JP6447516B2 - 画像処理装置、および画像処理方法 - Google Patents
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Description
1.第1の実施形態による画像処理装置
1−1.構成
1−2.動作
1−3.補足
1−4.効果
2.第2の実施形態による画像処理装置
2−1.構成
2−2.動作
2−3.効果
3.第3の実施形態による画像処理装置
3−1.構成
3−2.動作
3−3.効果
4.まとめ
<1−1.構成>
まず、本開示の第1の実施形態による画像処理装置10−1の構成について図1を参照して説明する。図1は、第1の実施形態による画像処理装置10−1の構成を示すブロック図である。
タイミング制御部101は、IRステレオカメラ102と、IRランダムパターン照射部103と、IR照射部104それぞれにパルスを出力する制御回路で構成されている。タイミング制御部101は、IRステレオカメラ102による撮影タイミングにおいて、IRランダムパターン照射部103とIR照射部104による照射を例えば交互に行うよう制御することで、ランダムパターンが照射された画像とパターンが無い画像とを交互に撮影させることができる。タイミング制御部101による撮影および照射タイミングの具体的な動作制御については、図4を参照して後述する。
IRステレオカメラ102はIR(赤外線)領域のみを撮影できるカメラ2台で構成された赤外線撮影部の一例である。具体的には、IRステレオカメラ102は、例えば可視光カットフィルターを装着することで、IR領域のみを撮影できる。また、IRステレオカメラ102を構成する2台のカメラは、視差が十分発生する間隔を置いて配置される。これら2台のカメラは、タイミング制御部101からのIRステレオカメラ制御パルス201(図4参照)の立ち上がりエッジでシャッターが切られるため(撮影を行うため)、2台のカメラの時間的な撮影ずれは発生しない。
IRランダムパターン照射部103は、対象物体の表面にパターンを赤外線(IR)照射するパターン照射部の一例であって、IRランダムパターンを照射する。ここで、図2に、第1の実施形態によるIRランダムパターン照射部103の構造を示す。
IR照射部104は、パターンを有さない赤外線を照射する機能を有する。IR照射部104の具体的な構造は、図2に示すIRランダムパターン照射部103からランダムパターンマスク303を取り除いたものであって、その他の構成は同じであるので、ここでの説明は省略する。IR照射部104を構成に含むことで、より明るいIR画像が得られるという効果が生じる。
ランダムパターンLR画像記憶部105は、IRランダムパターン照射部103がIRランダムパターン310を照射している間に2台の赤外線カメラ(左カメラ、右カメラ)で構成されたIRステレオカメラ102により撮像された2枚のIRランダムパターン投射画像(L画像およびR画像)を保存する。
ステレオ画像マッチング部107は、ランダムパターンLR画像記憶部105に保存されたLR画像を用いて、深度情報(奥行情報)を持つ深度画像を生成する深度算出部である。深度画像の生成方法には様々な従来公知の技術を使用し得るが、ここでは一例としてブロックマッチング手法を用いる。以下、図3を参照して具体的に説明する。
深度画像記憶部108は、ステレオ画像マッチング部107により得られた深度画像を保存する。
IR画像記憶部106は、IR照射部104が照射している間にIRステレオカメラ102で撮影されたIR画像(パターン無しの赤外線画像)を保存する。ここで、IR画像記憶部106に保存されるIR画像は、IRステレオカメラ102を構成する左カメラおよび右カメラいずれで撮影された画像であってもよい。具体的には、用途に応じで、左カメラにより撮影されたL画像のみ、または右カメラにより撮影されたR画像のみを使用してもよいし、あるいは、両方のカメラで撮影されたLR画像を保存して使用してもよい。
画像認識部109は、IR画像記憶部106に保存されたIR画像(パターン無しの赤外線画像)に基づいて、対象物体の輪郭を認識したり、文字認識を実施したりといった、従来公知の画像認識処理(例えば微分フィルタ等を用いたエッジ検出処理)を行う。
認識結果記憶部110は、画像認識部109で認識された結果を格納する。
図4は、タイミング制御部101から出力されるパルス波形の一部を切り出した図である。図4に示すように、制御パルス201は、IRステレオカメラ102に送られる制御パルスであって、IRステレオカメラ102は、このパルスの立ち上がりエッジでシャッターが切られる(撮影を行う)仕組みとなっている。
