JP2012103239A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012103239A5
JP2012103239A5 JP2011217174A JP2011217174A JP2012103239A5 JP 2012103239 A5 JP2012103239 A5 JP 2012103239A5 JP 2011217174 A JP2011217174 A JP 2011217174A JP 2011217174 A JP2011217174 A JP 2011217174A JP 2012103239 A5 JP2012103239 A5 JP 2012103239A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
stripe pattern
subject
reflected
reliability
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011217174A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP5907596B2 (ja
JP2012103239A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2011217174A priority Critical patent/JP5907596B2/ja
Priority claimed from JP2011217174A external-priority patent/JP5907596B2/ja
Publication of JP2012103239A publication Critical patent/JP2012103239A/ja
Publication of JP2012103239A5 publication Critical patent/JP2012103239A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5907596B2 publication Critical patent/JP5907596B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2011217174A 2010-10-12 2011-09-30 三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム Expired - Fee Related JP5907596B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011217174A JP5907596B2 (ja) 2010-10-12 2011-09-30 三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010229531 2010-10-12
JP2010229531 2010-10-12
JP2011217174A JP5907596B2 (ja) 2010-10-12 2011-09-30 三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012103239A JP2012103239A (ja) 2012-05-31
JP2012103239A5 true JP2012103239A5 (enExample) 2014-11-13
JP5907596B2 JP5907596B2 (ja) 2016-04-26

