JP2012032315A - 検査治具及び接触子 - Google Patents

検査治具及び接触子 Download PDF

Info

Publication number
JP2012032315A
JP2012032315A JP2010173215A JP2010173215A JP2012032315A JP 2012032315 A JP2012032315 A JP 2012032315A JP 2010173215 A JP2010173215 A JP 2010173215A JP 2010173215 A JP2010173215 A JP 2010173215A JP 2012032315 A JP2012032315 A JP 2012032315A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
electrode
coil spring
inspection
relay
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010173215A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Nishikawa
秀雄 西川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hideo Nishikawa
Original Assignee
Hideo Nishikawa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hideo Nishikawa filed Critical Hideo Nishikawa
Priority to JP2010173215A priority Critical patent/JP2012032315A/ja
Priority to PCT/JP2011/065930 priority patent/WO2012014673A1/ja
Priority to CN2011800368770A priority patent/CN103026242A/zh
Publication of JP2012032315A publication Critical patent/JP2012032315A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

【課題】製造容易として安価に製造できるだけでなく保守も容易な、接触子と電極との導電接触を確実にすることと、接触子の内部抵抗の改善ができるプリント配線板などの電子部品に通電する検査治具及び接触子を提供する。
【解決手段】先端111が被検査プリント配線板の検査端子に導電接触する接触子10は導電性の接触針11とコイルばね12とが連結されて一体となり、接触子保持体20に保持され、検査装置と接続されている電極41と被検査プリント配線板の検査端子とに圧接されて導電接触する。
コイルばね12の電極41と接触する電極端121は端末において,中心方向に曲げられて中心近傍において切断されている。この接触子10を保持した接触子保持体20をコイルばね12と直列に電極41を有する電極部40に着脱可能に搭載する検査治具1
【選択図】図2

