JP2011530423A5 - - Google Patents
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Claims (15)
- パッド上で基板を研磨するための方法であって、
研磨モジュールの単一の研磨面に対して、第1の基板及び第2の基板を同時に押し付けること、
前記第1の基板を前記研磨面に押し付けながら、前記第1の基板の前に位置する第1の流体送出アームから第1の研磨流体を供給すること、
前記第2の基板を前記研磨面に押し付けながら、前記第2の基板の前に位置する第2の流体送出アームから第2の研磨流体を供給すること、
前記第1の基板を前記研磨面に押し付けながら、前記第1の基板の後ろに位置する第1のコンディショナーで前記研磨面をコンディショニングすること、及び
前記第2の基板を前記研磨面に押し付けながら、前記第2の基板の後ろに位置する第2のコンディショナーで前記研磨面をコンディショニングすること
を含む方法。 - 終点検出を使用して、前記2つの基板のうちの少なくとも1つの基板上の金属層の除去速度を求めることをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記金属層が銅層である、請求項2に記載の方法。
- 研磨速度が約3,000Å/分〜約12,000Å/分である、請求項1に記載の方法。
- 前記終点検出が、渦電流終点検出又はその場での除去監視方式(ISRM)レーザ終点検出を含む、請求項2に記載の方法。
- 前に研磨された基板が配置されていた前記研磨パッドの領域を、前記領域が次の基板と接触する前に、追加された研磨流体でコンディショニングすることをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記コンディショナーが約12swp/分〜約25swp/分の範囲内の掃引頻度を有する、請求項6に記載の方法。
- 前記コンディショナーが約80rpm〜約150rpmの範囲内の回転速度を有する、請求項6に記載の方法。
- スラリー剤を追加の研磨流体として使用する、請求項6に記載の方法。
- 前記スラリー剤がシリカである、請求項9に記載の方法。
- スラリー送出アームごとのスラリー使用率が、約300sccm〜約600sccmの範囲内の回転率を有する、請求項9に記載の方法。
- 前記スラリー送出アームが約10swp/分〜約60swp/分の範囲内の頻度率で前記研磨面を掃引する、請求項9に記載の方法。
- 前記スラリー送出アームが約7インチ〜約13インチの範囲を有する、請求項9に記載の方法。
- 単一の研磨パッド上で同時に複数の基板を研磨するための装置であって、
約30〜約52インチの直径を有する研磨面と、
同時に前記研磨面上に位置決めすることが可能な2つの研磨ヘッドであって、各研磨ヘッドに保持された基板を同時に前記研磨面に対して押し付ける働きをする研磨ヘッドと、
約100sccm〜約1,000sccmの速度で前記研磨面に研磨流体を供給する働きをし、且つ約2〜約18インチの範囲の掃引動作が可能な第1のスラリー送出アームと、
前記研磨面に研磨流体を供給する働きをし、且つ約2〜約18インチの範囲の掃引動作が可能な第2のスラリー送出アームであって、前記研磨ヘッドの1つによって前記第1のスラリー送出アームから隔てられている第2のスラリー送出アームと、
前記研磨面全体を約0.5〜約21インチの掃引距離に亘って可動な第1のコンディショニングモジュールと、
前記研磨面全体を約0.5〜約21インチの掃引距離に亘って可動な第2のコンディショニングモジュールであって、前記研磨ヘッドの1つによって前記第1のコンディショニングモジュールから隔てられている第2のコンディショニングモジュールと、
を備えた装置。 - 前記第1のコンディショニングモジュールが、当該モジュールに連結されたコンディショナーを10rpm〜300rpmで回転させる働きをする、請求項14に記載の装置。
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US20110300776A1 (en) * | 2010-06-03 | 2011-12-08 | Applied Materials, Inc. | Tuning of polishing process in multi-carrier head per platen polishing station |
KR101105264B1 (ko) * | 2010-09-02 | 2012-01-17 | (주)레이나 | Cmp 공정 중 연마 완료 시점 검출 시스템 및 방법 |
US20130115862A1 (en) * | 2011-11-09 | 2013-05-09 | Applied Materials, Inc. | Chemical mechanical polishing platform architecture |
US20140024299A1 (en) * | 2012-07-19 | 2014-01-23 | Wen-Chiang Tu | Polishing Pad and Multi-Head Polishing System |
US20140020830A1 (en) * | 2012-07-19 | 2014-01-23 | Applied Materials, Inc. | Carrier Head Sweep Motor Current for In-Situ Monitoring |
WO2014149755A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Applied Materials, Inc. | Design of disk/pad clean with wafer and wafer edge/bevel clean module for chemical mechanical polishing |
BR112017018749B1 (pt) | 2015-03-16 | 2022-10-04 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Amplificador, aparelho de recepção, e aparelho de comunicação sem fio adaptados para supressão de ruído |
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---|---|---|---|---|
US4991529A (en) * | 1972-02-28 | 1991-02-12 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Slurry Dispenser |
