JP2012023458A - Da変換回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】ラダー抵抗回路の各抵抗の抵抗値を時間的に平均化できるようして、変換特性の劣化を軽減する。
【解決手段】入力ラインが4ビット、出力ラインが6ビットで、入力ラインをシフトせず又はその並びのままでMSB方向に所定ビット数だけシフトして出力ラインに接続するシフト回路200と、シフト回路200のLSB側の4ビットにバッファ301が接続され、MSB側の2ビットにトライステートバッファ302が接続されたバッファ回路300と、バッファ回路300の出力側に接続されたR−2R型のラダー抵抗回路400と、出力端子600をと有する。シフト回路200は、出力ラインのうちの入力ラインが接続されたラインよりもLSB側のラインを“0”に設定し、且つ出力ラインのうちの入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインを任意の値に設定する。バッファ回路300は、出力ラインのうちの入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインに対応するトライステートバッファの出力がハイインピーダンスに設定される。
【選択図】図5

Description

本発明は、R−2Rのラダー抵抗回路を有するR−2R型のDA変換回路に関する。
図9に、従来の4ビットのR−2R型DA変換回路を示す(例えば、特許文献1参照)。100Aはデジタル入力端子、300Aはバッファ301からなるバッファ回路、400Aは抵抗値が2Rの2R抵抗と抵抗値がRのR抵抗からなるR−2R型のラダー抵抗回路、600はアナログ出力端子である。
このDA変換回路では、バッファ回路300Aの各バッファ301が、入力ラインD[0]〜D[3]のデータが“1”のときは電圧Vdd(V)を出力し、“0”のときは電圧0(V)を出力する。そして、バッファ回路300Aの各出力電圧がラダー抵抗回路400Aで分圧されることにより、アナログ出力端子600には、
Figure 2012023458
の電圧Voutが出力される。
特開2003−258643号公報
ところが、図9に示すDA変換回路では、ラダー抵抗回路400Aの抵抗の2R抵抗とR抵抗の抵抗値にばらつきが発生すると、変換特性が悪化する。
本発明の目的は、ラダー抵抗回路の抵抗値のばらつきの影響を軽減したDA変換回路を提供することである。
上記した目的を達成するために、請求項1にかかる発明は、デジタル入力端子に接続されたビット幅がn(n:2以上の正の整数)の入力ラインと、ビット幅がn+m−1(m:2以上の正の整数)の出力ラインを有し、前記入力ラインをシフトせずに又はその並びのままでMSB方向に所定ビット数だけシフトして前記出力ラインに接続するシフト回路と、前記出力ラインのうちのLSB側のnビット分のラインに挿入されたn個のバッファおよび残りのMSB側のm−1ビット分のラインに挿入されたm−1個のトライステートバッファからなるバッファ回路と、前記バッファおよび前記トライステートバッファの各出力側に一端が接続された抵抗値が2Rの2R抵抗、該各2R抵抗の他端の相互間に接続された抵抗値がRのR抵抗、および前記出力ラインのうちのLSBのラインに接続された前記バッファに対応する前記2R抵抗の他端と接地端子との間に接続された別の2R抵抗からなるR−2R型のラダー抵抗回路と、前記出力ラインのうちのMSBのラインに接続された前記トライステートバッファに対応する前記2R抵抗の前記他端に接続されたアナログ出力端子とを備え、前記シフト回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもLSB側のラインを“0”に設定し、且つ前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインを任意の値に設定し、前記バッファ回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインに対応する前記トライステートバッファの出力がハイインピーダンスに設定されることを特徴とする。
