JP2008032608A - 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 - Google Patents

三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008032608A
JP2008032608A JP2006207843A JP2006207843A JP2008032608A JP 2008032608 A JP2008032608 A JP 2008032608A JP 2006207843 A JP2006207843 A JP 2006207843A JP 2006207843 A JP2006207843 A JP 2006207843A JP 2008032608 A JP2008032608 A JP 2008032608A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image data
pattern light
brightness
stripes
fringe pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006207843A
Other languages
English (en)
Inventor
宗広 ▲高▼山
Munehiro Takayama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aisin Corp
Original Assignee
Aisin Seiki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aisin Seiki Co Ltd filed Critical Aisin Seiki Co Ltd
Priority to JP2006207843A priority Critical patent/JP2008032608A/ja
Publication of JP2008032608A publication Critical patent/JP2008032608A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】被測定物体に模様や外乱光の影響を受けない三次元形状測定装置及びその方法を提供することを目的とする。
【解決手段】高輝縞と、高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体2に投影する投影手段3と、縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラ4と、画像データから三次元座標データを生成する計算機5を有する三次元形状測定装置において、計算機5は、画像データの高輝縞及び低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段50と、否と判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節手段51と、一部修正縞パターン光を被測定物体に投影することを投影手段3に命令する再投影命令手段52と、一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力する再受像命令手段53を有することを特徴とする。
【選択図】図3

Description

本発明は、2値の縞パターン光を被測定物体に投影し、投影された被測定物体を撮影した画像データから被測定物体の三次元形状を測定する装置及びその方法に関する。
人体や物体(被測定物体)の立体形状を数量化して把握する技術の三次元計測法の1つに、パターン投影法がある。スリット等の特殊なパターン光源を用いて、被測定物体表面パターンの幾何学的変形等の画像情報により被測定物体の形状を推定する。パターン投影法は、被測定物体にパターン光を投影し、パターン光を投影した位置とは異なる位置からパターン光が投影されている被測定物体を撮影する方法である。撮影されたパターン光の像は、被測定物体の形状によって変形しており、この像と投影したパターン光とを対応付けすることにより、被測定物体の三次元形状を測定する。具体的な計測手法としては、光切断法や空間コード化法がある。光切断法は、一本のスリット光を被測定物体に投影し、そのスリット光を被測定物体に走査させながらカメラで撮影し、三角測量の原理で三次元形状の情報を取得する方法である。この方法は各時刻毎に逐次カメラで撮影し、スリット光が走査し終えるまでこれを繰り返さなければならないので、時間がかかる。空間コード化法は、空間解像度の違う2値の縞パターンを複数枚用意し、これを順番に被測定物体に投影することにより、光切断法のスリット光の走査を省き、短時間で被測定物体の三次元形状の情報を取得する方法である。更には、2値の縞パターンを複数枚用意し枚数回の投影と撮影とを行うのではなく、多値の縞パターン光を一枚用意する方法が考えられている。
例えば、特許文献1の発明は5種類の階調(輝度)を有する縞パターン光を被測定物体に投影する。空間コード化法では、パターン光を被測定物体に投影し撮影された各縞がそれぞれはっきりと分離できなければ、被測定物体の空間を特定することができにくくなる。そのため、特許文献1の発明では各縞の境界部分のエッジを強調した縞パターン光を投影する。また、特許文献2では、縞パターン光の階調を増やした場合、隣り合う縞の階調差が小さくならないように縞を配置する方法が提案されている。
特開2004−226186号公報 特開2005−43233号公報
