JP2012013658A - タイヤの外観検査方法および外観検査装置 - Google Patents

タイヤの外観検査方法および外観検査装置 Download PDF

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Abstract

【課題】従来の形状計測手法では検出が不可能だった、凹凸のほとんどない微小な欠陥や、異種ゴムが加硫成型された部分などのタイヤ表面の浅く小さな欠陥を、従来と比較して容易に検出することができるタイヤの外観検査方法および外観検査装置を提供する。
【解決手段】タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて少なくとも一対の撮像領域を、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において少なくとも一部分で重なるように設定し、各撮像領域に対しそれぞれ光を照射して、各撮像領域からの反射光をそれぞれ測定するにあたり、タイヤ円周方向から見て互いに対となる撮像領域間で平行であって、かつ各撮像領域を横断し撮像領域に垂直な任意の面を、互いに対となる撮像領域ごとに設定し、該互いに対となる撮像領域のそれぞれにおける光の照射方向を、任意の面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、タイヤの外観検査方法および外観検査装置(以下、単に「検査方法」および「検査装置」とも称する)に関し、詳しくは、製品タイヤの外観形状を自動的に検査することが可能なタイヤの外観検査方法および外観検査装置に関する。
従来、タイヤの外観形状の良否を検査する方法として、図5に示すような、光切断法を用いた検査方法が知られている。この検査方法は、検査するタイヤ60を回転装置71に搭載して回転させるとともに、半導体レーザなどを用いた投光装置72によりタイヤ60のサイド部60Kにスリット光を照射して、上記サイド部60Kのスリット像をCCDカメラなどのエリアカメラ73により撮影した後、このスリット像Sの画像データ(輝度データ)からサイド部60Kの形状を求め、これを基準となるサイド部60Kの画像と比較して、その形状の良否を判定するものである。
また、例えば、特許文献1には、タイヤの表面の異種ゴムが加硫成形された部分を確実に識別することを目的として、タイヤ表面の被撮像ラインに向けて互いに反対側から光を照射する1対の第1投光器からなる第1照射手段と、これとは異なる照射方向で被撮像ラインに向けて互いに反対側から光を照射する1対の第2投光器からなる第2照射手段と、により被撮像ライン部分に交互に光を照射して、ラインカメラにより被撮像ライン部分を撮像し、ラインカメラが撮像した画像を分析してタイヤの表面を検査する技術が開示されている。
特開2008−116270号公報(特許請求の範囲等)
しかしながら、従来のタイヤの外観検査方法では、凹凸のほとんどない微小な欠陥や、異種ゴムが加硫成型された部分については、単純に高解像度にしても判別可能なレベルで画像化することができず、結果として検出することができなかった。また、特許文献1に記載されているような技術もあるが、この技術では、2対の投光器を用いて異なる方向から同時に光照射および撮像を行うことができず、順次光照射および撮像を行う必要があるため、画像の取得に時間がかかるという難点があった。
そこで本発明の目的は、上記問題を解消して、従来の形状計測手法では検出が不可能だった、凹凸のほとんどない微小な欠陥や、異種ゴムが加硫成型された部分などのタイヤ表面の浅く小さな欠陥を、従来と比較して容易に検出することができるタイヤの外観検査方法および外観検査装置を提供することにある。
本発明者は鋭意検討した結果、以下のようなことを見出した。
図4に示すように、タイヤTの表面に、照射手段11から角度を変えて面平行光を照射し、これをタイヤTの表面に対し垂直な方向からラインカメラ12で撮影する場合を考える。図中、xはタイヤ円周方向の座標軸を示し、zはタイヤ表面に垂直な方向の座標軸を示す。ここで、面平行光を凹部3の右側から照射した場合において、凹部3からラインカメラ12に入射する反射光の強度は、凹面3aのようにその法線ベクトルの方向が面平行光の照射方向α1と近い場合(x=x1)には大きく、凹面3bのようにその法線ベクトルの方向が面平行光の照射方向α1から離れている場合(x=x2)には小さくなる。
