JP2012122825A - 測定装置および判定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】瞬時値の変化が基準値付近において停止する事象を有する交流信号の良否を判定する際の判定精度を向上する。
【解決手段】比較対象としての１周期分の交流信号Ｓ１の瞬時値に対して加算値Ｄ１および減算値Ｅ１を加減算して上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定し、判定対象の瞬時値と上限値Ｂおよび下限値Ｃとを比較した結果に基づいて判定対象の良否を判定する処理部とを備え、処理部は、比較対象の瞬時値の絶対値が規定値Ｆよりも小さいときには、比較対象の瞬時値の絶対値を規定値Ｆで除した値に１未満の正の数Ｎを乗じさらに１未満の正の数Ｍを加えて値１よりも小さい補正値を算出し、加算値Ｄ１および減算値Ｅ１に補正値をそれぞれ乗じて補正した加算値Ｄ２および減算値Ｅ２を用いて上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定し、比較対象の瞬時値の絶対値が規定値Ｆ以上のときには、補正前の加算値Ｄ１および減算値Ｅ１を用いて上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定する。
【選択図】図３

Description

本発明は、入力した交流信号における１または複数の周期分の判定対象についての良否を判定する測定装置および判定方法に関するものである。

この種の装置として、特開平１０−１９５９７号公報において出願人が開示した波形記録計が知られている。この波形記録計は、増幅器、Ａ／Ｄ変換器、ＤＭＡ、メモリ、ＣＰＵおよびゼロクロス検出回路などを備えて構成されている。この波形記録計では、増幅器によって増幅された入力信号をＡ／Ｄ変換器が波形データに変換し、ＤＭＡがその波形データをメモリに書き込む。また、ＣＰＵが、ＤＭＡによって波形データがメモリに書き込まれる際のアドレス情報を読み取る。また、ゼロクロス検出回路が入力信号のゼロクロス点を検出してゼロクロス信号を出力し、ＣＰＵは、ゼロクロス信号の入力時点でアドレス情報に基づく波形判定処理を行う。ＣＰＵは、この波形判定処理において、被判定データのアドレスよりも１周期前のアドレスにおける波形データに対して管理幅を設定する。具体的には、１周期前のアドレスの前後に存在する複数の波形データの中から最大値と最小値とを検出し、最大値に所定値を加えて管理幅の上限値とし、最小値から所定値を減算して管理幅の下限値とする。次いで、被判定データが設定した管理幅内であるか否かを判定する。つまり、この波形記録計では、判定対象の波形よりも１周期前の波形に所定値を加減算した帯状の範囲を判定範囲として、判定対象の波形がその判定範囲内に含まれているか否かによって入力信号の良否判定が行われる。

特開平１０−１９５９７号公報（第３−４頁、第１−５図）

ところが、上記した従来の波形記録計には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、上記の波形記録計では、判定対象の波形よりも１周期前の波形に所定値を加減算した帯状の範囲を判定範囲として設けている。この場合、図６に示すように、瞬時値が一時的に大きく変化する波形は、変化部分が判定範囲（同図に波線で示す範囲）からはみ出すため、その入力信号が不良と確実に判定される。しかしながら、図７に示すように、瞬時値の変化が基準値（例えば０Ｖの値）付近において停止するような事象を有する波形は、停止部分（０Ｖの部分）が上記の判定範囲からはみ出さずに判定範囲内に含まれることがある。このため、従来の波形記録計には、このような事象を有する交流信号を不良と判定できないことがあり、この点の改善が望まれている。

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、瞬時値の変化が基準値付近において停止する事象を有する交流信号の良否を判定する際の判定精度を向上し得る測定装置および判定方法を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、入力した交流信号をサンプリングして当該交流信号の瞬時値を取得するサンプリング部と、１または複数の周期分の前記交流信号を判定対象として規定すると共に当該判定対象よりも時間的に先に入力した当該判定対象と同数の周期分の当該交流信号を比較対象として設定し、前記比較対象の前記瞬時値に対して予め決められた加算値を加算して上限値を設定すると共に当該瞬時値から予め決められた減算値を減算して下限値を設定し、前記判定対象における前記瞬時値と前記上限値および前記下限値とを比較してその比較結果に基づいて当該判定対象についての良否を判定する判定処理を実行する処理部とを備えた測定装置であって、前記処理部は、前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が当該比較対象における前記瞬時値の絶対値の最大値よりも小さい正の値に予め決められた規定値よりも小さいときには、当該比較対象における瞬時値の絶対値を前記規定値で除した値にＮ（Ｎは１未満の正の数）を乗じさらにＭ（Ｍは１未満の正の数）を加えて値１よりも小さい補正値を算出し、前記加算値および前記減算値に前記補正値をそれぞれ乗じて補正した補正後の加算値および補正後の減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定し、前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が前記規定値以上のときには、補正前の前記加算値および補正前の前記減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定する。