続いて、本実施形態の補足について説明する。上述した実施形態では、IRステレオカメラ102を使用して深度情報を検出しているが、本実施形態はこれに限定されず、単眼のIRカメラを使用して深度情報を検出することも可能である。
以上説明したように、第1の実施形態によれば、ランダムなパターンを対象物に赤外線照射することで、表面に特徴のない物体であっても正確な深度情報が得られる。また、ランダムパターンを照射しない赤外線画像も取得することで、ランダムなパターンを必要としない、またはランダムなパターンがあると精度等に影響する画像処理も的確に実施することができる。
続いて、第2の実施形態による画像処理装置10−2について、図6〜図7を参照して説明する。
図6は、第2の実施形態による画像処理装置10−2の構成を示すブロック図である。図6に示すように、画像処理装置10−2は、タイミング制御部401、IRステレオカメラ402、IRカメラ403、IRランダムパターン照射部404、IR照射部405、ランダムパターンLR画像記憶部105、IR画像記憶部106a、ステレオ画像マッチング部107、深度画像記憶部108、画像認識部109、および認識結果記憶部110を有する。
タイミング制御部401は、IRステレオカメラ402と、IRカメラ403と、IRランダムパターン照射部404と、IR照射部405それぞれにパルスを出力する制御回路で構成される。タイミング制御部401による撮影および照射タイミングの制御については、図7を参照して後述する。
IRランダムパターン照射部404の構造は、図2を参照して説明した第1の実施形態によるIRランダムパターン照射部103の構造と同じだが、IR光源302の波長が例えば850nmとなるように、光源が選別される点が異なる。
IR照射部405の構造も、第1の実施形態によるIR照射部104と同様であるが、IR光源の波長が例えば750nmとなるように、光源が選別される点が異なる。
IRステレオカメラ402は、IR(赤外線)領域のうち、例えば850nmの波長を中心に透過するバンドパスフィルタ、あるいはローパスフィルタ、またはハイパスフィルタを有し、850nm以外の波長の光は感度が低下し、露光しにくい構造を有する。これにより、IRステレオカメラ402は、IRランダムパターン照射部404から照射されたランダムパターンが重畳された対象物体の画像を撮影することができる。
IRカメラ403は、IR(赤外線)領域のうち、例えば750nmの波長を中心に透過するバンドパスフィルタ、あるいはローパスフィルタ、またはハイパスフィルタを有し、750nm以外の波長の光は感度が低下し、露光しにくい構造を有する。これにより、IRカメラ403は、ランダムパターン照射部404から照射される波長を遮断するので、ランダムパターンが被写体に重畳されない(パターン無しの)画像を撮影することができる。
IR画像記憶部106aは、少なくとも1台の赤外線カメラにより実現されるIRカメラ403により撮影された1枚の画像を保存する。
続いて、図7を参照してタイミング制御部401による撮影・照射タイミングの動作制御について具体的に説明する。
上記構成を有する第2の実施形態によれば、第1の実施形態と同様に、表面に特徴のない物体であっても正確な深度情報を得られるという効果や、ランダムなパターンを必要としない、またはランダムなパターンがあると精度等に影響する画像処理を的確に実施できるという効果が得られる。
次に、第3の実施形態による画像処理装置10−3について、図8〜図10を参照して説明する。本実施形態では、上記各実施形態によるステレオ画像マッチング部107による演算処理の負担を軽減すると共に、より高解像度の深度画像を生成することを可能とする。
図8は、第3の実施形態による画像処理装置10−3の構成を示すブロック図である。図8に示すように、画像処理装置10−3は、タイミング制御部101、IRステレオカメラ102、IRランダムパターン照射部103、IR照射部104、ランダムパターンLR画像記憶部105、IR画像記憶部106、ステレオ画像マッチング部107a、深度画像記憶部108a、画像認識部109、認識結果記憶部110、高解像度深度算出部609、および高解像度深度画像記憶部610を有する。
