JP2012108979A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012108979A
JP2012108979A JP2010257323A JP2010257323A JP2012108979A JP 2012108979 A JP2012108979 A JP 2012108979A JP 2010257323 A JP2010257323 A JP 2010257323A JP 2010257323 A JP2010257323 A JP 2010257323A JP 2012108979 A JP2012108979 A JP 2012108979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
synchronization
signal
register
internal
latency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
JP2010257323A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroki Fujisawa
宏樹 藤澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micron Memory Japan Ltd
Original Assignee
Elpida Memory Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elpida Memory Inc filed Critical Elpida Memory Inc
Priority to JP2010257323A priority Critical patent/JP2012108979A/ja
Priority to US13/317,598 priority patent/US8611177B2/en
Publication of JP2012108979A publication Critical patent/JP2012108979A/ja
Priority to US14/088,254 priority patent/US9142276B2/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4076Timing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/109Control signal input circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/22Control and timing of internal memory operations
    • G11C2207/2272Latency related aspects

Abstract

【課題】レイテンシカウンタの制御に必要な制御信号のビット数を低減する。
【解決手段】内部コマンド信号ICMDに奇数サイクルのレイテンシを与えるか否かを選択する第1のレイテンシカウンタ110と、内部コマンド信号に2サイクル単位でレイテンシを与える第2のレイテンシカウンタ120とを備え、これらレイテンシカウンタ110,120が直列接続されている。これにより、設定可能なレイテンシの種類よりもレイテンシを設定するための制御情報のビット数が少なくなることから、配線密度を低減することが可能となる。
【選択図】図1

