JP2012095068A - 非可逆回路素子 - Google Patents

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Abstract

【課題】実用上必要な挿入損失を維持しつつアイソレーション周波数を調整できる非可逆回路素子を得る。
【解決手段】フェライト32の主面に互いに一端で接続された状態で設けた第1導体35(L1)及び第2導体36(L2)と、第1導体35及び第2導体36の接続点から引き出されて第1導体35及び第2導体36に絶縁状態で交差してフェライト32に巻回された第3導体37(L3)と、第1導体35、第2導体36及び第3導体37の交差部分に直流磁界を印加する永久磁石と、を備えた非可逆回路素子。第1導体35及び第2導体36の端部を入出力ポートP1,P2とし、第3導体37の端部をグランドポートP3とし、入出力ポートP1,P2間に抵抗素子Rとコンデンサ素子C1とが第1導体35及び第2導体36に対して並列に接続されており、スイッチング素子S11によってオン、オフされるコンデンサ素子C2が抵抗素子Rと並列に接続されている。
【選択図】図3

Description

本発明は、非可逆回路素子、特に、マイクロ波帯で使用されるアイソレータやサーキュレータなどの非可逆回路素子に関する。
従来より、アイソレータやサーキュレータなどの非可逆回路素子は、予め定められた特定方向にのみ信号を伝送し、逆方向には伝送しない特性を有している。この特性を利用して、例えば、アイソレータは、自動車電話、携帯電話などの移動体通信機器の送信回路部に使用されている。
この種の非可逆回路素子として、特許文献1には、低損失の2ポート型アイソレータを開示している。この2ポート型アイソレータは、フェライトに互いに電気的に絶縁状態で交差する第1中心電極及び第2中心電極を配置し、第1及び第2中心電極の交差部分に直流磁界を印加するようにしている。そして、入力端子のインピーダンスを50Ωよりも低くするために、入力端子と入力ポート(第1中心電極の一端)との間に、インダクタを挿入している。
前記アイソレータでは、第1及び第2中心電極の交差角度と前記インダクタによって入出力ポート間のインピーダンスを変換し、実用に耐え得る挿入損失帯域幅とアイソレーション帯域幅を実現している。しかし、このアイソレータでは、インダクタを追加部品として用意する必要があり、該インダクタのQ値によって挿入損失が増加する傾向にある。また、前記文献1ではアイソレーション周波数を調整する点に関しては何ら言及しておらず、マルチバンド・マルチモードの通信システムに対処するには不十分である。
特開2005−102143号公報
そこで、本発明の目的は、実用上必要な挿入損失を維持しつつアイソレーション周波数を調整(シフト)可能な非可逆回路素子を提供することにある。
本発明の一形態である非可逆回路素子は、
マイクロ波用磁性体の主面に互いに一端で接続された状態で設けた第1導体及び第2導体と、
前記第1導体及び第2導体の接続点から引き出されて前記第1導体及び第2導体に絶縁状態で交差して前記マイクロ波用磁性体に巻回された第3導体と、
前記第1導体、第2導体及び第3導体の交差部分に直流磁界を印加する永久磁石と、
を備え、
前記第1導体及び第2導体の端部を入出力ポートとし、前記第3導体の端部をグランドポートとし、
前記入出力ポート間に抵抗素子が前記第1導体及び第2導体に対して並列に接続されており、
前記入出力間に容量が可変な容量手段が前記抵抗素子と並列に接続されていること、
を特徴とする。
前記非可逆回路素子において、例えば、第1導体の入出力ポートに高周波電流が入力すると、第2導体及び第3導体に大きな高周波電流が流れて第2導体の入出力ポートから出力される。このとき抵抗素子及び容量手段にはほとんど高周波電流が流れないため、挿入損失が悪化することはない。一方、第2導体の入出力ポートから入力された高周波電流は、第1導体及び第2導体のインダクタンス成分と容量手段による並列共振回路によって減衰(アイソレーション)され、かつ、抵抗素子によって熱として放出される。容量手段の容量値を変更することによりアイソレーション周波数が調整(シフト)され、好ましいアイソレーション特性に設定可能である。そして、容量手段の容量値を変更しても順方向の動作特性に影響を与えることはない。また、終端素子のインピーダンスを選択することにより、減衰量が調整される。なお、第1導体、第2導体及び第3導体はそれぞれ磁気的に結合しており、第1導体と第3導体との相互インダクタンスと、第2導体と第3導体との相互インダクタンスを調整することにより、入出力間のインピーダンスが変換される。