また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記処理部は、前記Ｎおよび前記Ｍの合計を値１とする条件で前記補正値を算出する。

また、請求項３記載の測定装置は、請求項１または２記載の測定装置において、前記処理部は、１周期分の前記交流信号を前記判定対象として設定すると共に、当該判定対象の直前に入力した１周期分の前記交流信号を前記比較対象として設定して前記判定処理を実行する。

また、請求項４記載の判定方法は、入力した交流信号をサンプリングして当該交流信号の瞬時値を取得し、１または複数の周期分の前記交流信号を判定対象として規定すると共に当該判定対象よりも時間的に先に入力した当該判定対象と同数の周期分の当該交流信号を比較対象として設定し、前記比較対象の前記瞬時値に対して予め決められた加算値を加算して上限値を設定すると共に当該瞬時値から予め決められた減算値を減算して下限値を設定し、前記判定対象における前記瞬時値と前記上限値および前記下限値とを比較してその比較結果に基づいて当該判定対象についての良否を判定する判定処理を実行する判定方法であって、前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が当該比較対象における前記瞬時値の絶対値の最大値よりも小さい正の値に予め決められた規定値よりも小さいときには、当該比較対象における瞬時値の絶対値を前記規定値で除した値にＮ（Ｎは１未満の正の数）を乗じさらにＭ（Ｍは１未満の正の数）を加えて値１よりも小さい補正値を算出し、前記加算値および前記減算値に前記補正値をそれぞれ乗じて補正した補正後の加算値および補正後の減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定し、前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が前記規定値以上のときには、補正前の前記加算値および補正前の前記減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定する。

請求項１記載の測定装置、および請求項４記載の判定方法では、比較対象における瞬時値の絶対値が規定値よりも小さいときには、比較対象の瞬時値の絶対値を規定値で除した値に係数Ｎを乗じさらに定数項Ｍを加えて算出した補正値を加算値および減算値にそれぞれ乗じて補正した補正後の加算値および減算値を用いて上限値および下限値を設定し、比較対象における瞬時値の絶対値が規定値以上のときには、補正前の加算値および減算値を用いて上限値および下限値を設定する。このため、この測定装置および判定方法によれば、比較対象における瞬時値の絶対値が規定値未満のときにおける縦方向（ｙ軸方向）に沿った上限値と下限値との間の幅を、比較対象における瞬時値の絶対値が規定値以上のときの縦方向に沿った幅よりも狭く設定することができ、これに伴って横方向（ｘ軸方向）に沿った上限値と下限値との間の幅も狭く設定することができる。したがって、この測定装置および判定方法によれば、判定対象の瞬時値の変化が基準値（例えば、交流信号が電圧の場合における０Ｖ）付近において停止するような不良の事象を有する交流信号を入力したときに、停止部分の瞬時値が下限値から上限値までの間に含まれなくなる可能性を十分に高めることができるため、このような事象を有する交流信号を不良であると判定する可能性を十分に高めることができる結果、判定精度を向上させることができる。

また、請求項２記載の測定装置によれば、処理部がＮおよびＭの合計を値１とする条件で補正値を算出することにより、比較対象の瞬時値の絶対値が規定値に近づくに従って補正値を徐々に１に近づけることができるため、比較対象の瞬時値の絶対値と規定値とが等しいときの前後において縦方向（ｙ軸方向）に沿った上限値と下限値との間の幅を急激に変化させることなく、徐々に変化させることができる。このため、この測定装置によれば、例えば、判定対象の瞬時値が縦方向に沿って急激に変化するディップなどの事象の発生を判定する場合において、その事象における発生の基点の瞬時値が規定値以上のときには事象が発生したとの判定がされる可能性が低く、規定値未満のときには事象が発生したとの判定がされる可能性が極端に高くなるような不自然な判定結果となる事態を防止することができる。