したがって、互いに異なる2つの方向α1,α2から面平行光を照射して凹部3を撮影して、2つの面平行光からの反射像の輝度分布波形を用いて表面傾斜角の画像データを取得し、これを分析すれば、タイヤTの表面に凹部3があるかどうかを判別できることになる。かかる観点から、本発明者はさらに検討した結果、下記構成とすることにより、上記課題を解決できることを見出して、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明のタイヤの外観検査方法は、タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて少なくとも一対の撮像領域を、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において少なくとも一部分で重なるように設定し、各撮像領域に対しそれぞれ光を照射して、各撮像領域からの反射光をそれぞれ測定するにあたり、
タイヤ円周方向から見て互いに対となる撮像領域間で平行であって、かつ各撮像領域を横断し該撮像領域に垂直な任意の面を、該互いに対となる撮像領域ごとに設定し、該互いに対となる撮像領域のそれぞれにおける前記光の照射方向を、該任意の面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向とすることを特徴とするものである。
本発明の外観検査方法においては、前記少なくとも一対の撮像領域を、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において全体で重なるように設定することが好ましい。また、タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて二対の撮像領域を設定し、該二対の撮像領域における前記光の照射方向を、それぞれタイヤ円周方向に平行な方向およびタイヤ幅方向に平行な方向とすることが好ましい。さらに、本発明においては、前記タイヤをタイヤ円周方向に回転させながら連続的に検査を行うことが好ましい。
また、本発明のタイヤの外観検査装置は、タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において少なくとも一部分で重なるように設定された少なくとも一対の撮像領域を有し、各撮像領域に対しそれぞれ光を照射する少なくとも一対の照射手段と、各撮像領域からの反射光をそれぞれ測定する少なくとも一対の測定手段と、を備え、
タイヤ円周方向から見て互いに対となる撮像領域間で平行であって、かつ各撮像領域を横断し該撮像領域に垂直な任意の面を、該互いに対となる撮像領域ごとに設定したとき、該互いに対となる撮像領域における互いに対となる照射手段が、各照射手段からの光の照射方向が該任意の面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向となるよう配置されていることを特徴とするものである。
本発明の外観検査装置は、前記タイヤをタイヤ円周方向に回転させることが可能な回転手段を備えることが好ましい。
本発明によれば、上記構成としたことにより、従来の形状計測手法では検出が不可能だった、凹凸のほとんどない微小な欠陥や、異種ゴムが加硫成型された部分などのタイヤ表面の浅く小さな欠陥を、従来と比較して容易に検出することができるタイヤの外観検査方法および外観検査装置を実現することが可能となった。
本発明のタイヤの外観検査装置の一構成例を示す概略説明図である。 本発明によるタイヤのサイドウォール部の外観検査方法を示すフローチャートである。 表面傾斜角θの算出方法を示す説明図である。 本発明における凹凸検出の測定原理を示す説明図である。 従来の光切断法を用いたタイヤの外観検査方法を示す説明図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
図1に、本発明のタイヤの外観検査装置の一構成例を示す概略説明図を示す。図示するように、本発明の外観検査装置は、タイヤTの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて設定された少なくとも一対、図示例では二対の撮像領域A,BおよびC,Dを有している。ここで、本発明における撮像領域とは、装置上に固定された撮像部位を意味するので、タイヤTが装置上で回転すれば、回転に伴い、実質的にタイヤTの円周方向に沿って移動するものである。以下の説明においては、簡略のために、一対の撮像領域A,Bを設けた場合について説明する。
本発明において、互いに対となる撮像領域A,Bは、タイヤ円周方向から見た際に、タイヤ径方向において少なくとも一部分、好ましくは図示するように、全体が重なるように設定される。本発明の外観検査装置は、各撮像領域A,Bに対しそれぞれ光、好適には面平行光を照射する少なくとも一対の照射手段1A,1Bと、これら各撮像領域1A,1Bからの反射光をそれぞれ測定する少なくとも一対の測定手段2A,2Bとを備えるので、互いに対となる撮像領域A,Bをこのように設定して、上記照射手段および測定手段を用いてタイヤ一周分の撮像を行うことで、後述するように、各撮像領域の重複部分について、実質的に一度の光照射で、2回分の反射像データを得ることが可能となる。