本発明によれば、実用上必要な挿入損失を維持しつつアイソレーション周波数を調整(シフト)できる。
第1実施例である非可逆回路素子(2ポート型アイソレータ)を示す分解斜視図である。 第1実施例である非可逆回路素子において、フェライト・磁石組立体を回路基板上に実装した状態を示す斜視図である。 第1実施例である非可逆回路素子の等価回路図である。 第1実施例である非可逆回路素子において、導体や電極を取り付けたフェライトを示す斜視図である。 第1実施例である非可逆回路素子におけるフェライト・磁石組立体を示す分解斜視図である。 第1実施例である非可逆回路素子の挿入損失特性を示すグラフである。 第1実施例である非可逆回路素子のアイソレーション特性を示すグラフである。 第2実施例である非可逆回路素子(2ポート型アイソレータ)の等価回路図である。 第3実施例である非可逆回路素子(2ポート型アイソレータ)の等価回路図である。 第4実施例である非可逆回路素子(2ポート型アイソレータ)の等価回路図である。 第4実施例である非可逆回路素子の挿入損失特性を示すグラフである。 第4実施例である非可逆回路素子のアイソレーション特性を示すグラフである。
以下、本発明に係る非可逆回路素子の実施例について添付図面を参照して説明する。なお、各図において、同じ部品、部分には共通する符号を付し、重複する説明は省略する。
(第1実施例、図1〜図7参照)
第1実施例である非可逆回路素子の分解斜視図を図1に示す。この非可逆回路素子は、2ポート型アイソレータであり、概略、回路基板20と、マイクロ波用磁性体32(以下、フェライト32と記す)と一対の永久磁石41とからなるフェライト・磁石素子30と、平板状ヨーク10と、封止樹脂11と、チップタイプの抵抗素子Rと、チップタイプのコンデンサ素子C1,C2と、チップタイプのスイッチング素子S11とで構成されている。
フェライト32には、以下に図4及び図5を参照して詳述するように、表裏の主面32a,32bに、第1導体35、第2導体36及び第3導体37が導体膜にて形成されている。ここで、フェライト32は互いに平行な第1主面32a及び第2主面32b、上面32c、下面32dを有する直方体形状をなしている。
永久磁石41はフェライト32に対して磁界を主面32a,32bに垂直方向に印加するように主面32a,32bに対向して、例えば、エポキシ系の接着剤42を介して接着され、フェライト・磁石素子30を構成している。永久磁石41の主面はフェライト32の主面32a,32bと同一寸法であり、互いの外形が一致するように主面どうしを対向させて配置されている。
図4及び図5に示すように、第1導体35は一端が下面32dの右方に設けた電極35aに接続された状態で第1主面32aを左方に約2/3程度延在して中点導体38に接続されている。第2導体36は一端が下面32dの左方に設けた電極36aに接続された状態で第1主面32aを右方に約1/3程度延在して中点導体38に接続されている。中点導体38は上面32cに設けた電極37aに接続されている。
第3導体37は、主として、第2主面32bに設けた導体37b,37f,37jと、第1主面32aに絶縁層43を介して設けた導体37d,37hから構成されている。導体37b,37f,37jの上部は電極37a,37e,37iに接続され、下部は電極37c,37g,37kに接続されている。導体37d,37hの上部は電極37e,37iに接続され、下部は電極37c,37gに接続されている。即ち、第3導体37は、導体37b,37d,37f,37h,37j及び電極37a,37c,37e,37g,37i,37kからなるもので、中点導体38から引き出されて第1導体35及び第2導体36に絶縁状態で交差してフェライト32に2.5ターン巻回されている。
フェライト32の上下面32c,32dに形成された前記電極は、凹部に電極用導体を塗布又は充填して形成されている。この種の電極は、マザーフェライト基板に予めスルーホールを形成し、このスルーホールを電極用導体で充填した後、スルーホールを分断する位置でカットすることによって形成される。なお、各種電極はスルーホールに導体膜として形成したものであってもよい。また、多数個取りの手法で製作される場合、マザーフェライト基板に接着剤を介して永久磁石をも積層した状態でカットされることもある。
