JP2011522323A - メモリサブシステム内への書き込みレベライゼーションの実装のための方法及び装置 - Google Patents

メモリサブシステム内への書き込みレベライゼーションの実装のための方法及び装置 Download PDF

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Abstract

【解決手段】
クロック信号及び一連のストローブ信号を位相合わせするための方法及び装置が開示される。1つの実施形態においては、メモリ制御器は、クロック信号を生成するように構成されるクロック発生器と、各ストローブ信号を生成するように構成される個々のストローブ信号発生器とを含む。メモリ制御器は、対応するメモリデバイスからのエラー信号を受け取るように構成される位相回復エンジンを更に含み、エラー信号は、ストローブ信号の複数の周期の各々のためのクロック信号に対するストローブ信号の位相合わせを示すエラー表示を伝える。位相回復エンジンは、ストローブ信号の複数の周期に対するエラー表示に依存する累積値を保持するように構成される加算器を含む。ストローブ信号発生器は、ストローブ信号の生成に関連する遅延を累積値に応じて制御するように構成される。
【選択図】図1

Description

この発明はメモリサブシステムに関し、より特定的にはメモリサブシステムのための書き込みレベライゼーションメカニズムに関する。
種々のメモリサブシステムアーキテクチャは、メモリ制御器で生成されるメモリクロック信号及びデータストローブ(DQS)信号が位相合わせされて対応するメモリデバイスに到着し、読み出し及び書き込み動作を効率的に実行するように設計される。
ダブルデータレート同期ダイナミックランダムアクセスメモリ(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)(DDR_SDRAM)及びDDR2_SDRAMシステムにおいては、これら信号に関連する痕跡長さが一致するという事実に少なくとも部分的に起因して、これら信号は位相合わせされている。DDR3_SDRAMシステムはそれらの信号に対して一致した痕跡長さを有していないので、DDR3_SDRAMメモリアーキテクチャは、メモリクロック信号とDQS信号をメモリデバイスで位相合わせする書き込みレベライゼーションを実行するためのメカニズムを含むであろう。
コンピュータシステムの1つ以上のメモリデバイスでのクロック信号及び一連のストローブ信号を位相合わせ(aligning)するための方法及び装置について、種々の実施形態が開示される。1つの実施形態においては、メモリ制御器は、クロック信号を生成するように構成されるクロック発生器と、各ストローブ信号を生成するように構成される個々のストローブ信号発生器とを含む。メモリ制御器は各ストローブ信号発生器に付随する位相回復エンジンを更に含み、位相回復エンジンは対応するメモリデバイスからのエラー信号を受け取るように構成される。エラー信号は、ストローブ信号の複数の周期の各々のためのクロック信号に対するストローブ信号の位相合わせを示すエラー表示を伝える。位相回復エンジンは、ストローブ信号の複数の周期に対するエラー表示に依存する累積値を保持するように構成される加算器を含む。ストローブ信号発生器は、ストローブ信号の生成に関連する遅延を累積値に応じて制御するように構成される。
図1はメモリ制御器及び1つ以上のメモリモジュールを含むメモリサブシステムの1つの実施形態のブロック図である。
図2Aは1つの実施形態に従うメモリクロック(MemClk)信号に対するデータストローブ(DQS)信号の位相合わせを示すタイミング図(その1)である。 図2Bは1つの実施形態に従うMemClk信号に対するDQS信号の位相合わせを示すタイミング図(その2)である。 図2Cは1つの実施形態に従うMemClk信号に対するDQS信号の位相合わせを示すタイミング図(その3)である。
図3はメモリクロック発生器、ストローブ信号発生器、及び位相回復エンジンの1つの実施形態のブロック図である。
図4はメモリモジュールのメモリデバイスの1つの実施形態のブロック図である。
図5はメモリサブシステムにおける種々の実施形態に従う書き込みレベライゼーションのための方法を示すフローチャートである。
図6AはDQS信号とMemClk信号の間での位相合わせを示すエラー信号の生成を示すタイミング図(その1)である。 図6BはDQS信号とMemClk信号の間での位相合わせを示すエラー信号の生成を示すタイミング図(その2)である。
図7はメモリクロック発生器、ストローブ信号発生器及び位相回復エンジンの1つの特定の実装のブロック図である。
図8は加算器によって保持される累積値のフィールドを示す図である。
図9は図7の実施形態に関係する動作を示すフローチャートである。 図10は図7の実施形態に関係する信号を示すタイミング図(その1)である。 図11は図7の実施形態に関係する信号を示すタイミング図(その2)である。
図12はストローブ信号発生器及び位相回復エンジンの更に特定の実装を示すブロック図である。
図13は1つの実施形態に従い遅延期間がそれに続くDQS周期の繰り返しシーケンスを示すタイミング図である。
図14は加算器の特定の実装を示すブロック図である。
図15はプロセッサ及びシステムメモリを含むコンピュータシステムの1つの実施形態のブロック図である。
本発明が種々の修正及び代替的な形態を許容し得る一方で、その具体的な実施形態が例示の目的で図面に示されており、ここに更に詳細に説明されることとなる。しかしながら、図面及びそれに対する詳細な説明は、開示された特定の形態に本発明を限定することを意図しているのではなく、むしろ添付の特許請求の範囲により画定されるような本発明の精神及び範囲内にある全ての改変、均等なもの及び代替案を網羅する意図であることが理解されるべきである。
図1を参照すると、1つの実施形態に従いメモリ制御器100と1つ以上のメモリモジュール180とを備えたメモリサブシステムのブロック図が示されている。図示されるように、メモリ制御器100はクロック発生器102、メモリクロック発生器105、複数のデータストローブ信号発生器110A〜X、及び複数の位相回復エンジン120A〜Xを含んでいてよい。メモリモジュール180は各々、複数のメモリデバイス150A〜Xを含んでいてよい。以下に更に説明されるように、メモリ制御器100はメモリデバイス150でメモリクロック(MemClk)信号と対応するデータストローブ(DQS)信号とを位相合わせするための書き込みレベライゼーションアルゴリズムを支持して、メモリ読み出し及び書き込み動作を効果的に実行する。
1つの特定の実装においては、クロック発生器102はメモリクロック発生器105、ストローブ信号発生器110A〜X、及び位相回復エンジン120A〜Xに接続されてよい。メモリクロック発生器105はメモリデバイス150A〜Xに接続されてよい。メモリモジュール180のメモリデバイス150A〜Xの各々は、DQS信号線を介して対応するストローブ信号発生器110に、またエラー信号線を介して対応する位相回復エンジン120に接続されてよい。例えばメモリデバイス150Xは、ストローブ信号発生器110X及び位相回復エンジン120Xに接続されてよい。位相回復エンジン120A〜Xの各々はまた、対応するストローブ信号発生器110に接続されていてよい。