Description

本発明は、プリント配線板などの電子部品に備えられた検査端子に接触される接触子及び検査治具に関するものである。
プリント配線板の検査ついて、一般的な構成を図1で説明する。検査治具1は被検査プリント配線板と検査装置の間に配置されて、導電を確保し抵抗値などの電気特性が検査される。被検査プリント配線板の検査端子に導電接触する複数の接触子10を保持する接触子保持体20、この接触子保持体20を支持して接触子10と導電接触する電極を有する電極部40はコネクタ46を介して検査装置と接続されている。この接触子保持体20と電極部40を分離可能にする構成は、製作と保守に有効である。
特許文献1に峡ピッチICパッケージ用ICソケットに使用するコンタクトピン(接触子)140として、図6のコンタクトピン140がある。プランジャー141とコイルバネユニット145が同軸に重合して配置されてICソケットに保持されてなる。端子部142の先端が被検査ICパッケージの半田ボールなどの検査端子と接触し、コイルバネユニット145の密着細巻き部148の端末が検査装置と接続されている電極と接触する。心棒部141の幅広部143がICソケットとコイルバネユニット145とを係止して使用される。心棒部144が密着巻き部147の内周と摺動して伸縮し、検査時のコンタクトピン(接触子)140の内部抵抗とインダクタンスの改善をしている。
しかし、細巻きの最小外径にはコイルバネの特性で線径の4倍の限界があり、コイル径の小さい微細コイルバネの制約になっている。電極の表面の面積が大きいか突起している場合は有効であるが、面積の小さい、周辺にレジストがある凹んだ検査端子、位置ずれがある等の場合は接触が困難になる。
同様のコイルばねの端末として特許文献2において、(図7)に縮径密巻き部(符号5c)がある。しかし、不都合は特許文献1と同様である。
同様に密着細巻き部147の機能をより確実にする先行技術として、特許文献3に円筒部材の接続端子(符号24)がある。しかし、部品点数が増えて、製作コストが上がる。
電極と導電接触を確実にする円錐の形状になった先行技術として、特許文献4に受けピン(符号3)の先端部(符号3a)がある。しかし、部品点数が増え、受けピン(符号3)の加工が複雑であり、製作コストが上がる。
上記のように、検査治具1の電極41と接触子10との導電接触と、接触子10の内部電気特性の改善に各種の工夫がなされている。
特許第3768183号公報 特許第3326095号公報 特開2010−78432号公報 特許第3369492号公報
近年、電子機器の小型化が進行し、プリント配線板や電子部品などの微細化と高密度化が進み、検査端子の増加と検査間隔の微細化に反比例し接触子の高単価化することが相乗して、検査治具の価格が騰貴しコスト低減が重要な課題となっている。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたもので、製造容易として安価に製造できるだけでなく保守も容易な、接触子と電極との導電接触を確実にすることと、接触子の内部抵抗とインダクタンスの改善ができるプリント配線板に通電する検査治具及び接触子を提供することを目的とする。
請求項1記載の発明に依れば、プリンド配線板などの電子部品に備えられた検査端子に先端が接触される接触子、検査装置と接続する電極部を備える検査治具において、電極部は検査装置と接続されるコネクタ、コネクタからのリード線の他端に電極板に固着される電極は接触子と直列に配設され、電極板は支持体に固着されて、支持体はコネクタと共に治具ベース板に固着されてなり、接触子は導電性の接触針とコイルばねからなり、接触針は先端、突出部、中継部、延設部からなり、コイルばねは中継端、ばね定数部、電極端からなり、中継部の外周と中継端の内周とが連結されて連結部を形成し一体となり、延設部はコイルばねの伸縮を案内し、接触子保持体に保持され、接触子保持体は、先端を検査端子に案内する第1案内板とコイルばねを電極に案内する第2案内板と、コイルばねを保持するコイルばね保持板からなり、コイルばねの電極端は端末において中心方向に曲げられて、中心近傍に切断があることを特徴とする。
請求項2記載の発明に依れば、請求項1記載の検査治具において、電極端の端点は接触針の中心近傍にあることを特徴とする。
請求項3記載の発明に依れば、請求項1又は請求項2記載の検査治具において、電極端の切断線はコイルばねの中心方向又は円周方向にあることを特徴とする。
請求項4記載の発明に依れば、プリンド配線板などの電子部品に備えられた検査端子と先端が接触され、電極端と検査装置に接続されている電極とを接触する接触子において、接触子は導電性の接触針とコイルばねからなり、接触針は先端、突出部、中継部、延設部からなり、コイルばねは中継端、ばね定数部、電極端からなり、中継部の外周と中継端の内周とが連結されて連結部を形成し一体となり、延設部はコイルばねの伸縮を案内し、接触子保持体に保持されて、電極と検査端子とに圧接されて導電接触し、コイルばねの電極端は端末において中心方向に曲げられて、中心近傍に切断があることを特徴とする。
請求項5記載の発明に依れば、請求項4記載の接触子において、電極端の端点は接触針の中心近傍にあることを特徴とする。
請求項6記載の発明に依れば、請求項4又は請求項5記載の接触子において、電極端の切断線はコイルばねの中心方向又は円周方向にあることを特徴とする。