上述した特許文献1の発明及び特許文献2の発明の輝度を多値に変化させる方法では、被測定物体に模様がある場合や影が映り込んだ場合などに、投影した縞パターン光の同じ縞上で輝度のムラが生じやすい。そのため、特許文献1の発明では同一エッジ上で輝度の差が生じ、同一の縞で分離してしまう可能性がある。また、特許文献2の発明では、隣り合う縞の階調差があるため隣り合う縞同士は分離できるが、同一の縞で分離してしまう可能性がある。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、被測定物体に模様があったり外乱光が差し込んだり影が映り込んだりしても、縞パターン光の各縞は分離し同一の縞は分離しにくい三次元形状測定装置及びその方法を提供することを目的とする。
本発明の三次元形状測定装置は、高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影する投影手段と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラと、該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成手段を有する計算機と、を有する三次元形状測定装置において、前記計算機は、前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段と、該輝度差判断手段の否判断結果により前記縞パターン光の否判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節手段と、該一部修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する再投影命令手段と、該被測定物体にあたった該一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力することを前記カメラに命令する再受像命令手段と、を有することを特徴とする。
本発明の三次元形状測定装置は、カメラが受像した画像データの高輝縞と低輝縞とが分離できる輝度の差があるか、及び同一の縞が分離してしまう輝度の差(輝度ムラ)があるかを判断する。高輝縞と低輝縞とが分離できず、輝度にムラがある場合は、その部分について輝度を調節する。つまり輝度調節手段では、高輝縞と低輝縞とが分離でき、輝度ムラがなくなるように、部分的に輝度を調節する。部分的に輝度が調節された一部修正縞パターン光を被測定物体に投影し、カメラがそれを受像する。先に受像された画像データは、再受像された画像データに置き換わる。最終的に計算機は、三次元座標データ生成手段で全ての縞パターン光についての画像データから三次元座標データを生成する。
本発明の三次元形状測定装置では、画像データを基に、部分的に輝度を調節するため、部分ごとに輝度が調節された縞パターン光が作成できる。輝度が調節された一部修正縞パターン光が用意されれば、後は投影手段へ再投影、カメラへ再受像を命令するだけで、模様、外乱光及び影などの影響を考慮した輝度の縞パターン光の画像データが得ることができる。よって、高輝縞と低輝縞とが分離し易く、輝度ムラがない画像データが得られるため、高精度の三次元座標データを生成することができる。
本発明の三次元形状測定装置は、高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影する投影手段と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラと、該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成手段を有する計算機と、を有する三次元形状測定装置において、前記計算機は、前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段と、該輝度差判断手段の否判断結果された所定部分の輝度の差が所定値以上になるように該縞パターン光の輝度を調節した修正縞パターン光を作成する修正縞パターン光作成手段と、該修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する修正パターン光投影命令手段と、該被測定物体にあたった該修正縞パターン光の反射を受像し二次画像データを出力することを前記カメラに命令する二次画像取得命令手段と、前記画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分と該二次画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分とを合成して新しい該画像データとする合成画像データ作成手段と、を有することを特徴とする。
本発明の三次元形状測定装置は、カメラが受像した画像データの高輝縞と低輝縞とが分離できる輝度の差があるか、及び輝度ムラがあるかを判断する。高輝縞及び低輝縞が分離できず、あるいは輝度ムラのある部分について、高輝縞と低輝縞とが分離しかつ輝度ムラがないように、輝度を調節した修正縞パターン光を修正縞パターン光作成手段で作成する。輝度を調節された修正縞パターン光を被測定物体に投影し、カメラがそれを二次画像データとして受像する。計算機は、先に受像された画像データと輝度の調節された二次画像データとのそれぞれの良いデータ部分を使う。つまり、輝度の調節がされる前の画像データの高輝縞と低輝縞とが分離できずかつ輝度ムラのある部分のデータを二次画像データによって置き換える。そして、計算機は、三次元座標データ生成手段で全ての縞パターン光についての画像データから三次元座標データを生成する。
本発明の三次元形状測定装置では、画像データを基に、輝度が調節された修正縞パターン光の二次画像データを取得し、画像データの一部分を二次画像データで置き換えることで、高輝縞と低輝縞とが分離しかつ輝度ムラのない画像データを得ることができる。縞パターン光の輝度を全体的に調節するため、修正縞パターン光は簡単に作成できる。画像データと二次画像データとの良いデータを使って得られた新しい画像データは、模様、外乱光及び影などの影響を受けたデータ部分が取り除かれるので、高輝縞と低輝縞とが分離できかつ輝度ムラがないため、高精度の三次元座標データを生成することができる。