ステレオ画像マッチング部107aは、ランダムパターンLR画像記憶部105に保存された、ランダムパターンが投射された対象物体のLR画像に基づいて、深度画像を生成する。ここで、深度画像の生成方法は様々考え得るが、例えば図3を参照して説明したようなブロックマッチング手法が用いられた場合、上述したように入力画像のR画像701の全てのピクセルに対してマッチングを行うため、演算量が非常に多いという問題がある。このため、かかる演算処理をソフトウェアで実装した場合はリアルタイムで処理できず、また、LSI(Large Scale Integration)等の専用ハードウェアで実装した場合は回路規模が増大し、LSIのコストが大きくなってしまう。
深度画像記憶部108aは、ステレオ画像マッチング部107aで生成された、演算量を削減した低解像度の深度画像を格納する。
高解像度深度算出部609は、認識結果記憶部110から、IR画像に基づいて認識された対象物体の輪郭情報を取得する。認識結果記憶部110には、第1の実施形態で説明したように、画像認識部109がIR画像に基づいて認識した対象物体の輪郭情報が記憶されている。また、高解像度深度算出部609は、深度画像記憶部108aから、演算量を削減するために縮小したLR画像に基づいて生成された低解像度の深度画像を取得する。
以上、本実施形態による画像処理装置10−3の構成および高解像度深度画像の生成について具体的に説明した。なお画像処理装置10−3のタイミング制御部101による撮影、照射タイミングの制御は、図4を参照して説明した第1の実施形態と同様であるので、ここでの説明は省略する。
以上説明したように、第3の実施形態によれば、入力画像を縮小、間引き等して深度計算の演算量を削減することができるとともに、高解像度な深度画像を得ることができる。
上述したように、本開示の実施形態による画像処理装置10−1〜10−3は、赤外線によるパターン照射のタイミングを制御することで、より正確な深度情報を得るためのパターン照射された赤外線画像およびパターン照射がない赤外線画像を取得することができる。
(1)
対象物体の表面にパターンを赤外線照射するパターン照射部と、
赤外線画像を撮影する赤外線撮影部と、
を備え、
前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングに対応する所定のタイミングで照射し、
前記赤外線撮影部は、前記パターン照射部により照射されたパターンが対象物体に投影されたパターン投影赤外線画像と、前記パターンが対象物体に投影されていないパターン無し赤外線画像とを取得する、画像処理装置。
(2)
前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングの所定の間隔毎のタイミングと同時に照射する、前記(1)に記載の画像処理装置。
(3)
前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングの奇数または偶数のタイミングで照射する、前記(2)に記載の画像処理装置。
(4)
前記画像処理装置は、
パターンを有さない赤外線照射部をさらに備え、
前記赤外線照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングのうち前記パターン照射部による照射タイミングと異なるタイミングでパターンを有さない赤外線を照射する、前記(2)または(3)に記載の画像処理装置。
(5)
前記赤外線照射部は、前記パターン照射部と交互に前記パターンを有さない赤外線を照射する、前記(4)に記載の画像処理装置。
(6)
前記画像処理装置は、
前記赤外線撮影部により撮影された前記パターン投影赤外線画像と、予め記憶された前記パターン照射部により照射されたパターンとに基づいてブロックマッチングを行い、対象物体の深度情報を算出する第1の深度算出部をさらに備える、前記(1)〜(5)のいずれか1項に記載の画像処理装置。
(7)
前記赤外線撮影部は、2以上の赤外線撮影部を含み、
前記画像処理装置は、
前記2以上の赤外線撮影部により撮影された複数視点からの前記パターン投影赤外線画像に基づいてブロックマッチングを行い、対象物体の深度情報を算出する第2の深度算出部をさらに備える、前記(1)〜(5)のいずれか1項に記載の画像処理装置。
(8)
前記パターン照射部は、前記パターンを特定の波長の赤外線で照射し、
前記赤外線撮影部は、第1の赤外線撮影部と、第2の赤外線撮影部とを含み、
前記第1の赤外線撮影部は、前記パターン照射部が照射する波長の赤外線を中心に透過するバンドパスフィルタ、ローパスフィルタ、またはハイパスフィルタの少なくともいずれかを有し、
第2の赤外線撮影部は、前記パターン照射部が照射する波長の赤外線を遮断するバンドパスフィルタ、ローパスフィルタ、またはハイパスフィルタの少なくともいずれかを有する、前記(1)に記載の画像処理装置。
(9)
