JP2012008261A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012008261A5
JP2012008261A5 JP2010142882A JP2010142882A JP2012008261A5 JP 2012008261 A5 JP2012008261 A5 JP 2012008261A5 JP 2010142882 A JP2010142882 A JP 2010142882A JP 2010142882 A JP2010142882 A JP 2010142882A JP 2012008261 A5 JP2012008261 A5 JP 2012008261A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image generation
generation apparatus
laser
unit
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010142882A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012008261A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010142882A priority Critical patent/JP2012008261A/ja
Priority claimed from JP2010142882A external-priority patent/JP2012008261A/ja
Priority to PCT/JP2011/063976 priority patent/WO2011162187A1/ja
Priority to CN2011800307103A priority patent/CN102947741A/zh
Priority to US13/806,486 priority patent/US20130120563A1/en
Priority to KR1020127033467A priority patent/KR20130092429A/ko
Priority to EP11798071.4A priority patent/EP2587298A4/en
Priority to TW100122056A priority patent/TW201213849A/zh
Publication of JP2012008261A publication Critical patent/JP2012008261A/ja
Publication of JP2012008261A5 publication Critical patent/JP2012008261A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (10)

  1. 被測定物の画像を生成する画像生成装置であって、
    レーザ光を出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光の強度を変調させるレーザ変調部と、
    前記レーザ光の前記被測定物への照射位置を走査するレーザ走査部と、
    前記被測定物に複数の空間変調パターンの照明光を照射するように、前記レーザ変調部及び前記レーザ走査部を制御する制御部と、
    前記複数の空間変調パターンの照明光の照射に応じて前記被測定物から生じる信号を検出する検出部と、
    前記制御部によって制御された前記照明光の照射位置に関する照射位置情報と、前記照射位置における前記レーザ光の照射に応じて前記検出部によって検出された信号の特性に関する特性情報とが対応付けられた特性分布情報を生成し、前記空間変調パターンに対応して複数の前記特性分布情報を含む2次元特性画像を生成する信号生成部と、
    複数の前記空間変調パターンに対応して生成した複数の前記2次元特性画像を基に、前記被測定物のパターン画像を生成する画像処理部と、
    を備えることを特徴とする画像生成装置。
  2. 前記検出部は、前記被測定物に電気的に接続され、前記被測定物から生じる電気信号を検出し、
    前記信号生成部は、前記照明光の前記照射位置情報と、前記電気信号の特性に関する特性情報とが対応付けられた特性分布情報を生成する、
    ことを特徴とする請求項1記載の画像生成装置。
  3. 前記電気信号は、前記照明光の照射に応じて生じる光起電流に関する電気信号である、
    ことを特徴とする請求項2記載の画像生成装置。
  4. 前記レーザ光源からの前記レーザ光は、被測定物において多光子吸収が可能な波長を含む、
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の画像生成装置。
  5. 前記レーザ変調部は、前記レーザ光の強度を三角関数に従って変化するように変調させる、
    ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像生成装置。
  6. 前記被測定物は、電気素子である、
    ことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の画像生成装置。
  7. 前記空間変調パターンは、n回回転対称(nは3以上)の縞状パターンである、
    ことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の画像生成装置。
  8. 前記制御部は、前記レーザ走査部によって前記被測定物の平面に沿った所定の方向に沿って前記レーザ光の照射位置を移動させながら、前記レーザ変調部によって前記レーザ光の照射強度を周期的に増減させる第1の制御と、前記第1の制御に続けて、前記レーザ走査部によって前記平面に沿った前記所定の方向に垂直な方向に沿って前記レーザ光の照射位置をずらす第2の制御とを繰り返し実行する、
    ことを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の画像生成装置。
  9. 前記制御部は、前記レーザ走査部によって前記被測定物の平面に沿った所定の方向に沿って前記レーザ光の照射位置を移動させながら、前記レーザ変調部によって前記レーザ光の照射強度を均一にする第3の制御と、前記第3の制御に続けて、前記レーザ走査部によって前記平面に沿った前記所定の方向に垂直な方向に沿って前記レーザ光の照射位置をずらす第2の制御とを繰り返し実行することにより、前記所定の方向に沿った空間変調パターンの照明光を生成させる、
    ことを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の画像生成装置。
  10. 前記検出部は、前記被測定物から生じる光信号を検出し、
    前記信号生成部は、前記照明光の前記照射位置情報と、前記光信号の特性に関する特性情報とが対応付けられた特性分布情報を生成する、
    ことを特徴とする請求項1記載の画像生成装置。
JP2010142882A 2010-06-23 2010-06-23 画像生成装置 Pending JP2012008261A (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010142882A JP2012008261A (ja) 2010-06-23 2010-06-23 画像生成装置
PCT/JP2011/063976 WO2011162187A1 (ja) 2010-06-23 2011-06-17 画像生成装置
CN2011800307103A CN102947741A (zh) 2010-06-23 2011-06-17 图像生成装置
US13/806,486 US20130120563A1 (en) 2010-06-23 2011-06-17 Image generation device
KR1020127033467A KR20130092429A (ko) 2010-06-23 2011-06-17 화상 생성 장치
EP11798071.4A EP2587298A4 (en) 2010-06-23 2011-06-17 IMAGE GENERATING DEVICE
TW100122056A TW201213849A (en) 2010-06-23 2011-06-23 Image generation device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010142882A JP2012008261A (ja) 2010-06-23 2010-06-23 画像生成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012008261A JP2012008261A (ja) 2012-01-12
JP2012008261A5 true JP2012008261A5 (ja) 2013-08-08

