JP6422362B2 - 画像読取装置、画像読取方法、及びプログラム - Google Patents
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Description
<カメラスキャナの構成>
図1は、本実施例に係る画像読取装置、より具体的にはカメラスキャナ100の説明図であり、図1(a)は、カメラスキャナ100の構成例を示す外観図である。図1(a)に示すように、カメラスキャナ100は、コントローラ部101と、カメラ部102と、距離画像センサ部103とで構成される。コントローラ部101及びカメラ部102並びにカメラ部102及び距離画像センサ部103は、腕部104により連結されている。
図2は、コントローラ部101のハードウェア構成を示すブロック図である。図2に示すように、コントローラ部101は、CPU201と、RAM202と、ROM203と、HDD204と、画像処理プロセッサ205と、カメラI/F206と、ディスプレイコントローラ207とで構成される。これらの構成要素は、システムバス208によって互いに接続されており、システムバス208を介した情報の送受信が可能である。
図3(a)は、本実施例に係るスキャン処理を実現するため、CPU201によって実行されるカメラスキャナ100の制御用プログラムのソフトウェア構成を示すブロック図である。この制御用プログラムは、上述のように、HDD204に格納されており、カメラスキャナ100起動時にRAM202上に展開され、実行される。以下、制御用プログラムが持つソフトウェアモジュール郡について説明する。
図4(a)は、カメラスキャナ100によって実行される本実施例に係るスキャン処理の流れを示すフローチャートである。本実施例に係るスキャン処理は、メイン制御部301による統括的な制御のもと、制御用プログラムのメイン制御部301以外のソフトウェアモジュールによる処理が順次実行されることで実現される。また、図5(a)は、RAM202に保存されるデータに着目して、本実施例に係るスキャン処理を説明するデータフロー図である。以下、図4(a)及び図5(a)を用いて、本実施例に係るスキャン処理を詳細に説明する。
(1)全画素が無彩色である。
(2)全画素の輝度値又は濃度値が最大値未満であり且つ最小値より大きい。
(3)全画素が、同一の輝度値又は濃度値を持つ。ただし、許容可能な誤差範囲(5%程度)であれば、全画素の輝度値又は濃度値は、同一ではなく概同一で良い。
以下、上述の距離画像情報取得処理(図4(a)のステップS403)について、図6を用いて詳細に説明する。ここで、図6(a)は距離画像情報取得処理の流れを示すフローチャートであり、図6(b)、図6(c)、図6(d)はパターン投射方式を利用した距離の計測原理を説明するための図である。
以下、上述のプロジェクタ照射光量補正パラメータ生成処理(図4(a)のステップS404)について、図7(a)を用いて詳細に説明する。図7(a)は、ステップS404におけるプロジェクタ照射光量補正パラメータ生成処理の流れを示すフローチャートである。
上述のステップS705における処理について詳細に説明する。ステップS705ではまず、補正パラメータ生成部305は、読取領域111に対応する2次元配列であるプロジェクタ照射光量補正パラメータ503の配列要素を全てゼロにすることで、プロジェクタ照射光量補正パラメータ503を初期化する。次いで、補正パラメータ生成部305は、2次元配列であるプロジェクタ照射光量補正パラメータ503における各画素に対する補正パラメータIinを計算する。
以下、上述の式(14)におけるプロジェクタ照射光量補正係数dの生成方法について、図3(b)、図9(a)、図10(a)を用いて説明する。
以下、上述のプロジェクタ照射処理(図4(a)のステップS405)について、図11を用いて詳細に説明する。
上述したように、本実施例に係るカメラスキャナ100は、読取領域111に置かれたスキャン対象物の3次元形状を測定し、スキャン対象物の表面の法線ベクトルを導出する。そして、カメラスキャナ100は、当該導出した法線ベクトルに基づき、プロジェクタ1011から照射された光のうちカメラ部102に入る光の量を導出する。そして、カメラスキャナ100は、導出したカメラ部102に入る光の量に基づき、プロジェクタ1011がスキャン対象物を照射する光の量を補正する。そして、カメラスキャナ100は、当該補正した光量に基づく照射をプロジェクタ1011が実行している間に、スキャン対象物を撮像し、スキャン対象物の画像を取得する。
実施例1では、プロジェクタ1011から照射される照射光以外の光、即ち環境光の光量が、照射光の光量と比較して十分に小さいことを前提としている。しかしながら、環境光が照射光と比較して無視できない明るさである場合には、以下の問題が生じる。
図4(b)は、カメラスキャナ100によって実行される本実施例に係るスキャン処理の流れを示すフローチャートである。本実施例に係るスキャン処理は、メイン制御部301による統括的な制御のもと、制御用プログラムのメイン制御部301以外のソフトウェアモジュールによる処理が順次実行されることで実現される。また、図5(b)は、RAM202に保存されるデータに着目して、本実施例に係るスキャン処理を説明するデータフロー図である。以下、図4(b)及び図5(b)を用いて、本実施例に係るスキャン処理を詳細に説明する。