また、本発明においては、タイヤ円周方向から見て互いに対となる撮像領域間で平行であって、かつ各撮像領域を横断し該撮像領域に垂直な任意の面を、互いに対となる撮像領域ごとに設定したとき、互いに対となる撮像領域における互いに対となる照射手段が、各照射手段からの面平行光の照射方向が上記任意の面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向となるよう配置されている。例えば、図示する撮像領域A,Bの場合には、タイヤ円周方向から見て撮像領域A,B間で平行であって、かつ各撮像領域A,Bを横断し撮像領域に垂直な面を、タイヤ径方向に沿って設定し、撮像領域A,Bにおける照射手段1A,1Bを、各照射手段1A,1Bからの面平行光の照射方向がこのタイヤ径方向に沿う面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向となるよう配置している。また、図示する撮像領域C,Dの場合には、タイヤ円周方向から見て撮像領域C,D間で平行であって、かつ各撮像領域C,Dを横断し撮像領域に垂直な面を、タイヤ円周方向に沿って設定し、撮像領域C,Dにおける照射手段1C,1Dを、各照射手段1C,1Dからの面平行光の照射方向がこのタイヤ円周方向に沿う面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向となるよう配置している。逆に言えば、本発明において、互いに対となる撮像領域とは、各撮像領域に対応する互いに対となる照射手段が、上記条件を満足するように配置された撮像領域の組をいうものである。したがって、本発明において二対以上の撮像領域を設ける場合には、タイヤ円周方向から見て互いに対となる撮像領域間で平行であって、かつ各撮像領域を横断し該撮像領域に垂直な任意の面を、互いに対となる撮像領域ごとに、タイヤ円周方向に対する角度を変えて設定することが必要である。
本発明においては、上記のように、タイヤ表面に対し、上記条件を満足する少なくとも一対の撮像領域を設定し、各撮像領域につき上記条件を満足するように照射手段を配置して面平行光を照射して、各撮像領域からの反射光をタイヤ円周方向に1周分測定することで、タイヤ表面の各部分に対し、少なくとも互いに対向する2方向から光照射した場合の反射像を得ることができる。しかも、本発明においては、特許文献1に記載された技術のように交互に2回の光照射を要するものではなく、実質的に一度の光照射で、必要なデータを取得することが可能である。したがって、上記少なくとも2方向からの照射光の反射像の輝度分布波形を分析することで、タイヤ表面の微小な変化を取得して、欠陥を自動的に判別することが可能となる。
図示する外観検査装置において、タイヤTは、サイドウォール部21が上向きとなるように、すなわち、その軸方向が回転台30の回転軸と一致するように、回転台30上に載置されている。回転台30は、モータ31により所定の回転速度で回転し、タイヤTを回転させるものであり、モータ31は、図示しないモータ制御手段からの駆動・制御信号によって駆動・制御される。また、タイヤTの回転角は、回転台の近傍に配置された図示しない回転角検出手段により検出される。
照射手段1A,1Bとしては、高輝度LEDを面上に配列したものの前面にシリンドリカルレンズを配置したものを用いて、LEDから放出された光を集光し、擬似的な面平行光とすることができる。これら照射手段1A,1Bは、面平行光の照射方向が測定手段の撮像視野に対して独立であって、各撮像領域の上方に、例えば、撮像領域に対して30°〜75°、好適には60°になるように配置することができる。この面平行光の入射方向が30°未満であると、サイドウォール部21に形成された文字や数字などのタイヤ表示による陰のために、微小な凹凸が検出しにくくなるおそれがある。一方、入射方向が75°を超えると、反射光の角度が垂直に近い角度になるので、小さな凹凸の検出が困難となる。