メモリ制御器100及びメモリモジュール180は、あらゆる種類のコンピュータシステム又は処理システム、例えば数ある中でもパーソナルコンピュータ(PC)、ワークステーション、サーバーブレード(server blade)、携帯型コンピュータデバイス、ゲーム機、システムオンチップ(SoC)、テレビジョンシステム、オーディオシステム内に含まれていてよい。メモリ制御器100及びメモリモジュール180はコンピュータシステムの回路基板又はマザーボードに接続されていてよい。種々の実施形態においては、メモリ制御器100はコンピュータシステムのプロセッサ内に一体化されていてよい。他の実施形態においては、メモリ制御器100は別体のチップセットによりプロセッサ外部に実装されていてよい。メモリモジュール180はコンピュータシステムのメインシステムメモリ(例えば図15のシステムメモリ640)の形をとってよい。メモリモジュール180はデュアルインラインメモリモジュール(DIMM)であってよく、またメモリデバイス150はRAMデバイス、例えばDDR3_SDRAMデバイスであってよい。しかし、他の実施形態では、メモリデバイスでMemClk信号と対応するDQS信号とを位相合わせするために、他の種類のメモリを含むメモリサブシステム内に書き込みレベライゼーションアルゴリズムが実装されてよいことに言及しておく。
動作中、クロック発生器102はメモリ制御器100の内部クロックとして作用するクロック信号(PClk)を発生することができる。1つの特定の実装においては、DDR3_SDRAMに対して内部クロックは1600MHzで動作してよい。内部クロック信号はストローブ信号発生器110及びメモリクロック発生器105をはじめとするメモリ制御器100の種々の構成要素に供給されてよい。1つの実施形態では、内部クロック信号はメモリクロック発生器105がメモリクロック(MemClk)信号を生成するのに用いられるタイミング参照として作用することができる。図示されるように、MemClk信号はメモリデバイス150の各々に供給される。1つの特定の実装においては、MemClk信号は内部クロック信号PClkの半分の周波数で(例えば800MHzで)生成されてよい。
内部クロック信号(PClk)はまた、対応するメモリデバイス150に供給されるそれぞれのデータストローブ(DQS)信号をストローブ信号発生器110の各々が生成するのに用いられるタイミング参照として作用してよい。例えばストローブ信号発生器110Aは対応するDQS信号をメモリデバイス150Aへ供給する。当業者に理解されるであろうように、DQS信号は、メモリサブシステムの動作の標準モードの間に、メモリデバイス150に関連するデータ読み出し及び書き込み動作を制御するために用いられる。
書き込みレベライゼーション手続きの間、DQS信号はメモリデバイス150でのMemClk信号をサンプリングするための試験信号として供給されてよく、それによりMemClk信号に対する各DQS信号の位相合わせを決定することができる。特に、ストローブ信号発生器110はその対応するDQS信号を、MemClk信号と同じ周波数を有する複数周期(又は複数ストローブ)の形態で生成してよい。DQS信号及びMemClk信号はメモリ制御器100で位相合わせを開始されてよいのであるが、これら信号がメモリデバイス150に到着するとき、図2Aに示されるように個々のDQS信号はMemClk信号に先行しており、あるいは図2Bに示されるようにMemClk信号に対して遅れている。これら信号はメモリデバイス150まで完全に異種の経路をとるので痕跡長さは一致せず、従ってこれら信号が位相合わせされずにメモリデバイス150に到着することをもたらす異なる遅延が導入されるであろう。個々のDQS信号を遅延させあるいは早めてDQS信号とMemClk信号を位相合わせするために、以下に更に説明されるように書き込みレベライゼーションがメモリサブシステムに実装されてよい。書き込みレベライゼーションの後、図2Cに示されるように、対応するメモリデバイスで受け取られるときに各DQS信号は、MemClk信号に対して位相合わせされられるであろう。この初期化手続きに続いて、メモリサブシステムは、実行されるべき標準データ読み出し及び書き込み動作を可能にする動作モードに入ることができる。
位相回復エンジン120は、対応するメモリデバイス150から受け取ったエラー信号を解釈及び処理し、書き込みレベライゼーションアルゴリズムを実行するために用いることができる。各位相回復エンジン120は、対応するメモリデバイス150へ送られたDQS信号の各周期に応答するエラーの表示を受け取ることができる。位相回復エンジンは次いでエラー表示を処理して、MemClk信号に対する位相合わせを達成するために対応するDQS信号に付随させられる遅延を増やすかあるいは減らすかを決定する位相合わせ情報を生成することができる。尚、幾つかの実施形態では、書き込みレベライゼーション手続きの間にエラー信号を受け取るためのフィードバック経路は、標準メモリ読み出し及び書き込み動作の間のデータ転送に用いられるのと同じ線、例えばメモリサブシステム内の双方向データ(DQ)線であってよい。書き込みレベライゼーション手続きの特定の実装又は実施に関する更なる詳細は、図3〜14と共に以下に説明される。
尚、図1を参照して説明した構成要素は例示のみを目的としたものであり、本発明をいかなる特定の一連の構成要素又は構成に限定することを意図したものでもない。例えば種々の実施形態において、必要に応じて、1つ以上の説明された構成要素が省かれ、結合され、修正されてよく、あるいは付加的な構成要素が含まれていてよい。
図3はメモリクロック発生器105、ストローブ信号発生器110(例えば図1のストローブ信号発生器110A〜110Xのどれをも代表して)、及び位相回復エンジン120(例えば対応する位相回復エンジン120A〜120Xを代表して)の1つの実施形態の一般化されたブロック図である。図4はメモリデバイス150(例えば対応するメモリデバイス150A〜150Xを代表して)の1つの実施形態のブロック図である。図示されるように、メモリクロック発生器105は遅延ロックループ(DLL)デバイス206、2分の1分周器207、及びフリップフロップ208を含んでよい。同様にストローブ信号発生器110はDLLデバイス215、2分の1分周器216、及びフリップフロップ217を含んでよい。位相回復エンジン120がエラー値発生器222及び加算器225と共に示されている。最後にメモリデバイス150はフリップフロップ255と共に示されている。尚、例示された回路要素の特定の実装に関連して用いられるであろう種々の回路、例えば信号ドライバ、バイアス回路、マルチプレクサ等は簡潔明瞭のために図から省略されているかもしれない。
図1〜4及び関連する図5のフローチャートを集合的に参照すると、書き込みレベライゼーション手続きの間に、メモリ制御器100のメモリクロック発生器105はメモリモジュール180の各メモリデバイス150へMemClk信号を供給し(この実施形態ではPClkの半分の周波数で)、各ストローブ信号発生器110はMemClk信号の周波数で周期するそれぞれのDQS信号を対応するメモリデバイス150へ供給する(ブロック402)。前述したようにDQS信号及びMemClk信号は、対応するメモリデバイス150でのMemClk信号に対する各DQS信号の位相合わせを決定するためのエラー表示を発生するために供給される。