フェライト32としては、YIGフェライトなどが用いられている。第1、第2及び第3導体35,36,37や各種電極は銀や銀合金の厚膜又は薄膜として印刷、転写、フォトリソグラフィなどで形成することができる。絶縁層43としては、ガラスやアルミナなどの誘電体厚膜、ポリイミドなどの樹脂膜などを用いることができる。
永久磁石41は、通常、ストロンチウム系、バリウム系、ランタン−コバルト系のフェライトマグネットが用いられる。永久磁石41とフェライト32とを接着する接着剤42としては、一液性の熱硬化型エポキシ接着剤を用いることが最適である。
平板状ヨーク10は、高周波電磁回路を形成するとともにシールド機能を有するもので、前記フェライト・磁石素子30の上面に封止樹脂11を介して固定されている。
回路基板20は、表面に、入力端子電極21、出力端子電極22、グランド端子電極23、中継端子電極24及び制御端子電極25が形成されている。前記フェライト・磁石素子30及び抵抗素子R、コンデンサ素子C1,C2、スイッチング素子S11は回路基板20上に実装される。フェライト・磁石素子30は、回路基板20上にフェライト32の主面32a,32bが垂直方向に位置するように実装される。このとき、電極35aは入力端子電極21に接続され、電極36aは出力端子電極22に接続され、電極37kはグランド端子電極23に接続される。また、コンデンサ素子C1と抵抗素子Rは入力端子電極21と出力端子電極22に接続される。コンデンサ素子C2は出力端子電極22と中継端子電極24に接続される。スイッチング素子S11は入力端子電極21と中継端子電極24に接続されるとともに、制御端子電極25に接続される。
前記接続関係によって、本2ポート型アイソレータは、図3に示す等価回路に構成される。即ち、第1導体35と第2導体36とは中点導体38で接続され、第1導体35の端部(電極35a)が入力ポートP1とされ、第2導体36の端部(電極36a)が出力ポートP2とされ、第3導体37の端部(電極37k)がグランドポートP3とされる。また、入力ポートP1と出力ポートP2との間に、抵抗素子Rとコンデンサ素子C1とが、第1導体35及び第2導体36に対してそれぞれ並列に接続され、かつ、入力ポートP1と出力ポートP2との間に、コンデンサ素子C2とそのオン、オフを切り替えるスイッチング素子S11とが接続される。
以上の構成からなる2ポート型アイソレータにおいては、入力ポートP1に高周波電流が入力すると、第2導体36及び第3導体37に大きな高周波電流が流れて出力ポートP2から出力される。このとき、抵抗素子R、コンデンサC1,C2にはほとんど高周波電流が流れないため、挿入損失が悪化することはない。一方、出力ポートP2から入力された高周波電流は、第1導体35とコンデンサC1,C2とで形成される並列共振回路によって減衰(アイソレーション)され、かつ、抵抗素子Rによって熱として放出される。そして、スイッチング素子S11によってコンデンサC2のオン、オフを変更することによりアイソレーション周波数が調整される。また、終端抵抗Rのインピーダンスを選択することにより、減衰量が調整される。これにて、挿入損失の悪化を伴うことなくアイソレーション周波数の調整(シフト)が可能になる。なお、特性に関しては図6及び図7に具体的に示す。
第1導体35、第2導体36及び第3導体37はそれぞれインダクタL1,L2,L3として磁気的に結合しており、第1導体35と第3導体37との相互インダクタンスと、第2導体36と第3導体37との相互インダクタンスとが異なっており、両者の相互インダクタンスを調整することにより、入力側のインピーダンスが約25Ωに低下する。即ち、本実施例においては、第1導体35(L1)と第3導体37(L3)との結合が相対的に強く、第2導体36(L2)と第3導体37(L3)の結合が相対的に弱く調整されている。このような調整は、第1導体35と第2導体36との長さを異ならせること、第1導体35と第2導体36に対する第3導体37の結合度を異ならせることによって行われる。このように、本実施例においては、フェライト32に設けた導体35,36,37(インダクタL1,L2,L3)がインピーダンス変換機能を有し、別部品としてインダクタを追加する必要がなく、挿入損失を低下させたり、大型化を招来することなく、入力インピーダンスの低下を達成できる。