また、請求項３記載の測定装置では、処理部１７が１周期分の交流信号を判定対象として設定すると共に、判定対象の直前に入力した１周期分の交流信号を比較対象として設定して判定処理を実行する。つまり、この測定装置では、１周期分の交流信号とその直前に入力した１周期分の交流信号とを比較する判定処理を１周期毎に実行する。このため、この測定装置によれば、例えば、振幅や波長が時間経過と共に緩やかに変化する交流信号において、その緩やかな変化を不良とは判定せずに、直前の１周期と比較して振幅が急激に変化するような事象が生じたときだけを不良の発生と判定させることができる。

測定装置１の構成を示す構成図である。 測定装置１に入力される交流信号Ｓ１の一例を示す信号波形図である。 測定装置１の動作を説明する第１の説明図である。 測定装置１の動作を説明する第２の説明図である。 測定装置１の動作を説明する第３の説明図である。 従来の波形記録計の動作を説明する第１の説明図である。 従来の波形記録計の動作を説明する第２の説明図である。

以下、測定装置および判定方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、測定装置の一例としての測定装置１の構成について説明する。図１に示す測定装置１は、信号処理部１１、サンプリング部１２、操作部１３、表示部１４、記憶部１５、記憶制御部１６および処理部１７を備え、入力した交流信号Ｓ１（一例として、図２に示すように、波形が正弦波の交流電圧信号）についての物理量（例えば、電圧の実効値）を測定可能に構成されている。また、測定装置１は、入力した交流信号Ｓ１の良否を判定可能に構成されている。

信号処理部１１は、入力した交流信号Ｓ１に含まれているノイズ成分を除去する信号処理を実行する。また、信号処理部１１は、交流信号Ｓ１の周波数（公称周波数：５０Ｈｚおよび６０Ｈｚ）にそれぞれ対応付けられて、互いに電気的特性の異なる複数（一例として、２つ）のフィルタ回路（図示せず）を備えて構成されている。この場合、フィルタ回路は、交流信号Ｓ１に含まれている公称周波数よりも高周波の成分および低周波の成分を除去する（つまり、公称周波数の成分を抽出する）バンドパスフィルタで構成されている。また、信号処理部１１は、操作部１３に対する切り替え操作によってこれら複数のフィルタ回路の中から切り替えられたフィルタ回路によって交流信号Ｓ１に対して予め決められた信号処理を実行する。

サンプリング部１２は、サンプリングクロック生成回路およびサンプリング回路（いずれも図示せず）を備えて構成されている。サンプリングクロック生成回路は、予め決められたサンプリング周期（周波数）のサンプリングクロックを生成する。サンプリング回路は、サンプリングクロックに同期して交流信号Ｓ１をサンプリングして交流信号Ｓ１の瞬時値Ａを取得し、その瞬時値Ａを示すデジタルデータ（サンプリングデータ）Ｄｄを出力するサンプリング処理を実行する。この場合、デジタルデータＤｄは、処理部１７よって実行される後述する判定処理において交流信号Ｓ１の良否の判定に用いられると共に、処理部１７よって実行される後述する測定処理において交流信号Ｓ１の物理量（例えば、電圧の実効値）の測定に用いられる。

操作部１３は、測定開始を指示する操作や、公称周波数を切り替える（フィルタ回路を切り替える）切り替え操作などを行うための各種のスイッチを備えて構成され、それらが操作されたときに操作信号Ｓｏを出力する。表示部１４は、処理部１７の制御に従って各種の画像や測定値を表示する。記憶部１５は、記憶制御部１６の制御に従い、サンプリング部１２から出力されたデジタルデータＤｄを記憶可能に構成されている。

記憶制御部１６は、ゼロクロス（例えば、立ち上がりのゼロクロス）によって区分される交流信号Ｓ１の１周期Ｔ分（図２参照）または１周期Ｔが複数連続する複数周期分（この例では、１周期Ｔ分）のデジタルデータＤｄが出力される度に、そのデジタルデータＤｄを１周期Ｔ毎に記憶部１５に記憶させる記憶処理を実行する。また、記憶制御部１６は、一例として、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array ）で構成されている。なお、記憶制御部１６を処理部１７と共にＣＰＵで構成することもできる。