US5938504A (en) * | 1993-11-16 | 1999-08-17 | Applied Materials, Inc. | Substrate polishing apparatus |
JP3594357B2 (ja) * | 1995-04-10 | 2004-11-24 | 株式会社荏原製作所 | ポリッシング方法及び装置 |
JP3678468B2 (ja) * | 1995-07-18 | 2005-08-03 | 株式会社荏原製作所 | ポリッシング装置 |
US5738574A (en) * | 1995-10-27 | 1998-04-14 | Applied Materials, Inc. | Continuous processing system for chemical mechanical polishing |
US5709593A (en) * | 1995-10-27 | 1998-01-20 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for distribution of slurry in a chemical mechanical polishing system |
JP3672685B2 (ja) * | 1996-11-29 | 2005-07-20 | 松下電器産業株式会社 | 研磨方法及び研磨装置 |
US5921855A (en) * | 1997-05-15 | 1999-07-13 | Applied Materials, Inc. | Polishing pad having a grooved pattern for use in a chemical mechanical polishing system |
US6139406A (en) * | 1997-06-24 | 2000-10-31 | Applied Materials, Inc. | Combined slurry dispenser and rinse arm and method of operation |
JPH11114811A (ja) * | 1997-10-15 | 1999-04-27 | Ebara Corp | ポリッシング装置のスラリ供給装置 |
US6098901A (en) * | 1997-11-05 | 2000-08-08 | Aplex, Inc. | Apparatus for dispensing slurry |
US5964413A (en) * | 1997-11-05 | 1999-10-12 | Mok; Peter | Apparatus for dispensing slurry |
US6220941B1 (en) * | 1998-10-01 | 2001-04-24 | Applied Materials, Inc. | Method of post CMP defect stability improvement |
US6152806A (en) * | 1998-12-14 | 2000-11-28 | Applied Materials, Inc. | Concentric platens |
US6206760B1 (en) * | 1999-01-28 | 2001-03-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method and apparatus for preventing particle contamination in a polishing machine |
US6375544B1 (en) * | 1999-02-26 | 2002-04-23 | Micron Technology, Inc. | System and method for reducing surface defects integrated in circuits |
US6429131B2 (en) * | 1999-03-18 | 2002-08-06 | Infineon Technologies Ag | CMP uniformity |
KR20010071353A (ko) * | 1999-04-01 | 2001-07-28 | 롤페스 요하네스 게라투스 알베르투스 | 2중 cmp 패드 조절기 |
US6053801A (en) * | 1999-05-10 | 2000-04-25 | Applied Materials, Inc. | Substrate polishing with reduced contamination |
US6251001B1 (en) * | 1999-05-10 | 2001-06-26 | Applied Materials, Inc. | Substrate polishing with reduced contamination |
JP3797822B2 (ja) * | 1999-06-30 | 2006-07-19 | 株式会社荏原製作所 | ポリッシング装置 |
US6283840B1 (en) * | 1999-08-03 | 2001-09-04 | Applied Materials, Inc. | Cleaning and slurry distribution system assembly for use in chemical mechanical polishing apparatus |
US6284092B1 (en) * | 1999-08-06 | 2001-09-04 | International Business Machines Corporation | CMP slurry atomization slurry dispense system |
JP2001054857A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-02-27 | Okamoto Machine Tool Works Ltd | 曲率表面を有する長尺状ワ−クの製造方法およびそれに用いる平面ラップ装置 |
US6196900B1 (en) * | 1999-09-07 | 2001-03-06 | Vlsi Technology, Inc. | Ultrasonic transducer slurry dispenser |
US6626744B1 (en) * | 1999-12-17 | 2003-09-30 | Applied Materials, Inc. | Planarization system with multiple polishing pads |
