JP2011253841A - ウェーハ保持具 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のウェーハ保持具は、テーブルと、吸引孔と、支持部材とを備えており、また、吸引孔の表面側の一部は拡径処理が施されており、拡径部および円環状テラスが形成されている。該円環状テラスに支持部材を固定することにより、ウェーハに直接接触する支持部材の面積が低減され、ウェーハの表面に傷を付けることなくウェーハを吸引保持することができる。
【選択図】図1
Description
通常、シリコンウェーハ製造工程において、シリコンウェーハ表裏面を鏡面研磨する前に、シリコンウェーハを所定厚みにまで研削して、表裏面を平坦化する処理が行われ、さらに研削処理されたシリコンウェーハ表面について洗浄処理やエッチング処理することが行われている。この洗浄処理やエッチング処理を行うにあたっては、近年の、製造するシリコンウェーハの大口径化に伴い、シリコンウェーハ1枚毎に処理を行う枚葉方式のスピン洗浄装置や、スピンエッチング装置などが使用されている。
すなわち、研削処理されたシリコンウェーハは、スピンナーテーブルに吸引保持されて洗浄及び乾燥されるが、研削工程では研削面に純水などを供給しながら研削処理が行われるため、研削処理後のウェーハ表裏面には研削屑の混入した研削液(水分)が付着している。このため、スピンナーテーブルにより吸引保持されるウェーハ裏面部位には研削屑を起因とした傷が発生し、ウェーハの品質を低下させることが問題になっていた。また、スピンナーテーブルに吸引保持された面は研削液が付着したままの状態で隠蔽されてしまうため、この吸引保持面に研削液が残留し、洗浄処理後に乾燥すると研削液による汚れがウェーハ裏面に生じてしまう問題もあった。
また、支持部材が吸引孔の部分を担うことから、当該支持部材の内側が吸引状態にあり、洗浄液がウェーハの支持部材当接面に残ることがほとんどなく、ウェーハの汚染防止に有利である。
図1は、本発明の第1の実施形態であるウェーハ保持具の(a)上面図および(b)図1(a)におけるA−Aでの断面図を示している。このウェーハ保持具1は、テーブル11と、吸引孔12と、支持部材13とを備える。また、吸引孔12のテーブル表面側の一部は拡径されており、この拡径部121と共に円環状テラス122が形成されている。
吸引孔12の数は、テーブル11上に載置するウェーハの吸引並びに、姿勢の安定性から3個以上とし、また、多すぎる場合には吸引孔12に固定される支持部材13とウェーハが接触する面積が増加して、本発明の効果を損なう虞があるため、最大でも10個以下とすることが望ましい。
また、吸引孔12の径についても、該吸引孔12の数およびウェーハの吸引力等を考慮して適切に設定すればよく、例えば5〜10mmが好適である。
これらの吸引孔12は、適切な配管により吸引源(図示せず)に接続されており、該吸引源からの吸引力が吸引孔12を介してウェーハに伝達されることにより、ウェーハが吸引保持される。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図2は、本発明の第2の実施形態であるウェーハ保持具2の(a)上面図および(b)図2(a)におけるB−Bでの断面図を示している。このウェーハ保持具2は、第1の実施形態のウェーハ保持具1とほぼ同一の構成を有しており、テーブル21と、吸引孔22と、支持部材23とを備え、吸引孔22の表面側の一部は拡径されて拡径部221と共に円環状テラス222が形成される。本実施形態のウェーハ保持具2は、支持部材23の内径が吸引孔22の内径と同一である点においてウェーハ保持具1と相違している。
続いて、本発明の第3の実施形態について説明する。