処理部１７は、操作部１３から出力される操作信号Ｓｏに従って測定装置１を構成する各部を制御する。また、処理部１７は、デジタルデータＤｄを用いて交流信号Ｓ１の良否を判定する判定処理を実行する。この判定処理では、処理部１７は、１周期Ｔ分または複数周期分（この例では、１周期Ｔ分）の交流信号Ｓ１を判定対象Ｕｊとして規定し、その判定対象Ｕｊ毎に交流信号Ｓ１の良否を判定する。

この場合、処理部１７は、判定対象Ｕｊよりも時間的に先（一例として、直前）に入力した、判定対象Ｕｊと同数の周期分（この例では、１周期Ｔ分）の交流信号Ｓ１を比較対象Ｕｃとして規定し、この比較対象Ｕｃにおける各デジタルデータＤｄによって示される各瞬時値Ａ（以下、比較対象Ｕｃの瞬時値Ａを「瞬時値Ａｃ」ともいう）に基づいて良否判定用の上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定（算出）する。また、処理部１７は、判定対象Ｕｊの瞬時値Ａ（以下、判定対象Ｕｊの瞬時値Ａを「瞬時値Ａｊ」ともいう）と上限値Ｂおよび下限値Ｃとを比較し、その比較結果に基づいて良否を判定する。また、処理部１７は、判定処理において、判定対象Ｕｊとしての１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１を入力する度に、その判定対象Ｕｊの直前に入力した比較対象Ｕｃとしての１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１における瞬時値Ａｃに基づいて良否判定用の上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定することにより、上限値Ｂおよび下限値Ｃを更新する。

また、処理部１７は、測定処理を実行して、記憶部１５に記憶されているデジタルデータＤｄを用いて交流信号Ｓ１の物理量（例えば、電圧の実効値）を測定する。さらに、処理部１７は、上記した判定処理の結果や、測定した物理量を表示部１４に表示させる。

次に、測定装置１を用いて交流信号Ｓ１の良否を判定する判定方法、およびその際の測定装置１の動作について説明する。

この測定装置１では、操作部１３に対して測定開始を指示する操作が行われたときに、信号処理部１１のフィルタ回路（例えば、５０Ｈｚ用のフィルタ回路）が、信号ケーブルを介して入力した交流信号Ｓ１のノイズ成分を除去する信号処理を開始して、処理後の交流信号Ｓ１をサンプリング部１２に出力する。また、サンプリング部１２のサンプリングクロック生成回路が、サンプリングクロックを生成する。また、サンプリング部１２のサンプリング回路が、サンプリングクロックに同期して交流信号Ｓ１をサンプリングして、交流信号Ｓ１の瞬時値Ａを取得すると共に、その瞬時値Ａを示すデジタルデータＤｄを出力する。

次いで、記憶制御部１６が、図２に示すように、交流信号Ｓ１と基準値（０Ｖ）との交差（ゼロクロス）を検出し、立ち上がりのゼロクロスによって区分される交流信号Ｓ１の１周期ＴをデジタルデータＤｄに基づいて特定する。また、記憶制御部１６は、記憶処理を実行して、１周期Ｔ分のデジタルデータＤｄが出力される度に、そのデジタルデータＤｄを１周期Ｔ毎に記憶部１５に記憶させる。

次いで、処理部１７が、判定処理を実行する。この、判定処理では、処理部１７は、最初の１周期Ｔ分のデジタルデータＤｄが出力されたときに、その１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１を比較対象Ｕｃとして規定し、そのデジタルデータＤｄを用いて良否判定用の上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定する。具体的には、処理部１７は、比較対象Ｕｃにおける各デジタルデータＤｄによって示される各瞬時値Ａｃに対して予め決められた加算値Ｄをそれぞれ加算することによって上限値Ｂを設定する。また、処理部１７は、各瞬時値Ａから予め決められた減算値Ｅをそれぞれ減算することによって下限値Ｃを設定する。

また、処理部１７は、瞬時値Ａｃの絶対値（以下、瞬時値Ａｃの絶対値を「絶対値ａｂｓ（Ａｃ）」ともいう）が予め決められた規定値Ｆよりも小さいときには、上記した加算値Ｄおよび減算値Ｅに補正値Ｇをそれぞれ乗じて補正した補正後の加算値Ｄおよび補正後の減算値Ｅを用いて上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定し、瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆ以上のときには、補正前の加算値Ｄおよび補正前の減算値Ｅを用いて上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定する。なお、以下の説明において、補正前の加算値Ｄを「加算値Ｄ１」ともいい、補正前の減算値Ｅを「減算値Ｅ１」ともいう。また、補正後の加算値Ｄを「加算値Ｄ２」ともいい、補正後の減算値Ｅを「減算値Ｅ２」ともいう。