請求項1発明に依れば、コイルばねの電極端の端面がコイルばねの中心近傍にあるので、電極部の電極と接触子保持体に保持された接触子の電極端との導電接触が確実に確保されるので検査の信頼性を確保できる。接触針を傾斜させることで、微小な間隔の検査端子の検査も容易にでき、検査端子の変更にも対応できることがある。延設部がコイルばねの伸縮を摺動しガイドするので、接触子の内部抵抗とインダクタンスを改善し、電極にコイルばねの荷重を効率良く伝達し導電接触を確実にする。接触針とコイルばねとが連結されているので連結部は導電接続となり内部抵抗が安定する。部品と接触子保持体の構成が単純で設計、部品の製造、及び検査治具の組立と保守において、接触子が一体となり接触針保持板が着脱可能で、組立と不良の接触子の交換とが容易でコスト低減に適合する。
請求項2及び5の発明に依れば、一体の接触子の両端を同軸の円錐として扱えるので適用の範囲が広く設計、組立、保守が容易である。
請求項3及び6の発明に依れば、接触子の接触荷重が小さい条件から大きい場合まで、同一径の電極の使用範囲が拡大し設計と製作が容易になる。
各々の請求項の発明の効果は、共通手段をコイルばねの電極端の中心近傍の切断と、延設部の案内による伸縮としているので、他の請求項の効果にもなる。
図1は本発明の実施形態を示す検査治具の全体の構成を示す説明図。 図2は本発明の実施形態における検査治具の断面図。 図3は本発明の実施形態を示すコイルばねを示す拡大図。 図4は本発明の実施形態のコイルばねの電極端の使用状態を模式的に示す説明図。 図5は本発明の実施例2における検査治具の断面図。 図6は従来の検査治具を示す断面図。
接触子10と電極部40の電極41とを確実に導電接触させる目的を、最小の部品点数で、製作と保守が容易に実現した。
本発明の実施形態の検査治具1は、図1に示すように、複数の接触子10は接触子保持体20に保持されて、電極板42に着脱可能に装着されている。電極板42には図2に示す電極41が接触子10のコイルばね12と直列に配設されて支持体43に固着している。支持体43はコネクタ46と共に治具ベース板45に固着されている。電極41とコネクタ46はリード線44で配線されて電極部40を形成している。検査治具1が検査装置に搭載されて、コネクタ46を介して電気的に接続される。接触子10の先端111が被検査プリント配線板の検査端子に圧接して電気特性を測定することができることになる。
図2及び図3において、内部の構成を説明する。接触子10は接触針11とコイルばね12を同軸に重合して配置されている。導電性金属の接触針11は先端111、突出部112、中継部113、延設部114からなり、先端111は導電接触を確実にするために60度の円錐となっている。突出部112は外径が大体コイルばね12の中心径と同じで接触子保持体20の第1案内板21から伸縮可能に突出して被検査プリント配線板の検査端子との圧接を確保している。中継部113はコイルばね12の内径より少し大きい径で係止の位置から2mm程度加工されて、コイルばね12の中継端122に係止の位置まで圧入して握着されて連結部115を形成し一体となり、接触子保持体20に保持されるために係止の機能をする。
連結部115の外径は第2案内孔221より大きい径になっている。延設部114はコイルばね12の内径より少し小さく中継部113と連続して突出部112の反対側に圧接時コイルばね12の電極端121と干渉しない長さ延設して90度の円錐の端面で伸縮するコイルばね12の内側と摺動し伸縮を同軸に案内して導電接触する。材質はSK4、表面処理は金めっきとしているが、先端形状と合わせて使用条件により各々を変更しても良い。
第1案内板21には先端111を被検査プリント配線板の検査端子に案内する第1案内孔211と、第2案内板22にはコイルばね12を電極に案内する第2案内孔221とが同軸に外側に形成され、内側は少し大きな径の第1貫通孔212と第2貫通孔222を形成している。コイルバネ保持板23にはコイルばね12が伸縮可能なコイルばね保持孔231が第2案内孔221と同軸に形成されて、第1案内板21と第2案内板22に整合して重ねて螺子止めされて接触子保持体20を形成している。
コイルばね12はピアノ線などの導電性の金属で、接触針11と一体に付勢してコイルばね保持板23に保持されている。コイルばね12の表面処理は導電接触を確実にするために金めっきが望ましい。
電極41は電極板42にコイルばね保持孔231と同軸の電極孔411にエナメル線などのリード線44が挿入されて接着剤411aで固定されて平面加工されている。コイルばね12と電極41とが同軸の中心近傍で導電接触している。電極41の表面処理も導電接触を確実にするために金めっきが望ましい。
接触子保持体20に保持されて接触子10は電極部40に搭載されているので、コイルばね12に付勢が掛けられて圧接の前に初期荷重を有する。これは、接触子10の中継部113と中継端122は握着し導電接続しており、内部接触の電極端121と電極41が導電接触している状態にあり、多数の接触子10の確実な導電接触を確保することができる。
本発明のコイルばね12について、図3において説明する。コイルばね12は接触針11の中継部113の外周に握着する中継端122、コイルばね12の伸縮特性を有するばね定数部123、電極41と導電接触する電極端121からなる。中継端122の端末処理は係止を確実するためにクローズドエンドの研磨とすることが望ましい。
電極端121の端末処理は、コイルばね中心線125を横切るように曲げられて、コイルばね中心線125の近傍で切断されている。製作仕様上は電極端121と電極41とが接触する端点をコイルばね中心線125としている。そして、製作上の誤差(バラツキ)とコイル巻線機の制約等は使用可能な範囲で認められる。図3の(a)は正面図、(b)は底面図、(c)は右側面図で、電極端121の端面処理の様子を示している。電極端121がコイルばね中心線125の近傍にあるので、電極41とコイルばね12との相対的な位置ずれの許容度を大きくすることができる。これは、位置ずれの可能性のあるリード線44を接着して形成する電極41や面積の小さな電極41なども対応することができる。