また、測定手段2A,2Bとしては、ラインカメラを用いることができ、これら測定手段は、タイヤTのサイドウォール部21のタイヤ幅方向中央部近傍の、タイヤ軸方向上方に配置する。ラインカメラとしては、画素が1列に配列されたCCDカラーカメラを用いることができ、この場合、カメラは、カメラの画素列の方向がタイヤ径方向と一致するように配置する。サイドウォール部21の測定手段と対向する面が、タイヤTにおける検査対象面Sとなる。さらに、測定手段2A,2Bには、これら測定手段2A,2Bで取得された画像データを整列ないしシフト処理する画像処理手段と、画像処理手段で処理された画像データに基づいて、サイドウォール部表面の微小な凹凸を検出する凹凸検出手段と、検出された凹凸の数や大きさに基づいてタイヤTの外観を検査する外観検査手段とを含む演算処理装置(PC)が接続されている。測定手段としてラインカメラを用いる場合には、タイヤを一定速度で回転させながら撮影し、撮影位置を考慮してデータをシフトする。
本発明においては、前述したように、撮像領域は少なくとも一対にて設けることが必要であるが、図示するように、二対の撮像領域A〜Dを設定してもよい。この場合、実質的に一度の光照射で、4方向から光照射して撮影した画像を得ることができ、より精確な検査が可能となる。また、この場合、図示するように、二対の撮像領域A〜Dは、タイヤ中心で点対称となるように、タイヤ円周方向に等間隔となるよう配置することが好ましい。この場合も、照射手段1A〜1Dおよび測定手段2A〜2Dは、各撮像領域につき、上記と同様に配置すればよい。なお、撮像領域を二対にて設ける場合には、図示するように、タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて二対の撮像領域A,BおよびC,Dを設定して、これら二対の撮像領域A,BおよびC,Dにおける面平行光の照射方向を、それぞれタイヤ円周方向に平行な方向およびタイヤ径方向に平行な方向とすることが好ましい。
次に、本発明において、照射光の反射像から輝度分布波形を得てタイヤ表面の欠陥を検出する流れについて説明する。本発明においては、前述したように、タイヤ表面に対する光の照射方向を変化させた際に、表面形状ないし粗さに異常がある部分では反射光強度が大きく変化することに着目している。
まず、上述のように、一対の撮像領域A,Bについて得られる2方向からの照射光の反射光をそれぞれ撮影して、2種類の反射像データを、それぞれタイヤ円周方向に1周分得る。この2種類の反射像データを画像処理手段で処理して、撮像領域A,B間のタイヤ円周方向の間隔の分だけずらすことで、タイヤ円周方向の各部位における、少なくとも2方向からの照射光の反射像データが得られる。
凹凸検出手段は、上記測定手段で得られた2種の画像の画素の輝度データを用いて、タイヤ円周方向に沿った輝度分布波形をそれぞれ算出する輝度分布波形算出部と、当該検査対象面Sの凹凸の傾斜の度合いを示す表面傾斜角θ(図3(b)参照)を算出する表面傾斜角算出部と、算出された表面傾斜角θの画像に複数種のガボール(Gabor)フィルタを適用して複数のガボール空間を取得し、取得された複数のガボール空間から画素ごとの最大反応値Gを取得する最大反応値取得部と、取得された最大反応値Gとあらかじめ設定された閾値とを比較して所定の大きさ以上の凹凸を検出する判定部と、検出された凹凸の位置および最大反応値Gを記憶する記憶部とを備え、例えば、上記画像上の深さが0.5mm以下の微小な凹凸を検出して記憶する。なお、上記表面傾斜角θは、後述するように、タイヤTの検査対象面Sの傾斜と、各撮像領域に対する第1の照射手段1Aおよび第2の照射手段1Bからのそれぞれの照射光の入射方向と、これら照射光の強さの比と、上記2種の反射像の輝度の比とを用いて算出される。
外観検査手段は、上記凹凸検出手段で検出された凹凸の数や大きさに基づいて、当該タイヤ20が外観不良であるかどうかを検査する。
次に、本実施形態に係るタイヤの外観検査装置を用いた、タイヤのサイドウォール部21の外観検査方法について、図2のフローチャートを参照して説明する。
まず、検査対象となるタイヤTを回転台30上に載置するとともに、タイヤTのサイドウォール部21の表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて少なくとも一対、例えば一対の撮像領域A,Bを設定する。これら撮像領域は、例えば、タイヤ円周方向に等間隔に、かつ、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において少なくとも一部分で重なるように、設定することができる。そして、これら各撮像領域A,Bのそれぞれの直上に、照射手段1A,1Bおよび測定手段2A,2Bをそれぞれ設置する(ステップS11)。この際、各照射手段1A,1Bは、例えば図示するように、面平行光の照射方向が、タイヤ径方向に沿う面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向となるよう配置する。次に、モータ31を駆動・制御して回転台30を回転駆動することにより、タイヤTを所定の回転速度で回転させる(ステップS12)。