Description

本発明は半導体装置に関し、特に、内部コマンド信号を遅延させるレイテンシカウンタを備えた半導体装置に関する。
シンクロナスDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory)に代表される同期式メモリ装置は、パーソナルコンピュータのメインメモリなどに広く利用されている。同期式メモリ装置は、コントローラより供給されるクロック信号に同期してデータを入出力することから、より高速なクロックを使用することによって、データ転送レートを高めることが可能である。
しかしながら、シンクロナスDRAMにおいても、DRAMコアはあくまでアナログ動作であり、極めて微弱な電荷をセンス動作により増幅する必要がある。そのため、リードコマンドが発行されてから、最初のデータを出力するまでの時間を短縮することはできず、リードコマンドが発行されてから所定の遅延時間が経過した後、外部クロックに同期して最初のデータが出力される。
リード動作時におけるこの遅延時間は一般に「CASレイテンシ」と呼ばれ、クロック周期の整数倍に設定される。例えば、CASレイテンシが5(CL=5)であれば、外部クロックに同期してリードコマンドを取り込んだ後、5周期後の外部クロックに同期して最初のデータが出力される。つまり、5クロックサイクル後に最初のデータが出力されることになる。
このような遅延は、ライト動作時においても必要である。ライト動作時においては、ライトコマンドが発行された後、所定の遅延時間が経過してから、外部クロックに同期してデータを連続的に入力する必要がある。ライト動作時におけるこの遅延時間は一般に「CASライトレイテンシ」と呼ばれ、クロック周期の整数倍に設定される。例えば、CASライトレイテンシが5(CWL=5)であれば、外部クロックに同期してライトコマンドを取り込んだ後、5クロックサイクル後の外部クロックに同期して最初のデータを入力する必要がある。
さらに、DDR2(Double Data Rate 2)型以降のSDRAMでは、コントローラがリードコマンドやライトコマンドを本来の発行タイミングよりも先行して同期式メモリ装置へ発行することが可能なポステッドCAS方式が採用されている。先行してコマンドを発行するタイミング、つまり、リードコマンドやライトコマンドを発行すべき本来のタイミングと、先行して実際にリードコマンドやライトコマンドを発行するタイミングとの差は、アディティブレイテンシ(AL)と呼ばれる。したがって、例えばリード動作においては、リードコマンドが発行されてからリードデータの出力が開始されるまでの期間は、AL+CLで定義される。
ポステッドCAS方式を用いる場合、メモリコントローラがリードコマンドやライトコマンドを発行すると、半導体装置(同期式メモリ装置)は、直ちにカラム系制御回路を起動するのではなく、アディティブレイテンシの経過を待ってからカラム系制御回路を起動する必要がある。このため、外部から供給されたリードコマンドやライトコマンドを半導体装置の内部で遅延させるFIFO回路が用いられる。このようなFIFO回路は、一般に「レイテンシカウンタ」と呼ばれる。レイテンシカウンタとしては、シフトレジスタを用いることが最も一般的である。
特開2010−3397号公報
本発明者は、過去に新たなレイテンシカウンタを提案した(特許文献1)。特許文献1に記載されたレイテンシカウンタは、レイテンシが奇数であるか偶数であるかを選択する回路部分と、内部コマンド信号に2クロックサイクル単位で遅延を与える回路部分とを用い、これらを並列接続することによって、回路規模の縮小と消費電力の低減を図るものである。しかしながら、近年においては配線ピッチの縮小がトランジスタの縮小に追いつかず、このため、回路規模を縮小すると当該回路の上部に十分な数の配線を形成できないという新たな問題が生じている。
本発明の一側面による半導体装置は、内部コマンド信号が供給される第1のレジスタと、前記第1のレジスタの出力が供給される第2のレジスタと、前記第1と第2のレジスタの夫々の出力のうちいずれか一方の出力を、レイテンシ情報を有する複数の情報信号のうちの第1の制御信号に対応して、第1の信号として出力ノードから出力する第1のセレクタと、第3のレジスタ、第4のレジスタ、第2のセレクタ、及び第1乃至第4のノードをそれぞれ有する複数の同期回路と、を備え、前記第1のノードは、前記第3のレジスタの入力ノードに接続し、前記第2のノードは、前記第2のセレクタの出力ノードに接続し、前記第3のレジスタの出力は、前記第4のレジスタの入力ノードに供給し、前記第4のレジスタの出力は、前記第2のセレクタの第1の入力ノードに供給し、前記第3のノードは、前記第2のセレクタの第2の入力ノードに接続し、前記第4のノードは、前記第2のセレクタの第3の入力ノードに接続し、よって前記第2のセレクタが前記第1の入力ノードと前記第2の入力ノードのいずれか一方のノードを、前記第4のノードの論理によって、前記第2のノードに接続し、前記複数の同期回路が有する複数の前記第3のノードのそれぞれは、前記第1のセレクタの出力ノードに共通接続し、よって、前記第1の信号が共通に供給され、前記複数の同期回路が有する複数の前記第4のノードは、前記複数の情報信号のうち前記第1の制御信号と異なり、更にそれぞれ異なる複数の第2の制御信号が供給され、前記複数の同期回路のうち第1ステージである第1の同期回路が有する前記第1のノードは、前記第1のセレクタの出力ノードに接続し、前記第1の同期回路が有する前記第2のノードは、前記複数の同期回路のうち第2ステージである第2の同期回路が有する前記第1のノードに接続し、前記第1乃至第4のレジスタは、同期信号に応答して前記内部コマンド信号を伝送するシフトレジスタであり、前記第1と第2のレジスタは、同期信号の2サイクルによって前記内部コマンド信号を伝送し、前記第3と第4のレジスタは、同期信号の2サイクルによって前記内部コマンド信号を伝送する。
本発明の他の側面による半導体装置は、内部コマンド信号が入力されるコマンド入力ラインと、所定のレイテンシ後に前記内部コマンド信号が出力されるコマンド出力ラインと、第1及び第2のレイテンシカウンタと、を備え、前記第1及び第2のレイテンシカウンタは、前記コマンド入力ラインと前記コマンド出力ラインとの間に直列接続され、前記コマンド入力ラインから入力された前記内部コマンド信号に所定のレイテンシを与えて前記コマンド出力ラインから出力し、前記第1のレイテンシカウンタは、第1の制御情報に基づいて、前記内部コマンド信号に奇数サイクルのレイテンシを与えるか否かを選択し、前記第2のレイテンシカウンタは、第2の制御情報に基づいて、前記内部コマンド信号に2サイクル単位でレイテンシを与えることを特徴とする。
本発明によれば、レイテンシを設定するための制御情報のビット数が削減されることから、制御情報を伝送するための配線密度を低減することが可能となる。
本発明の原理を説明するためのブロック図である。 本発明の好ましい実施形態による半導体装置10の全体構成を示すブロック図である。 第1の実施形態によるレイテンシカウンタ100の回路図である。 レイテンシカウンタ100,200における制御信号LE,L0〜L10の値とレイテンシとの関係を示す表である。 レイテンシカウンタ100の動作を説明するための波形図である。 比較例によるレイテンシカウンタ300の回路図である。 レイテンシカウンタ300における制御信号L0〜L12の値とレイテンシとの関係を示す表である。 第2の実施形態によるレイテンシカウンタ200の回路図である。 レジスタ211の回路図である。 レジスタ213の回路図である。 レイテンシカウンタ200の動作を説明するための波形図である。 第1の実施形態の第1の変形例によるレイテンシカウンタ300の回路図及び制御信号LE,L0〜L10,LFの値とレイテンシとの関係を示す表である。 第1の実施形態の第2の変形例によるレイテンシカウンタ400の回路図である。 第1の実施形態の第3の変形例によるレイテンシカウンタ500の回路図である。 第1の実施形態の第4の変形例によるレイテンシカウンタ600の回路図である。 第1の実施形態の第5の変形例によるレイテンシカウンタ700及びレジスタ311,321,322の回路図である。
本発明の課題を解決する技術思想(コンセプト)の代表的な一例は、以下に示される。但し、本願の請求内容はこの技術思想に限られず、本願の請求項に記載の内容であることは言うまでもない。すなわち、本発明は、供給される内部コマンド信号に奇数サイクルのレイテンシを与えるか否かを選択する第1のレイテンシカウンタと、第1のレイテンシカウンタの出力が供給され、前記内部信号または前記奇数サイクルのレイテンシが与えられた内部信号に対して、2サイクル単位でレイテンシを与えるか否かを選択する第2のレイテンシカウンタと、を直列に接続することを技術思想とするものである。これにより、設定可能なレイテンシの種類よりもレイテンシを設定するための制御情報のビット数が少なくなることから、配線密度を低減することが可能となる。
図1は、本発明の原理を説明するためのブロック図である。
図1に示す本発明の原理による半導体装置は、内部コマンド信号ICMD_INに1クロックサイクルのレイテンシを与えるか否かを選択する第1のレイテンシカウンタ1と、内部コマンド信号ICMD_aに2クロックサイクル単位でレイテンシを与えるか否かを選択する第2のレイテンシカウンタ2とが直列に接続された構成を有している。内部コマンド信号ICMD_INはコマンド入力ラインL_INを介して入力され、内部コマンド信号ICMD_OUTはコマンド出力ラインL_OUTを介して出力される。内部コマンド信号ICMD_aは、第1のレイテンシカウンタ1の出力信号であり、第2のレイテンシカウンタ2の入力信号である。第1及び第2のレイテンシカウンタ1,2は、それぞれ内部クロック信号ICLKに同期する回路である。
レイテンシカウンタ1は、内部クロック信号ICLKに同期して内部コマンド信号ICMD_INをラッチするレジスタ1aと、レジスタ1aを通過した内部コマンド信号とレジスタ1aを通過していない内部コマンド信号のいずれか一方を選択するセレクタ1bとを備えている。レジスタ1aは、例えば内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期して内部コマンド信号ICMD_INをラッチする回路であり、したがって、レジスタ1aを通過した内部コマンド信号は1クロックサイクル遅延される。セレクタ1bは、2つの入力ノードと1つの出力ノードを有し、2つの入力ノードのいずれか一つと出力ノードとが、電気的に導通する。セレクタ1bによる選択は第1の制御信号LEに基づいて行われる。
