JP2012029131A - リセット回路及びそれを備える装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】電源電圧が極低電圧状態であっても、リセットが解除されることを防ぐことができる、リセット回路を提供すること。
【解決手段】NチャネルMOSFETであるトランジスタN0と、リセットを解除すべき所定の閾値Vthを電源電圧VDDが超えることにより、トランジスタN0をオンからオフにすることによって、トランジスタN0のドレイン電圧を、リセット状態を表すローレベルからリセット解除状態を表すハイレベルに切り替えるゲート駆動回路A1とを備える、リセット回路であって、トランジスタN0のドレイン側を流れる電流Iを吸い込むことによって、トランジスタN0のドレイン電圧をローレベルに維持する吸い込み回路A2と、電源電圧VDDが閾値Vthを超えているとき、吸い込み回路A2が電流Iを吸い込むことを遮断する遮断回路A3とを備えることを特徴とする、リセット回路。
【選択図】図2

Description

本発明は、NチャネルMOSFETと、リセットを解除すべき所定の閾値を電源電圧が超えることにより、前記NチャネルMOSFETをオンからオフにすることによって、前記NチャネルMOSFETのドレイン電圧を、リセット状態を表すローレベルからリセット解除状態を表すハイレベルに切り替えるゲート駆動回路とを備える、リセット回路に関する。
従来技術として、電源電圧が所定の閾値を超えて上昇したことを検出するとリセット信号を解除するパワーオンリセット回路が知られている。図1は、パワーオンリセット回路の一例である、オープンドレイン出力のリセット回路1の構成図である。図1のリセット回路1の場合、コンパレータC1は、電源電圧VDDの抵抗R1とR2,R3による分圧電圧Vcが基準電圧Vrefよりも低いときには、ハイレベルのゲート駆動信号VGを出力信号として出力する。したがって、リセット回路1は、ハイレベルのゲート駆動信号VGによりトランジスタN0がオンするので、出力端子13の電圧レベルPORをローレベルにする。逆に、コンパレータC1は、分圧電圧Vcが基準電圧Vrefよりも高いときには、ローレベルのゲート駆動信号VGを出力信号として出力する。したがって、リセット回路1は、ローレベルのゲート駆動信号VGによりトランジスタN0がオフするので、出力端子13の電圧レベルPORをハイレベルにする。
すなわち、図1の回路の場合、電源電圧VDDの電圧状態が不図示の外部装置にリセットをかけるべき低電圧状態のときには、電圧レベルPORはローレベルになり、電源電圧VDDの電圧状態が外部装置のリセットを解除可能な定常電圧状態のときには、電圧レベルPORはハイレベルになる。
なお、リセット回路に関する先行技術文献として、例えば特許文献1が知られている。
特開2001−141761号公報
図1の回路の場合、電源電圧VDDが零Vよりも僅かに大きい極低電圧状態では、電源電圧VDDを動作電源電圧とするコンパレータC1は、トランジスタN0をオンできるほどのゲート電圧を出力することができない。そのため、トランジスタN0は電流を吸い込むことができない結果、出力端子13の電圧レベルPORはハイレベルになる。
ところが、マイクロコンピュータ等の制御回路の動作電圧の低電圧化が近年進んでいるため、電源電圧VDDが極低電圧状態であっても、電圧レベルPORがハイレベルになってしまうと、リセットの解除がされるべき電源電圧ではないにもかかわらず、そのような制御回路が、リセットの解除がされたと認識してしまうおそれがある。
この点、電源電圧VDDが極低電圧状態であっても出力端子の電圧をローレベルにすることが可能な特許文献1の発明は、CMOS出力の場合を対象としているので、図1の回路のようなオープンドレイン出力の場合にそのまま適用することができない。
そこで、本発明は、電源電圧が極低電圧状態であっても、リセットが解除されることを防ぐことができる、リセット回路及びそれを備える装置の提供を目的とする。
上記目的を達成するため、本発明に係るリセット回路は、
NチャネルMOSFETと、
リセットを解除すべき所定の閾値を電源電圧が超えることにより、前記NチャネルMOSFETをオンからオフにすることによって、前記NチャネルMOSFETのドレイン電圧を、リセット状態を表すローレベルからリセット解除状態を表すハイレベルに切り替えるゲート駆動回路とを備える、リセット回路であって、