本発明の三次元形状測定方法は、高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影手段で投影する投影工程と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射をカメラが受像し、受像した画像データの信号を出力する受像工程と、該画像データの信号を受信し記憶手段に記憶する記憶工程と、該手段に記憶された該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成工程とを有する三次元形状測定方法において、前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断工程と、該輝度差判断工程での否判断結果で前記縞パターン光の否判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節工程と、該一部修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する再投影命令工程と、該被測定物体にあたった該一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力することを前記カメラに命令する再受像命令工程と、を有することを特徴とする。
本発明の三次元形状測定方法は、カメラが受像した画像データの高輝縞と低輝縞とが分離できる輝度の差があるか、輝度ムラがあるかを判断する。高輝縞と低輝縞とが分離できず、あるいは輝度ムラがある場合は、その部分について輝度を調節する。つまり輝度調節工程では、高輝縞と低輝縞とが分離でき、輝度ムラがなくなるように、部分的に輝度を調節する。部分的に輝度が調節された一部修正縞パターン光を被測定物体に投影し、カメラがそれを受像する。先に受像された画像データは、再受像された画像データに置き換わる。最終的に計算機は、三次元座標データ生成工程で全ての縞パターン光についての画像データから三次元座標データを生成する。
本発明の三次元形状測定方法では、画像データを基に、部分的に輝度を調節するため、部分ごとに輝度が調節された縞パターン光が作成できる。輝度が調節された一部修正縞パターン光が用意されれば、後は投影手段へ再投影、カメラへ再受像を命令するだけで、模様、外乱光及び影などの影響を考慮した輝度の縞パターン光の画像データが得ることができる。よって、高輝縞と低輝縞とが分離し易く、輝度ムラがない画像データが得られるため、高精度の三次元座標データを生成することができる。
本発明の三次元形状測定方法は、高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影手段で投影する投影工程と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射をカメラが受像し、受像した画像データの信号を出力する受像工程と、該画像データの信号を受信し記憶手段に記憶する記憶工程と、該手段に記憶された該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成工程とを有する三次元形状測定方法において、前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断工程と、該輝度差判断工程での否判断結果で否判断された所定部分の輝度の差が所定値以上になるように該縞パターン光の輝度を調節した修正縞パターン光を作成する修正縞パターン光作成工程と、該修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する修正パターン光投影命令工程と、該被測定物体にあたった該修正縞パターン光の反射を受像し二次画像データを出力することを前記カメラに命令する二次画像取得命令工程と、前記画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分と該二次画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分とを合成して新しい該画像データとする合成画像データ作成工程と、を有することを特徴とする。
本発明の三次元形状測定方法は、カメラが受像した画像データの高輝縞と低輝縞とが分離できる輝度の差があるか、及び輝度ムラがあるかを判断する。高輝縞及び低輝縞が分離できずあるいは輝度ムラがある場合について、高輝縞と低輝縞とが分離しかつ輝度ムラがなくなるように、輝度を調節した修正縞パターン光を修正縞パターン光作成工程で作成する。輝度を調節された修正縞パターン光を被測定物体に投影し、カメラがそれを二次画像データとして受像する。先に受像された画像データと輝度の調節された二次画像データとのそれぞれの良いデータ部分を使う。つまり、輝度の調節がされる前の画像データの高輝縞と低輝縞とが分離できずかつ輝度ムラのある部分のデータを二次画像データによって置き換える。そして、三次元座標データ生成工程で全ての縞パターン光についての画像データから三次元座標データを生成する。
本発明の三次元形状測定方法では、画像データを基に、輝度が調節された修正縞パターン光の二次画像データを取得し、画像データの使一部分を二次画像データで置き換えることで、高輝縞と低輝縞とが分離しかつ輝度ムラのない画像データを得ることができる。縞パターン光の輝度を全体的に調節するため、修正縞パターン光は簡単に作成できる。画像データと二次画像データとの良いデータを使って得られた新しい画像データは、模様、外乱光及び影などの影響を受けたデータ部分が取り除かれるので、高輝縞と低輝縞とが分離できかつ輝度ムラがないため、高精度の三次元座標データを生成することができる。