レイテンシカウンタ2は、レイテンシカウンタ1を通過した内部コマンド信号ICMD_aに2クロックサイクルの遅延を与える複数個の同期回路2−n〜2−0が直列接続された構成を有している。各同期回路2−n〜2−0は、レイテンシカウンタ1と類似した回路構成を有しており、入力された内部コマンド信号を内部クロック信号ICLKに同期してラッチすることにより2クロックサイクルの遅延を与えるレジスタ2aと、レジスタ2aを通過した内部コマンド信号とレジスタ2aを通過していない内部コマンド信号のいずれか一方を選択するセレクタ2bとを備えている。レジスタ2aは、例えば、内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期して内部コマンド信号ICMD_INをラッチする2個のレジスタが直列接続されてなる回路であり、したがって、レジスタ2aを通過した内部コマンド信号は2クロックサイクル遅延される。複数のセレクタ2bのそれぞれは、2つの入力ノードと1つの出力ノードを有し、2つの入力ノードのいずれか一つと出力ノードとが、電気的に導通する。複数のセレクタ2bによる選択は、複数の第2の制御信号L0〜Lnのそれぞれ対応するビットに基づいて行われる。
複数の同期回路2−(n−2)〜2−0に含まれるレジスタ2aの入力ノードは、前段の複数の同期回路2−n〜2−2の出力ノードに接続されている。また、複数の同期回路2−n〜2−0に含まれるセレクタ2bの他方の入力ノードには、内部コマンド信号ICMD_aが共通に供給される。初段の同期回路2−nに含まれるレジスタ2aの入力ノードにも、内部コマンド信号ICMD_aが供給される。そして、最終段の同期回路2−0の出力ノードから内部コマンド信号ICMD_OUTが出力される。
制御信号LE及び複数の制御信号L0〜Lnは、レイテンシを設定するための複数の信号である。このうち、制御信号LEは、内部クロック信号ICLKに関連してレイテンシを偶数に設定するか奇数に設定するかを選択するための1ビットの信号である。また、複数の制御信号L0〜Lnは、それぞれレイテンシを偶数値で示す複数の信号であり、いずれか1ビットが活性レベルとなる。活性レベルとなった制御信号Lは、対応するレジスタ2の出力ノードと出力ノードとを、電気的に接続する。非活性レベルとなった制御信号Lは、対応するレジスタ2をバイパスするよう様に内部コマンド信号ICMD_aのノードと出力ノードとを、電気的に接続する。
かかる構成により、内部コマンド信号ICMD_INに与えることが可能なレイテンシの種類は、0〜n+1までとなる。例えば、レイテンシを0とする場合には、制御信号LEによって偶数を選択、つまりレジスタ1aをバイパスし、さらに、制御信号L0によって同期回路2−0内のレジスタ2aをバイパスすればよい。レイテンシを1とする場合には、制御信号LEによって奇数を選択、つまりレジスタ1aを通過させ、さらに、制御信号L0によって同期回路2−0内のレジスタ2aをバイパスすればよい。レイテンシを2とする場合には、制御信号LEによって偶数を選択、つまりレジスタ1aをバイパスし、さらに、同期回路2−0の前段である第1の同期回路が有する第1のセレクタ2bに関連する制御信号Lによって第1の同期回路が有するレジスタ2aをバイパスし、制御信号L0によって同期回路2−0内のレジスタ2aを通過させればよい。レイテンシを3とする場合には、制御信号LEによって奇数を選択、つまりレジスタ1aを通過させ、さらに、同期回路2−0の前段である第1の同期回路が有する第1のセレクタ2bに関連する制御信号Lによって第1の同期回路が有するレジスタ2aをバイパスし、制御信号L0によって同期回路2−0内のレジスタ2aを通過させればよい。レイテンシが4以上であれば、複数の同期回路2−n〜2−0がそれぞれ有する複数のレジスタ2aを順次、直列に通過させるように、それぞれ対応する複数のセレクタ2bを、同期回路2−0側から同期回路2−n側へ制御すれば良い。尚、レイテンシをn+1とする場合には、制御信号LEによって奇数を選択、つまりレジスタ1aを通過させ、さらに、nの数に関連する制御信号L0〜Lnのいずれか一つを活性化させて、複数の同期回路2−n〜2−0がそれぞれ有する複数のレジスタ2aを順次、直列に通過させるように、それぞれ対応する複数のセレクタ2bを、同期回路2−0側から同期回路2−n側へ制御すれば良い。
以上により、レイテンシを設定するための複数の制御信号LE,L0〜Lnの本数が削減されることから、配線密度を低減することが可能となる。また、2クロックサイクル単位でレイテンシを計数する第2のレイテンシカウンタ2の構成によって複数のレジスタ2aの数を軽減している。よって、内部コマンド信号ICMD_aの信号負荷が低減されることから、動作速度を向上させることも可能となる。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。
図2は、本発明の好ましい実施形態による半導体装置10の全体構成を示すブロック図である。
本実施形態による半導体装置10はシンクロナスDRAMであり、外部端子として、クロック端子11a,11b、コマンド端子12a〜12e、アドレス端子13、データ入出力端子14、データストローブ端子15a,15b及び電源端子16a,16bを備えている。その他、キャリブレーション端子やクロックイネーブル端子なども含まれているが、これらについては図示を省略している。
クロック端子11a,11bは、それぞれクロック信号CK,/CKが供給される端子であり、供給されたクロック信号CK,/CKは、クロック入力回路21に供給される。本明細書において信号名の先頭に「/」が付されている信号は、対応する信号の反転信号又はローアクティブな信号であることを意味する。したがって、クロック信号CK,/CKは互いに相補の信号である。クロック入力回路21の出力は、タイミング発生回路22及びDLL回路23に供給される。タイミング発生回路22は外部クロック信号CKと同じクロックサイクルを有する内部クロックICLKを生成し、これをデータ出力系の回路を除く各種内部回路に供給する役割を果たす。また、DLL回路23は出力用クロックLCLKを生成し、これをデータ出力系の回路に供給する役割を果たす。
DLL回路23が生成する出力用クロックLCLKは、クロック信号CK,/CKに対して位相制御された信号であり、リードデータDQ(及びデータストローブ信号DQS,/QDS)の位相がクロック信号CK,/CKの位相と一致するよう、クロック信号CK,/CKに対してやや位相が進められる。
コマンド端子12a〜12eは、それぞれロウアドレスストローブ信号/RAS、カラムアドレスストローブ信号/CAS、ライトイネーブル信号/WE、チップセレクト信号/CS、及びオンダイターミネーション信号ODTが供給される端子である。これらのコマンド信号は、コマンド入力回路31を介してコマンドデコーダ32に供給される。コマンドデコーダ32は、チップセレクト信号/CSがイネーブルであり、ロウアドレスストローブ信号/RAS、カラムアドレスストローブ信号/CAS、ライトイネーブル信号/WEのそれぞれの論理に対応して、8通りの複数の内部コマンド信号を生成する。コマンドデコーダ32は、更に、内部クロックICLKに同期して、コマンド信号の保持などを行うことによって、複数の内部コマンドICMDを生成する回路である。コマンド信号の保持、すなわちレイテンシのカウント動作は、コマンドデコーダ32に含まれるレイテンシカウンタ100又は200によって行われる。レイテンシカウンタ100又は200による遅延量は、モードレジスタ56に設定された設定値ALによって変化させることができる。コマンドデコーダ32によって生成された内部コマンドは、ロウ系制御回路51、カラム系制御回路52、リード制御回路53、ライト制御回路54、FIFOカウンタ55及びモードレジスタ56などに供給される。FIFOカウンタ55は、リードコマンド又はライトコマンドが発行された後、カラム系の各回路ブロックが所定のタイミングで動作するよう、各種タイミング信号を生成する回路である。
アドレス端子13は、アドレス信号ADDが供給される端子であり、供給されたアドレス信号ADDは、アドレス入力回路41を介してアドレスラッチ回路42に供給される。アドレスラッチ回路42は、内部クロックICLKに同期してアドレス信号ADDをラッチする回路である。アドレスラッチ回路42にラッチされたアドレス信号ADDのうち、ロウアドレスについてはロウ系救済回路61に供給され、カラムアドレスについてはカラム系救済回路62に供給される。また、ロウ系救済回路61には、リフレッシュカウンタ63によって生成されるロウアドレスも供給される。さらに、モードレジスタセットにエントリーしている場合には、アドレス信号ADDはモードレジスタ56に供給される。
ロウ系救済回路61は、欠陥のあるワード線を示すロウアドレスが供給された場合、本来のワード線ではなく冗長ワード線に対して代替アクセスを行うことによって、当該ロウアドレスを救済する回路である。ロウ系救済回路61の動作は、ロウ系制御回路51によって制御され、その出力はロウデコーダ71に供給される。ロウデコーダ71は、メモリセルアレイ70に含まれるいずれかのワード線WLを選択する回路である。図2に示すように、メモリセルアレイ70においては、複数のワード線WLと複数のビット線BLが交差しており、その交点にはメモリセルMCが配置されている(図2においては、1本のワード線WL、1本のビット線BL及び1個のメモリセルMCのみを示している)。ビット線BLは、それぞれ対応するセンスアンプ73に接続されている。
カラム系救済回路62は、欠陥のあるビット線を示すカラムアドレスが供給された場合、本来のビット線ではなく冗長ビット線に対して代替アクセスを行うことによって、当該カラムアドレスを救済する回路である。カラム系救済回路62の動作タイミングは、カラム系制御回路52によって制御され、その出力はカラムデコーダ72に供給される。カラムデコーダ72は、メモリセルアレイ70に含まれるいずれかのセンスアンプ73を選択する回路である。カラムデコーダ72によって選択されたセンスアンプ73は、リード動作時にはリードアンプ74に接続され、ライト動作時にはライトアンプ75に接続される。リードアンプ74の動作はリード制御回路53によって制御され、ライトアンプ75の動作はライト制御回路54によって制御される。
データ入出力端子14は、リードデータDQの出力及びライトデータDQの入力を行うための端子であり、データ出力回路81及びデータ入力回路82に接続されている。データ出力回路81は、FIFO回路83を介してリードアンプ74に接続されており、これにより、プリフェッチされた複数のリードデータDQがデータ入出力端子14からバースト出力される。また、データ入力回路82は、FIFO回路84を介してライトアンプ75に接続されており、これにより、データ入出力端子14からバースト入力された複数のライトデータDQがメモリセルアレイ70に同時に書き込まれる。