図4には電極端121の電極41との接触の状態を拡大表示して模式的に示している。(a)はコイルばね12の線材がコイルばね中心線125を横切った位置で切断線121aの端点がコイルばね中心線125の円錐の頂点になるように両刃のカッターで切断されている。電極端121の端面は切断により鋭利に形成されるので、低荷重でも確実な導電接触をすることができる。電極41との接触角θは、ばね定数部123と同じオープンエンドの角度から60度にするのが望ましい。(b)はその底面図である。切断時に線材の変形があり切断線121aの長さは線径よりも広くなるが図4では特に表示はしていない。電極端121が略円錐の形状になっており接触子10として好都合である。
(c)は切断線121aがコイルばね中心線125の円周方向に形成されている。電極端121の接触端面は切断によるコイルばね12の線材の円周になり切断線121aの鋭利な端でないので、コイルばね12の使用荷重が大きい時、電極41の物理強度が弱い時に採用すると長期に安定した導電接触が得られて好都合である。(d)はその底面図である。
圧接時、接触針11の延設部114はコイルばね12が圧縮する場合、ばね定数部123と摺動して圧縮を同軸に案内し導電接触する。コイルばね12の電極端121の部分は通電時の直流抵抗と交流のインダクタンス成分として残ることになるが、ばね定数部123の部分が加算されないので改善の比率が大きい。
接触子10の接触針11とコイルばね12が同軸に伸縮動作するので電極端121の電極41と接触する端点は接触針11の中心の近傍にあることになる。コイルばね保持孔231との干渉を避けて、コイルばね12の荷重を電極41と検査端子に効率良く伝え導電接触を確実にすることができる。
組立と保守について図1,2を参照して説明する。接触針11の中継部113をコイルばね12の中継端122に圧入し一体の接触子10を準備する。次に第1案内板21、第2案内板22、コイルばね保持板23を重ねて整合し螺子止めし、接触子保持体20とする。コイルばね保持板23を上側にして、接触子10の先端111を前方にして全てのコイルばね保持孔231に挿入する。組立済みの電極部40を90度に設置する。接触子10が装着された接触子保持体20を電極板42に整合して螺子で固着する。これで、検査治具1の組立は完了する。
不良の接触子10の交換は、検査治具1を90度に設置して、接触子保持体20を取り外し不良の接触子10を取り出して、良品の接触子10を挿入する。接触子10の挿入された接触子保持体20を単体で取り扱う場合、コイルばね12を下側にすると、全ての接触子10が落下するので注意が必要であるが、手順は単純で容易である。
各板を整合する場合、図には示していないが、位置合わせピンと位置合わせ孔を整合すると機械的な位置が決まる構成になっているので作業は容易である。
電極41の間隔より小さな微小な間隔の検査端子を検査する場合など、図2において、第1案内孔211、第2案内孔221、コイルばね保持孔231を同軸でなくシフトして接触子10を少し傾斜させて、先端111の位置と電極41の位置を少しシフトすることができる。
図5において具体的に説明する。先端111と電極孔411の中心線411bの位置がAシフトしていることを示している。第1案内板21は検査端子の位置に第1案内孔211を加工する、反対面から第1貫通孔212を所定値シフトして加工し孔を連結する。第2案内板22は所定値シフトして第2貫通孔222を加工する、反対面から第2案内孔221を所定値シフトして加工し孔を連結する。コイルばね保持板23はコイルばね保持孔231aを所定値シフトして加工する、反対面からコイルばね保持孔231を所定値シフトして加工し孔を連結する。連結孔のコイルばね保持孔231とコイルばね保持孔231aとがシフトしているがコイルばね12は延設部114で案内されているので連結端での干渉はない。電極板42は電極孔411を所定値シフトして加工する。
被検査プリント配線板に一部設計変更があり、検査端子の位置が少しシフトした場合にも、第1案内板21、第2案内板22、コイルばね保持板23を交換することで対応することができる場合がある。これは、接触子10の接触針11とコイルばね12が同軸に動作し両端を円錐として使用できる事例である。接触子10の全長を傾斜しているので位置の変換効率が良い。そして、接触針11の長さ、径などを変更することで適用の範囲を広げることもできる。
棒状部材の先端と中継部の端面を円錐に加工し接触針を形成し、コイルばね12の内径を棒状の接触針より少し大きく製作し、コイルばね12の中継端122を係止の位置まで挿入して溶接などで接合して連結部115を形成する。外観の形状は図5において、延設部144の外径が中継部113と突出部112まで同一径で棒状に連続することになる。接触針の加工が簡単になる。接触針とコイルばね12とが固着した一体の接触子になるので、組立と保守は同様になる。
本発明の接触子は、プリント配線板、IC、ICパッケージ等の電子部品に備えられた電極端子に接触される検査装置全般に用いることができる。
検査治具は、本発明の接触子を用いることができる通電治具に適用することができる。
1・・・・検査治具
10・・・接触子
11・・・接触針
111・・先端
113・・中継部
114・・延設部
115・・連結部
12・・・コイルばね
121・・電極端
121a・切断線
122・・中継端
125・・コイルばね中心線
20・・・接触子保持体
21・・・第1案内板
22・・・第2案内板
23・・・コイルばね保持板
40・・・電極部
41・・・電極
42・・・電極板
44・・・リード線
46・・・コネクタ