本発明の三次元形状測定装置及びその方法によれば、被測定物体に投影した縞パターン光の反射をカメラで受像して得られた画像データを基に、部分的に輝度を調節するため、部分ごとに輝度が調節された一部修正縞パターン光が作成できる。一部修正縞パターン光が投影された被測定物体上では、輝度ムラがなくなり、カメラで受像した画像データは、高輝縞と低輝縞とが分離し、輝度のムラないデータが得られる。部分的に輝度を調節した一部修正縞パターン光が用意されれば、後は投影手段へ再投影、カメラへ再受像を命令するだけで、模様、外乱光及び影などの影響を考慮した輝度の縞パターン光の画像データが得ることができる。結果、高輝縞と低輝縞とが分離し易く輝度ムラがない画像データから高精度の三次元座標データを生成することができる。
本発明の三次元形状測定装置及びその方法によれば、被測定物体に投影した縞パターン光の反射をカメラで受像して得られた画像データを基に、画像データの高輝縞と低輝縞とが分離しにくくかつ輝度ムラがある部分について、高輝縞と低輝縞とが分離し輝度ムラがなくなるように輝度を調節した修正縞パターン光を作成し、二次画像データが取得できる。三次元座標データを生成するために計算で使われる画像データは、高輝縞と低輝縞とが分離せず輝度ムラのある部分を二次画像データに置き換えるため、外乱による精度劣化を抑えることができる。よって、高精度の三次元座標データを生成することができる。
以下、実施例を用いて本発明を具体的に説明する。
(実施例1)
本実施例1の三次元形状測定装置の構成を図1に示す。
本実施例1の三次元形状測定装置1は、輝度の高い高輝縞31と高輝縞31より輝度の低い低輝縞32とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体2に投影する投影手段3と、被測定物体2にあたった縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラ4と、画像データから三次元座標データを生成する計算機5とからなる。
投影手段3は、図2に示すような高輝縞31と低輝縞32との2値パターンを交互に並べた組み合わせをNパターン分、プロジェクター等で被測定物体2に投影する。
カメラ4は、投影手段3とは別の位置から物体の映像を撮影できる場所に配置される。カメラ4は、デジタルカメラを用いて、被測定物体2の反射を受像し、その画像データを計算機5に出力する。
計算機5は、図3に示すように、画像データの高輝縞31及び低輝縞32の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段50と、輝度差判断手段50の否判断結果により縞パターン光の否判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節手段51と、一部修正縞パターン光を被測定物体2に投影することを投影手段3に命令する再投影命令手段52と、被測定物体2にあたった一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力することをカメラ4に命令する再受像命令手段53と、カメラ4が出力した画像データを保存する記憶手段54と、保存された画像データから被測定物体2の三次元座標データを生成する三次元座標データ生成手段55とを有する。図3において、矢印は信号の流れを示している。
本実施例1の三次元測定装置1は、投影手段3で高輝縞31と低輝縞32とが交互に配置された縞模様となる縞パターン光を被測定物体2に投影し、その反射をカメラ4で受像し、受像された画像データを計算機5で計算して三次元座標データを生成する。
本実施例1の三次元測定装置1で用いられる三次元形状測定方法についてのフローチャートを示したものが図4である。三次元形状測定方法は、三次元形状測定装置1が起動後、所定期間中に所定時間毎に実行されるものである。
三次元形状測定方法の処理開始後、投影手段3は高輝縞31と低輝縞32とが1つずつの縞パターン光(n=1)を被測定物体2に投影する(投影工程S11)。カメラ5は、被測定物体2に反射した縞パターン光を受像し、計算機5に受像した画像データを出力し(受像工程S12)、計算機5は記憶手段54に画像データを記憶する(記憶工程S13)。計算機5は、画像データの高輝縞31と低輝縞32とが分離できる輝度の差があるか、同一の縞上で輝度の差がないかの合否の判断をする(輝度差判断工程S14)。もし、否の判断、つまり高輝縞31と低輝縞32とが分離できず同一縞上なのに輝度ムラ33がある場合は、被測定物体2に投影する縞パターン光の輝度を部分的に調節する(輝度調節工程S15)。
例えば、縞パターン光がn=3のときの縞パターン光は、図5に示される(a)である。(a)を被測定物体2に投影したイメージが(b)である。(b)の輝度ムラ33の状態を投影した縞パターン光で現すと(c)のように対応できる。S5の輝度調節工程では、(c)の輝度ムラ33部分が、被測定物体2に投影した際(d)のようになるように輝度ムラ33部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する。
図4に戻って、S5の輝度調節工程後、計算機4は輝度を調節した一部修正縞パターン光を被測定物体2に投影することを投影手段に命令し(再投影命令工程S16)、カメラ4にその反射を受像して出力することを命令する(再受像命令工程S16)。そして、投影工程S11に戻り、一部修正縞パターン光を縞パターン光として投影工程S11から処理を行い、輝度差判断工程S14で合の判断のときに次の縞パターン光(n=2)についてS11からの処理が行なわれる(S17)。N枚の縞パターン光について画像データが記憶手段54に記憶されたら、記憶手段54に記憶されたNパターン分の画像データから空間コード化法でコード化像を生成し、コード化像から光切断法で三次元座標データを計算する(三次元座標データ生成工程S18)。