本実施例のごとく、第3導体37をフェライト32に2.5ターン巻回した場合の挿入損失特性を図6に示し、アイソレーション特性を図7に示す。図6及び図7において、実線はスイッチング素子S11によってコンデンサ素子C2をオフさせた場合の特性を示し、点線はコンデンサ素子C2をオンさせた場合の特性を示す。図6から明らかなように、挿入損失特性を示す曲線はほとんど重なっており、コンデンサC2を挿入したことによる挿入損失特性への影響は生じていない。
一方、図7から明らかなように、コンデンサ素子C2をオンすることによりアイソレーション周波数が低周波数帯域へシフトする。即ち、アイソレーション特性はコンデンサC2をオフした場合にBand1(1920−1980MHz)であったものが、コンデンサC2をオンするとBand2(1850−1910MHz)にシフトする。ちなみに、コンデンサ素子C1の容量値は6.3pF、コンデンサ素子C2の容量値は1.2pF、抵抗素子Rの抵抗値は110Ωである。また、入出力間のインピーダンスは25−50Ωである。
さらに、本2ポート型アイソレータにおいて、フェライト・磁石素子30は、フェライト32と一対の永久磁石41が接着剤42で一体化されていることで、機械的に安定となり、振動や衝撃で変形・破損しない堅牢なアイソレータとなる。
(第2実施例、図8参照)
第2実施例である非可逆回路素子(2ポート型アイソレータ)は、図8に等価回路で示すように、入力ポートP1と出力ポートP2との間に抵抗素子Rを第1及び第2導体35,36に対して並列に接続するとともに、入力ポートP1と出力ポートP2との間に抵抗素子Rと並列に接続したコンデンサ素子C1を容量可変コンデンサとしたものである。他の構成は前記第1実施例と同様である。
この2ポート型アイソレータにおける順方向及び逆方向の動作は前記第1実施例と同様であり、容量可変コンデンサ素子C1の容量値を変更することにより、ほぼ同じ挿入損失特性を維持しつつ、アイソレーション周波数を調整(シフト)することができる。なお、容量可変コンデンサC1は、容量値が段階的に変更可能、あるいは、容量値が無段階に変更可能のいずれであってもよい。
(第3実施例、図9参照)
第3実施例である非可逆回路素子(2ポート型アイソレータ)は、図9に等価回路で示すように、前記第1実施例で示したスイッチング素子S11を半導体スイッチS12として構成したものである。半導体スイッチS12は、ダイオードD12、抵抗R12及びコンデンサ素子C12からなるSPSTスイッチとして周知のものである。他の構成は第1実施例と同様であり、その作用効果も第1実施例で説明したとおりである。なお、スイッチング素子としては、SPDTスイッチやMEMSスイッチなどを用いてもよい。
(第4実施例、図10〜図12参照)
第4実施例である非可逆回路素子(2ポート型アイソレータ)は、図10に等価回路で示すように、調整用コンデンサ素子C2にいま一つの調整用コンデンサ素子C3を並列に追加し、二つの調整用コンデンサ素子C2,C3のオン、オフを選択的に切り替えるスイッチング素子S13を接続したものである。スイッチング素子S13は、コンデンサC2,C3のオン、オフを個別に切り替えるとともに、中立位置をも選択できる。スイッチング素子としては、SPDTスイッチやMEMSスイッチを用いてもよい。本第4実施例では調整用の容量値を3段階に切り替え可能である。他の構成は、前記第1実施例と同様であり、その作用効果も基本的には第1実施例と同様である。
本第4実施例における挿入損失特性を図11に示し、アイソレーション特性を図12に示す。図11及び図12において、実線はスイッチング素子S13によってコンデンサ素子C2,C3をオフさせた場合(コンデンサ素子C1のみが作用する場合)の特性を示す。点線はコンデンサ素子C2をオンさせた場合(コンデンサ素子C1,C2が並列容量として作用する場合)の特性を示す。一点鎖線はコンデンサ素子C3をオンさせた場合(コンデンサ素子C1,C3が並列容量として作用する場合)の特性を示す。図11から明らかなように、それぞれの挿入損失特性を示す曲線はほとんど重なっており、コンデンサC2,C3を挿入したことによる挿入損失特性への影響は生じていない。