前記画像処理装置は、
パターンを有さない赤外線照射部をさらに備え、
前記第2の赤外線撮影部は、前記赤外線照射部から照射される波長の赤外線を中心に透過するバンドバスフィルタ、ローパスフィルタ、またはバンドパスフィルタを有する、前記(8)に記載の画像処理装置。
(10)
前記第1、第2の赤外線撮影部による撮影タイミングと、前記赤外線照射部および前記パターン照射部による照射タイミングは、全て同じタイミングである、前記(9)に記載の画像処理装置。
(11)
前記画像処理装置は、
前記赤外線撮影部により撮影された前記パターン投影赤外線画像と、予め記憶された前記パターン照射部により照射されたパターンとに基づいて演算量を削減したブロックマッチングを行い、対象物体の低解像度の深度情報を算出する第3の深度算出部をさらに備える、前記(1)〜5および8〜(10)のいずれか1項に記載の画像処理装置。
(12)
前記赤外線撮影部は、2以上の赤外線撮影部を含み、
前記画像処理装置は、
前記2以上の赤外線撮影部により撮影された複数視点からの前記パターン投影赤外線画像に基づいて演算量を削減したブロックマッチングを行い、対象物体の低解像度の深度情報を算出する第4の深度算出部をさらに備える、前記(1)〜5および8〜(10)のいずれか1項に記載の画像処理装置。
(13)
前記画像処理装置は、
前記第4の深度算出部により算出された低解像度の深度情報と、前記パターン無し赤外線画像から抽出される前記対象物体の輪郭情報とに基づいて、前記対象物体の高解像度の深度情報を算出する高解像度深度算出部をさらに備える、前記(12)に記載の画像処理装置。
(14)
前記パターンは、ランダムなパターンである、前記(1)〜(13)のいずれか1項に記載の画像処理装置。
(15)
前記パターンは、電鋳により形成されたマスクを透過させることで形成される、前記(1)〜(14)のいずれか1項に記載の画像処理装置。
(16)
パターン照射部により対象物体の表面にパターンを赤外線照射することと、
赤外線撮影部により赤外線画像を撮影することと、
を含み、
前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングに対応する所定のタイミングで照射し、
前記赤外線撮影部は、前記パターン照射部により照射されたパターンが対象物体に投影されたパターン投影赤外線画像と、前記パターンが対象物体に投影されていないパターン無し赤外線画像とを取得する、画像処理方法。
101、401 タイミング制御部
102、402 IRステレオカメラ
112 単眼のIRカメラ
403 IRカメラ
103、404 IRランダムパターン照射部
104 IR照射部
105 ランダムパターンLR画像記憶部
106、106a IR画像記憶部
107、107a ステレオ画像マッチング部
108、108a 深度画像記憶部
109 画像認識部
110 認識結果記憶部
201、501 IRステレオカメラ制御パルス
202、503 IRランダムパターン照射部制御パルス
203、504 IR照射部制御パルス
301 発光制御部
302 IR光源
303 IRランダムパターンマスク
304 投射レンズ
310 IRランダムパターン
502 IRカメラ制御パルス
609 高解像度深度算出部
610 高解像度深度画像記憶部
801 演算量を削減しない場合の深度画像
802a 演算量を削減した場合の深度画像
802b 演算量を削減した場合の深度画像(拡大)
901 IR画像
902 輪郭画像
903 合成画像
904 高解像度の深度画像
Claims (14)
- 対象物体の表面にパターンを赤外線照射するパターン照射部と、
赤外線画像を撮影する2以上の赤外線撮影部と、
前記対象物体の深度情報を算出する深度算出部と、
前記対象物体の高解像度の深度情報を算出する高解像度深度算出部と、
を備え、
前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングに対応する所定のタイミングで照射し、
前記赤外線撮影部は、前記パターン照射部により照射されたパターンが対象物体に投影されたパターン投影赤外線画像と、前記パターンが対象物体に投影されていないパターン無し赤外線画像とを取得し、
前記深度算出部は、前記2以上の赤外線撮影部により撮影された複数視点からの前記パターン投影赤外線画像に基づいて、前記対象物体の低解像度の深度画像を生成し、