前記NチャネルMOSFETのドレイン側を流れる電流を吸い込むことによって、前記ドレイン電圧をローレベルに維持する吸い込み回路と、
前記電源電圧が前記閾値を超えているとき、前記吸い込み回路が前記電流を吸い込むことを遮断する遮断回路とを備えることを特徴とするものである。
本発明によれば、電源電圧が極低電圧状態であっても、リセットが解除されることを防ぐことができる。
従来のリセット回路1の構成図である。 本発明の一実施形態である制御装置100の構成図である。 リセット回路4を備える制御装置200の構成図である。 電源電圧VDDの電圧状態とトランジスタN0,P1,N1のオン/オフ状態と電圧レベルPORのハイ/ロー状態との関係をまとめた図である。 図1のリセット回路1における、電源電圧VDDと電圧レベルPORとの関係図である。 図3のリセット回路4における、電源電圧VDDと電圧レベルPORとの関係図である。 リセット回路5を備える制御装置300の構成図である。
以下、図面を参照して、本発明を実施するための形態の説明を行う。図2は、本発明の一実施形態である制御装置100の構成図である。制御装置100は、リセット回路2と制御回路3とを備えるシステム回路である。例えば、リセット回路2と制御回路3は、システムオンチップ(SOC)の集積回路である。リセット回路2は、制御回路3のリセット及びリセット解除を制御する。制御回路3の具体例として、中央演算処理装置(CPU)が挙げられ、制御装置100の具体例として、制御回路3をCPUとして内蔵するマイクロコンピュータが挙げられる。
リセット回路2は、電源電圧VDDの電圧状態が制御回路3等の周辺回路にリセットをかけるべき低電圧状態のときには、電圧レベルPORをローレベルに維持し、電源電圧VDDの電圧状態が制御回路3等の周辺回路のリセットを解除可能な定常電圧状態のときには、電圧レベルPORをハイレベルに維持する機能を有する。
電源電圧VDDは、不図示のレギュレータ等の電圧制御回路によって、予め設定された目標電圧に一致するように制御される。電源電圧VDDの立ち上がり時には、電源電圧VDDの目標電圧よりも少し低い電圧で、リセット回路2の出力端子13の電圧レベルPORがローレベルからハイレベルに切り替わることにより、リセットモードからリセット解除モードに移行する。また、電源電圧VDDの立ち下がり時にも同様に、電源電圧VDDの目標電圧よりも少し低い電圧で、電圧レベルPORがハイレベルからローレベルに切り替わることにより、リセット解除モードからリセットモードに移行する。
リセット回路2は、トランジスタN0と、ゲート駆動回路A1と、吸い込み(sink)回路A2と、遮断回路A3とを備える。
トランジスタN0は、エンハンスメント型MOS電界効果トランジスタ(FET)である。トランジスタN0は、オープンドレイン出力でリセット回路2の出力部を構成するソース接地回路である。トランジスタN0のドレインに接続される出力端子13と電源電圧VDDの電源端子11との間には、リセット回路2に外付けされた抵抗R4が挿入される。なお、抵抗R4は、トランジスタN0のドレインと電源電圧VDDとの間に挿入されればよいので、制御回路3に内蔵されてもよいし、リセット回路2に内蔵されてもよい。
ゲート駆動回路A1は、リセットを解除すべき所定の閾値Vthを電源電圧VDDが超えることにより、トランジスタN0をオンからオフにすることによって、出力端子13(すなわち、トランジスタN0のドレイン電圧)の電圧レベルPORを、リセット状態を表すローレベルからリセット解除状態を表すハイレベルに切り替える。ゲート駆動回路A1は、ローレベルのゲート駆動信号VGをトランジスタN0のゲートに出力することによって、トランジスタN0をオフし、ハイレベルのゲート駆動信号VGをトランジスタN0のゲートに出力することによって、トランジスタN0をオンする。ゲート駆動回路A1は、電源電圧VDDを動作電源電圧とする回路である。
ゲート駆動回路A1は、例えば、電源電圧VDDを動作電源電圧とするコンパレータC1を有する。コンパレータC1は、電源電圧VDDと閾値Vthとを比較するための回路であって、その比較結果に応じて、ゲート駆動信号VGの電圧レベルをハイレベル又はローレベルに切り替える。