図示された実施形態では、メモリデバイス150へ供給されるDQS信号の1周期の各立ち上がりエッジが、例えばフリップフロップ255を用いてMemClk信号のサンプリングをもたらす。サンプリング動作に応答して、位相回復エンジン120はメモリデバイス150からエラー表示を受け取ってよい(ブロック404)。具体的には図示された実施形態では、DQS信号の各周期の立ち上がりエッジがフリップフロップ255にMemClk信号のサンプリングをもたらし、そうして対応するエラー信号がメモリデバイス150でのMemClk信号に対するDQS信号の位相合わせに応じて低又は高のいずれかに駆動される。例えば図6Aに示されるように、DQS信号の最初の立ち上がりエッジではMemClk信号が低にサンプリングされてよく、従って対応するメモリデバイス150から提供されるエラー信号は低に駆動される。それに続くDQS信号の立ち上がりエッジでは(MemClk信号に対する僅かな位相シフトと共に例示的に示されている)、MemClk信号は高にサンプリングされ、従ってエラー信号は高に駆動される。
図6BはMemClk信号が最初に高にサンプリングされて高いエラー信号をもたらし次いで低にサンプリングされて低いエラー信号をもたらす同様の例を示している。
エラー信号において伝えられるエラー表示を受け取ることに応答して、対応する位相回復エンジン120は関連する累積値を更新してよい(ブロック406)。例えば図3の実施形態においては、累積値(後述するように特定の初期値に初期化されてよい)は加算器225によって保持されてよい。DQS信号の各周期では、位相回復エンジン120のエラー値発生器222は、エラー信号の状態を第1の値(例えばエラー信号が高の場合に−1)又は第2の値(例えばエラー信号が低の場合に+1)のいずれかと関連付け、第1又は第2の値を加算器225へ供給する。加算器225はエラー値発生器222から供給された値(又はそれに応じた値)を2番目に最新の累積値に加えて、更新された累積値を導き出す(例えばDQS信号の各周期で)。従って、加算器225で保持される累積値は、MemClk信号に対するDQS信号の位相合わせに依存して増大し又は減少することに言及しておく。累積値又はそれに応じた信号はDLLデバイス215に対応して供給され、対応するDQS信号の生成に関連する遅延が制御される。このように、MemClk信号に対するDQS信号の位相合わせは、位相合わせを達成するためのフィードバック方法において調節及び制御されてよい。尚、図5のブロック402〜408を参照した上述の一般的動作は、種々の特定のメカニズム及び方法、例えば以下に図7〜14を参照して論じられるようなメカニズム及び方法を用いて実施され得る。また、ここに説明される遅延ロックループデバイス(例えばDLL215)は、他の実施形態では位相補間器等の他の位相制御可能信号生成デバイスで置換されてよい。
図7はメモリクロック発生器105、ストローブ信号発生器110、及び位相回復エンジン120の1つの特定の実装のブロック図である。図3の回路部分に対応する回路部分には簡潔明瞭のために同一の番号が付されている。図示された実施形態では、メモリクロック発生器105はDLL206の出力に接続される2分の1クロック分周器207と共に示されている。ストローブ信号発生器110はDLL215、フリップフロップ702、2:1マルチプレクサ704、及びインバータ706と共に示されている。位相回復エンジン120はエラー値発生器222と加算器225の間に接続される利得ユニット710と共に図示されている。
図7の実施形態では、加算器225は3つのフィールドを含む累積値を保持するように構成される。特に図8に示されるように、1つの実施形態では、加算器225で保持される累積値はビット[9:0]の形をとる10ビット値である。ここでは微細遅延ビット(又はフィールド)と称されるビット[2:0]は、雑音に対する平均化を提供し、またDLL215の更新とエラー信号における対応する応答の間の遅延を提供し、それにより安定性を提供する。ビット[7:3]はDLL215に付随する遅延を制御する。ビット[9:8]は以下に更に論じられるように粗い遅延を提供する。尚、図示される実施形態では微細遅延ビットはビット[2:0]の形をとっているが、他の実施形態では微細遅延ビット[n:0]が1以上のビットで異なる数字により形成されてよい。同様にDLL制御ビット[c:n+1]及び粗遅延ビット[M:c+1]の各々も、1以上のビットで異なる数字により形成されてよい。
図7の実施形態の動作が図9のフローチャート並びに図10及び11のタイミングチャートと共に論じられる。既に論じられたように、書き込みレベライゼーション手続きの間、エラー値発生器222は、対応するDQS信号の各立ち上がりエッジ上でのエラー信号において伝えられるエラー表示を受け取ってよい(ブロック432)。受け取ったエラー信号が低状態にある場合には、対応するメモリデバイス150で受け取ったDQS信号がMemClk信号に先行している(図2Aに示されるように)ことを示しているであろう。受け取ったエラー信号が高状態にある場合には、DQS信号がMemClk信号に遅れている(図2Bに示されるように)ことを示しているであろう。エラー値発生器222は、エラー信号が高である場合(ブロック434及び436)にはエラー表示を第1の値、例えば−1に関連付け、エラー信号が低である場合(ブロック434及び438)にはエラー表示を第2の値、例えば+1に関連付けることができる。
図7の実施形態においては、エラー値発生器222からの第1又は第2の値は利得ユニット710へ供給され、利得ユニット710は供給された値を増幅する(又は減衰させる)(ブロック439)。例えば、利得ユニット710は値を+1から+8に、あるいは−1から−8に増やし、そして結果としての増幅された値を加算器225へ供給することができる。DQS信号の各周期に対して、加算器225は利得ユニット710からの増幅された値をその2番目に最新の累積値と共に合算して、更新された累積値を導き出す(ブロック440)。尚、利得ユニット710によって提供される特定の利得量は、DQS信号の各サンプリングにおいて累積値が増大し又は減少する範囲を制御することができる。また、利得ユニット710によって提供される利得量はプログラム可能であってよい。更に、利得ユニット710が単位利得よりも小さい利得を提供してよい実施形態においては、加算器225によって保持される累積値の微細遅延フィールドは、1以上の付加的ビット(例えば図8において[−1]及び[−2]で示される)を含むことができ、それにより当該微細単位の値の累積が可能になる。
図示されるように、累積値のビット[7:3]は、DLL215の出力信号(DllClk)に関連する遅延を制御するために供給される。1つの実施形態では、DllClk信号は単位間隔(UI)の1/32の分数インクリメントにおいて制御可能に遅延させられてよく、単位間隔は内部クロックPClkの周期に等しい。図10はPClk信号に対して単位間隔の0/32から31/32までDllClk信号を遅延させたそれぞれのバージョンを示している。累積値のビット[7:3]に応じて、これらの選択された遅延の1つに従ってDLL215はDllClk信号を生成し、当該信号をフリップフロップ702のクロッキングを制御するために供給する。尚、図10は2分の1回路207からの出力としてのMemClk信号も示している。図示されるようにこの特定の実施形態では、MemClk信号は内部クロックPClkの周波数の半分の周波数を有している。