S14の輝度差判断工程では、輝度の差が合判断されるまで、縞パターン光の輝度を部分的に調節することができ、輝度を調節する前に取得した画像データは、新しい画像データに置き換わる。
本実施例1の三次元形状測定装置1及び三次元形状測定方法によれば、被測定物体2に投影した縞パターン光の反射をカメラ4で受像して得られた画像データを基に、部分的に輝度を調節するため、部分ごとに輝度が調節された一部修正縞パターン光が作成できる。一部修正縞パターン光が投影された被測定物体2上では、輝度ムラがなくなり、カメラ4で受像した画像データは、高輝縞31と低輝縞32とが分離し、輝度ムラがないデータが得られる。部分的に輝度を調節した一部修正縞パターン光が作成できれば、後は投影手段3へ再投影、カメラ4へ再受像を命令するだけで、模様、外乱光及び影などの影響を考慮した輝度の縞パターン光の画像データが得ることができる。結果、高輝縞31と低輝縞32とが分離し易く輝度ムラがない画像データが得られ、高精度の三次元座標データを生成することができる。
(実施例2)
本実施例2の三次元形状測定装置の構成を図1に示す。
本実施例2の三次元形状測定装置1は、計算機5についての構成以外は実施例1の三次元形状測定装置1と同様の構成であるため、詳細な説明を省略する。
本実施例2の三次元形状測定装置1で用いられる計算機5のブロック図を図6に示す。図6において、矢印が信号の流れを示している。
計算機5は、画像データの高輝縞31及び低輝縞32の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段50と、輝度差判断手段50の否判断結果された所定部分の輝度の差が所定値以上になるように縞パターン光の全体的な輝度を調節した修正縞パターン光を作成する修正縞パターン光作成手段56と、修正縞パターン光を被測定物体2に投影することを投影手段3に命令する修正パターン光投影命令手段57と、被測定物体2にあたった修正縞パターン光の反射を受像し二次画像データを出力することをカメラ4に命令する二次画像取得命令手段58と、画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分と二次画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分とを合成して新しい画像データとする合成画像データ作成手段59と、カメラ4が出力した画像データを保存する記憶手段54と、保存された画像データから被測定物体2の三次元座標データを生成する三次元座標データ生成手段55とを有する。
本実施例2の三次元測定装置1は、投影手段3で高輝縞31と低輝縞32とが交互に配置された光の縞模様となる縞パターン光を被測定物体2に投影し、その反射をカメラ4で受像し、受像された画像データを計算機5で計算して三次元座標データを生成する。
本実施例2の三次元測定装置1で用いられる三次元形状測定方法についてのフローチャートを示したものが図7である。三次元形状測定方法は、三次元形状測定装置1が起動後、所定期間中に所定時間毎に実行されるものである。
三次元形状測定方法の処理開始後、投影手段3は高輝縞31と低輝縞32とが1つずつの縞パターン光(n=1)を被測定物体2に投影する(投影工程S21)。カメラ5は、被測定物体2に反射した縞パターン光を受像し、計算機5に受像した画像データを出力し(受像工程S22)、計算機5は記憶手段54に画像データを記憶する(記憶工程S23)。計算機5は、画像データの高輝縞31と低輝縞32とが分離できる輝度の差があるか、同一の縞上で輝度ムラ33がないかの合否の判断をする(輝度差判断工程S24)。もし、否の判断、つまり高輝縞31と低輝縞32とが分離できず同一縞上なのに輝度ムラ33がある場合は、否判断された所定部分が所定値以上になるように縞パターン光の輝度を調節した修正縞パターン光を作成する(修正縞パターン光作成工程S25)。計算機5は、輝度を調節した修正縞パターン光を被測定物体2に投影することを投影手段に命令し(修正パターン光投影命令工程S26)、カメラ4にその反射を受像して二次画像データを出力することを命令する(二次画像取得命令工程S26)。そして、画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分と二次画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分とを合成して新しい画像データとする(合成画像データ作成工程S27)。
次に、違う縞パターンになる縞パターン光(n=2)についてS21から処理が行われる。S24の輝度差判断手段50の判定が合の時は、二次画像データを取得することなく、次の縞パターン光についてS21からの処理を行う。N枚の縞パターン光についての画像データが記憶手段54に記憶されるまでS21からS28までを繰り返す。そして、記憶手段54に記憶されたNパターン分の画像データから空間コード化法でコード化像を生成し、コード化像から光切断法で三次元座標データを計算する(三次元座標データ生成工程S29)。
本実施例2の三次元形状測定装置1及び三次元形状測定方法によれば、被測定物体2に投影した縞パターン光の反射をカメラ4で受像して得られた画像データを基に、画像データの高輝縞31と低輝縞32とが分離しにくくかつ輝度ムラ33がある部分について、高輝縞31と低輝縞32とが分離し輝度ムラがなくなるように輝度を調節した修正縞パターン光を作成し、二次画像データが取得できる。三次元座標データを生成するために計算で使われる画像データは、高輝縞31と低輝縞32とが分離せず輝度ムラ33のある部分を二次画像データに置き換えるため、外乱による精度劣化を抑えることができる。よって、高精度の三次元座標データを生成することができる。