次に、タイヤのサイドウォール部21の上方に設置された照射手段1A,1Bから、各撮像領域A,Bにそれぞれ面平行光を照射しながら、測定手段2A,2Bにより、それぞれの面平行光が照射された照射部を撮影する(ステップS13)。なお、撮影箇所の座標は、上記回転角検出手段で検出したタイヤTの回転角と、測定手段の位置と、タイヤ幅方向の撮影視野とから算出される。
上記で撮影された2種の画像は、画像処理手段に送られる。画像処理手段では、この2種の画像データを撮像領域A,B間のタイヤ円周方向の間隔の分だけずらすことで、タイヤ円周方向の各部位における、2方向からの照射光の反射像の画像データが得られる。これら画像データはいずれも二次元の画像であるので、これらの画像の輝度分布は、タイヤ周方向をx軸、タイヤ径方向をy軸、輝度レベルをz軸とする三次元の輝度分布曲線となる。この輝度分布曲線は、タイヤ円周方向に沿った輝度分布波形をタイヤ径方向に重ね合わせたものである。
次に、上記2方向からの画像をタイヤ径方向にN分割して、まず、サイドウォール部21のタイヤ径方向(y軸方向)の検査対象面Sのうち、タイヤ径方向の最も内側の位置(n=1)のタイヤ円周方向に沿った輝度分布波形を用いて検査対象面Sの凹凸を検出し、その後、n=2の位置、n=3の位置、……と、タイヤ径方向の最も外側の部分(n=N)の位置まで、順次凹凸の検出を行う。
まず、輝度分布波形を求めるタイヤ径方向(y軸方向)の位置をn=1にセットする(ステップS14)。そして、画像処理手段から送られてきた2方向からの画像のそれぞれについて、y軸方向の位置をn=1に固定して、タイヤ円周方向(x軸方向)に沿ってスキャンして上記各画像の輝度データを求めることにより、横軸を、撮影開始箇所を原点としたときのタイヤTのタイヤ円周方向位置とし、縦軸を輝度値とした、タイヤ円周方向に沿う各画像の輝度分布波形を表示したグラフを作成する(ステップS15)。
ステップS16では、上記で得られた輝度分布波形を用いて、凹凸の度合いを示す上記表面傾斜角θを算出する。タイヤ円周方向にスキャンしたときの表面傾斜角θの算出は以下のようにして行う。まず、受光強度と照明の配置位置・角度の情報から、検査対象面Sの法線方向を算出する(Photometric Stereo法)。
図3(a)に示すように、検査対象面Sの点P(x,y,z)におけるタイヤ円周方向の傾斜をp、タイヤ径方向の傾斜をqとすると、これらp,qは以下の式で表すことができる。
Figure 2012013658
また、検査対象面Sの法線ベクトルnは、上記p、qを用いると以下の式で表すことができる。
Figure 2012013658
一方、照射手段1Aが照射する光の入射光ベクトルSと照射手段1Bが照射する光の入射光ベクトルSは、各照射光の強度をI,Iとしたとき、以下の式で表すことができる。
Figure 2012013658
また、以下の式に示すように、測定手段2Aに入力される光の強度Eは、上記入射光ベクトルSの法線ベクトルnへの正射影にタイヤTの反射率をρ乗算したものであり、測定手段2Bに入力される光の強度Eは、上記入射光ベクトルSの法線ベクトルnへの正射影にタイヤTの反射率をρ乗算したものである。
Figure 2012013658
検査対象面Sのタイヤ円周方向の傾斜pは、上記強度Eの式と上記強度Eの式とから、タイヤ径方向の傾斜qを消去することにより求められる。なお、上記pは、図3(b)に示すように、サイドウォール部21のx−z断面における凹凸24の内壁の傾斜の度合い、すなわち、表面傾斜角θと、p=tanθの関係にある。したがって、表面傾斜角θは以下の式で表すことができる。
Figure 2012013658
以上の計算は、表面傾斜角算出部にて行う。
次に、タイヤ径方向の位置が最後の位置であるn=Nになっているかどうかを調べる(ステップS17)。ここでは、n=1の位置が完了したのでn<Nである。したがって、タイヤ径方向の位置を1だけ進めた後(ステップS18)、ステップS15に戻り、2方向からの画像のそれぞれについて、n=2の位置でタイヤ円周方向(x軸方向)に沿ってスキャンして、上記各画像の輝度データを求め、各画像の輝度分布波形を作成する。n=Nの場合、すなわち、タイヤ径方向の最後の位置での表面傾斜角の算出が完了した場合には、ステップS19に進んで、凹凸の検出を行う。
ステップS19では、上記で得られた表面傾斜角θの2次元画像データに、2次元ガボールフィルタを適用する。具体的には、抽出したい欠陥の種類に応じて複数種のスケールおよび回転角度のガボールフィルタを準備し、複数のガボールフィルタ結果画像(ガボール空間)を取得する。得られた複数のガボールフィルタ結果画像から、画素ごとの最大反応値Gを取得して画像化する。