図7にまた示されるように、累積値のビット[8]はマルチプレクサ704の選択入力に供給される。マルチプレクサ704はその一方の入力でMemClk信号を受け取り、MemClk信号の反転バージョンを他方の入力で受け取る。累積値のビット[8]に応じてマルチプレクサ704は、MemClk信号又はMemClk信号の反転されたバージョンのいずれかがフリップフロップ702の入力として供給されるようにする。尚、幾つかの実施形態では、MemClk信号をメモリクロック発生器105から受け取るよりもむしろ、ストローブ信号発生器が、内部クロックPClkを受け取りその周波数を2分の1にする別個の2分の1回路を用いてMemClk信号の複製バージョンを別個に発生してよい。
図7の回路構成の結果、DLL215によって生成される(そして累積値のビット[7:3]に従い遅延される)DllClk信号の各立ち上がりエッジで、フリップフロップ702は、累積値のビット[8]に応じてMemClk信号又はMemClk信号の反転されたバージョンのいずれかをサンプリングする。図11に示されるように、フリップフロップ702の出力によって示されるDQS信号は従って、0/32UIから63/32UIの間の1/32UI毎のインクリメントでの、累積値に基いて制御される遅延を伴うMemClk信号の周波数で周期される。尚、ビット[9]が含まれている場合には、遅延は概念的には0/32UIから127/32UIまで制御することができる(粗遅延フィールド内に設けられてよい更なるビットに対しても必要に応じて同様)。よって、DLL215により生成されるDllClk信号が1/32UIの遅延を伴い且つ累積値のビット[8]が低である場合には、MemClk信号は、DllClk信号の最初に図示された立ち上がりエッジ(1/32UIに対応する遅延を有している)で高にサンプリングされ、従ってDQS信号は高に駆動される。その図示されたDllClk信号の次の立ち上がりエッジでは、MemClk信号は低にサンプリングされ、従ってDQS信号は低に移行し、以下同様である。このようにして、フリップフロップ702の出力として示され1/32UIに対応する遅延を伴うDQS信号を生成することができる。一方、累積値のビット[8]が高である場合には、DllClk信号の最初の立ち上がりエッジがMemClk信号の反転されたバージョン(即ちMemClkバー)の低状態のサンプリングをもたらし、従ってDQS信号は低に駆動される。その図示されたDllClk信号の次の立ち上がりエッジでは、MemClkバー信号は高にサンプリングされ、従ってDQS信号は高に移行し、以下同様である。このようにして、32/32UIに対応する遅延を伴うDQS信号が生成される。DQS信号の他の遅延されたバージョンも同様にして生成することができる。
DQS信号の連続する周期からもたらされるエラー表示がエラー値発生器222で受け取られるのにつれ、加算器225で保持される累積値は、対応するメモリデバイス150でのDQS信号とMemClk信号の位相合わせを達成し且つ維持する値に収束することになる。もし例えばMemClk信号に対してDQS信号が有意に先行しているとすると、累積値は徐々に増大し、ストローブ信号発生器110は段々と遅らせたDQS信号のバージョンを出力することとなる(即ちDQS信号を遅くし又は遅延させることとなる)。同様にして、もしMemClk信号に対してDQS信号が有意に遅れているとすると、累積値は徐々に減少し、ストローブ信号発生器110はDQS信号に付随する遅延を減少させることになる(即ちDQS信号を進め又は加速することになる)。最終的には、回路のフィードバックループ構成により、対応するメモリデバイス150で受け取られるDQS信号とMemClk信号の間での位相合わせを達成し且つ維持する値に累積値が収束することとなる。
尚、加算器225によって保持される累積値の微細遅延ビット[n:0]は、雑音の平均化を提供し且つ更に安定性を提供する。特に、微細遅延ビットが全部で3ビット(例えば[2:0])で形成されている実施形態(図7に示されるような)で考察する。当該実施形態においては、ビットが最初に全て論理0(即ち「000」)である場合、累積値のビット3をインクリメントさせるには、8つの連続する「+1」エラー値をエラー値発生器222/利得ユニット710から取ることになる(対応する変化がDQS信号に付随する遅延にもたらされる)。同様に、微細遅延ビットが最初に全て論理1(即ち「111」)である場合、ビット3をデクリメントさせるには、8つの「−1」エラー値をエラー値発生器222/利得ユニット710から取ることになる。このように、DQS信号とMemClk信号の間の位相合わせを維持する値に累積値が収束するにつれ、累積値のランダムなインクリメント及びデクリメントを引き起こし得るシステム内の雑音は、DQS信号の選択された遅延に対していかなる変化をももたらさなくなり得る(例えば累積値のビット[8:3]は影響を受けないから)。この平均化はまた、ループ内の任意の外部遅延をも安定化させるように作用する。
また、図7の実施形態においては、DLLデバイス215は、0/32UIから31/32UIの遅延を伴うDllClk信号の生成を制御可能である。しかし、MemClk信号の周波数はDllClk信号の周波数の半分であるから、累積値の粗遅延ビット[c+1](例えばビット[8])が、高位相のMemClk信号(即ちMemClk)又は低位相のMemClk信号(即ちMemClkバー)のいずれがフリップフロップ702によるサンプリングのための入力として供給されるかを制御するために用いられる。このようにして、DLL215が単に1UIの範囲に及び得る選択可能な遅延を提供するように構成されているに過ぎない場合であっても、MemClk信号の全周期に及ぶ範囲(即ち2UI)内で選択され得る付随遅延を伴ってDQS信号が生成され得る。尚、種々の実施形態においては、累積値の粗遅延フィールドを形成する1つ以上の高次ビット(例えばビット[9])が、加算器ラッピング(accumulator wrapping)(即ちオーバーフロー又はアンダーフロー)の追跡を単純にするために設けられてよい。
一旦、累積値がDQS信号とMemClk信号の間の位相合わせを達成する値に収束すると、書き込みレベライゼーション手続きは終了してよい。種々の実施形態において、図9に図示されるように実行されてよい動作の繰り返し総数は、累積値の収束を確実にするように選択することができる。他の実施形態においては、書き込みレベライゼーション手続きが実行される間の時間の長さは、累積値の収束を確実にするように要望どおり設定されてよい。尚、利得ユニット710によって提供される利得が、累積値の適切な収束が達成されるまでに必要な繰り返し数又は時間を決定するであろう。書き込みレベライゼーション手続きの後、ストローブ信号発生器110は決定された遅延値を用いて、標準的メモリ読み出し及び書き込み動作を実行するための対応するストローブ信号の生成に関係する遅延を設定することができる。
幾つかの実施形態では、利得ユニット710によって提供される利得は、高速収束のための書き込みレベライゼーション手続きの間に自動的に調節されてよい。例えば、利得は初めに比較的高い値(例えば+8)に設定することができる。所定数の累積周期の後、利得は低下させられてよく(例えば+1の値まで)、それにより、収束が達成される累積値への正確な調節が可能になる。当該実施形態において利得を低下させることは、単一の利得変化ステップにおいて行われてよく、あるいは幾つかの離散的な値を経由して徐々に繰り返し低下させることによって行われてよい。更なる実施形態においては、利得ユニット710の利得における変化は、特定の条件、例えばDQS信号におけるMemClk信号に対する位相反転の検出に応答してなされてよい。