データストローブ端子15a,15bは、それぞれデータストローブ信号DQS,/QDSの入出力を行うための端子であり、データストローブ信号出力回路85及びデータストローブ信号入力回路86に接続されている。
図2に示すように、データ出力回路81及びデータストローブ信号出力回路85には、DLL回路23によって生成される出力用クロックLCLKと、FIFOカウンタ55によって生成されるタイミング信号が供給される。
電源端子16a,16bは、それぞれ電源電位VDD,VSSが供給される端子であり、内部電圧発生回路87に接続されている。内部電圧発生回路87は、各種内部電圧を生成する回路である。
以上が本実施形態による半導体装置10の全体構成である。次に、半導体装置10に含まれるレイテンシカウンタ100について説明する。
図3は、第1の実施形態によるレイテンシカウンタ100の回路図である。
図3に示すように、第1の実施形態によるレイテンシカウンタ100は、内部コマンド信号ICMD_INをラッチするレジスタ101と、レジスタ101から出力された内部コマンド信号ICMD0に1クロックサイクルのレイテンシを与えるか否かを選択する第1のレイテンシカウンタ110と、レイテンシカウンタ110から出力された内部コマンド信号に2サイクル単位でレイテンシを与える第2のレイテンシカウンタ120と、が直列接続された構成を有している。内部コマンド信号ICMD_INはコマンド入力ラインL_INを介して入力され、内部コマンド信号ICMD_OUTはコマンド出力ラインL_OUTを介して出力される。内部コマンド信号ICMD_INは、コマンドデコーダ32(図2)内で生成された8通りの複数の内部コマンド信号のいずれかの信号に相当する。内部コマンド信号ICMD_OUTは、コマンドデコーダ32が出力する複数の内部コマンドICMD(図2)のいずれかの信号に相当する。
レジスタ101(第1のレジスタ)は、入力ノードに内部コマンド信号ICMD_INが供給され、クロックノードに内部クロック信号ICLKが供給される回路であり、内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期して内部コマンド信号ICMD_INをラッチする。レジスタ101の出力ノードからは、ラッチされた内部コマンド信号ICMD0が出力される。内部コマンド信号ICMD0は、第1のレイテンシカウンタ110に供給される。
第1のレイテンシカウンタ110は、内部クロック信号ICLKに同期して内部コマンド信号ICMD0をラッチするレジスタ111(第2のレジスタ)と、レジスタ111から出力された内部コマンド信号ICMD1とレジスタ101から出力された内部コマンド信号ICMD0のいずれか一方を選択するセレクタ112(第1のセレクタ)とを備えている。レジスタ111は、入力ノードに内部コマンド信号ICMD0が供給され、クロックノードに内部クロック信号ICLKが供給される回路であり、内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期して内部コマンド信号ICMD0をラッチする回路である。レジスタ111の出力ノードからは、ラッチされた内部コマンド信号ICMD1が出力される。したがって、レジスタ111を通過した内部コマンド信号ICMD1は、1クロックサイクル遅延される。セレクタ112による選択は、第1の制御信号LEに基づいて行われる。具体的には、制御信号LEがハイレベルであれば内部コマンド信号ICMD0が選択され、制御信号LEがローレベルであれば内部コマンド信号ICMD1が選択される。セレクタ112の第1の入力ノードには、内部コマンド信号ICMD1が供給され、セレクタ112の第2の入力ノードには、内部コマンド信号ICMD0が供給される。
第2のレイテンシカウンタ120は、第1のレイテンシカウンタ110を通過した内部コマンド信号ICMD0又はICMD1(第1の信号)に2クロックサイクルの遅延を与える複数個の同期回路120−10〜120−0が、直列接続された構成を有している。
複数の同期回路120−10〜120−0のそれぞれは、クロックノードに内部クロック信号ICLKが供給されるレジスタ121,122(第3及び第4のレジスタ)と、セレクタ123(第2のセレクタ)と、第1〜第4のノードN1〜N4をそれぞれ有している。第1のノードN1はレジスタ121の入力ノードであり、第2のノードN2はセレクタ123の出力ノードであり、第3のノードN3はセレクタ123の第2の入力ノードであり、第4のノードN4はセレクタ123の選択ノードである。また、レジスタ121の出力はレジスタ122の入力ノードに供給され、レジスタ122の出力はセレクタ123の第1の入力ノードに供給される。
これにより、セレクタ123は、第1の入力ノードと第2の入力ノードのいずれか一方を第4のノードから供給される制御信号の論理によって選択し、これを第2のノードN2に出力する。具体的には、対応する制御信号L10〜L0がローレベルであればレジスタ122の出力を選択し、対応する制御信号L10〜L0がハイレベルであれば第1のレイテンシカウンタ110から出力される内部コマンド信号ICMD0又はICMD1が選択される。
これら複数の同期回路120−10〜120−0の複数の第3のノードN3のそれぞれは、セレクタ112の出力ノードに共通接続されている。これにより、これら複数の第3のノードN3には、第1のレイテンシカウンタ110を通過した内部コマンド信号ICMD0又はICMD1が共通に供給される。かかる構成により、同期回路120−10〜120−0の一つを通過するごとに、内部コマンド信号が2クロックサイクル遅延させることになる。
複数の同期回路120−10〜120−0にそれぞれ含まれる複数のセレクタ123の選択ノードには、複数の第2の制御信号L10〜L0の対応するビットがそれぞれ供給される。これにより、レイテンシカウンタ110を通過した内部コマンド信号ICMD0又はICMD1の入力先は、同期回路120−10〜120−0のいずれかとなる。
そして、最終段の同期回路120−0から出力される内部コマンド信号は、バッファ130を介し内部コマンド信号ICMD_OUTとして出力される。以上の構成により、内部コマンド信号ICMD_INに与えるレイテンシの種類は、0〜13までの値を取ることができる。
図4は、制御信号LE,L0〜L10の値とレイテンシとの関係を示す表である。
図4に示すように、レイテンシを偶数に設定する場合には制御信号LEがハイレベルに設定され、レイテンシを奇数に設定する場合には制御信号LEがローレベルに設定される。換言すれば、第1のレイテンシカウンタ110によって1クロックサイクルのカウントを行わない場合には制御信号LEがハイレベルに設定され、第1のレイテンシカウンタ110によって1クロックサイクルのカウントを行う場合には制御信号LEがローレベルに設定される。また、制御信号L0〜L10のいずれかLi(i=0〜10の偶数)を活性化させると、第2のレイテンシカウンタ120によってiクロックサイクルのカウントが行われる。
そして、これらレイテンシカウンタ110,120が直列に接続されていることから、設定可能なレイテンシは0〜13までの任意の値となる。このように、本実施形態では、設定可能なレイテンシの種類が14種類存在する一方で、レイテンシを設定するための制御信号LE,L0〜L10のビット数が7ビットで足りる。このため、制御信号の伝送に用いる配線の配線密度を低減することが可能となる。
図5は、本実施形態によるレイテンシカウンタ100の動作を説明するための波形図である。
図5に示す例では、レイテンシが5に設定されており(AL=5)、したがって制御信号LEはローレベル、制御信号L4はローレベルである(図4参照)。図5に示すように、外部クロック信号CKのアクティブエッジ0に同期してリードコマンドREADが発行されると、コマンドデコーダ32によって内部コマンド信号ICMD_INが生成される。内部コマンド信号ICMD_INは、図3に示したレジスタ101にラッチされ、これにより内部クロック信号ICLKのアクティブエッジ0に同期した内部コマンド信号ICMD0が生成される。
内部コマンド信号ICMD0は、レイテンシカウンタ110内のレジスタ111にラッチされ、内部クロック信号ICLKのアクティブエッジ1に同期した内部コマンド信号ICMD1が生成される。本例では、制御信号LEがローレベルであることから、セレクタ112は内部コマンド信号ICMD1を選択し、これをレイテンシカウンタ120に出力する。
レイテンシカウンタ120においては、制御信号L4がハイレベルに活性化していることから、最終段から2つ前の同期回路120−4に内部コマンド信号ICMD1が取り込まれることになる。したがって、最終段から1つ前の同期回路120−2と、最終段の同期回路120−0に含まれる合計4個のレジスタによって4クロックサイクルの遅延が与えられる。
その結果、レイテンシカウンタ110,120によって合計5クロックサイクルの遅延が与えられ、内部クロック信号ICLKのアクティブエッジ5に同期して内部コマンド信号ICMD_OUTが出力される。
図6は、比較例によるレイテンシカウンタ300の回路図である。
図6に示す比較例においては、レジスタ101の後段に縦続接続された13個のレジスタ301〜313と、各レジスタ301〜313の後段にそれぞれ設けられたセレクタ321〜333とが設けられている。レジスタ101,301〜313は、いずれも内部クロック信号ICLKの立ち上がりエッジに同期してラッチ動作を行う回路である。各セレクタ321〜333には、制御信号L0〜L12の対応するビットがそれぞれ供給される。制御信号L0〜L12は、いずれか1ビットのみがハイレベルとなる信号であり、ハイレベルとなった制御信号に対応するセレクタが内部コマンド信号ICMD0を選択する。
図7は、比較例のレイテンシカウンタ300における制御信号L0〜L12の値とレイテンシとの関係を示す表である。図7に示すように、比較例においては、制御信号L0〜L12のいずれか1ビットをハイレベルとすることによって、内部コマンド信号ICMD0の入力先となるレジスタを選択している。このため、設定可能なレイテンシを0〜13までの任意の値とするためには、制御信号L0〜L12のビット数が13ビット必要であり、制御信号の伝送に用いる配線数が増大する。しかも、内部コマンド信号ICMD0は、13個のセレクタ321〜333に共通に供給されるため、内部コマンド信号ICMD0を出力するレジスタ101の負荷が重くなる(ファンアウト=14)。