以上、本発明の好適な実施例について説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例えば、実施例2の三次元形状測定方法において、画像データの輝度ムラ33がなくなるまで、修正縞パターン光を作成し二次画像データを取得し画像データの輝度ムラ33部分を二次画像データで置き換えることを繰り返すこともできる。その他に、実施例1及び実施例2で用いられるカメラ4は、輝度ムラを受像するカメラと縞パターン光を受像するカメラとを別々に設置することも可能である。その時、輝度ムラを受像するためのカメラは、縞パターン光を受像するカメラと同軸上か縞パターン光を投影する投影手段3の軸上と縞パターン光を受像するカメラの軸上との間に配置されることが好ましい。
実施例1の三次元形状測定装置1の構成図である。 実施例1の三次元形状測定装置1で用いられる縞パターンの例である。 実施例1の三次元形状測定装置1でも用いられる計算機5のブロック図である。 実施例1の三次元形状測定装置1で用いられる三次元形状測定方法のフローチャートである。 実施例1の三次元形状測定装置1によって縞パターン光を被測定物体2に投影した場合のイメージ図である。 実施例2の三次元形状測定装置1でも用いられる計算機5のブロック図である。 実施例2の三次元形状測定装置1で用いられる三次元形状測定方法のフローチャートである。
符号の説明
1:三次元測定装置
2:被測定物体
3:投影手段
4:カメラ
5:計算機
31:高輝縞
32:低輝縞
33:輝度ムラ
50:輝度差判断手段
51:輝度調節手段
52:再投影命令手段
53:再受像命令手段
54:記憶手段
55:三次元座標データ生成手段
56:修正縞パターン光作成手段
57:修正縞パターン光投影手段
58:二次画像取得命令手段
59:合成画像データ生成手段

Claims (4)

  1. 高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影する投影手段と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラと、該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成手段を有する計算機と、を有する三次元形状測定装置において、
    前記計算機は、前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段と、該輝度差判断手段の否判断結果により前記縞パターン光の否判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節手段と、該一部修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する再投影命令手段と、該被測定物体にあたった該一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力することを前記カメラに命令する再受像命令手段と、を有することを特徴とする三次元形状測定装置。
  2. 高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影する投影手段と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラと、該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成手段を有する計算機と、を有する三次元形状測定装置において、
    前記計算機は、前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段と、該輝度差判断手段の否判断結果された所定部分の輝度の差が所定値以上になるように該縞パターン光の輝度を調節した修正縞パターン光を作成する修正縞パターン光作成手段と、該修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する修正パターン光投影命令手段と、該被測定物体にあたった該修正縞パターン光の反射を受像し二次画像データを出力することを前記カメラに命令する二次画像取得命令手段と、前記画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分と該二次画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分とを合成して新しい該画像データとする合成画像データ作成手段と、を有することを特徴とする三次元形状測定装置。
  3. 高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影手段で投影する投影工程と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射をカメラが受像し、受像した画像データの信号を出力する受像工程と、該画像データの信号を受信し記憶手段に記憶する記憶工程と、該手段に記憶された該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成工程とを有する三次元形状測定方法において、
