JP2010010193A - 半導体装置及び半導体装置の入力回路の閾値の測定方法 - Google Patents
半導体装置及び半導体装置の入力回路の閾値の測定方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】TEST信号入力端子40から入力される信号が「H」レベルのときに、スイッチ回路30がONし、入力回路12の出力(ノードN2)と入力端子20(ノードN1)とがショートした状態になる。測定装置50の定電圧器54の出力電圧(入力端子の入力電圧)を上昇または下降させながら、流れる電流の向きを電流測定器52でモニタリングし、向きが変化したときの入力電圧を、入力閾値電圧として測定する。
【選択図】図2
Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。なお、本実施の形態では、シュミットトリガタイプのインバータ回路及びインバータ回路を備えた入力回路の入力閾値電圧の測定を行う場合について詳細に説明する。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図6は、本実施の形態に係る半導体集積回路11の概略構成の一例を示す構成図である。本実施の形態は、スイッチ回路30とノードN1との間に抵抗38が接続されている構成としている他は、第1の実施の形態と略同様の構成及び動作であるので、同一部分には、同一符号を付して詳細な説明は省略する。
12 入力回路
14 内部論理回路
16 シュミットトリガタイプインバータ
18 インバータ
20 入力端子
30 スイッチ回路
34 Pチャネルトランジスタ
36 Nチャネルトランジスタ
38 抵抗
Claims (5)
- 入力端子に入力された入力電圧と予め定めた閾値電圧との比較結果に応じて出力電圧をローレベルと、前記閾値電圧よりも高いハイレベルとに切り替える入力回路と、
前記出力電圧が入力される内部回路の入力側と前記入力端子との間に接続され、所定のテスト信号が入力された場合に、前記入力端子と前記入力回路の出力端とをショートさせるスイッチ回路と、
を備えた半導体装置。 - 前記入力回路がシュミットトリガタイプのインバータを含むバッファ回路であり、前記閾値電圧は前記出力電圧を前記ローレベルから前記ハイレベルに切り替えるための第1の閾値電圧と、前記第1の閾値電圧と異なり、かつ前記出力電圧を前記ハイレベルから前記ローレベルに切り替えるための第2の閾値電圧と、を含む、請求項1に記載の半導体装置。
- 前記スイッチ回路がPチャネルトランジスタ、Nチャネルトランジスタ、及びインバータを含む、請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
- 前記スイッチ回路と前記入力端子との間に抵抗が接続されている、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の半導体装置の前記入力端子に入力する入力電圧を徐々に上昇または下降させ、前記入力端子から流れる電流の向きが変化したときの前記入力電圧を閾値電圧として測定する、
半導体装置の入力回路の閾値の測定方法。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10802526B1 (en) | 2019-07-22 | 2020-10-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Input circuit |
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2008
- 2008-06-24 JP JP2008164496A patent/JP2010010193A/ja active Pending
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