また幾つかの実施形態では、加算器225によって保持される累積値は初めに所定値に設定されてよい(例えば種値(seed value))。例えば、メモリ制御器100が展開されてよいコンピュータシステムのBIOS(基本入力/出力システム)コードの実行を介する初期化に際して、加算器225内で初期値がプログラムされてよい。例えば、微細遅延フィールドのビット[n]が値「1」で初期化されてよい一方で、微細遅延フィールドの低次ビットは値「0」で初期化されてよい。DLL制御フィールド[即ちビットc:n+1]及び粗遅延フィールド[即ちビットM:c+1]も同様に、要望に応じて特定の初期値に初期化されてよい。
上述した図7の説明では、ストローブ信号発生器110で生成されるようなDQS信号は、書き込みレベライゼーション手続きの間にMemClk信号の周波数で連続的に周期し、また累積値は各DQS周期に応答して受け取られるエラー表示に従って更新されるが、他の実施形態もまた可能である。例えば、図12はシーケンサ1102がストローブ信号発生器110内に設けられている実施形態を示している。図13に示されるように、動作中、シーケンサ1102がストローブ信号発生器110を制御するように動作し、所定数周期のDQS信号のシーケンス1202が繰り返す形で生成されて遅延期間1204がそれに続く。当該実施形態においては、シーケンス1202の各周期に付随するエラー表示が位相回復エンジン120へ供給され、それに従って上述したようにして加算器225に付随する累積値を更新させるであろう。その一方で、シーケンサ1102は、DQS信号の周期毎でよりはむしろ、DQS信号の周期のシーケンス1202全体に続いてのみ(例えば遅延期間1204の間)、DQS信号の生成に付随する遅延が変化させられることを可能にする。換言すれば、それでもなお位相回復エンジン120が、DQS信号の各周期に応答して受け取られるエラー表示に関連する値を累積してよいのである。しかし、周期毎の結果としてストローブ信号発生器110に付随する遅延を累積値が潜在的に変化させることを可能にする代わりに、ストローブ信号発生器110によって生成されるDQS信号に付随する遅延は、DQS信号の周期のシーケンス1202全体に続いてのみ変化させられ得る(例えば遅延期間1204の間に)。図13はまた、後続する第2のシーケンス1206の発生を種々示しており、DQS信号の所定数周期の第2のシーケンス1206は、遅延が変化しないままである場合、遅延が増える場合、又は遅延が減る場合に生成されてよい。尚、シーケンサ1102によって制御されるような各シーケンス(1202,1206)において発生する所定数周期はプログラム可能であってよく、遅延期間1204の長さも同様である。また当該実施形態では、遅延期間1204にエラー値発生器222/利得ユニット710から出力される値の累積を避けるために、1つ以上のデシメータ1104を位相回復エンジン120内に設けることができる。
尚、図3、7及び12のブロック図により一般的に示されている種々の要素は、様々な特定の回路構成及び技術を用いて実装することができる。例えば1つの特定の実装においては、加算器225は多段積分ダンプ構成(multi-stage integrate-and-dump configuration)を用いて実装することができる。当該実装が図14に示されており、加算器225は内部クロック信号PClkによってクロックされる第1の加算器1402(例えばこの例では4ビット幅加算器)を用いて実装されている。第2の加算器1404が加算器1402の出力(符号拡張ユニット1406によって適切に符号拡張されている)を受け取るように接続されており、第2の加算器1404は累積値全体(例えばビット[9:0])を保持するが、より低速のクロック信号(例えばこの例ではPClk/4の周波数を有する)によってクロックされてよい。図14に示されるような加算器225の実装は、単一段階加算器を用いる実装と比較して、高いデータレートでの機能をなすためにより少ない電力を消費し且つより簡素であろう。
また、最後になるが、ストローブ信号発生器110は、位相回復エンジン120から供給される累積値に応じて関連付けられる、DQS信号の生成に付随する遅延を制御するための他の特定の回路及び/又は回路構成を採用してよい。例えば幾つかの実施形態では、フリップフロップ702はサンプリング回路の異なる特定の実装に置換されてよい。また幾つかの実施形態では、DLLデバイス215は、MemClk信号の全周期(即ち2UI)に及ぶ遅延の範囲にわたって選択的に遅延され得る出力信号を生成するように構成されてよい。当該実施形態においては、フリップフロップ702及びマルチプレクサ704は完全に省略されてよいかもしれず、またDQS信号はDLLデバイス215の出力から直接的にもたらされてよい。更に、累積値の各フィールドを形成するビット(即ち微細遅延ビット、DLL制御ビット、及び粗遅延ビット)の具体的な数及び、利得ユニット710によって提供される利得は、与えられた実装の性能を最適化するように要望に応じて選択されてよい。
図15はプロセッサ600及びシステムメモリ640を含むコンピュータシステム650の1つの実施形態のブロック図である。プロセッサ600は、単一の集積回路の一部として他の構成と共に製造される1つ以上のプロセッサコア、例えばプロセッサコア601a〜dを含んでよい。各プロセッサコア601は、システムメモリ640内に記憶されていてよい命令を実行するように構成されていてよい。当該命令は特定の命令セットアーキテクチャ(ISA)に従って定義されてよい。例えばプロセッサコア601はx86ISAのバージョンを実装するように構成されてよいが、他の実施形態ではプロセッサコア601は他のISA又は複数ISAの組み合わせを実装してもよい。
図示された実施形態では、コア601の各々は、システムインタフェースユニット(SIU)610を介してL3キャッシュ620及びメモリ制御器/周辺機器インタフェースユニット(MCU)630に接続されてよい。1つの実施形態においては、L3キャッシュ620は任意の適切な組織(organization)を用いて実装される統合キャッシュ(unified cache)として構成されてよく、統合キャッシュはコア601のL2キャッシュとシステムメモリ640の間での中間キャッシュとして動作する。
MCU630はプロセッサ600を直接的にシステムメモリ640とインタフェースするように構成されてよい。例えばMCU630は、1つ以上の異なる種類のDDR−3_SDRAM等のランダムアクセスメモリ(RAM)を支持するのに必要な信号を生成するように構成されてよい。システムメモリ640においてメモリクロック(MemClk)信号に対して一連のデータストローブ(DQS)信号の各々を位相合わせするための書き込みレベライゼーションアルゴリズムを支持するために、MCU630は図1〜14を参照して上述したメモリ制御器100の機能を含んでいてよい。システムメモリ640は、プロセッサ600の種々のコア601によってそこで動作してよい命令及びデータを記憶するように構成されてよく、システムメモリ640のコンテンツは上述したキャッシュの種々の形態によってキャッシュされてよい。