KR100718737B1 (ko) * | 2000-01-17 | 2007-05-15 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 폴리싱 장치 |
US6623341B2 (en) * | 2000-01-18 | 2003-09-23 | Applied Materials, Inc. | Substrate polishing apparatus |
US6533645B2 (en) * | 2000-01-18 | 2003-03-18 | Applied Materials, Inc. | Substrate polishing article |
US6347650B1 (en) * | 2000-06-16 | 2002-02-19 | Discovery Partners International, Inc. | Device and method for dispensing particulate material |
JP2002075939A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-15 | Jsr Corp | 化学機械研磨における終点の検出方法およびそれに用いる化学機械研磨用水系分散体 |
JP2002110598A (ja) * | 2000-09-26 | 2002-04-12 | Toshiba Corp | Cmp装置 |
US6398627B1 (en) * | 2001-03-22 | 2002-06-04 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Slurry dispenser having multiple adjustable nozzles |
JP4682449B2 (ja) * | 2001-05-30 | 2011-05-11 | ソニー株式会社 | 化学的機械的研磨方法及び化学的機械的研磨装置 |
US6390902B1 (en) * | 2001-06-06 | 2002-05-21 | United Microelectronics Corp. | Multi-conditioner arrangement of a CMP system |
US20030027505A1 (en) * | 2001-08-02 | 2003-02-06 | Applied Materials, Inc. | Multiport polishing fluid delivery system |
US6699356B2 (en) * | 2001-08-17 | 2004-03-02 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for chemical-mechanical jet etching of semiconductor structures |
US6806948B2 (en) * | 2002-03-29 | 2004-10-19 | Lam Research Corporation | System and method of broad band optical end point detection for film change indication |
US6921317B2 (en) * | 2002-11-21 | 2005-07-26 | The Boeing Company | Automated lapping system |
US6882290B2 (en) * | 2002-12-20 | 2005-04-19 | Mobile Knowledge Inc. | Method and system for dynamically personalizing transportation in a vehicle |
US7229339B2 (en) * | 2004-07-02 | 2007-06-12 | Novellus Systems, Inc. | CMP apparatus and method |
US6945857B1 (en) * | 2004-07-08 | 2005-09-20 | Applied Materials, Inc. | Polishing pad conditioner and methods of manufacture and recycling |
US7066795B2 (en) * | 2004-10-12 | 2006-06-27 | Applied Materials, Inc. | Polishing pad conditioner with shaped abrasive patterns and channels |
US7182677B2 (en) * | 2005-01-14 | 2007-02-27 | Applied Materials, Inc. | Chemical mechanical polishing pad for controlling polishing slurry distribution |
US7052374B1 (en) * | 2005-03-01 | 2006-05-30 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Multipurpose slurry delivery arm for chemical mechanical polishing |
US20060201532A1 (en) * | 2005-03-14 | 2006-09-14 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor substrate cleaning system |
US7764377B2 (en) * | 2005-08-22 | 2010-07-27 | Applied Materials, Inc. | Spectrum based endpointing for chemical mechanical polishing |
JP2007109767A (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Mitsubishi Materials Corp | Cmpコンディショナおよびその製造方法 |
JP2007331108A (ja) * | 2007-08-20 | 2007-12-27 | Ebara Corp | 基板研磨装置および基板研磨方法 |
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