吸い込み回路A2は、トランジスタN0のドレイン側の出力端子13を流れる電流Iを吸い込むことによって、トランジスタN0のドレイン電圧の電圧レベルPORをローレベルに維持する。電流Iは、抵抗R4を介して、吸い込み回路A2に流れ込む。
遮断回路A3は、電源電圧VDDが閾値Vthを超えているとき、吸い込み回路A2が電流Iを吸い込むことを遮断することによって、吸い込み回路A2が電圧レベルPORをローレベルに維持することを解除する。
なお、リセット回路2の電源端子11は、制御回路3の電源端子16に接続され、リセット回路2の出力端子13は、制御回路3のリセット入力端子18に接続され、リセット回路2のグランド端子12は、制御回路3のグランド端子17に接続される。
したがって、このような構成を備えるリセット回路2によれば、電源電圧VDDが極低電圧状態のためにトランジスタN0がたとえオフしても、吸い込み回路A2によってトランジスタN0のドレイン電圧の電圧レベルPORはローレベルに強制的に維持されるので、電圧レベルPORがハイレベルになることを防ぐことができる。その結果、制御回路3が、リセットが解除されるべき電源電圧ではないにもかかわらず、リセットが解除されたと認識してしまうことを防ぐことができる。また、電源電圧VDDが閾値Vthを超えれば、吸い込み回路A2による電流Iの吸い込みは遮断回路A3によって遮断されるとともに、トランジスタN0はローレベルのゲート駆動信号VGに従ってオフする。これにより、電圧レベルPORはハイレベルになるので、リセットが解除されるべき電源電圧でリセットが解除されないことを防ぐこともできる。
次に、リセット回路2の具体例であるリセット回路4について説明する。図3は、リセット回路4を備える制御装置200の構成図である。上述と同様の構成については、その説明を省略する。
ゲート駆動回路A1は、抵抗分圧回路(R1,R2,R3)と、コンパレータC1と、基準電圧Vrefを生成する基準電圧生成回路S1とを有する。
抵抗分圧回路(R1,R2,R3)は、電源電圧VDDを監視する監視回路である。抵抗分圧回路(R1,R2,R3)は、抵抗R1とR2とR3との直列回路であって、グランド端子12に接続されたグランドパターンと電源端子11に接続された電源パターンとの間に挿入される。抵抗分圧回路(R1,R2,R3)は、抵抗R1と抵抗R2との接続点から、電源電圧VDDを分圧した検出電圧Vcを出力する。つまり、検出電圧Vcは、電源電圧VDDに対応した値である。
抵抗分圧回路(R1,R2,R3)は、コンパレータC1の出力電圧(ゲート駆動信号VG)がローレベルのときには、トランジスタB1がオフなので、電源電圧VDDを抵抗R1とR2,R3とによる分圧をすることによって、検出電圧Vcを出力し、コンパレータC1の出力電圧がハイレベルのときには、トランジスタB1がオンなので、電源電圧VDDを抵抗R1と抵抗R2とによる分圧をすることによって、検出電圧Vcを出力する。これにより、検出電圧Vcにヒステリシスを持たせることができる。
コンパレータC1は、検出電圧Vcと基準電圧Vrefとが比較入力され、その比較入力結果に応じたゲート駆動信号VGを出力する。基準電圧Vrefは、電源電圧VDDが基準電圧生成回路Sによって降圧変換されて生成された一定の電圧値である。基準電圧Vrefは、コンパレータC1の非反転入力端子に入力され、検出電圧Vcは、コンパレータC1の反転入力端子に入力される。したがって、コンパレータC1は、検出電圧Vcが基準電圧Vrefを超えていないと検出しているときには、ハイレベルのゲート駆動信号VGを出力し、検出電圧Vcが基準電圧Vrefを超えていると検出しているときには、ローレベルのゲート駆動信号VGを出力するものである。
基準電圧Vrefを生成する基準電圧生成回路Sは、例えば、定電流源S1から流れる定電流を基準電圧生成素子S2に流すことによって、電源電圧VDDよりも低い一定の基準電圧Vrefを生成する。定電流源S1は、例えば、ドレインが電源電圧VDDに接続され且つゲートとソースとの間がショートされたデプレッション型MOSFETによって構成される。基準電圧生成素子S2は、例えば、ダイオード接続されたデプレッション型MOSFETによって構成される。