請求項2にかかる発明は、デジタル入力端子に接続されたビット幅がn(n:2以上の正の整数)の入力ラインと、ビット幅がn+m−1(m:2以上の正の整数)の出力ラインを有し、前記入力ラインをシフトせずに又はその並びのままでMSB方向に所定ビット数だけシフトして前記出力ラインに接続するシフト回路と、前記出力ラインのうちのLSB側のnビット分のラインに挿入されたn個のバッファおよび残りのMSB側のm−1ビット分のラインに挿入されたm−1個のトライステートバッファからなるバッファ回路と、前記バッファおよび前記トライステートバッファの各出力側に一端が接続された抵抗値が2Rの2R抵抗、該各2R抵抗の他端の相互間に接続された抵抗値がRのR抵抗、および前記出力ラインのうちのLSBのラインに接続された前記バッファに対応する前記2R抵抗の他端と接地端子との間に接続された別の2R抵抗からなるR−2R型のラダー抵抗回路と、アナログ出力端子と、前記出力ラインのうちのLSBのラインからn番目のラインよりMSBのラインまでに対応する前記2R抵抗の前記他端と前記アナログ出力端子との間にそれぞれスイッチを接続したスイッチ回路を備え、前記シフト回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもLSB側のラインを“0”に設定し、且つ前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインを任意の値に設定し、前記バッファ回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインに対応する前記トライステートバッファの出力がハイインピーダンスに設定され、該スイッチ回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインがシフトされた範囲のうちのMSBのラインに対応するスイッチのみがオンすることを特徴とする。
請求項3にかかる発明は、請求項1又は2に記載のDA変換回路において、前記シフト回路は、前記出力ラインのLSB側からMSB方向にm−1ビット分の範囲がLSBとなるように前記シフトを行うことを特徴とする。
請求項4にかかる発明は、請求項1、2又は3に記載のDA変換回路において、前記シフト回路は、前記シフトの量を所定時間経過毎に変化させることを特徴とする。
請求項1〜3にかかる発明によれば、最もばらつきの少ない抵抗を組み合わせたラダー抵抗回路を選択することができ、この場合は良好なDA変換特性を実現できる。また、請求項4にかかる発明によれば、シフト量を変化させることで、ラダー抵抗回路の各抵抗の抵抗値を時間的に平均化でき、ダイナミック・エレメント・マッチングの効果により、その抵抗値のばらつきがDA変換の特性を悪化させる影響を軽減できる。例えば、直流の変換精度や歪が改善される。
本発明の第1の実施例のDA変換回路の回路図である。 図1のDA変換回路のある変換動作時の等価回路図である。 本発明の第2の実施例のDA変換回路の回路図である。 図3のDA変換回路のある変換動作時の等価回路図である。 図1のDA変換回路を4ビット入力の場合に適用した具体的回路図である。 図5のDA変換回路の第1のシフト時の回路図である。 図5のDA変換回路の第2のシフト時の回路図である。 図5のDA変換回路の第3のシフト時の回路図である。 従来のDA変換回路の第3のシフト時の回路図である。
<第1の実施例>
図1に本発明の第1の実施例のDA変換回路を示す。100はLSBをD[0]としMSBをD[n−1]とするnビットの入力ラインD[0]〜D[n−1]が接続されるデジタル入力端子、200はその入力端子100に入力するnビットのデータをシフトして、n+m−1個の出力ラインS[j](j=0,1,2,・・・,n−1,n,n+1,n+2,・・・,n+m−3,n+m−2)のうちの互いに隣接するn個のラインに出力するシフト回路、300はシフト回路200の出力ラインS[j]のうちのラインS[0]〜S[n−1]に接続されるn個のバッファ301と、ラインS[n]〜S[n+m−2]に接続されるm−1個のトライステートバッファ302からなるバッファ回路、400はバッファ回路300の出力側に接続されたR−2R型のラダー抵抗回路、500はシフト回路200のシフトパターン選択とバッファ回路300の各トライステートバッファ302のハイインピーダンスを制御する制御回路、600はアナログ出力端子である。
バッファ回路300の各バッファ301は、入力信号が“0”のとき0(V)を出力し、“1”のときVdd(V)を出力する。トライステートバッファ302は、制御回路500によって出力がハイインピーダンスに制御されていない場合は、入力信号が“0”のとき0(V)を出力し、“1”のときVdd(V)を出力する。