    前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断工程と、該輝度差判断工程での否判断結果で前記縞パターン光の否判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節工程と、該一部修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する再投影命令工程と、該被測定物体にあたった該一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力することを前記カメラに命令する再受像命令工程と、を有することを特徴とする三次元形状測定方法。
  4. 高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影手段で投影する投影工程と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射をカメラが受像し、受像した画像データの信号を出力する受像工程と、該画像データの信号を受信し記憶手段に記憶する記憶工程と、該手段に記憶された該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成工程とを有する三次元形状測定方法において、
    前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断工程と、該輝度差判断工程での否判断結果で否判断された所定部分の輝度の差が所定値以上になるように該縞パターン光の輝度を調節した修正縞パターン光を作成する修正縞パターン光作成工程と、該修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する修正パターン光投影命令工程と、該被測定物体にあたった該修正縞パターン光の反射を受像し二次画像データを出力することを前記カメラに命令する二次画像取得命令工程と、前記画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分と該二次画像データの輝度の差が所定値以上のデータ部分とを合成して新しい該画像データとする合成画像データ作成工程と、を有することを特徴とする三次元形状測定方法。
JP2006207843A 2006-07-31 2006-07-31 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 Pending JP2008032608A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006207843A JP2008032608A (ja) 2006-07-31 2006-07-31 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006207843A JP2008032608A (ja) 2006-07-31 2006-07-31 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008032608A true JP2008032608A (ja) 2008-02-14

Family

ID=39122185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006207843A Pending JP2008032608A (ja) 2006-07-31 2006-07-31 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008032608A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009210470A (ja) * 2008-03-05 2009-09-17 Makino Milling Mach Co Ltd 形状測定方法及び装置
JP2010133735A (ja) * 2008-12-02 2010-06-17 Makino Milling Mach Co Ltd 形状測定方法及び装置
JP2013185832A (ja) * 2012-03-05 2013-09-19 Canon Inc 情報処理装置、情報処理方法
US9007602B2 (en) 2010-10-12 2015-04-14 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method, and computer-readable medium storing control program
EP2869023A1 (en) * 2013-10-30 2015-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method
JP2015087243A (ja) * 2013-10-30 2015-05-07 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、
JP2018059850A (ja) * 2016-10-06 2018-04-12 ファナック株式会社 投影パターン作成装置および3次元計測装置
WO2021258273A1 (zh) * 2020-06-23 2021-12-30 广东省航空航天装备技术研究所 基于三维成像的加工方法、装置、设备及存储介质

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009210470A (ja) * 2008-03-05 2009-09-17 Makino Milling Mach Co Ltd 形状測定方法及び装置
JP2010133735A (ja) * 2008-12-02 2010-06-17 Makino Milling Mach Co Ltd 形状測定方法及び装置