また、リセット回路4は、図2に示した吸い込み回路A2として、ゲートとソースとの間が抵抗R5を介してショートされたデプレッション型NチャネルMOSFETであるトランジスタN1を備える。トランジスタN1のゲートはグランドに接続され、トランジスタN1のソースは抵抗R5を介してグランドに接続される。これにより、トランジスタN1のソース基準のゲート電圧を零Vにすることができる。そして、トランジスタN1のソース基準のゲート電圧が零Vであり且つトランジスタN1のドレインはトランジスタN0のドレインに接続されているので、トランジスタN1は、トランジスタN0のドレイン側に流れる電流Iを、後述のトランジスタP1及び抵抗R5から構成される遮断回路が遮断しない限り、常時(特には、電源電圧VDDが極低電圧状態であっても)、吸い込むことができる。
また、リセット回路4は、図2に示した遮断回路A2として、PチャネルMOSFETであるトランジスタP1と、抵抗R5とを備える。トランジスタP1は、コンパレータC1から出力されるローレベルのゲート駆動信号VGに従って、トランジスタN1のソース電位を電源電圧VDDまで持ち上げることによって、トランジスタN1のドレイン−ソース間電圧が約0Vになるので、トランジスタN1が電流Iを吸い込むことを遮断することができる。トランジスタP1のゲートは、コンパレータC1の出力端子及びトランジスタN0のゲートに接続される。これにより、トランジスタP1のゲートに、ゲート駆動信号VGを入力できる。トランジスタP1のソースは、電源電圧VDDに接続され、トランジスタP1のドレインは、トランジスタN1のソースと抵抗R5との接続点に接続される。抵抗R5は、トランジスタN1のソースとグランドとの間に挿入される。
図4は、電源電圧VDDの電圧状態とリセット回路4のトランジスタN0,P1,N1のオン/オフ状態と出力端子13の電圧レベルPORのハイ/ロー状態との関係をまとめた図である。
電源電圧VDDが電圧VL以下の極低電圧状態のときには、コンパレータC1が正常動作可能な最低作動電圧を電源電圧VDDが下回っているので、電源電圧VDDを動作電源電圧とするコンパレータC1の出力電圧は、トランジスタN0をオン可能なゲート電圧の閾値よりも低い。したがって、電源電圧VDDが極低電圧状態のときには、トランジスタN0はオフしている。一方、電源電圧VDDが極低電圧状態であるので、トランジスタP1のゲート−ソース間の電位差は、トランジスタP1をオン可能なゲート電圧の閾値よりも小さい。したがって、電源電圧VDDが極低電圧状態のときには、トランジスタP1はオフしているので、トランジスタN1のオンによる電流Iの吸い込みによって、電圧レベルPORはローレベルになる。
電源電圧VDDが電圧VLよりも大きく閾値Vth以下の低電圧状態のときには、コンパレータC1が正常動作可能な最低作動電圧を電源電圧VDDが上回っている。また、電源電圧VDDが低電圧状態のときには、検出電圧Vcは基準電圧Vrefよりも小さい。したがって、電源電圧VDDを動作電源電圧とするコンパレータC1から出力されるゲート駆動信号VGの電圧レベルはハイレベルであるため、トランジスタN0はオンする。一方、ゲート駆動信号VGの電圧レベルはハイレベルであるため、トランジスタP1のゲート−ソース間の電位差は、トランジスタP1をオン可能なゲート電圧の閾値よりも小さい。したがって、電源電圧VDDが低電圧状態のときには、トランジスタP1はオフしているので、トランジスタN1のオンによる電流Iの吸い込みによって、電圧レベルPORはローレベルになる。
電源電圧VDDが閾値Vthを超えた定常電圧状態のときには、検出電圧Vcは基準電圧Vrefよりも大きい。したがって、コンパレータC1のゲート駆動信号VGの電圧レベルはローレベルであるため、トランジスタN0はオフする。一方、ゲート駆動信号VGの電圧レベルはローレベルであるため、トランジスタP1のゲート−ソース間の電位差は、トランジスタP1をオン可能なゲート電圧の閾値を超えるため、トランジスタP1はオンする。トランジスタP1のオンにより、トランジスタN1はオフするので、トランジスタN1による電流Iの吸い込みが遮断される。したがって、電圧レベルPORはハイレベルになる。
図5は、図1のリセット回路1における、電源電圧VDDと電圧レベルPORとの関係図である。図6は、図3のリセット回路4における、電源電圧VDDと電圧レベルPORとの関係図である。図5,6を比較して明らかなように、電源電圧VDDが極低電圧状態でも電圧レベルPORをローレベルに維持することができる。