R−2R型のラダー抵抗回路400は、各バッファ回路300のバッファ301,302の出力側に一端が直列接続されたn+m−1個の抵抗値が2Rの2R抵抗と、該2R抵抗の他端(ノードN[j])の相互間に接続された抵抗値がRのn+m−2個のR抵抗と、ノードN[0]と接地間に接続された1個の2R抵抗からなる。なお、n,mは2以上の正の整数である。
さて、シフト回路200へのn個の入力ラインをD[j](j=0,1,2,・・・,n−1)とし、前述したように出力ラインをS[j](j=0,1,2,・・・,n−1,n,n+1,n+2,・・・,n+m−3,n+m−2)とする。また、m−1個のトライステートバッファ302の制御ラインの入力を、出力ラインS[j]と対応するjを用いてT[j](j=n,n+1,n+2,・・・,n+m−3,n+m−2)とする。
次に、動作について説明する。制御回路500は、一定周期ごとにm種類のシフトパターンのうちどのシフトパターンを選択するかを決める。ここで選択したシフトパターンを、シフトパターン番号i(0≦i≦m−1)とする。シフトパターン番号iの決定には、例えば、カウンタ、乱数、M系列などを利用する。
制御回路600は、シフトパターン番号iに対してシフト回路200が式(2)を満たすように制御する。
Figure 2012023458
これは、シフト回路200の出力ラインS[j]について、jがiより小さいとき、“0”となり、i以上でn+i−1以下のとき、入力ラインD[j−i]の信号を出力し、n+i−1を越えるときは任意(“0”又は“1”)となることを示す。
また、制御回路500は、iに対してバッファ回路300の各トライステートバッファ302が式(3)を満たすように制御する。
Figure 2012023458
これは、T[j]番目のトライステートバッファ302について、jがn+i−1以下のとき出力が通常(ハイインピーダンスでない状態)となり、jがn+i−1を越えるとき出力がハイインピーダンスとなることを示す。
図2に、任意のシフトパターンiにおけるラダー抵抗回路400の等価回路を示す。ラダー抵抗回路400は、回路401,402,403で構成される。回路402から回路401を見たインピーダンスは、常に2Rとなる。また、アナログ出力端子600にはハイインピーダンスの回路が接続されるので、回路403には電流が流れないため、そこでは電圧降下が発生しない。よって、回路401と回路402は一体となって、従来のR−2R型のDA変換回路と同様に動作する。すなわち、アナログ出力端子600に得られる電圧Voutは、シフトパターン番号iの如何にかかわらず、式(4)となる。
Figure 2012023458
以上から、第1の実施例のDA変換回路によれば、いずれのシフトパターンに対しても、DA変換回路として機能する。ラダー抵抗回路400の2R抵抗およびR抵抗の抵抗値にばらつきがなければ、シフトパターンを切り替えても従来例との違いはないが、ばらつきがある場合は、各シフトパターンに順次繰り返して変更することによって、ばらつきの影響を、時間的に平均して軽減することができる。
<第2の実施例>
図3に、本発明の第2の実施例のDA変換回路を示す。図1に示した第1の実施例とは、スイッチ回路700を追加した点が異なり、他は同じである。このスイッチ回路700は、シフト回路200の出力ラインS[n−1]〜S[n+m−2]に対応するラダー抵抗回路400のノードN[n−1]〜N[n+m−2]にそれぞれ一端が接続され、他端がアナログ出力端子600に共通接続されたm個のスイッチ701から構成される。そして、このスイッチ回路700の各スイッチ701(U[n−1]〜U[n+m−2])は、制御回路500Aによって、その内の1つがオンに制御され、残りはオフに制御される。なお、この制御回路500Aは、第1の実施例と同様に、シフト回路200のシフトパターンの決定とトライステートバッファ302の出力インピーダンスも制御する。
次に、動作について説明する。制御回路500Aは、一定周期ごとにm種類のシフトパターンのうちどのシフトパターンを選択するかを決める。ここで選択したシフトパターンを、シフトパターン番号i(0≦i≦m−1)とする。シフトパターン番号iの決定にはカウンタや乱数、M系列などを利用する。