US9007602B2 (en) 2010-10-12 2015-04-14 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method, and computer-readable medium storing control program
JP2013185832A (ja) * 2012-03-05 2013-09-19 Canon Inc 情報処理装置、情報処理方法
EP2869023A1 (en) * 2013-10-30 2015-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method
JP2015087243A (ja) * 2013-10-30 2015-05-07 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、
US9819872B2 (en) 2013-10-30 2017-11-14 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method that adjust, based on a target object distance, at least one of brightness of emitted pattern light and an exposure amount
US10257428B2 (en) 2013-10-30 2019-04-09 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method that adjust, based on a target object distance, at least one of brightness of emitted pattern light and an exposure amount
JP2018059850A (ja) * 2016-10-06 2018-04-12 ファナック株式会社 投影パターン作成装置および3次元計測装置
US10593053B2 (en) 2016-10-06 2020-03-17 Fanuc Corporation Projection pattern creation apparatus and three-dimensional measuring apparatus
WO2021258273A1 (zh) * 2020-06-23 2021-12-30 广东省航空航天装备技术研究所 基于三维成像的加工方法、装置、设备及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008032608A (ja) 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
JP5907596B2 (ja) 三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム
CN106705855B (zh) 一种基于自适应光栅投影的高动态性能三维测量方法
US8311366B2 (en) System and method for calibrating and adjusting a projected image of a projection apparatus
JP5576726B2 (ja) 三次元計測装置、三次元計測方法、及びプログラム
CN107894215B (zh) 基于全自动曝光的高动态范围光栅投影三维测量方法
US20090169057A1 (en) Method for producing image with depth by using 2d images
US20160205376A1 (en) Information processing apparatus, control method for the same and storage medium
WO2019047985A1 (zh) 图像处理方法和装置、电子装置和计算机可读存储介质
CN110702031B (zh) 适用于深色表面的三维扫描装置及扫描方法
JP6351201B2 (ja) 距離計測装置および方法
JP2019168862A5 (ja)
JP2004200971A (ja) 画像処理装置、画像処理プログラム、画像処理方法および電子カメラ
US20130176400A1 (en) Apparatus and method of automatically correcting brightness of images captured by multiple cameras
JP2012093235A (ja) 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法、構造物の製造方法および構造物製造システム
JP7059076B2 (ja) 画像処理装置、その制御方法、プログラム、記録媒体
KR100903346B1 (ko) 광학식 입체 형상 검사 방법
CN112815846A (zh) 一种2d、3d复合的高精度视觉装置及测量方法
US10091404B2 (en) Illumination apparatus, imaging system, and illumination method
CN113091647B (zh) 一种用于高反光表面工件的结构光三维扫描方法
JP2008032609A (ja) 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
JP2009216650A (ja) 三次元形状測定装置
JP6432968B2 (ja) 物体形状推定装置及びプログラム
CN108332720B (zh) 光学测距系统
JP2007280102A (ja) 撮影システム、画像合成装置、および画像合成プログラム