例えば、動作電圧が1Vのマイクロコンピュータは、電圧が(0.8×VDD)以上の電圧レベルPORをハイレベルとして検出し、リセットが解除されたと認識する。また、電圧が(0.2×VDD)以下の電圧レベルPORをローレベルとして検出し、リセットがかけられていると認識する。このような仕様のマイクロコンピュータに対しては、電源電圧VDDが0.6Vのときには、電圧レベルPORをローレベルにし、リセットをかけた状態にしたい。
この場合、図5の特性を有する従来のリセット回路1では、電源電圧VDDが0.6Vのときには電圧レベルPORの電圧が0.6Vあるため、マイクロコンピュータは、電圧レベルPORをハイレベルとして検出し、リセットが解除されたと認識してしまう。これに対し、図6の特性を有する本発明の実施形態であるリセット回路4では、電源電圧VDDが0.6Vのときには、電圧レベルPORは(0.2×VDD)以下の電圧である。したがって、マイクロコンピュータは、電圧レベルPORをローレベルとして検出し、リセットが解除されたと認識することはない。
以上、本発明の好ましい実施例について詳説したが、本発明は、上述した実施例に制限されることはなく、本発明の範囲を逸脱することなく、上述した実施例に種々の変形及び置換を加えることができる。
例えば、本発明に係るリセット回路は、図3に示した構成に限られない。図7は、リセット回路5を備える制御装置300の構成図である。リセット回路5は、図2に示した遮断回路A3として、負電源M1を備える。負電源M1は、トランジスタN1のゲート−ソース間電圧を所定値以下の負値にすることによって、トランジスタN1が電流Iを吸い込むことを遮断することができる。電流Iを遮断する必要がない低電圧状態(極低電圧状態を含む)のときには、トランジスタN1のゲート及びソースはグランドにショートされていればよい。
また、本発明の一実施形態として図2に示した制御装置100は、DC−DCコンバータ(典型的には、昇圧レギュレータ)でもよい。例えば、電源電圧VDDが極低電圧状態でも動作可能な制御回路3が、電源電圧VDDの昇圧を制御する昇圧制御回路である場合に適用しても、本発明は効果的である。
1,2,4 リセット回路
3 制御回路
A1 ゲート駆動回路
A2 吸い込み回路
A3 遮断回路
C1 コンパレータ
N1 デプレッション型NチャネルMOSFET
M1 負電源
100,200,300 制御装置

Claims (6)

  1. NチャネルMOSFETと、
    リセットを解除すべき所定の閾値を電源電圧が超えることにより、前記NチャネルMOSFETをオンからオフにすることによって、前記NチャネルMOSFETのドレイン電圧を、リセット状態を表すローレベルからリセット解除状態を表すハイレベルに切り替えるゲート駆動回路とを備える、リセット回路であって、
    前記NチャネルMOSFETのドレイン側を流れる電流を吸い込むことによって、前記ドレイン電圧をローレベルに維持する吸い込み回路と、
    前記電源電圧が前記閾値を超えているとき、前記吸い込み回路が前記電流を吸い込むことを遮断する遮断回路とを備えることを特徴とする、リセット回路。
  2. 前記ゲート駆動回路が、前記電源電圧と前記閾値を比較するコンパレータを有し、
    前記遮断回路が、前記コンパレータの出力信号に従って、前記吸い込み回路が前記電流を吸い込むことを遮断する、請求項1に記載のリセット回路。
  3. 前記吸い込み回路が、ゲート−ソース間電圧が前記電流を吸い込み可能な零以下の電圧であるデプレッション型NチャネルMOSFETを有する、請求項1又は2に記載のリセット回路。
  4. 前記遮断回路が、前記デプレッション型NチャネルMOSFETのソース電位を持ち上げることによって、前記デプレッション型NチャネルMOSFETが前記電流を吸い込むことを遮断する、請求項3に記載のリセット回路。
  5. 請求項1から4のいずれか一項に記載のリセット回路と、
    前記ドレイン電圧がハイレベルのときリセットが解除される制御回路とを備える、制御装置。
  6. 請求項1から4のいずれか一項に記載のリセット回路と、
    前記ドレイン電圧がハイレベルのときリセットが解除される中央演算処理装置とを備える、マイクロコンピュータ。
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