次に、判定部にて、上記最大反応値Gと、あらかじめ設定された閾値Gとを比較して、所定の大きさ以上の凹凸を検出する(ステップS20)。具体的には、閾値として、抽出すべき凹凸の大きさの下限値に対応する反応値Gを設定し、上記最大反応値Gと下限値Gとを比較して、G≧Gであれば抽出すべき凹凸であると判定し、上記凹凸24の位置と最大反応値Gとを記憶部に記憶する(ステップS21)。一方、G<Gであれば、上記凹凸24は、抽出すべき凹凸ではないと判定する。
なお、上記表面傾斜角θの画像データからの所定の大きさ以上の凹凸の抽出手段としては、上記ガボールフィルタを用いた手法に限定されるものではない。例えば、スティーラブルフィルタ、コントラストフィルタ、振幅規格化変換などの手法を用いることも可能である。また、ガボールフィルタの適用前に、コントラストフィルタを適用してもよい。
次に、上記で得られた凹凸24のデータに基づき、外観検査手段にて、タイヤTの外観検査を行う(ステップ22)。外観検査手段は、凹凸検出手段の記憶部から検出された凹凸のデータを読み出し、上記凹凸の数や大きさに基づいて、タイヤTが外観不良であるかどうかを検査する。検査基準は、例えば、サイドウォール部21で検出された凹凸の密度があらかじめ設定した密度よりも高い場合には外観不良とし、サイドウォール部21で検出された凹凸の密度があらかじめ設定した密度よりも低い場合には良品とすることができる。
なお、上記例では、タイヤTのサイドウォール部21における凹凸を検出する場合について説明したが、これに限られるものではなく、本発明によれば、タイヤトレッド部などのタイヤTの他の部分の微小な凹凸についても検出可能である。また、上記例では、撮像領域が一対である場合について説明したが、撮像領域が二対以上である場合も、上記と同様に実施することができる。
また、タイヤの外観、すなわち、タイヤ表面の色合いまで検査しようとする場合には、特定の色の照射光を使用すると使用した色についてのタイヤ表面の色合いが観察できなくなってしまうが、本発明においては、白色光を用いて検査を行うことができるので、カラー画像データ上で、わずかな色の違いを有するが形状変化がない異種ゴムが加硫成型された部分についても、容易に検出することが可能である。さらに、本発明においては、各撮像領域につき全て同色の照明を使用できるので、照度調整が容易であり、また、撮像領域の照度が高いために検査精度が高いことに加え、タイヤを回転させながら連続的に撮影、検査を実施することが可能であるので、検査効率にも優れるものである。さらにまた、本発明と従来の光切断法による検査とを組み合わせれば、3次元データとの位置合わせにより、タイヤ表面の文字部などをマスクすることも可能である。
1A〜1D 照射手段
2A〜2D 測定手段
3 凹部
3a,3b 凹面
12 ラインカメラ
A〜D 撮像領域
T タイヤ
21 サイドウォール部
24 凹凸
30 回転台
31 モータ
60 タイヤ
60K サイド部
71 回転装置
72 投光装置
73 エリアカメラ

Claims (6)

  1. タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて少なくとも一対の撮像領域を、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において少なくとも一部分で重なるように設定し、各撮像領域に対しそれぞれ光を照射して、各撮像領域からの反射光をそれぞれ測定するにあたり、
    タイヤ円周方向から見て互いに対となる撮像領域間で平行であって、かつ各撮像領域を横断し該撮像領域に垂直な任意の面を、該互いに対となる撮像領域ごとに設定し、該互いに対となる撮像領域のそれぞれにおける前記光の照射方向を、該任意の面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向とすることを特徴とするタイヤの外観検査方法。
  2. 前記少なくとも一対の撮像領域を、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において全体で重なるように設定する請求項1記載のタイヤの外観検査方法。
  3. タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて二対の撮像領域を設定し、該二対の撮像領域における前記光の照射方向を、それぞれタイヤ円周方向に平行な方向およびタイヤ幅方向に平行な方向とする請求項1または2記載のタイヤの外観検査方法。
  4. 前記タイヤをタイヤ円周方向に回転させながら連続的に検査を行う請求項1〜3のうちいずれか一項記載のタイヤの外観検査方法。