以下、上述のプロジェクタ照射光量補正パラメータ生成処理(図4(b)のステップS414)について、図7(b)を用いて詳細に説明する。図7(b)は、ステップS414におけるプロジェクタ照射光量補正パラメータ生成処理の流れを示すフローチャートである。
上述のステップS717における処理について詳細に説明する。ステップS717ではまず、補正パラメータ生成部305は、読取領域111に対応する2次元配列であるプロジェクタ照射光量補正パラメータ503の配列要素を全てゼロにすることで、プロジェクタ照射光量補正パラメータ503を初期化する。次いで、補正パラメータ生成部305は、2次元配列であるプロジェクタ照射光量補正パラメータ503における各画素に対する補正パラメータIinを計算する。
本実施例により、環境光がプロジェクタから照射される光と比較して無視できない明るさである場合に起こり得る過補正を防ぐことで、高画質なスキャン画像データを得ることができる。
実施例1及び実施例2では、スキャン対象物である原稿の表面において照射光が拡散反射することを前提とすることから、光の反射モデルとしてランバートの反射モデルを使用した。しかし、マット(非光沢)な紙でさえ照射光が完全に拡散反射をするわけではなく、スキャン対象物によっては補正に誤差が生じかねない。実際に、光沢感を持ち、強い鏡面反射特性を持つ紙種も知られている。
以下、図8(b)を用いて補正パラメータIinの計算方法について説明する。本実施例では、補正パラメータIinを求めるにあたって、次のようにベクトル及び係数を定義する。即ち、原稿800上の注目点801からプロジェクタ1011に伸びるベクトルの正規化ベクトルをL、注目点801からカメラ部102に伸びるベクトルの正規化ベクトルをV、注目点801に対する法線の正規化ベクトルをN、注目点801においてプロジェクタ1011から入射した光が正反射する方向の正規化ベクトルをRとする(図8(b)を参照)。このとき、ベクトルRは、以下の式(21)を用いて計算することができる。
以下、上述の式(22)における反射補正係数kdの生成処理について説明する。
以下、上述の式(22)における反射補正係数ksの生成処理について説明する。
以下、上述の式(22)における鏡面反射係数αの生成処理について説明する。
本実施例により、スキャン対象物が強い鏡面反射特性を持つ場合であっても、高画質なスキャン画像データを得ることができる。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (12)
- 読取台に置かれた対象物に照射手段によって光を照射し、前記対象物を撮像手段によって撮像して前記対象物の画像を読み取る画像読取装置であって、
前記対象物の形状を測定する測定手段と、
前記照射手段が前記対象物に光を照射しているときに前記撮像により取得した前記対象物の画像データと、前記測定の結果とに基づいて、前記照射手段が前記対象物に照射する光量を補正する補正手段と
を備えることを特徴とする画像読取装置。 - 前記照射手段は、前記補正手段により補正された光量に従って、前記対象物に光を照射し、
前記撮像手段は、当該照射している間に前記対象物を撮像することを特徴とする請求項1に記載の画像読取装置。 - 前記測定手段は、
前記対象物に赤外線パターンを投射する投射手段と、
前記対象物に投射された赤外線パターンを読み取る読取手段と、
RGBカメラと
を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の画像読取装置。 - 前記測定手段は、1画素につきR、G、B、距離の4種類の画素値を持つラスタービットマップデータである距離画像情報を作成することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の画像読取装置。
- 前記補正手段は、前記距離画像情報に基づき前記対象物の表面の法線ベクトルを導出することを特徴とする請求項4に記載の画像読取装置。
- 前記補正手段は、前記導出した法線ベクトルに基づき、前記照射手段により照射され且つ前記対象物の表面で反射されて前記撮像手段に入る光量を導出することを特徴とする請求項5に記載の画像読取装置。
- 前記導出される光量は、以下の式
- 前記導出される光量は、以下の式
- 前記補正手段は、ラスタービットマップにおける画素毎に、前記導出した光量に基づき補正パラメータを導出することを特徴とする請求項6乃至8の何れか一項に記載の画像読取装置。
- 前記補正手段は、前記照射手段が光を照射していないときに前記撮像により取得した前記対象物の画像データに基づいて、前記光量を補正することを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の画像読取装置。
- 読取台に置かれた対象物に照射手段によって光を照射し、前記対象物を撮像手段によって撮像して前記対象物の画像を読み取る画像読取装置で実行される画像読取方法であって、
前記対象物の形状を測定する測定ステップと、
前記照射手段が前記対象物に光を照射しているときに前記撮像により取得した前記対象物の画像データと、前記測定の結果とに基づいて、前記照射手段が前記対象物に照射する光量を補正する補正ステップと
を備えることを特徴とする画像読取方法。 - コンピュータに、請求項11に記載の方法を実行させるための、プログラム。
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