一方、図12から明らかなように、コンデンサC2,C3をオンすることによりアイソレーション周波数が低周波数帯域へシフトしている。即ち、アイソレーション特性はコンデンサC2,C3をオフした場合にBand1(1920−1980MHz)であったものが、コンデンサC2をオンするとBand2(1850−1910MHz)にシフトし、コンデンサC3をオンするとBand3(1710−1785MHz)にシフトする。
ちなみに、コンデンサ素子C1の容量値は6.3pF、コンデンサ素子C2の容量値は1.2pF、コンデンサ素子C3の容量値は3.1pF、抵抗素子Rの抵抗値は110Ωである。また、入出力間のインピーダンスは25−50Ωである。
(他の実施例)
なお、本発明に係る非可逆回路素子は前記実施例に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更することができる。
例えば、永久磁石41のN極とS極を反転させれば、入力ポートP1と出力ポートP2とが入れ替わる。また、前記第1、第2、及び第3導体35,36,37の形状は種々に変更することができる。例えば、第1及び第2導体35,36はフェライト32の主面32a上で2本に分岐していてもよく、側面に回り込んでいてもよい。また、回路基板20を多層基板とし、コンデンサ素子Cなどを内部電極で構成してもよい。
さらに、第1、第2導体に対する第3導体のターン数も0.5〜4.5ターン程度で任意のターン数に設定することができ、それぞれのターン数に応じた挿入損失特性、アイソレーション特性や入出力インピーダンス変換特性が得られる。
以上のように、本発明は、非可逆回路素子に有用であり、特に、実用上必要な挿入損失を維持しつつアイソレーション周波数を調整できる点で優れている。
20…回路基板
21…入力端子電極
22…出力端子電極
23…グランド端子電極
30…フェライト・磁石素子
32…フェライト
35…第1導体
36…第2導体
37…第3導体
41…永久磁石
P1…入力ポート
P2…出力ポート
P3…グランドポート
R…抵抗素子
C1,C2,C3…コンデンサ素子
S11,S12,S13…スイッチング素子

Claims (6)

  1. マイクロ波用磁性体の主面に互いに一端で接続された状態で設けた第1導体及び第2導体と、
    前記第1導体及び第2導体の接続点から引き出されて前記第1導体及び第2導体に絶縁状態で交差して前記マイクロ波用磁性体に巻回された第3導体と、
    前記第1導体、第2導体及び第3導体の交差部分に直流磁界を印加する永久磁石と、
    を備え、
    前記第1導体及び第2導体の端部を入出力ポートとし、前記第3導体の端部をグランドポートとし、
    前記入出力ポート間に抵抗素子が前記第1導体及び第2導体に対して並列に接続されており、
    前記入出力間に容量が可変な容量手段が前記抵抗素子と並列に接続されていること、
    を特徴とする非可逆回路素子。
  2. 前記第1導体と前記第3導体との相互インダクタンスと、前記第2導体と前記第3導体との相互インダクタンスとが異なっていること、
    を特徴とする請求項1に記載の非可逆回路素子。
  3. 前記第1導体と前記第2導体とは前記マイクロ波用磁性体の一主面に設けられていること、を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の非可逆回路素子。
  4. 前記容量手段は容量可変コンデンサからなること、を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の非可逆回路素子。
  5. 前記容量手段は、少なくとも一つのコンデンサと該コンデンサのオン、オフを切り替えるスイッチング素子とを有していること、を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の非可逆回路素子。
  6. 前記容量手段は、並列に接続された複数のコンデンサとそれぞれのコンデンサのオン、オフを切り替えるスイッチング素子とを有していること、を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の非可逆回路素子。
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