上記した規定値Ｆは、比較対象Ｕｃの瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）の最大値Ｈよりも小さい正の値に規定されている。また、補正値Ｇは、瞬時値Ａｃの絶対値を規定値Ｆで除した値に係数Ｎを乗じ、さらに定数項Ｍを加えることによって算出される値（つまり、Ｇ＝（ａｂｓ（Ａｃ）／Ｆ）×Ｎ＋Ｍの式によって算出される値）であって、値１よりも小さいに値に規定されている。また、係数Ｎおよび定数項Ｍは、それぞれ１未満の正の数であって、かつこれらの合計が例えば１となるように規定されている。

一例として、処理部１７は、交流信号Ｓ１としての公称電圧が１００Ｖの交流電圧に対して判定処理を実行する場合において、上限値Ｂおよび下限値Ｃを図３に示すように設定する。この場合、同図の例では、加算値Ｄ１および減算値Ｅ１が、公称電圧１００Ｖの３０％に相当する３０Ｖの値に規定されている。また、規定値Ｆが、瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）の最大値Ｈに相当する１４１Ｖよりも小さい正の値の一例として、公称電圧１００Ｖの５０％に相当する５０Ｖに規定されている。また、この例では、係数Ｎが０．８に規定され、定数項Ｍが０．２に規定されている。

図３の例では、比較対象Ｕｃの瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆとしての５０Ｖ以上のときには、加算値Ｄ１および減算値Ｅ１としての３０Ｖを、瞬時値Ａｃに対して加減算した値が上限値Ｂおよび下限値Ｃとして設定される。また、比較対象Ｕｃの瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆとしての５０Ｖ未満のときには、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）に応じて０．２以上（定数項Ｍの値以上）１未満（係数Ｎ＋定数項Ｍの値未満）の範囲内の値（つまり、値１よりも小さい値）に規定される補正値Ｇを加算値Ｄ１および減算値Ｅ１に乗じて補正した補正後の加算値Ｄ２および減算値Ｅ２（つまり、６Ｖ以上３０Ｖ未満の値：同図参照）を、瞬時値Ａｃに対して加減算した値が上限値Ｂおよび下限値Ｃとして設定される。

このため、図３において斜線を付して示すように、瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が５０Ｖ未満のときには、加算値Ｄ２が加算値Ｄ１よりも小さく、また減算値Ｅ２が減算値Ｅ１よりも小さいため、これらの分だけ、縦方向（ｙ軸方向）に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅が、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が５０Ｖ以上のときよりも狭く設定される。また、縦方向（ｙ軸方向）に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅が狭く設定されることに伴い、横方向（ｘ軸方向）に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅も狭く設定される。さらに、この例では、係数Ｎと定数項Ｍとの合計が１となるように規定されているため、瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆに近づくに従って補正値Ｇが徐々に１に近づく結果、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）と規定値Ｆとが等しいときの前後において縦方向および横方向に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅（つまり判定処理の際に基準となる基準電圧範囲）が急激に変化することなく、徐々に変化する。

次いで、処理部１７は、上記のように設定した上限値Ｂおよび下限値Ｃを記憶部１５に記憶させる。続いて、処理部１７は、次の１周期Ｔ分のデジタルデータＤｄが出力されたときには、その１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１を判定対象Ｕｊとして規定し、その判定対象Ｕｊにおける各瞬時値Ａｊと、各瞬時値Ａｊにそれぞれ対応する同じ位相の上限値Ｂおよび下限値Ｃとを比較し、その比較結果に基づいて良否を判定する。この場合、図４に実線で示すように、交流信号Ｓ１における判定対象Ｕｊの瞬時値Ａｊの全てが下限値Ｃから上限値Ｂまでの間に含まれているときには、処理部１７は、その判定対象Ｕｊの交流信号Ｓ１を良好と判定する。また、同図に一点鎖線で示すように、判定対象Ｕｊにおいて下限値Ｃから上限値Ｂまでの間に含まれていない瞬時値Ａｊが１つでも存在するときには、その判定対象Ｕｊの交流信号Ｓ１を不良と判定する。