これに対し、上述した第1の実施形態によるレイテンシカウンタ100によれば、レイテンシを設定するための制御信号LE,L0〜L10のビット数が7ビットで足りることから、制御信号の伝送に用いる配線の配線密度を低減することが可能となる。しかも、内部コマンド信号ICMD0を共通に供給すべきセレクタ123の数が7個に削減されることから、内部コマンド信号ICMD0を出力するレジスタ101の負荷を半分に低減することが可能となる(ファンアウト=7)。かかる負荷の低減により、より高速なクロック信号を用いることが可能となる。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図8は、第2の実施形態によるレイテンシカウンタ200の回路図である。
図8に示すように、第2の実施形態によるレイテンシカウンタ200は、内部クロック信号ICLKを2分周することにより、第1及び第2の内部クロック信号ICLK0,ICLK1を生成する分周回路201を有している。したがって、内部クロック信号ICLK0,ICLK1は、外部クロック信号CKの2倍のクロックサイクルを有し、且つ、外部クロック信号CKのクロックサイクル分だけ互いに位相が異なる信号となる。
本実施形態においても、内部コマンド信号に奇数サイクルのレイテンシを与えるか否かを選択する第1のレイテンシカウンタ210と、内部コマンド信号に2サイクル単位でレイテンシを与える第2のレイテンシカウンタ220とがコマンド入力ラインL_INとコマンド出力ラインL_OUTとの間に直列接続されている。
第1のレイテンシカウンタ210は、内部コマンド信号ICMD_INを内部クロック信号ICLK0に同期してラッチする第1のレジスタ211と、内部コマンド信号ICMD_INを内部クロック信号ICLK1に同期してラッチする第2のレジスタ212と、第2のレジスタ212から出力される内部コマンド信号ICMD01を内部クロック信号ICLK0に同期してラッチする第3のレジスタ213と、第1のレジスタ211から出力される内部コマンド信号ICMD00を内部クロック信号ICLK1に同期してラッチする第4のレジスタ214を備えている。
さらに、第1のレイテンシカウンタ210には、第1のレジスタ211から出力される内部コマンド信号ICMD00と第3のレジスタ213から出力される内部コマンド信号ICMD10のいずれか一方を制御情報LEに基づいて選択するセレクタ215と、第2のレジスタ212から出力される内部コマンド信号ICMD01と第4のレジスタ214から出力される内部コマンド信号ICMD11のいずれか一方を制御情報LEに基づいて選択するセレクタ216とが備えられている。
かかる構成により、セレクタ215は、内部クロック信号ICLK0,ICLK1のいずれか一方に同期してコマンド入力ラインL_INに供給された内部コマンド信号ICMD_INを、内部クロック信号ICLK0に同期して出力することになる。同様に、セレクタ216は、内部クロック信号ICLK0,ICLK1のいずれか一方に同期してコマンド入力ラインL_INに供給された内部コマンド信号ICMD_INを、内部クロック信号ICLK1に同期して出力することになる。
ここで、第1のレジスタ211は内部クロック信号ICLK0の立ち上がりエッジに同期してラッチ動作を行い、第2のレジスタ212は内部クロック信号ICLK1の立ち上がりエッジに同期してラッチ動作を行い、第3のレジスタ213は内部クロック信号ICLK0の立ち下がりエッジに同期してラッチ動作を行い、第4のレジスタ214は内部クロック信号ICLK1の立ち下がりエッジに同期してラッチ動作を行う。
図9はレジスタ211の回路図であり、図10はレジスタ213の回路図である。
図9に示すように、レジスタ211は、内部クロック信号ICLK0がローレベルである場合にラッチ動作を行うラッチ回路211aと、内部クロック信号ICLK0がハイレベルである場合にラッチ動作を行うラッチ回路211bとが縦続接続された構成を有している。このため、入力される内部コマンド信号ICMD_INは、内部クロック信号ICLK0の立ち上がりエッジに同期して取り込まれ、内部クロック信号ICLK0の次の立ち上がりエッジまでの間、取り込んだレベルを出力する。レジスタ212についても同様である。
図10に示すように、レジスタ213は、内部クロック信号ICLK0がローレベルである場合にラッチ動作を行うラッチ回路213aによって構成されており、内部クロック信号ICLK0がハイレベルである場合にラッチ動作を行う回路部分は設けられていない。このため、入力される内部コマンド信号ICMD01は、内部クロック信号ICLK0がハイレベルである期間においてそのまま出力され、内部クロック信号ICLK0の立ち下がりエッジに同期して取り込まれる。つまり、レジスタ213はスルーラッチ型のレジスタである。レジスタ214についても同様である。
ここで、レジスタ213,214の動作を内部クロック信号ICLK0又はICLK1の立ち下がりエッジに同期させているのは、これらレジスタ213,214のラッチマージンを1クロックサイクル超に拡大するためである。つまり、レジスタ213,214の動作を内部クロック信号ICLK0又はICLK1の立ち上がりエッジに同期させると、レジスタ213,214のラッチマージンが1クロックサイクルとなるが、本実施形態のように、立ち下がりエッジに同期させれば、内部コマンド信号ICMD01をレジスタ213にラッチするためのマージン、及び、内部コマンド信号ICMD00をレジスタ214にラッチするためのマージンは、1.5クロックサイクルとなる。
第2のレイテンシカウンタ220は、セレクタ215の出力を受ける第1のパス220Aと、セレクタ216の出力を受ける第2のパス220Bとを有している。これらのパス220A,220Bの出力はORゲート回路230に供給され、コマンド出力ラインL_OUTから内部コマンド信号ICMD_OUTとして出力される。
第1のパス220Aは、内部クロック信号ICLK0に同期して内部コマンド信号をラッチする複数の第1の同期回路が縦続接続された構成を有している。同様に、第2のパス220Bは、内部クロック信号ICLK1に同期して内部コマンド信号をラッチする複数の第2の同期回路が縦続接続された構成を有している。
第1のパス220Aを構成する各同期回路は、レジスタ221Aとセレクタ222Aからなり、セレクタ222Aの一方の入力ノードにはレジスタ221Aの出力が供給され、他方の入力ノードにはセレクタ215の出力が供給される。同様に、第2のパス220Bを構成する各同期回路は、レジスタ221Bとセレクタ222Bからなり、セレクタ222Bの一方の入力ノードにはレジスタ221Bの出力が供給され、他方の入力ノードにはセレクタ216の出力が供給される。
第1のパス220Aに含まれる複数のセレクタ222A及び第2のパス220Bに含まれる複数のセレクタ222Bには、制御信号L0〜L10の対応するビットが供給され、その論理レベルに基づいて入力ノードが選択される。具体的には、制御信号L0〜L10の対応するビットがローレベルである場合にはレジスタ221A,221Bの出力を選択し、制御信号L0〜L10の対応するビットがハイレベルである場合にはセレクタ215,216の出力を選択する。制御信号L0〜L10は、1ビットのみがハイレベルに活性化される信号である。
かかる構成により、第1のパス220Aにおいてはセレクタ215の出力をいずれの同期回路に入力するのか制御信号L0〜L10に基づいて選択され、第2のパス220Bにおいてはセレクタ216の出力をいずれの同期回路に入力するのか制御信号L0〜L10に基づいて選択されることになる。換言すれば、セレクタ215,216の出力を通過させる同期回路の段数が制御信号L0〜L10に基づいて選択される。同期回路に含まれるレジスタ221A,221Bのクロックノードには、それぞれ分周された内部クロック信号ICLK0,ICLK1が供給されていることから、1段分の同期回路によって2クロックサイクルの遅延が与えられることになる。
制御信号LE,L0〜L10の値と、得られるレイテンシとの関係は図4に示した通りである。つまり、レイテンシを偶数に設定する場合には制御信号LEがハイレベルに設定され、レイテンシを奇数に設定する場合には制御信号LEがローレベルに設定される。また、制御信号L0〜L10のいずれかLi(i=0〜10の偶数)を活性化させると、第2のレイテンシカウンタ220によってiクロックサイクルのカウントが行われる。そして、これらレイテンシカウンタ210,220が直列に接続されていることから、設定可能なレイテンシは0〜13までの任意の値となる。
図11は、本実施形態によるレイテンシカウンタ200の動作を説明するための波形図である。
図11に示す例では、レイテンシが5に設定されており(AL=5)、したがって制御信号LEはローレベル、制御信号L4はローレベルである(図4参照)。図11に示すように、内部クロック信号ICLK0は外部クロック信号CKの偶数エッジに同期して活性化し、内部クロック信号ICLK1は外部クロック信号CKの奇数エッジに同期して活性化する。内部クロック信号ICLK0,ILCK1がハイレベルである期間は、外部クロック信号CKのハイレベルである期間に等しい。このため、内部クロック信号ICLK0,ICLK1の一方の立ち上がりエッジから、内部クロック信号ICLK0,ICLK1の他方の立ち下がりエッジまでの期間は、外部クロック信号CKの1.5クロックサイクルとなる。
外部クロック信号CKのアクティブエッジ0に同期してリードコマンドREADが発行されると、コマンドデコーダ32によって内部コマンド信号ICMD_INが生成される。内部コマンド信号ICMD_INは、図8に示したレジスタ211にラッチされ、これにより内部クロック信号ICLK0のアクティブエッジ0に同期した内部コマンド信号ICMD00が生成される。
内部コマンド信号ICMD00は、レジスタ214に供給され、内部クロック信号ICLK1の立ち下がりエッジに同期してラッチされ、内部コマンド信号ICMD11として出力される。図11においては、内部クロック信号ICLK1の立ち上がりエッジに同期して内部コマンド信号ICMD11が出力されているが、これは、レジスタ214がスルーラッチ型のレジスタであり、内部クロック信号ICLK1がハイレベルである期間は入力された信号をそのまま出力するからである。
レジスタ214から出力された内部コマンド信号ICMD11は、セレクタ216を介してレイテンシカウンタ220に含まれる第2のパス220Bに供給される。レイテンシカウンタ220においては、制御信号L4がハイレベルに活性化していることから、最終段から2つ前の同期回路220−4Bに内部コマンド信号ICMD11が取り込まれることになる。したがって、最終段から1つ前の同期回路220−2Bと、最終段の同期回路220−0Bに含まれる合計4個のレジスタによって4クロックサイクルの遅延が与えられる。
その結果、レイテンシカウンタ210,220によって合計5クロックサイクルの遅延が与えられ、外部クロック信号CKのアクティブエッジ5に同期して内部コマンド信号ICMD_OUTが出力される。