Claims (6)

  1. プリンド配線板などの電子部品に備えられた検査端子に先端が接触される接触子、検査装置と接続する電極部を備える検査治具において、
    前記電極部は前記検査装置と接続されるコネクタ、前記コネクタからのリード線の他端に電極板に固着される電極は前記接触子と直列に配設され、前記電極板は支持体に固着されて、前記支持体は前記コネクタと共に治具ベース板に固着されてなり、
    前記接触子は導電性の接触針とコイルばねからなり、前記接触針は前記先端、突出部、中継部、延設部からなり、前記コイルばねは中継端、ばね定数部、電極端からなり、前記中継部の外周と前記中継端の内周とが連結されて連結部を形成し一体となり、前記延設部は前記コイルばねの伸縮を案内し、接触子保持体に保持され、
    前記接触子保持体は、前記先端を前記検査端子に案内する第1案内板と前記コイルばねを前記電極に案内する第2案内板と、前記コイルばねを保持するコイルばね保持板からなり、
    前記コイルばねの前記電極端は端末において中心方向に曲げられて、中心近傍に切断があることを特徴とする検査治具。
  2. 前記電極端の端点は前記接触針の中心近傍にあることを特徴とする請求項1記載の検査治具。
  3. 前記電極端の切断線は前記コイルばねの中心方向又は円周方向にあることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の検査治具。
  4. プリンド配線板などの電子部品に備えられた検査端子と先端が接触され、電極端と検査装置に接続されている電極とを接触する接触子において、
    前記接触子は導電性の接触針とコイルばねからなり、前記接触針は前記先端、突出部、中継部、延設部からなり、前記コイルばねは中継端、ばね定数部、前記電極端からなり、前記中継部の外周と前記中継端の内周とが連結されて連結部を形成し一体となり、前記延設部は前記コイルばねの伸縮を案内し、接触子保持体に保持されて、前記電極と前記検査端子とに圧接されて導電接触し、
    前記コイルばねの前記電極端は端末において中心方向に曲げられて、中心近傍に切断があることを特徴とする接触子。
  5. 前記電極端の端点は前記接触針の中心近傍にあることを特徴とする請求項4記載の接触子。
  6. 前記電極端の切断線は前記コイルばねの中心方向又は円周方向にあることを特徴とする請求項4又は請求項5記載の接触子。
JP2010173215A 2010-07-29 2010-07-31 検査治具及び接触子 Pending JP2012032315A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010173215A JP2012032315A (ja) 2010-07-31 2010-07-31 検査治具及び接触子
PCT/JP2011/065930 WO2012014673A1 (ja) 2010-07-29 2011-07-13 検査治具及び接触子
CN2011800368770A CN103026242A (zh) 2010-07-29 2011-07-13 检验夹具及触头

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010173215A JP2012032315A (ja) 2010-07-31 2010-07-31 検査治具及び接触子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012032315A true JP2012032315A (ja) 2012-02-16

Family

ID=45845885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010173215A Pending JP2012032315A (ja) 2010-07-29 2010-07-31 検査治具及び接触子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2012032315A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5386769B2 (ja) 検査治具
JP6174172B2 (ja) コンタクトプローブ
KR101582432B1 (ko) 프로브 유닛
JP6107234B2 (ja) 検査用プローブ、および、それを備えるicソケット
JP2006023271A (ja) 半導体検査用プローブカード
JP5824290B2 (ja) 検査治具及び接触子
JP6706494B2 (ja) インターフェース構造
JP6283929B2 (ja) 検査用治具及び検査用治具の製造方法
JP5345598B2 (ja) 検査治具及び接触子
JP2012073213A5 (ja)
JP3154264U (ja) プローブピン及び基板検査用プローブユニット
JP2000065892A (ja) 導通検査用治具
WO2010140184A1 (ja) プローブ及びプローブ装置
JP2012032315A (ja) 検査治具及び接触子
KR20100069133A (ko) 반도체소자 테스트 소켓용 스프링 컨택터
WO2012014673A1 (ja) 検査治具及び接触子
JP5894718B2 (ja) 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法
JP5480075B2 (ja) 検査治具及び接触子
JP2010276579A (ja) 電気接触子およびそれを備える検査治具
JP2013164304A (ja) 基板検査用治具
JP2012057995A5 (ja)
JP5344740B2 (ja) コンタクトプローブ
JP2015004518A (ja) 検査治具
JP4597200B2 (ja) 通電検査用プローブ
JP6071633B2 (ja) 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法