前記高解像度深度算出部は、前記深度算出部により算出された低解像度の深度情報と、前記パターン無し赤外線画像から抽出される前記対象物体の輪郭情報とを合成した合成画像を生成し、前記対象物体の高解像度の深度画像を生成する、画像処理装置。 - 前記深度算出部は、前記パターン投影赤外線画像に基づいて、演算量を削減したブロックマッチングを行い、前記対象物体の低解像度の深度情報を算出し、前記低解像度の深度画像を生成する、請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記高解像度深度算出部は、前記低解像度の深度情報と、前記対象物体の輪郭情報とに基づいて、前記対象物体の高解像度の深度情報を算出し、前記高解像度の深度画像を生成する、請求項2に記載の画像処理装置。
- 前記高解像度深度算出部は、前記合成画像における輪郭内で有効な深度値がない領域を、前記低解像度の深度画像から得た有効な深度値の値で埋めることで、前記高解像度の深度画像を生成する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングの所定の間隔毎のタイミングと同時に照射する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングの奇数または偶数のタイミングで照射する、請求項5に記載の画像処理装置。
- 前記画像処理装置は、
パターンを有さない赤外線を照射する赤外線照射部をさらに備え、
前記赤外線照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングのうち前記パターン照射部による照射タイミングと異なるタイミングでパターンを有さない赤外線を照射する、請求項5に記載の画像処理装置。 - 前記赤外線照射部は、前記パターン照射部と交互に前記パターンを有さない赤外線を照射する、請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記パターン照射部は、前記パターンを特定の波長の赤外線で照射し、
前記赤外線撮影部は、第1の赤外線撮影部と、第2の赤外線撮影部とを含み、
前記第1の赤外線撮影部は、前記パターン照射部が照射する波長の赤外線を中心に透過するバンドパスフィルタ、ローパスフィルタ、またはハイパスフィルタの少なくともいずれかを有し、
第2の赤外線撮影部は、前記パターン照射部が照射する波長の赤外線を遮断するバンドパスフィルタ、ローパスフィルタ、またはハイパスフィルタの少なくともいずれかを有する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記画像処理装置は、
パターンを有さない赤外線を照射する赤外線照射部をさらに備え、
前記第2の赤外線撮影部は、前記赤外線照射部から照射される波長の赤外線を中心に透過するバンドバスフィルタ、ローパスフィルタ、またはバンドパスフィルタを有する、請求項9に記載の画像処理装置。 - 前記第1、第2の赤外線撮影部による撮影タイミングと、前記赤外線照射部および前記パターン照射部による照射タイミングは、全て同じタイミングである、請求項10に記載の画像処理装置。
- 前記パターンは、ランダムなパターンである、請求項1〜11のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記パターンは、電鋳により形成されたマスクを透過させることで形成される、請求項1〜11のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- パターン照射部により対象物体の表面にパターンを赤外線照射することと、
2以上の赤外線撮影部により赤外線画像を撮影することと、
深度算出部により前記対象物体の深度情報を算出することと、
高解像度深度算出部により前記対象物体の高解像度の深度情報を算出することと、
を含み、
前記パターン照射部は、前記赤外線撮影部の撮影タイミングに対応する所定のタイミングで照射し、
前記赤外線撮影部は、前記パターン照射部により照射されたパターンが対象物体に投影されたパターン投影赤外線画像と、前記パターンが対象物体に投影されていないパターン無し赤外線画像とを取得し、
前記深度算出部は、前記2以上の赤外線撮影部により撮影された複数視点からの前記パターン投影赤外線画像に基づいて、前記対象物体の低解像度の深度画像を生成し、
前記高解像度深度算出部は、前記深度算出部により算出された低解像度の深度情報と、前記パターン無し赤外線画像から抽出される前記対象物体の輪郭情報とを合成した合成画像を生成し、前記対象物体の高解像度の深度画像を生成する、画像処理方法。
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