このように、本実施形態によれば、第1の実施形態による効果に加え、分周された内部クロック信号ICLK0,ICLK1を用いていることから、各レジスタにおける消費電力が半分に低減される。その結果、レイテンシカウンタ全体の消費電力を低減させることが可能となる。しかも、各レジスタ間の転送が基本的に2クロックサイクルとなり、最もマージンの小さい区間においても1.5クロックサイクルとなることから、より高速なクロック信号を用いることが可能となる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
例えば、上記各実施形態では、第1のレイテンシカウンタ110,210と第2のレイテンシカウンタ120,220がこの順に直列接続されているが、接続順序がこれに限定されるものではない。したがって、実施形態とは逆に、第2のレイテンシカウンタ120,220と第1のレイテンシカウンタ110,210をこの順に直列接続しても構わない。
また、上記各実施形態では、第2のレイテンシカウンタ120,220において、入力先となる同期回路をセレクタによって選択しているが、図12の第1の実施形態の第1の変形例の様に各同期回路からの出力をセレクタによって選択しても構わない。図12(a)において、レイテンシカウンタ300は、第1のレイテンシカウンタ110、同期回路220、及びセレクタ500を有する。同期回路220は、それぞれが、入力先となるセレクタ、セレクタの出力先となるレジスタを含む、複数の同期回路を含む。セレクタ500は、同期回路220の出力と、複数の同期回路220−0〜210−10がそれぞれ有する複数のセレクタの複数の第2の出力ノードと、を入力とし、内部コマンド信号ICMD_OUTを出力する。複数の第2の出力ノードは、互いに共通な一つのノードである。セレクタ500は、第3の制御信号LFによって、同期回路220の出力と、複数の第2の出力ノードとのいずれか一方を、入力として選択する。図12(b)が示す制御信号LE,複数の信号L0〜L10,第3の制御信号LFの真理値表から理解できるように、第3の制御信号LFはレイテンシ0〜11までHighに制御され、レイテンシ12と13においてLowに制御される。
また、上記各実施形態では、第1のレイテンシカウンタ110,210において1クロックサイクルの遅延を与えるか否かを選択することにより、偶数レイテンシ又は奇数レイテンシの選択を行っているが、最小レイテンシが2以上であり、且つ半導体装置の有効なレイテンシの設定が2〜13の1ずつのレイテンシのステップであれば、第1のレイテンシカウンタ110,210において3クロックサイクルの遅延を与えるか5クロックサイクルの遅延を与えるか否かを選択することにより、偶数レイテンシ又は奇数レイテンシの選択を行っても構わない。例えば、図13の第1の実施形態の第2の変形例(レイテンシカウンタ400)の様に、第1のレイテンシカウンタ310において3クロックサイクルの遅延を与える場合、レイテンシのステップは、0、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、15となる。例えば、第1のレイテンシカウンタ110において5クロックサイクルの遅延を与える場合、レイテンシのステップは、0、2、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、15、17となる。つまり、第1のレイテンシカウンタ110,210は、入力された内部コマンド信号に奇数サイクルのレイテンシを与えるか否かを選択するものであれば、その遅延量は問わない。
また、例えば図14の第1の実施形態の第3の変形例(レイテンシカウンタ500)の様に、レジスタ101を2つ直列に接続する構成により、内部コマンド信号ICMD_INに与えるレイテンシの種類は、レイテンシが1ステップ毎で1〜14までの値を取ることができる。例えば、レジスタ101を5つ直列に接続する構成により、内部コマンド信号ICMD_INに与えるレイテンシの種類は、レイテンシが1ステップ毎で4〜17までの値を取ることができる。つまり、複数のレジスタ101は、レイテンシにオフセットを掛けることを意味する。このため、レイテンシカウンタ100の面積と制御信号の伝送に用いる配線の配線密度を、更に低減することが可能となる。
また、例えば図15の第1の実施形態の第4の変形例(レイテンシカウンタ600)の様に、レジスタ101を5つ直列に接続し、且つ4個の同期回路120−6〜120−0に変更すれば、内部コマンド信号ICMD_INに与えるレイテンシの種類は、レイテンシが1ステップ毎で4〜13までの値を取ることができる。つまり、レイテンシの種類が0〜3を不要とする(つまり、最小レイテンシが4以上)場合、複数のレジスタ101のオフセットが、同期回路120の数を低減させる。これは、第1の実施形態に比べて制御信号LE,L0〜L10の7ビット数(LE,L0,L2,L4,L6,L8,L10)が5ビット(LE,L0,L2,L4,L6)で足りることを示す。このため、レイテンシカウンタ100の面積と制御信号の伝送に用いる配線の配線密度を、更に低減することが可能となる。
また、例えば図16(a)の第1の実施形態の第5の変形例(レイテンシカウンタ700)の様に、第1の制御信号LEを対応するレジスタ311のクロックドインバータの制御とし、更に、複数の第2の制御信号L0〜Lnを、それぞれ対応する複数のレジスタ321、322のクロックドインバータの制御とする構成により、第1のレイテンシカウンタ110及び第2のレイテンシカウンタ120の消費電力を、それぞれ低減することができる。第1の制御信号LEがHighを示すとき、レジスタ311はシフティングを停止する。複数の第2の制御信号L0〜LnがHighを示すとき、それぞれ対応する複数のレジスタ321、322はシフティングを停止する。尚、レジスタ311、複数のレジスタ321、322の回路を図16(b)に示す。第1の制御信号LEまたは複数の第2の制御信号L0〜Lnが、内部クロック信号ICLKを制御し、ラッチ回路への内部クロック信号ICLKの供給を停止する。尚、複数の第2の制御信号L0〜Lnのそれぞれは、レジスタ321のみへの供給でもよい。更に、第2の実施形態へ適用できることは、いうまでもない。
また、上述した第2の実施形態では、2分周した内部クロック信号ICLK0,ICLK1を用いることによって、2つのパス220A,220B内の転送動作をそれぞれ2クロックサイクル単位で行っているが、4分周以上の内部クロック信号と4以上のパスを用い、各パス内の転送動作をそれぞれ4クロックサイクル単位以上で行っても構わない。
本願の技術思想は、様々なレイテンシ制御(リードコマンド、ライトコマンド、ODTコマンド等)の回路に適用できる。更に、図面で開示した各回路ブロック内の回路形式、その他の制御信号を生成する回路は、実施例が開示する回路形式限られない。
本発明の半導体装置の技術思想は、様々な半導体装置に適用することができる。例えば、CPU(Central Processing Unit)、MCU(Micro Control Unit)、DSP(Digital Signal Processor)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、ASSP(Application Specific Standard Product)、メモリ(Memory)等の半導体装置全般に、本発明を適用することができる。このような本発明が適用された半導体装置の製品形態としては、例えば、SOC(システムオンチップ)、MCP(マルチチップパッケージ)やPOP(パッケージオンパッケージ)などが挙げられる。これらの任意の製品形態、パッケージ形態を有する半導体装置に対して本発明を適用することができる。
また、トランジスタとして電界効果トランジスタ(Field Effect Transistor; FET)を用いる場合には、MOS(Metal Oxide Semiconductor)以外にもMIS(Metal-Insulator Semiconductor)、TFT(Thin Film Transistor)等の様々なFETに適用できる。更に、装置内に一部のバイポーラ型トランジスタを有しても良い。
更に、NMOSトランジスタ(N型チャネルMOSトランジスタ)は、第1導電型のトランジスタ、PMOSトランジスタ(P型チャネルMOSトランジスタ)は、第2導電型のトランジスタの代表例である。
また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素の多様な組み合わせないし選択が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
1 第1のレイテンシカウンタ
1a,2a レジスタ
1b,2b セレクタ
2 第2のレイテンシカウンタ
2−0〜2−n 同期回路
10 半導体装置
11a,11b クロック端子
12a〜12e コマンド端子
13 アドレス端子
14 データ入出力端子
15a,15b データストローブ端子
16a,16b 電源端子
21 クロック入力回路
22 タイミング発生回路
23 DLL回路
31 コマンド入力回路
32 コマンドデコーダ
41 アドレス入力回路
42 アドレスラッチ回路
51 ロウ系制御回路
52 カラム系制御回路
53 リード制御回路
54 ライト制御回路
55 FIFOカウンタ
56 モードレジスタ
61 ロウ系救済回路
62 カラム系救済回路
63 リフレッシュカウンタ
70 メモリセルアレイ
71 ロウデコーダ
72 カラムデコーダ
73 センスアンプ
74 リードアンプ
75 ライトアンプ
81 データ出力回路
82 データ入力回路
83,84 FIFO回路
85 データストローブ信号出力回路
86 データストローブ信号入力回路
87 内部電圧発生回路
100,200 ,300,400,500 レイテンシカウンタ
101,111,121,122,311,321,322 レジスタ
112 セレクタ
110,210,310 第1のレイテンシカウンタ
120,220 第2のレイテンシカウンタ
120−0〜120−n,220−0〜220−n,220,320 同期回路
123,500 セレクタ
130 バッファ
201 分周回路
211〜214 レジスタ
211a,211b,213a ラッチ回路
214 レジスタ
215,216 セレクタ
220−0A〜220−nA,220−0B〜220−nB 同期回路
220A,220B パス
221A,221B レジスタ
222A,222B セレクタ
230 ORゲート回路
L_IN コマンド入力ライン
L_OUT コマンド出力ライン
LE 第1の制御信号
L0,L2,L4,L6,L8,L10 第2の制御信号
LF 第3の制御信号