一方、この測定装置１では、上記したように、比較対象Ｕｃの瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆ（この例では、５０Ｖ）未満のときには、縦方向に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅が、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆ以上のときよりも狭く設定され、これに伴って横方向に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅も狭く設定される。このため、図５に示すように、瞬時値Ａｊの変化が基準値（０Ｖ）付近において停止するような不良の事象を有する交流信号Ｓ１を入力したときには、停止部分の瞬時値Ａｊが下限値Ｃから上限値Ｂまでの間に含まれないこととなる結果、このような事象を有する交流信号Ｓ１を不良であると確実に判定することが可能となっている。

以後、処理部１７は、判定処理において、上記した各処理を１周期Ｔ分のデジタルデータＤｄが出力される度に実行する。また、処理部１７は、判定処理と並行して測定処理を実行し、記憶部１５に記憶されているデジタルデータＤｄを用いて交流信号Ｓ１の物理量（例えば、電圧の実効値）を測定する。また、処理部１７は、上記した判定処理の結果や、測定した物理量を表示部１４に表示させる。

このように、この測定装置１および判定方法では、比較対象Ｕｃの瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆよりも小さいときには、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）を規定値Ｆで除した値に係数Ｎを乗じさらに定数項Ｍを加えて算出した補正値Ｇを加算値Ｄ１および減算値Ｅ１にそれぞれ乗じて補正した補正後の加算値Ｄ２および減算値Ｅ２を用いて上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定し、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆ以上のときには、補正前の加算値Ｄ１および減算値Ｅ１を用いて上限値Ｂおよび下限値Ｃを設定する。このため、この測定装置１および判定方法によれば、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆ未満のときにおける縦方向（ｙ軸方向）に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅を、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆ以上のときの縦方向に沿った幅よりも狭く設定することができ、これに伴って横方向（ｘ軸方向）に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅も狭く設定することができる。したがって、この測定装置１および判定方法によれば、瞬時値Ａｊの変化が基準値（０Ｖ）付近において停止するような不良の事象を有する交流信号Ｓ１を入力したときに、停止部分の瞬時値Ａｊが下限値Ｃから上限値Ｂまでの間に含まれなくなる可能性を十分に高めることができるため、このような事象を有する交流信号Ｓ１を不良であると判定する可能性を十分に高めることができる結果、判定精度を向上させることができる。

また、この測定装置１および判定方法によれば、係数Ｎおよび定数項Ｍの合計が１となるように規定したことにより、瞬時値Ａｃの絶対値ａｂｓ（Ａｃ）が規定値Ｆに近づくに従って補正値Ｇを徐々に１に近づけることができるため、絶対値ａｂｓ（Ａｃ）と規定値Ｆとが等しいときの前後において縦方向（ｙ軸方向）に沿った上限値Ｂと下限値Ｃとの間の幅を急激に変化させることなく、徐々に変化させることができる。このため、この測定装置１および判定方法によれば、例えば、判定対象Ｕｊの瞬時値Ａｊが縦方向に沿って急激に変化するディップなどの事象の発生を判定する場合において、その事象における発生の基点の瞬時値Ａｊが規定値Ｆ以上のときには事象が発生したとの判定がされる可能性が低く、規定値Ｆ未満のときには事象が発生したとの判定がされる可能性が極端に高くなるような不自然な判定結果となる事態を防止することができる。

また、この測定装置１および判定方法では、１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１を判定対象Ｕｊとして規定すると共に、判定対象Ｕｊの直前に入力した１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１を比較対象Ｕｃとして規定して判定処理を実行する。つまり、この測定装置１および判定方法では、１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１とその直前に入力した１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１とを比較する判定処理を１周期Ｔ毎に実行する。このため、この測定装置１および判定方法によれば、例えば、振幅や波長が時間経過と共に緩やかに変化する交流信号Ｓ１において、その緩やかな変化を不良とは判定せずに、直前の１周期Ｔと比較して振幅が急激に変化するような事象が生じたときだけを不良の発生と判定させることができる。