Family

ID=45371374

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010142882A Pending JP2012008261A (ja) 2010-06-23 2010-06-23 画像生成装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20130120563A1 (ja)
EP (1) EP2587298A4 (ja)
JP (1) JP2012008261A (ja)
KR (1) KR20130092429A (ja)
CN (1) CN102947741A (ja)
TW (1) TW201213849A (ja)
WO (1) WO2011162187A1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6166032B2 (ja) 2012-11-06 2017-07-19 浜松ホトニクス株式会社 半導体デバイス検査装置及び半導体デバイス検査方法
CN103054557B (zh) * 2013-01-08 2016-05-11 白宇 云纹图像成像装置
JP2015114420A (ja) 2013-12-10 2015-06-22 ソニー株式会社 画像取得装置及び画像取得方法
JP6357317B2 (ja) * 2014-01-30 2018-07-11 オリンパス株式会社 顕微鏡照明装置、顕微鏡照明方法および顕微鏡
US9690085B2 (en) * 2014-01-30 2017-06-27 Olympus Corporation Microscope illumination apparatus, microscope, and microscope illumination method
JP5996687B2 (ja) 2015-02-10 2016-09-21 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法
KR101759875B1 (ko) * 2015-06-24 2017-07-20 주식회사 엘지실트론 웨이퍼 연마장치의 스캔장치 및 스캔시스템
US10048485B2 (en) * 2015-08-28 2018-08-14 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Image output device, image transmission device, image reception device, image output method, and non-transitory recording medium
CH711570B1 (de) * 2015-09-28 2019-02-15 Besi Switzerland Ag Vorrichtung für die Montage von Bauelementen auf einem Substrat.
JP6632327B2 (ja) * 2015-10-30 2020-01-22 浜松ホトニクス株式会社 画像生成方法、画像生成装置、画像生成プログラム及び記録媒体
KR102543948B1 (ko) 2016-05-17 2023-06-15 삼성전자주식회사 클럭 신호 생성기 및 기판 검사 장치
KR101934956B1 (ko) * 2017-10-18 2019-03-18 고려대학교 산학협력단 구조 조명과 위상 검출을 이용한 단분자 중심위치 측정 장치 및 방법
JP7000197B2 (ja) * 2018-02-16 2022-01-19 浜松ホトニクス株式会社 濃度測定方法及び濃度測定装置
WO2020149139A1 (ja) * 2019-01-16 2020-07-23 株式会社小糸製作所 イメージング装置、その演算処理装置、車両用灯具、車両、センシング方法
CN110007453B (zh) * 2019-05-13 2023-11-21 中国科学院生物物理研究所 一种多照明模式的荧光信号测量装置及其测量方法和应用