Claims (22)

  1. 内部コマンド信号が供給される第1のレジスタと、
    前記第1のレジスタの出力が供給される第2のレジスタと、
    前記第1と第2のレジスタの夫々の出力のうちいずれか一方の出力を、レイテンシ情報を有する複数の情報信号のうちの第1の制御信号に対応して、第1の信号として出力ノードから出力する第1のセレクタと、
    第3のレジスタ、第4のレジスタ、第2のセレクタ、及び第1乃至第4のノードをそれぞれ有する複数の同期回路と、を備え、
    前記第1のノードは、前記第3のレジスタの入力ノードに接続し、
    前記第2のノードは、前記第2のセレクタの出力ノードに接続し、
    前記第3のレジスタの出力は、前記第4のレジスタの入力ノードに供給し、
    前記第4のレジスタの出力は、前記第2のセレクタの第1の入力ノードに供給し、
    前記第3のノードは、前記第2のセレクタの第2の入力ノードに接続し、
    前記第4のノードは、前記第2のセレクタの第3の入力ノードに接続し、よって前記第2のセレクタが前記第1の入力ノードと前記第2の入力ノードのいずれか一方のノードを、前記第4のノードの論理によって、前記第2のノードに接続し、
    前記複数の同期回路が有する複数の前記第3のノードのそれぞれは、前記第1のセレクタの出力ノードに共通接続し、よって、前記第1の信号が共通に供給され、
    前記複数の同期回路が有する複数の前記第4のノードは、前記複数の情報信号のうち前記第1の制御信号と異なり、更にそれぞれ異なる複数の第2の制御信号が供給され、
    前記複数の同期回路のうち第1ステージである第1の同期回路が有する前記第1のノードは、前記第1のセレクタの出力ノードに接続し、
    前記第1の同期回路が有する前記第2のノードは、前記複数の同期回路のうち第2ステージである第2の同期回路が有する前記第1のノードに接続し、
    前記第1乃至第4のレジスタは、同期信号に応答して前記内部コマンド信号を伝送するシフトレジスタであり、
    前記第1と第2のレジスタは、同期信号の2サイクルによって前記内部コマンド信号を伝送し、
    前記第3と第4のレジスタは、同期信号の2サイクルによって前記内部コマンド信号を伝送する、半導体装置。
  2. 前記第1の制御信号は、前記レイテンシ情報が偶数サイクルであるか奇数サイクルであるかを示す信号であり、
    前記複数の第2の制御信号は、前記レイテンシ情報をそれぞれ2サイクル単位で示す信号である、ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記複数の第2の制御信号は、それぞれ対応する前記複数の同期回路に供給され、
    前記複数の同期回路のそれぞれは、対応する前記複数の第2の制御信号の論理に従って、前記同期信号の遷移によらずシフト動作を非活性にする、ことを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記同期信号は、外部から供給される外部クロック信号のクロックサイクルと等しい、ことを特徴とする請求項2または3に記載の半導体装置。
  5. 外部から発行される外部コマンド信号に基づいて前記内部コマンド信号を生成するコマンドデコーダをさらに備える、ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の半導体装置。
  6. 複数のメモリセルを有するメモリセルアレイと、
    前記メモリセルアレイに対してロウアクセスを行うタイミングを制御するロウ系制御回路と、
    前記メモリセルアレイに対してカラムアクセスを行うタイミングを制御するカラム系制御回路と、をさらに備え、
    前記カラム系制御回路は、前記複数の同期回路の最終ステージから出力される内部コマンド信号に応答して動作する、ことを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
  7. 内部コマンド信号が入力されるコマンド入力ラインと、
    所定のレイテンシ後に前記内部コマンド信号が出力されるコマンド出力ラインと、
    第1及び第2のレイテンシカウンタと、を備え、
    前記第1及び第2のレイテンシカウンタは、前記コマンド入力ラインと前記コマンド出力ラインとの間に直列に接続され、前記コマンド入力ラインから入力された前記内部コマンド信号に前記所定のレイテンシを与えて前記コマンド出力ラインから出力し、
    前記第1のレイテンシカウンタは、第1の制御情報に基づいて、前記内部コマンド信号に奇数サイクルのレイテンシを与えるか否かを選択し、
    前記第2のレイテンシカウンタは、第2の制御情報に基づいて、前記内部コマンド信号に2サイクル単位でレイテンシを与える、ことを特徴とする半導体装置。
  8. 前記所定のレイテンシは、外部から供給される外部クロック信号のクロックサイクルの整数倍である、ことを特徴とする請求項7に記載の半導体装置。
  9. 前記第1のレイテンシカウンタは、前記外部クロック信号と同じクロックサイクルを有する内部クロック信号に同期して前記内部コマンド信号をラッチする第1のレジスタと、前記第1のレジスタを通過した内部コマンド信号及び前記第1のレジスタを通過していない前記内部コマンド信号のいずれか一方を選択する第1のセレクタと、を含む、ことを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
  10. 前記第2のレイテンシカウンタは、複数の同期回路を含み、
    前記複数の同期回路のそれぞれは、前記内部クロック信号に同期して前記内部コマンド信号をラッチする縦続に接続された第2及び第3のレジスタを含む、ことを特徴とする請求項9に記載の半導体装置。
  11. 前記第2のレイテンシカウンタは、前記複数の同期回路のそれぞれに対応して、前記第2及び第3のレジスタを通過させる内部コマンド信号及び前記第2及び第3のレジスタを通過させない前記内部コマンド信号のいずれか一方を、それぞれ対応する複数の前記第2の制御情報に基づいて選択する複数の第2のセレクタを、さらに備える、ことを特徴とする請求項10に記載の半導体装置。
  12. 前記複数の同期回路及び前記複数の第2のセレクタは、それぞれが一つの同期回路及び一つの第2のセレクタを一つのセットとして、縦続に接続され、
    前記複数の第2のセレクタは、前記第2のレイテンシカウンタに供給された内部コマンド信号を、前記複数の同期回路のうちでいずれの同期回路に供給するか前記複数の第2の制御情報に基づいて選択する、ことを特徴とする請求項11に記載の半導体装置。
  13. 前記外部クロック信号の2倍のクロックサイクルを有し、前記外部クロック信号のクロックサイクル分だけ互いに位相が異なる第1及び第2の内部クロック信号を生成する分周回路を、さらに備え、
    前記第1のレイテンシカウンタは、
    前記第1及び第2の内部クロック信号のいずれか一方に同期して前記コマンド入力ラインから取り込んだ内部コマンド信号を、前記第1の制御信号に同期して出力する第1のセレクタと、
    前記第1及び第2の内部クロック信号のいずれか他方に同期して前記コマンド入力ラインから取り込んだ内部コマンド信号を、前記第1の制御信号に同期して出力する第2のセレクタと、を含む、ことを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
  14. 前記第1のレイテンシカウンタは、
    前記コマンド入力ラインに供給された前記内部コマンド信号を前記第1の内部クロック信号に同期してラッチする第1のレジスタと、
    前記コマンド入力ラインに供給された前記内部コマンド信号を前記第2の内部クロック信号に同期してラッチする第2のレジスタと、
    前記第2のレジスタから出力される内部コマンド信号を前記第1の内部クロック信号に同期してラッチする第3のレジスタと、
    前記第1のレジスタから出力される内部コマンド信号を前記第2の内部クロック信号に同期してラッチする第4のレジスタと、をさらに含み、
    前記第1のセレクタは、前記第1の制御情報に基づいて、前記第1及び第3のレジスタからそれぞれ出力される複数の内部コマンド信号のいずれか一方を選択し、
    前記第2のセレクタは、前記第1の制御情報に基づいて、前記第2及び第4のレジスタからそれぞれ出力される複数の内部コマンド信号のいずれか一方を選択する、ことを特徴とする請求項13に記載の半導体装置。
  15. 前記第1のレジスタは、前記第1の内部クロック信号の一方のアクティブエッジに同期してラッチ動作を行い、
    前記第2のレジスタは、前記第2の内部クロック信号の一方のアクティブエッジに同期してラッチ動作を行い、
    前記第3のレジスタは、前記第1の内部クロック信号の他方のアクティブエッジに同期してラッチ動作を行い、
    前記第4のレジスタは、前記第2の内部クロック信号の他方のアクティブエッジに同期してラッチ動作を行う、ことを特徴とする請求項14に記載の半導体装置。
  16. 前記第3のレジスタは、前記第1の内部クロック信号の前記一方のアクティブエッジから前記他方のアクティブエッジまでの期間、前記第3のレジスタの入力ノードに供給される内部コマンド信号を、前記第3のレジスタの出力ノードにそのまま出力するスルーラッチ型のレジスタであり、
    前記第4のレジスタは、前記第2の内部クロック信号の前記一方のアクティブエッジから前記他方のアクティブエッジまでの期間、前記第4のレジスタの入力ノードに供給される内部コマンド信号を、前記第4のレジスタの出力ノードにそのまま出力するスルーラッチ型のレジスタである、ことを特徴とする請求項15に記載の半導体装置。
  17. 前記第2のレイテンシカウンタは、複数の第1の同期回路、複数の第2の同期回路、複数の第3のセレクタ及び複数の第4のセレクタを含み、
    前記複数の第1の同期回路及び前記複数の第3のセレクタは、それぞれが一つの同期回路及び一つの第2のセレクタを一つのセットとして、縦続に接続され、
    前記複数の第2の同期回路及び前記複数の第4のセレクタは、それぞれが一つの同期回路及び一つの第2のセレクタを一つのセットとして、縦続に接続され、
    前記複数の第1の同期回路は、前記第1の内部クロック信号に同期してそれぞれ対応する第1の同期回路に供給される内部コマンド信号をラッチし、
    前記複数の第2の同期回路は、前記第2の内部クロック信号に同期してそれぞれ対応する第2の同期回路に供給される内部コマンド信号をラッチし、
    前記複数の第3のセレクタのそれぞれは、対応する第1の同期回路を通過させる内部コマンド信号及び対応する第1の同期回路を通過させない内部コマンド信号のいずれか一方を、対応する前記第2の制御情報に基づいて選択し、
    前記複数の第4のセレクタのそれぞれは、対応する第2の同期回路を通過させる内部コマンド信号及び対応する第2の同期回路を通過させない内部コマンド信号のいずれか一方を、対応する前記第2の制御情報に基づいて選択する、ことを特徴とする請求項13乃至16のいずれか一項に記載の半導体装置。
  18. 前記複数の第3のセレクタは、前記第1のセレクタが出力する内部コマンド信号を、前記複数の第1の同期回路のいずれに供給するか、前記複数の第2の制御情報に基づいて選択し、
    前記複数の第4のセレクタは、前記第2のセレクタが出力する内部コマンド信号を、前記複数の第2の同期回路のいずれに供給するか、前記複数の第2の制御情報に基づいて選択する、ことを特徴とする請求項17に記載の半導体装置。
  19. 外部から発行される外部コマンド信号に基づいて前記内部コマンド信号を生成するコマンドデコーダをさらに備える、ことを特徴とする請求項7乃至18のいずれか一項に記載の半導体装置。
  20. 複数のメモリセルを有するメモリセルアレイと、
    前記メモリセルアレイに対してロウアクセスを行うタイミングを制御するロウ系制御回路と、
    前記メモリセルアレイに対してカラムアクセスを行うタイミングを制御するカラム系制御回路と、をさらに備え、
    前記カラム系制御回路は、前記コマンド出力ラインから出力される内部コマンド信号に応答して動作する、ことを特徴とする請求項19に記載の半導体装置。
  21. 前記複数の第2の制御信号は、それぞれ対応する前記複数の同期回路に供給され、
    前記複数の同期回路のそれぞれは、対応する前記複数の第2の制御信号の論理に従って、前記内部クロック信号の遷移によらずその動作を非活性にする、ことを特徴とする請求項11に記載の半導体装置。
  22. 前記複数の第2の制御信号は、それぞれ対応する前記複数の第1の同期回路及び前記複数の第2の同期回路に供給され、
    前記複数の第1の同期回路のそれぞれ及び前記複数の第2の同期回路のそれぞれは、対応する前記複数の第2の制御信号の論理に従って、対応する前記第1の内部クロック信号及び前記第2の内部クロック信号の遷移によらずその動作を非活性にする、ことを特徴とする請求項17に記載の半導体装置。
JP2010257323A 2010-11-17 2010-11-17 半導体装置 Ceased JP2012108979A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010257323A JP2012108979A (ja) 2010-11-17 2010-11-17 半導体装置
US13/317,598 US8611177B2 (en) 2010-11-17 2011-10-24 Semiconductor device including latency counter
US14/088,254 US9142276B2 (en) 2010-11-17 2013-11-22 Semiconductor device including latency counter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010257323A JP2012108979A (ja) 2010-11-17 2010-11-17 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012108979A true JP2012108979A (ja) 2012-06-07