また、MCU630はプロセッサ600に対する他の種類のインタフェースを支持することができる。例えばMCU630は、アクセラレーテッドアドバンスドグラフィックスポート(Accelerated/Advanced Graphics Pot)(AGP)インタフェースの1バージョンのような専用グラフィックスプロセッサインタフェースを実装していてよく、そのような専用グラフィックスプロセッサインタフェースは、別個のグラフィックスプロセッサ、グラフィックスメモリ及び/又は他の要素を含んでいてよいグラフィック処理サブシステムに対してプロセッサ600をインタフェースするために用いることができる。MCU630はまた、1つ以上の種類の周辺機器インタフェース、例えばPCIエクスプレスバス規格(PCI-Express bus standard)の1バージョンを実装するように構成されていてよく、そのような周辺機器インタフェースを介してプロセッサ600は記憶デバイス、グラフィックスデバイス、ネットワークデバイス等の周辺機器とインタフェースすることができる。幾つかの実施形態では、プロセッサ600の外部の補助バスブリッジ(例えば「サウスブリッジ」)が、他の種類のバス又は相互接続を介してプロセッサ600を他の周辺デバイスに接続するために用いられてよい。尚、メモリ制御器及び周辺機器インタフェース機能はMCU630を介してプロセッサ600内で統合されているように図示されているが、他の実施形態ではこれらの機能は標準的な「ノースブリッジ」配置を介してプロセッサ600外部で実装されてもよい。例えば、MCU630の種々の機能は、プロセッサ600内で統合化されておらず別個のチップセットにより実装されてよい。
上述の実施形態は相当詳細に説明されてきたが、上述の開示が完全に理解されたならば、多くの変更及び修正が当業者にとって明らかであろう。以下の特許請求の範囲は、そのような変更及び修正の全てに及ぶように解釈されることが意図されている。
この発明は概してメモリサブシステム及びコンピュータシステムに適用することができる。

Claims (10)

  1. メモリデバイス(150)に対するクロック信号を生成するように構成されるクロック発生器(102)と、
    前記メモリデバイスに対するストローブ信号を生成するように構成されるストローブ信号発生器(110)と、
    前記メモリデバイスからのエラー信号を受け取るように構成される位相回復エンジン(120)と、を備えたメモリ制御器であって、
    前記エラー信号は前記ストローブ信号の複数の周期の各々のための前記クロック信号に対する前記ストローブ信号の位相合わせを示すエラー表示を伝え、
    前記位相回復エンジンは前記ストローブ信号の前記複数の周期に対する前記エラー表示に依存する累積値を保持するように構成される加算器を含み、
    前記ストローブ信号発生器(110)は前記ストローブ信号の生成に関連する遅延を前記累積値に応じて制御するように構成されるメモリ制御器。
  2. 前記ストローブ信号発生器(110)は前記ストローブ信号の前記生成に関連する前記遅延を前記累積値の複数のビットに応じて制御するように構成される位相制御可能信号生成デバイス(215)を含む、請求項1に記載のメモリ制御器。
  3. 前記位相制御可能信号生成デバイスは遅延ロックループ(DLL)デバイス(215)であり、前記累積値は微細遅延フィールドを形成する1つ以上の低次ビットを更に含む、請求項2に記載のメモリ制御器。
  4. 前記ストローブ信号を表す出力を生成するように構成されるサンプリング回路(217)を更に備え、
    前記DLLデバイス(215)の出力信号は前記サンプリング回路の制御クロッキングに結合される、請求項3に記載のメモリ制御器。
  5. 前記ストローブ信号発生器(110)は前記クロック信号の高位相又は低位相のいずれかが前記累積値の少なくとも1つの高次ビットに応じて前記サンプリング回路によって選択的にサンプリングされるように構成される、請求項4に記載のメモリ制御器。
  6. 前記サンプリング回路はフリップフロップ(217)である、請求項4に記載のメモリ制御器。
  7. メモリデバイス(150)と、
    前記メモリデバイスに接続される請求項1乃至6のいずれかに記載のメモリ制御器(100)と、を備えたシステム。
  8. クロック信号及びストローブ信号をメモリデバイス(150)へ供給することと、
    前記ストローブ信号の複数の周期の各々のための前記クロック信号に対する前記ストローブ信号の位相合わせを示すエラー表示を伝えるエラー信号を前記メモリデバイスから受け取ることと、
    前記ストローブ信号の前記複数の周期に対する前記エラー表示に依存する累積値を保持することと、
    前記ストローブ信号の生成に関連する遅延を前記累積値に応じて制御することと、を備えた方法。
  9. 前記ストローブ信号の生成に関連する前記遅延を制御することは、DLLデバイス(215)に関連する前記遅延を前記累積値の第1の複数のビットに従って制御することを含む、請求項8に記載の方法。
  10. 前記ストローブ信号の生成に関連する前記遅延を制御することは、
    前記クロック信号の高位相又は低位相のいずれかが前記累積値の少なくとも1つの高次ビットに応じて選択的にサンプリング回路に供給されるようにすることと、
    前記サンプリング回路のクロッキングを前記DLLデバイス(215)の出力と共に制御することと、を更に含む、請求項9に記載の方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014048759A (ja) * 2012-08-29 2014-03-17 Fujitsu Ltd 判定支援装置、判定装置、メモリコントローラ、システム、および判定方法

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7872937B2 (en) * 2008-03-31 2011-01-18 Globalfoundries Inc. Data driver circuit for a dynamic random access memory (DRAM) controller or the like and method therefor
US7869287B2 (en) * 2008-03-31 2011-01-11 Advanced Micro Devices, Inc. Circuit for locking a delay locked loop (DLL) and method therefor
US7924637B2 (en) 2008-03-31 2011-04-12 Advanced Micro Devices, Inc. Method for training dynamic random access memory (DRAM) controller timing delays
US7929361B2 (en) * 2008-03-31 2011-04-19 Advanced Micro Devices, Inc. Circuit using a shared delay locked loop (DLL) and method therefor
KR101079209B1 (ko) * 2010-04-28 2011-11-03 주식회사 하이닉스반도체 반도체 시스템의 데이터 송수신 장치 및 방법
US8937846B2 (en) 2013-05-09 2015-01-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Write level training using dual frequencies in a double data-rate memory device interface
KR102147228B1 (ko) 2014-01-23 2020-08-24 삼성전자주식회사 타겟 모듈의 라이트 레벨링을 제어하는 라이트 레벨링 제어 회로 및 그에 따른 라이트 레벨링 제어방법