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5034613A (en) * 1989-11-14 1991-07-23 Cornell Research Foundation, Inc. Two-photon laser microscopy
JP2931226B2 (ja) * 1995-01-26 1999-08-09 浜松ホトニクス株式会社 光帰還式光検出装置
US5708371A (en) * 1995-03-16 1998-01-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Scanning photoinduced current analyzer capable of detecting photoinduced current in nonbiased specimen
JPH09230246A (ja) * 1996-02-22 1997-09-05 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡
JP3411780B2 (ja) * 1997-04-07 2003-06-03 レーザーテック株式会社 レーザ顕微鏡及びこのレーザ顕微鏡を用いたパターン検査装置
US6078183A (en) * 1998-03-03 2000-06-20 Sandia Corporation Thermally-induced voltage alteration for integrated circuit analysis
JP2000292705A (ja) * 1999-04-05 2000-10-20 Olympus Optical Co Ltd 走査型顕微鏡
JP4429431B2 (ja) 1999-10-21 2010-03-10 オリンパス株式会社 光学装置
US20070196815A1 (en) * 2000-08-02 2007-08-23 Jason Lappe Positive Selection Procedure for Optically Directed Selection of Cells
JP2003075514A (ja) * 2001-09-06 2003-03-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 検査装置および検査方法
DE602005007403D1 (de) * 2004-03-25 2008-07-24 Olympus Corp Scannendes konfokales Mikroskop
JP4425098B2 (ja) * 2004-09-06 2010-03-03 浜松ホトニクス株式会社 蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置
JP4597744B2 (ja) * 2004-11-08 2010-12-15 株式会社トプコン 光画像計測装置及び光画像計測方法
US7326899B2 (en) * 2005-07-11 2008-02-05 Olympus Corporation Laser scanning microscope and image acquiring method of laser scanning microscope
US7485875B2 (en) * 2005-07-22 2009-02-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Resolution-enhanced luminescence microscopy
DE102005046755A1 (de) * 2005-09-29 2007-04-19 Carl Zeiss Jena Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines Bildes eines Objektes
JP2007199572A (ja) 2006-01-30 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
WO2007109861A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 The University Of Queensland Super resolution microscopy
US7838818B2 (en) * 2006-06-22 2010-11-23 Olympus Corporation Light-stimulus illumination apparatus which scans light-stimulus laser light in a direction intersecting an optical axis
WO2008081374A2 (en) * 2006-12-28 2008-07-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Reflection or single scattering spectroscopy and imaging

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012008261A5 (ja)
KR102163728B1 (ko) 거리영상 측정용 카메라 및 이를 이용한 거리영상 측정방법
JP2014517539A5 (ja)
JP2014095863A5 (ja) 光照射装置、顕微鏡装置及びレーザ加工装置
JP2014160057A5 (ja)
JP2012519265A5 (ja)
RU2016117402A (ru) Способ получения изображения образца
JP5457461B2 (ja) 複数の照明セグメントの照明特性を制御する方法及びシステム
DE602007002185D1 (de) Optische rastersonde
JP2013145240A5 (ja) ジェスチャを使用してレーザトラッカを制御する方法及びレーザ測定システム
CA2762637A1 (en) Device and method for obtaining three-dimensional object surface data
JP2012500989A5 (ja)
ATE487111T1 (de) Vorrichtung zur tomografischen erfassung von objekten
JP3169520U (ja) 調光可能な線形照明装置
TW201213849A (en) Image generation device
JP2010266432A5 (ja)
RU2015139689A (ru) Аппарат для обработки кожи
JP2014146542A5 (ja)
JP2012148302A5 (ja)
JP2011041795A5 (ja)
JP2015049204A5 (ja)
KR20190011122A (ko) 라이다 시스템 및 이의 구동 방법
JP2015200705A5 (ja)
JP2013048276A5 (ja)
JP2012526284A5 (ja)