Family

ID=46047662

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010257323A Ceased JP2012108979A (ja) 2010-11-17 2010-11-17 半導体装置

Country Status (2)

Country Link
US (2) US8611177B2 (ja)
JP (1) JP2012108979A (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012108979A (ja) * 2010-11-17 2012-06-07 Elpida Memory Inc 半導体装置
JP2013069360A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Elpida Memory Inc 半導体装置及びデータ処理システム
US8928387B2 (en) 2013-05-10 2015-01-06 Laurence H. Cooke Tunable clock distribution system
US9171600B2 (en) 2013-09-04 2015-10-27 Naoki Shimizu Semiconductor memory device
KR102422583B1 (ko) * 2016-03-17 2022-07-20 에스케이하이닉스 주식회사 레이턴시 제어 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치
US10515683B2 (en) * 2018-01-29 2019-12-24 Micron Technology, Inc. Semiconductor device providing an output in response to a read command or a mode-register read command
KR102591123B1 (ko) * 2018-07-16 2023-10-19 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
KR20200056731A (ko) * 2018-11-15 2020-05-25 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62223900A (ja) * 1986-03-26 1987-10-01 Hitachi Ltd 可変遅延段数シフトレジスタ
JPH041994A (ja) * 1990-04-18 1992-01-07 Fujitsu Ltd 可変長シフトレジスタ回路
JPH05258589A (ja) * 1992-03-10 1993-10-08 Fujitsu General Ltd 可変長シフトレジスタ
JP2007141439A (ja) * 2005-11-19 2007-06-07 Samsung Electronics Co Ltd レイテンシー制御回路及びその方法、そして、自動プリチャージ制御回路及びその方法
JP2009020932A (ja) * 2007-07-10 2009-01-29 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1011966A (ja) * 1996-06-27 1998-01-16 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置および同期型メモリモジュール
JPH10228772A (ja) * 1997-02-18 1998-08-25 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
JP3727778B2 (ja) * 1998-05-07 2005-12-14 株式会社東芝 データ高速転送同期システム及びデータ高速転送同期方法
JP2000148656A (ja) * 1998-11-09 2000-05-30 Mitsubishi Electric Corp メモリシステム
US6266750B1 (en) * 1999-01-15 2001-07-24 Advanced Memory International, Inc. Variable length pipeline with parallel functional units
US6636978B1 (en) * 1999-11-17 2003-10-21 International Business Machines Corporation Rescheduling data input and output commands for bus synchronization by using digital latency shift detection
JP4828203B2 (ja) * 2005-10-20 2011-11-30 エルピーダメモリ株式会社 同期型半導体記憶装置
JP5474315B2 (ja) * 2008-05-16 2014-04-16 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP5456275B2 (ja) * 2008-05-16 2014-03-26 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル カウンタ回路、レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
US7715272B2 (en) 2008-05-22 2010-05-11 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device having latency counter
US7864623B2 (en) * 2008-05-22 2011-01-04 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device having latency counter
JP2011060354A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2011060353A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2011060355A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
KR20110052941A (ko) * 2009-11-13 2011-05-19 삼성전자주식회사 어디티브 레이턴시를 가지는 반도체 장치
JP2012108979A (ja) * 2010-11-17 2012-06-07 Elpida Memory Inc 半導体装置
KR101959338B1 (ko) * 2012-07-04 2019-07-04 에스케이하이닉스 주식회사 레이턴시 제어 회로 및 그를 포함하는 반도체 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62223900A (ja) * 1986-03-26 1987-10-01 Hitachi Ltd 可変遅延段数シフトレジスタ
JPH041994A (ja) * 1990-04-18 1992-01-07 Fujitsu Ltd 可変長シフトレジスタ回路
JPH05258589A (ja) * 1992-03-10 1993-10-08 Fujitsu General Ltd 可変長シフトレジスタ
JP2007141439A (ja) * 2005-11-19 2007-06-07 Samsung Electronics Co Ltd レイテンシー制御回路及びその方法、そして、自動プリチャージ制御回路及びその方法
JP2009020932A (ja) * 2007-07-10 2009-01-29 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム

Also Published As

Publication number Publication date
US20120120754A1 (en) 2012-05-17
US20140078852A1 (en) 2014-03-20
US8611177B2 (en) 2013-12-17
US9142276B2 (en) 2015-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9142276B2 (en) Semiconductor device including latency counter
US9281052B2 (en) Semiconductor device having data terminal supplied with plural write data in serial
US10534394B2 (en) Apparatuses and methods for providing internal memory commands and control signals in semiconductor memories
US20130141994A1 (en) Semiconductor device having skew detection circuit measuring skew between clock signal and data strobe signal
US8867301B2 (en) Semiconductor device having latency counter to control output timing of data and data processing system including the same
JPH10199239A (ja) 半導体記憶装置システム及び半導体記憶装置
JP2012104195A (ja) 半導体装置及びこれを備える情報処理システム
JP2011060385A (ja) 半導体装置及びその制御方法並びにデータ処理システム
JP2009277305A (ja) レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2011060353A (ja) レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2009140322A (ja) タイミング制御回路および半導体記憶装置
JP2011108300A (ja) 半導体装置及びその制御方法並びに半導体装置を備えたデータ処理システム
JP5595240B2 (ja) 半導体装置
US8890584B2 (en) Semiconductor device having gear down mode, method of controlling same, and information processing system
JP5666077B2 (ja) アドレスカウンタ及びこれを有する半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2012105126A (ja) 半導体装置
JP2011146101A (ja) 半導体装置、データ伝送システム、及び半導体装置の制御方法
JP2011060355A (ja) レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2011060354A (ja) レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2014158200A (ja) 半導体装置
US8653874B2 (en) Semiconductor device generates complementary output signals
JP5661208B2 (ja) レイテンシカウンタ
US8384433B2 (en) Semiconductor device generating complementary output signals
JP2015170376A (ja) 半導体装置及びこれを備える情報処理システム
KR20080047027A (ko) 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20130730

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130822

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20131031

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140326

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140422

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140718

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150203

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20150507

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20150602

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150803

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160112

A045 Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment]

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045

Effective date: 20160531