制御回路500Aは、シフトパターン番号iに対してシフト回路200が前記した式(2)を満たすように制御する。また、制御回路500Aは、シフトパターン番号iに対してバッファ回路300の各トライステートバッファ302が前記した式(3)を満たすように制御する。さらに、制御回路500Aは、シフトパターン番号iに対してスイッチ回路700のスイッチ701が式(5)を満たすように制御する。
Figure 2012023458
これは、U[j]番目のスイッチ701は、j=i+n−1のときオンし、それ以外のときオフすることを示す。
図4に、任意のシフトパターンiにおけるラダー抵抗回路400の等価回路を示す。ラダー抵抗回路400は、回路404,405,406で構成される。回路405から回路404を見たインピーダンスは、常に2Rとなる。また、アナログ出力端子600にはハイインピーダンスの回路が接続されるので、回路406には電流が流れないため、そこでは電圧降下が発生しない。よって、回路404と回路405は一体となって、従来のR−2R型DA変換回路と同様に動作する。すなわち、アナログ出力端子600に得られる電圧Voutは、シフトパターン番号iの如何にかかわらず、前記した式(4)となる。
以上から、第2の実施例のDA変換回路によれば、いずれのシフトパターンに対しても、DA変換回路として機能する。ラダー抵抗回路400の2R抵抗およびR抵抗の抵抗値にばらつきがなければ、シフトパターンを切り替えても従来例との違いはないが、ばらつきがある場合は、各シフトパターンに順次繰り返して変更することによって、ばらつきの影響を、時間的に平均して軽減することができる。また、図1で説明した第1の実施例のDA変換回路では、ハイインピーダンス状態のトライステートバッファ302の出力端子の容量によって、アナログ出力端子600の電圧変化が緩慢になる可能性があったが、図3で説明した第2の実施例のDA変換回路では、DA変換回路として機能する回路部分に対して直接にアナログ出力端子600をスイッチ701で接続するので、アナログ出力端子600はハイインピーダンス状態のトライステートバッファ302の出力端子の容量の影響を受けず、高速動作可能になる利点がある。
<第1の具体例>
図5に、第1の実施例によるn=4、m=3の場合のDA変換回路の具体例を示す。シフト回路200の入力ラインはD[0]〜D[3]、出力ラインはS[0]〜S[5]となる。そして、出力ラインS[0]〜S[3]にそれぞれバッファ301が接続され、出力ラインS[4]〜S[5]にそれぞれトライステートバッファ302が接続される。
次に、動作について説明する。制御回路500は、一定周期ごとに3種類のシフトパターンのうちどのシフトパターンを選択するかを決める。そして、制御回路500は、決定したシフトパターンに応じたシフト回路200の制御信号、2個のトライステートバッファ302の制御信号の制御信号を出力する。
3種類のシフトパターンについてそれぞれ説明する。1つ目のシフトパターンでは、シフト回路200を、S[0]=D[0]、S[1]=D[1]、S[2]=D[2]、S[3]=D[3]、S[4]=任意、S[5]=任意に設定し、出力ラインS[4],S[5]のトライステートバッファ302の出力をハイインピーダンスに設定する。図6に1つ目のシフトパターンにおける等価回路を示す。ラダー抵抗回路400による分圧により、アナログ出力端子600の電圧は式(1)となる。よってDA変換が行われる。
2つ目のシフトパターンでは、シフト回路200を、S[0]=0、S[1]=D[0]、S[2]=D[1]、S[3]=D[2]、S[4]=D[3]、S[5]=任意に設定し、出力ラインS[4]のトライステートバッファ302の出力を非ハイインピーダンスに、出力ラインS[5]のトライステートバッファ302の出力をハイインピーダンスに、それぞれ設定する。図7に2つ目のシフトパターンにおける等価回路を示す。ラダー抵抗回路400による分圧により、アナログ出力端子600の電圧は式(1)となる。よってDA変換が行われる。
3つ目のシフトパターンでは、シフト回路54をS[0]=0、S[1]=0、S[2]=D[0]、S[3]=D[1]、S[4]=D[2]、S[5]=D[3]に設定し、出力ラインS[4],S[5]のトライステートバッファ302の出力を非ハイインピーダンスに設定する。図8に3つ目のシフトパターンにおける等価回路を示す。ラダー抵抗回路400による分圧により、アナログ出力端子600の電圧は式(1)となる。よってDA変換が行われる。
100,100A:デジタル入力端子
200:シフト回路
300,300A:バッファ回路、301:バッファ、302:トライステートバッファ
