形態にかかる劣化診断回路100の全体構成例である。劣化診断回路100は、ローパスフィルタ部(RC時定数回路)1及び状態判定部2を備えている。ローパスフィルタ部1は、スイッチ部11と容量部12を有し、入力波形Vinに応じて出力Voutを出力する。状態判定部2は、ローパスフィルタ部1からの出力Voutと、参照電圧Vrefとに基づいて、スイッチ部11の状態値Vstateを生成する。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態2について説明する。
2 状態判定部
3 供給電圧出力部
4 参照電圧出力部
11 スイッチ部
12 容量部
13 トランジスタ
14 コンデンサ
15 ゲート端子
16 ソース端子
17 ドレイン端子
20 コンパレータ回路
21、22 入力端子
31、32 セレクタ
33 定電圧出力部
34 波形出力部
35 制御部
100、101 劣化診断回路
102 対象回路
103 トランジスタ
200 ICチップ
Claims (8)
- スイッチ部及び当該スイッチ部に対して接続された容量部を含むと共に、入力波形に対してローパスフィルタ処理を実行するローパスフィルタ部と、
前記入力波形の入力に応じた前記ローパスフィルタ部の出力と参照電圧とに基づいて、前記ローパスフィルタ部に含まれる前記スイッチ部の状態を示す状態値を生成する状態判定部と、
を備える劣化診断回路。 - 前記スイッチ部の制御端子に対して、前記スイッチ部をオン状態とする制御信号を選択的に供給する第1セレクタと、
前記ローパスフィルタ部に対して、前記入力波形を選択的に供給する第2セレクタと、
を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の劣化診断回路。 - 前記第1セレクタは、前記スイッチ部の前記制御端子に対して、パルス波形を選択的に供給し、
前記第2セレクタは、前記ローパスフィルタ部に対して所定電位を選択的に供給することを特徴とする請求項2に記載の劣化診断回路。 - 前記第1及び第2セレクタの選択状態を制御する制御部を更に備え、
前記制御部は、前記スイッチ部の劣化診断時、前記第1セレクタに前記制御信号を選択させ、かつ、前記第2セレクタに前記入力波形を選択させ、前記スイッチ部の劣化付与時、前記第1セレクタに前記パルス波形を選択させ、かつ、前記第2セレクタに前記所定電位を選択させることを特徴とする請求項3に記載の劣化診断回路。 - 請求項4に記載の劣化診断回路は、当該劣化診断回路が実装されるICチップに対して実装される他の回路の回路素子の劣化診断をするためのものである、劣化診断回路。
- 前記パルス波形の前記トグル率は、前記他の回路の回路素子に対して供給されるパルス波形のトグル率以上であることを特徴とする請求項5に記載の劣化診断回路。
- 前記参照電圧は、前記スイッチ部の劣化の判定に用いる電圧であって、
前記状態判定部は、前記ローパスフィルタ部の出力と前記参照電圧との大小関係に基づいて前記状態値を生成する、
請求項1ないし6のいずれかに記載の劣化診断回路。 - スイッチ部及び当該スイッチ部に対して接続された容量部を含むローパスフィルタ部は、入力波形に対してローパスフィルタ処理を実行するステップと、
前記ローパスフィルタ部に接続された状態判定部は、前記入力波形の入力に応じた前記ローパスフィルタ部の出力と参照電圧とに基づいて、前記スイッチ部の状態を示す状態値を生成するステップと、
を備えた劣化診断回路の動作方法。
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JPS63168581A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-12 | インタ−ナショナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−ション | 集積回路のモニタ装置 |
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