  5. タイヤの表面に対し、タイヤ円周方向に間隔を空けて、タイヤ円周方向から見た際に、互いに対となる撮像領域がタイヤ径方向において少なくとも一部分で重なるように設定された少なくとも一対の撮像領域を有し、各撮像領域に対しそれぞれ光を照射する少なくとも一対の照射手段と、各撮像領域からの反射光をそれぞれ測定する少なくとも一対の測定手段と、を備え、
    タイヤ円周方向から見て互いに対となる撮像領域間で平行であって、かつ各撮像領域を横断し該撮像領域に垂直な任意の面を、該互いに対となる撮像領域ごとに設定したとき、該互いに対となる撮像領域における互いに対となる照射手段が、各照射手段からの光の照射方向が該任意の面に対し、タイヤ円周方向から見て互いに逆方向となるよう配置されていることを特徴とするタイヤの外観検査装置。
  6. 前記タイヤをタイヤ円周方向に回転させることが可能な回転手段を備える請求項5記載のタイヤの外観検査装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014238292A (ja) * 2013-06-06 2014-12-18 株式会社ブリヂストン 外観検査装置及び外観検査方法
CN114046746A (zh) * 2021-12-08 2022-02-15 北京汇丰隆智能科技有限公司 一种车辆轮胎磨损3d扫描在线光学检测装置及检测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01165940A (ja) * 1987-12-23 1989-06-29 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置
JPH10170238A (ja) * 1996-12-06 1998-06-26 Bridgestone Corp 被検査物の外形状異常判別方法及び装置
JP2005315821A (ja) * 2003-04-28 2005-11-10 Steinbichler Optotechnik Gmbh 対象物の輪郭測定及び又は変形測定、特に干渉測定のための方法及び装置
JP2008116270A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Bridgestone Corp タイヤの表面検査方法および装置
JP2008203258A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Bernward Maehner タイヤ試験装置及び方法
WO2010024254A1 (ja) * 2008-08-26 2010-03-04 株式会社ブリヂストン 被検体の凹凸検出方法とその装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01165940A (ja) * 1987-12-23 1989-06-29 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置
JPH10170238A (ja) * 1996-12-06 1998-06-26 Bridgestone Corp 被検査物の外形状異常判別方法及び装置
JP2005315821A (ja) * 2003-04-28 2005-11-10 Steinbichler Optotechnik Gmbh 対象物の輪郭測定及び又は変形測定、特に干渉測定のための方法及び装置
JP2008116270A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Bridgestone Corp タイヤの表面検査方法および装置
JP2008203258A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Bernward Maehner タイヤ試験装置及び方法
WO2010024254A1 (ja) * 2008-08-26 2010-03-04 株式会社ブリヂストン 被検体の凹凸検出方法とその装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014238292A (ja) * 2013-06-06 2014-12-18 株式会社ブリヂストン 外観検査装置及び外観検査方法
CN114046746A (zh) * 2021-12-08 2022-02-15 北京汇丰隆智能科技有限公司 一种车辆轮胎磨损3d扫描在线光学检测装置及检测方法

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