400,400A:ラダー抵抗回路
500,500A:制御回路
600:アナログ出力端子
700:スイッチ回路、701:スイッチ

Claims (4)

  1. デジタル入力端子に接続されたビット幅がn(n:2以上の正の整数)の入力ラインと、ビット幅がn+m−1(m:2以上の正の整数)の出力ラインを有し、前記入力ラインをシフトせずに又はその並びのままでMSB方向に所定ビット数だけシフトして前記出力ラインに接続するシフト回路と、
    前記出力ラインのうちのLSB側のnビット分のラインに挿入されたn個のバッファおよび残りのMSB側のm−1ビット分のラインに挿入されたm−1個のトライステートバッファからなるバッファ回路と、
    前記バッファおよび前記トライステートバッファの各出力側に一端が接続された抵抗値が2Rの2R抵抗、該各2R抵抗の他端の相互間に接続された抵抗値がRのR抵抗、および前記出力ラインのうちのLSBのラインに接続された前記バッファに対応する前記2R抵抗の他端と接地端子との間に接続された別の2R抵抗からなるR−2R型のラダー抵抗回路と、
    前記出力ラインのうちのMSBのラインに接続された前記トライステートバッファに対応する前記2R抵抗の前記他端に接続されたアナログ出力端子とを備え、
    前記シフト回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもLSB側のラインを“0”に設定し、且つ前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインを任意の値に設定し、
    前記バッファ回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインに対応する前記トライステートバッファの出力がハイインピーダンスに設定されることを特徴とするDA変換回路。
  2. デジタル入力端子に接続されたビット幅がn(n:2以上の正の整数)の入力ラインと、ビット幅がn+m−1(m:2以上の正の整数)の出力ラインを有し、前記入力ラインをシフトせずに又はその並びのままでMSB方向に所定ビット数だけシフトして前記出力ラインに接続するシフト回路と、
    前記出力ラインのうちのLSB側のnビット分のラインに挿入されたn個のバッファおよび残りのMSB側のm−1ビット分のラインに挿入されたm−1個のトライステートバッファからなるバッファ回路と、
    前記バッファおよび前記トライステートバッファの各出力側に一端が接続された抵抗値が2Rの2R抵抗、該各2R抵抗の他端の相互間に接続された抵抗値がRのR抵抗、および前記出力ラインのうちのLSBのラインに接続された前記バッファに対応する前記2R抵抗の他端と接地端子との間に接続された別の2R抵抗からなるR−2R型のラダー抵抗回路と、
    アナログ出力端子と、
    前記出力ラインのうちのLSBのラインからn番目のラインよりMSBのラインまでに対応する前記2R抵抗の前記他端と前記アナログ出力端子との間にそれぞれスイッチを接続したスイッチ回路を備え、
    前記シフト回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもLSB側のラインを“0”に設定し、且つ前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインを任意の値に設定し、
    前記バッファ回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインが接続されたラインよりもMSB側のラインに対応する前記トライステートバッファの出力がハイインピーダンスに設定され、
    該スイッチ回路は、前記出力ラインのうちの前記入力ラインがシフトされた範囲のうちのMSBのラインに対応するスイッチのみがオンすることを特徴とするDA変換回路。
  3. 請求項1又は2に記載のDA変換回路において、
    前記シフト回路は、前記出力ラインのLSB側からMSB方向にm−1ビット分の範囲がLSBとなるように前記シフトを行うことを特徴とするDA変換回路。
  4. 請求項1、2又は3に記載のDA変換回路において、
    前記シフト回路は、前記シフトの量を所定時間経過毎に変化させることを特徴とするDA変換回路。
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