US9330749B1 (en) * 2014-10-21 2016-05-03 Xilinx, Inc. Dynamic selection of output delay in a memory control device
US9864713B2 (en) * 2014-12-05 2018-01-09 Marvell Israel (M.I.S.L.) Ltd. Optimal sampling of data-bus signals using configurable individual time delays
KR102472123B1 (ko) * 2016-03-16 2022-11-30 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 시스템 및 그의 동작 방법
CN107918443B (zh) * 2016-10-11 2020-04-24 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种信号生成方法和装置
KR102681255B1 (ko) * 2017-01-31 2024-07-03 에스케이하이닉스 주식회사 집적회로
US10230370B2 (en) 2017-04-25 2019-03-12 Ati Technologies Ulc Data transmission with power supply noise compensation
TWI713042B (zh) * 2019-07-22 2020-12-11 群聯電子股份有限公司 記憶體介面電路、記憶體儲存裝置及設定狀態檢測方法
KR102674592B1 (ko) * 2020-04-17 2024-06-12 에스케이하이닉스 주식회사 위상매칭동작을 수행하기 위한 시스템
US11456031B2 (en) * 2020-12-09 2022-09-27 Micron Technology, Inc. Write leveling a memory device using write DLL circuitry

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001110183A (ja) * 1999-10-08 2001-04-20 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JP2001183422A (ja) * 1999-12-27 2001-07-06 Hitachi Ltd 半導体集積回路及び電子回路
JP2004079157A (ja) * 1992-03-06 2004-03-11 Rambus Inc 同期メモリ装置
JP2004145999A (ja) * 2002-10-25 2004-05-20 Elpida Memory Inc タイミング調整回路及びそれを備えた半導体装置
JP2005078547A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Renesas Technology Corp 半導体集積回路
JP2007226561A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Ricoh Co Ltd メモリ制御装置
US20070217559A1 (en) * 2006-03-16 2007-09-20 Rambus Inc. Signaling system with adaptive timing calibration
JP2007280289A (ja) * 2006-04-11 2007-10-25 Fujitsu Ltd 半導体装置及び信号処理方法
JP2008054324A (ja) * 2006-08-24 2008-03-06 Altera Corp プログラマブルロジックデバイスにおける書き込みレベリングインプリメンテーション
JP2008071018A (ja) * 2006-09-13 2008-03-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd メモリインターフェース回路
JP2008108023A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Canon Inc メモリコントローラ

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5373255A (en) 1993-07-28 1994-12-13 Motorola, Inc. Low-power, jitter-compensated phase locked loop and method therefor
US5440515A (en) 1994-03-08 1995-08-08 Motorola Inc. Delay locked loop for detecting the phase difference of two signals having different frequencies
US5692165A (en) 1995-09-12 1997-11-25 Micron Electronics Inc. Memory controller with low skew control signal
US6728161B1 (en) 2000-06-30 2004-04-27 Micron Technology, Inc. Zero latency-zero bus turnaround synchronous flash memory
US6691214B1 (en) 2000-08-29 2004-02-10 Micron Technology, Inc. DDR II write data capture calibration
US6735709B1 (en) 2000-11-09 2004-05-11 Micron Technology, Inc. Method of timing calibration using slower data rate pattern
KR100382736B1 (ko) 2001-03-09 2003-05-09 삼성전자주식회사 독출동작과 기입동작시 서로 다른 데이터율을 갖는 반도체메모리장치 및 이를 채용하는 시스템
US6678811B2 (en) 2001-04-07 2004-01-13 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Memory controller with 1X/MX write capability
JP3565837B2 (ja) * 2001-06-07 2004-09-15 株式会社アドバンテスト 半導体試験装置のキャリブレーション方法
KR100427723B1 (ko) 2001-11-21 2004-04-28 주식회사 하이닉스반도체 메모리 서브시스템
KR100470995B1 (ko) 2002-04-23 2005-03-08 삼성전자주식회사 클럭수신 동기회로를 갖는 멀티클럭 도메인 데이터 입력처리장치 및 그에 따른 클럭신호 인가방법