Family

ID=45925807

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011217174A Expired - Fee Related JP5907596B2 (ja) 2010-10-12 2011-09-30 三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9007602B2 (enExample)
JP (1) JP5907596B2 (enExample)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5611022B2 (ja) * 2010-12-20 2014-10-22 キヤノン株式会社 三次元計測装置及び三次元計測方法
US8550349B2 (en) * 2011-08-25 2013-10-08 International Business Machines Corporation System for recovering a barcode
JP6061616B2 (ja) * 2012-10-29 2017-01-18 キヤノン株式会社 測定装置及びその制御方法、プログラム
JP6161276B2 (ja) * 2012-12-12 2017-07-12 キヤノン株式会社 測定装置、測定方法、及びプログラム
JP6242098B2 (ja) * 2013-07-16 2017-12-06 株式会社キーエンス 三次元画像処理装置、三次元画像処理方法及び三次元画像処理プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器
US9799117B2 (en) 2013-09-30 2017-10-24 Lenovo (Beijing) Co., Ltd. Method for processing data and apparatus thereof
CN104751436B (zh) * 2013-12-27 2017-12-26 联想(北京)有限公司 一种信息处理的方法及一种电子设备
CN105829829B (zh) * 2013-12-27 2019-08-23 索尼公司 图像处理装置和图像处理方法
JP6320051B2 (ja) * 2014-01-17 2018-05-09 キヤノン株式会社 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法
JP6434788B2 (ja) * 2014-03-06 2018-12-05 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカＰａｎａｓｏｎｉｃ Ｉｎｔｅｌｌｅｃｔｕａｌ Ｐｒｏｐｅｒｔｙ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ ｏｆ Ａｍｅｒｉｃａ 計測システム、計測方法およびビジョンチップ
JP6422362B2 (ja) 2014-05-22 2018-11-14 キヤノン株式会社 画像読取装置、画像読取方法、及びプログラム
JP6337614B2 (ja) * 2014-05-23 2018-06-06 セイコーエプソン株式会社 制御装置、ロボット、及び制御方法
JP6412372B2 (ja) * 2014-09-02 2018-10-24 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理システム、情報処理装置の制御方法およびプログラム
US10281264B2 (en) * 2014-12-01 2019-05-07 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measurement apparatus and control method for the same
CN104634277B (zh) * 2015-02-12 2018-05-15 上海图漾信息科技有限公司 拍摄设备和方法、三维测量系统、深度计算方法和设备
US10032279B2 (en) * 2015-02-23 2018-07-24 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus, information processing method, and storage medium
JP6590489B2 (ja) * 2015-03-03 2019-10-16 キヤノン株式会社 情報処理装置および方法
JP6548422B2 (ja) * 2015-03-27 2019-07-24 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
JP6570321B2 (ja) * 2015-06-02 2019-09-04 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
JP6631261B2 (ja) * 2016-01-14 2020-01-15 セイコーエプソン株式会社 画像認識装置、画像認識方法および画像認識ユニット
JP6795993B2 (ja) * 2016-02-18 2020-12-02 株式会社ミツトヨ 形状測定システム、形状測定装置及び形状測定方法
US11061234B1 (en) * 2018-02-01 2021-07-13 Facebook Technologies, Llc Depth camera assembly based on near infra-red illuminator
CN108492657B (zh) * 2018-03-20 2019-09-20 天津工业大学 一种用于颞骨手术术前培训的混合现实模拟系统
CN108924435B (zh) * 2018-07-12 2020-08-18 Oppo广东移动通信有限公司 图像处理方法、装置和电子设备
JP6907277B2 (ja) 2018-08-30 2021-07-21 コグネックス・コーポレイション 歪みが低減された物体の３次元再構成を生成するための方法及び装置
US11340456B1 (en) 2019-05-22 2022-05-24 Facebook Technologies, Llc Addressable crossed line projector for depth camera assembly
JP2021060326A (ja) * 2019-10-09 2021-04-15 興和株式会社 表面検査装置
JP7401024B2 (ja) * 2021-03-30 2023-12-19 株式会社デンソーウェーブ 三次元計測装置
CN113188478B (zh) * 2021-04-28 2022-10-18 伏燕军 一种远心显微三维测量系统混合标定方法
CN114383522B (zh) * 2021-12-29 2024-04-05 易思维(杭州)科技股份有限公司 一种测量反光差异工件表面间隙、面差的方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4202612A (en) * 1976-12-28 1980-05-13 Solid Photography Inc. Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object
US4259589A (en) * 1979-07-20 1981-03-31 Solid Photography, Inc. Generation of contiguous data files of three-dimensional information
US4634279A (en) * 1984-02-06 1987-01-06 Robotic Vision Systems, Inc. Method of three-dimensional measurement with few projected patterns
US4653104A (en) * 1984-09-24 1987-03-24 Westinghouse Electric Corp. Optical three-dimensional digital data acquisition system
JPH07225834A (ja) * 1994-02-10 1995-08-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像ノイズ検出装置
US6754370B1 (en) * 2000-08-14 2004-06-22 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Real-time structured light range scanning of moving scenes
JP2002164066A (ja) * 2000-11-22 2002-06-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 積層型熱交換器
EP1882895A4 (en) * 2005-05-12 2012-06-27 Techno Dream 21 Co Ltd MEASURING METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL SHAPING AND EQUIPMENT THEREFOR
JP4874657B2 (ja) * 2006-01-18 2012-02-15 ローランドディー．ジー．株式会社 三次元形状の測定方法およびその装置
JP2008032608A (ja) 2006-07-31 2008-02-14 Aisin Seiki Co Ltd 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
JP2008145139A (ja) * 2006-12-06 2008-06-26 Mitsubishi Electric Corp 形状計測装置
JP4931728B2 (ja) * 2007-08-08 2012-05-16 シーケーディ株式会社 三次元計測装置及び基板検査機
JP5968370B2 (ja) * 2014-07-02 2016-08-10 キヤノン株式会社 三次元計測装置、三次元計測方法、及びプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012103239A5 (enExample)
KR101461068B1 (ko) 삼차원 계측장치, 삼차원 계측방법 및 기억매체
JP2014119442A5 (enExample)
JP6238521B2 (ja) ３次元計測装置およびその制御方法
JP2013185832A5 (enExample)
JP2015135294A5 (enExample)
KR101639227B1 (ko) 3차원 형상 측정장치
JP2011141174A5 (enExample)
JP2011179910A5 (ja) 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体
JP2013011856A5 (ja) 撮像システムおよび撮像方法
JP6016912B2 (ja) ３次元計測装置と３次元計測方法
JP2012002761A5 (ja) 位置姿勢計測装置、その処理方法、プログラム、ロボットシステム
JP2016003889A5 (enExample)
JP2011179907A5 (ja) 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラムおよび記憶媒体
JP6413595B2 (ja) 画像処理装置、システム、画像処理方法およびプログラム
JP2015210192A (ja) 計測装置およびその方法
JP2014115264A5 (enExample)
JP2012251997A5 (enExample)
CN104655050A (zh) 校准方法以及形状测定装置
JP2016220198A5 (enExample)
US20120162371A1 (en) Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and storage medium
JP2020004219A5 (enExample)
JP2016065785A5 (enExample)
KR20150098035A (ko) 객체의 3차원 형상을 산출하는 장치 및 방법
KR101465996B1 (ko) 선택적 큰 주기를 이용한 고속 3차원 형상 측정 방법