なお、測定装置および判定方法は、上記の構成および方法に限定されない。例えば、１周期Ｔ分の交流信号Ｓ１を判定対象Ｕｊおよび比較対象Ｕｃとしてそれぞれ規定する構成および方法について上記したが、複数周期分の交流信号Ｓ１を判定対象Ｕｊとして規定し、判定対象Ｕｊと同数の周期分の交流信号Ｓ１を比較対象Ｕｃとして規定する構成および方法を採用することもできる。また、判定対象Ｕｊの直前に入力した交流信号Ｓ１を比較対象Ｕｃとして規定する構成および方法について上記したが、判定対象Ｕｊよりも２周期以上前（時間的に先）に入力した（判定対象Ｕｊとの間に１周期以上の間隔が生じる）交流信号Ｓ１を比較対象Ｕｃとして規定する構成および方法を採用することもできる。また、係数Ｎと定数項Ｍとの合計が１となるように規定した構成および方法について上記したが、係数Ｎおよび定数項Ｍがそれぞれ１未満の正の数で、かつ補正値Ｇが値１未満であるとの条件を満たす限り、係数Ｎおよび定数項Ｍは任意の値に規定することができる。

１ 測定装置
１２ サンプリング部
１７ 処理部
Ｂ 上限値
Ｃ 下限値
Ｄ，Ｄ１，Ｄ２ 加算値
Ｄｄ デジタルデータ
Ｅ，Ｅ１，Ｅ２減算値
Ｆ 規定値
Ｇ 補正値
Ｈ 最大値
Ｍ 定数項
Ｎ 係数
Ｓ１ 交流信号
Ｔ １周期
Ｕ１ 判定対象
Ｕ２ 比較対象

Claims (4)

1. 入力した交流信号をサンプリングして当該交流信号の瞬時値を取得するサンプリング部と、
   １または複数の周期分の前記交流信号を判定対象として規定すると共に当該判定対象よりも時間的に先に入力した当該判定対象と同数の周期分の当該交流信号を比較対象として規定し、前記比較対象の前記瞬時値に対して予め決められた加算値を加算して上限値を設定すると共に当該瞬時値から予め決められた減算値を減算して下限値を設定し、前記判定対象における前記瞬時値と前記上限値および前記下限値とを比較してその比較結果に基づいて当該判定対象についての良否を判定する判定処理を実行する処理部とを備えた測定装置であって、
   前記処理部は、前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が当該比較対象における前記瞬時値の絶対値の最大値よりも小さい正の値に予め決められた規定値よりも小さいときには、当該比較対象における瞬時値の絶対値を前記規定値で除した値にＮ（Ｎは１未満の正の数）を乗じさらにＭ（Ｍは１未満の正の数）を加えて値１よりも小さい補正値を算出し、前記加算値および前記減算値に前記補正値をそれぞれ乗じて補正した補正後の加算値および補正後の減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定し、前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が前記規定値以上のときには、補正前の前記加算値および補正前の前記減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定する測定装置。
2. 前記処理部は、前記Ｎおよび前記Ｍの合計を値１とする条件で前記補正値を算出する請求項１記載の測定装置。
3. 前記処理部は、１周期分の前記交流信号を前記判定対象として設定すると共に、当該判定対象の直前に入力した１周期分の前記交流信号を前記比較対象として設定して前記判定処理を実行する請求項１または２記載の測定装置。
4. 入力した交流信号をサンプリングして当該交流信号の瞬時値を取得し、
   １または複数の周期分の前記交流信号を判定対象として規定すると共に当該判定対象よりも時間的に先に入力した当該判定対象と同数の周期分の当該交流信号を比較対象として規定し、前記比較対象の前記瞬時値に対して予め決められた加算値を加算して上限値を設定すると共に当該瞬時値から予め決められた減算値を減算して下限値を設定し、前記判定対象における前記瞬時値と前記上限値および前記下限値とを比較してその比較結果に基づいて当該判定対象についての良否を判定する判定処理を実行する判定方法であって、
   前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が当該比較対象における前記瞬時値の絶対値の最大値よりも小さい正の値に予め決められた規定値よりも小さいときには、当該比較対象における瞬時値の絶対値を前記規定値で除した値にＮ（Ｎは１未満の正の数）を乗じさらにＭ（Ｍは１未満の正の数）を加えて値１よりも小さい補正値を算出し、前記加算値および前記減算値に前記補正値をそれぞれ乗じて補正した補正後の加算値および補正後の減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定し、
   前記比較対象における前記瞬時値の絶対値が前記規定値以上のときには、補正前の前記加算値および補正前の前記減算値を用いて前記上限値および前記下限値を設定する判定方法。

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