KR100498473B1 (ko) 2003-01-06 2005-07-01 삼성전자주식회사 제어신호 발생회로 및 상기 제어신호 발생회로를 구비하는데이터 전송회로
US6930932B2 (en) * 2003-08-27 2005-08-16 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Data signal reception latch control using clock aligned relative to strobe signal
JP4370507B2 (ja) 2003-11-27 2009-11-25 エルピーダメモリ株式会社 半導体集積回路装置
US7337346B2 (en) 2004-03-04 2008-02-26 Ati Technologies Inc. Method and apparatus for fine tuning a memory interface
KR100567065B1 (ko) 2004-04-28 2006-04-04 주식회사 하이닉스반도체 메모리 장치용 입력 회로
US7307900B2 (en) 2004-11-30 2007-12-11 Intel Corporation Method and apparatus for optimizing strobe to clock relationship
KR100642436B1 (ko) 2004-12-22 2006-11-02 주식회사 하이닉스반도체 향상된 구조를 가지는 멀티-비트 프리페치 타입 반도체메모리 장치의 파이프 래치 회로
DE102005019041B4 (de) * 2005-04-23 2009-04-16 Qimonda Ag Halbleiterspeicher und Verfahren zur Anpassung der Phasenbeziehung zwischen einem Taktsignal und Strobe-Signal bei der Übernahme von zu übertragenden Schreibdaten
US7688925B2 (en) 2005-08-01 2010-03-30 Ati Technologies, Inc. Bit-deskewing IO method and system
JP5013394B2 (ja) 2005-09-13 2012-08-29 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置
US7487378B2 (en) 2005-09-19 2009-02-03 Ati Technologies, Inc. Asymmetrical IO method and system
JP5400262B2 (ja) 2005-12-28 2014-01-29 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 半導体装置
JP4959264B2 (ja) 2006-09-15 2012-06-20 株式会社リコー メモリ制御装置
US7948812B2 (en) 2006-11-20 2011-05-24 Rambus Inc. Memory systems and methods for dynamically phase adjusting a write strobe and data to account for receive-clock drift
US7586799B2 (en) 2007-09-27 2009-09-08 Micron Technology, Inc. Devices, systems, and methods for independent output drive strengths
US7872937B2 (en) 2008-03-31 2011-01-18 Globalfoundries Inc. Data driver circuit for a dynamic random access memory (DRAM) controller or the like and method therefor
US7869287B2 (en) 2008-03-31 2011-01-11 Advanced Micro Devices, Inc. Circuit for locking a delay locked loop (DLL) and method therefor
US7929361B2 (en) 2008-03-31 2011-04-19 Advanced Micro Devices, Inc. Circuit using a shared delay locked loop (DLL) and method therefor

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004079157A (ja) * 1992-03-06 2004-03-11 Rambus Inc 同期メモリ装置
JP2001110183A (ja) * 1999-10-08 2001-04-20 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JP2001183422A (ja) * 1999-12-27 2001-07-06 Hitachi Ltd 半導体集積回路及び電子回路
JP2004145999A (ja) * 2002-10-25 2004-05-20 Elpida Memory Inc タイミング調整回路及びそれを備えた半導体装置
JP2005078547A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Renesas Technology Corp 半導体集積回路
JP2007226561A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Ricoh Co Ltd メモリ制御装置
US20070217559A1 (en) * 2006-03-16 2007-09-20 Rambus Inc. Signaling system with adaptive timing calibration
JP2007280289A (ja) * 2006-04-11 2007-10-25 Fujitsu Ltd 半導体装置及び信号処理方法
JP2008054324A (ja) * 2006-08-24 2008-03-06 Altera Corp プログラマブルロジックデバイスにおける書き込みレベリングインプリメンテーション
JP2008071018A (ja) * 2006-09-13 2008-03-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd メモリインターフェース回路
JP2008108023A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Canon Inc メモリコントローラ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014048759A (ja) * 2012-08-29 2014-03-17 Fujitsu Ltd 判定支援装置、判定装置、メモリコントローラ、システム、および判定方法

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