ウェーハ保持具2では、支持部材23の内径が吸引孔22の内径と同一であるため、円環状テラス222に水滴が溜まることはなく、ウェーハ表面に水滴が再付着するのを防止できる。ところで、ウェーハの吸引保持を繰り返すにつれて、ゴム等の材料で形成された支持部材23は摩耗等により劣化する場合がある。かように支持部材23が劣化した場合には、支持部材を交換する必要があるが、上記したウェーハ保持具1及び2は、支持部材13及び23を接着固定することが、吸着解放を有利に行うには好適であるところ、支持部材の交換が難しくなる。そこで、本実施形態においては、劣化した支持部材のみを交換可能なように支持部材を構成する。
拡径部の深さ(即ち、つば部331の厚さ)は1〜10mmとする。また、拡径部321の直径は1〜10mmとする。
本発明の第1の実施形態のウェーハ保持具1を、図5に示すスピン洗浄乾燥装置のスピンナーテーブルとして適用し、研削処理後の100枚の直径300mmのシリコンウェーハに対して、スピン洗浄乾燥する処理を施した。その後、全てのウェーハ表面の水滴の有無を確認した。このウェーハ表面に付着した水滴については魔鏡の原理を利用した表面欠陥検査機(株式会社コベルコ科研製)により検査した。次いで、ウェーハ表面を鏡面研磨した後、ウェーハ表面の傷についてレーザパーティクル検査機(KLA−Tencor社製SP−2)により検査した。その結果、全てのウェーハ表面において傷は観察されなかった。また、図6(a)の魔鏡画像に示すように、多くのウェーハには水滴は観察されなかった。若干ではあるが、図6(b)の魔鏡画像に示すような水滴の付着が数枚のウェーハ表面で確認された。
本発明の第2の実施形態のウェーハ保持具2を、図5に示すスピン洗浄乾燥装置のウェーハ保持具1に代えて適用し、発明例1の場合と同様に、100枚のウェーハに対して、スピン洗浄乾燥処理を行った。その後、ウェーハ表面の水滴および傷の有無を発明例1の場合と同様に確認した。その結果、ウェーハ表面には傷および水滴の双方とも確認されなかった。
本発明の第3の実施形態のウェーハ保持具3を、図5に示すスピン洗浄乾燥装置のウェーハ保持具1に代えて適用し、発明例1の場合と同様に、100枚のウェーハに対して、スピン洗浄乾燥処理を行った。その後、ウェーハ表面の水滴および傷の有無を確認した。その結果、発明例2の場合と同様に、ウェーハ表面には傷および水滴の双方とも確認されなかった。
図7に示す構造のウェーハ保持具100、即ち、中心部に真空吸引口101があり、同心円状に複数の円環状の溝102〜105が形成され、各円環状溝102〜105は半径方向に延びる直線溝106により、吸引口101と連通されて真空吸着溝として機能する構造を有するウェーハ保持具100を、図5に示すスピン洗浄乾燥装置のウェーハ保持具1に代えて適用し、発明例1の場合と同様に、100枚のウェーハに対して、スピン洗浄乾燥処理を行った。その後、ウェーハ表面の水滴および傷の有無を、発明例1の場合と同様に確認した。その結果、各ウェーハ表面において、図8に赤点で示すように、1〜2個の凹み傷が確認された。なお、図8に示す赤点は、100枚のウェーハを重ね合わせた評価結果を示している。ちなみに、図8における赤線枠内は、吸着保持領域を示している。また、100枚のウェーハ表面には、図6(b)に示したものと同様の水滴が多数観察された。
11 テーブル
12 吸引孔
13 支持部材
121 拡径部
122 円環状テラス
2 ウェーハ保持具
21 テーブル
22 吸引孔
23 支持部材
221 拡径部
222 円環状テラス
3 ウェーハ保持具
31 テーブル
32 吸引孔
33 支持部材
321 拡径部
322 円環状テラス
331 つば部
Claims (6)
- 同一円周上に均等に配置された、3以上の吸引孔を有するテーブルと、
前記吸引孔の各々に固定され、かつ前記テーブルの表面から部分的に突出する、筒状の支持部材とを備え、
前記支持部材の中空部は、前記吸引孔の少なくとも部分を構成することを特徴とするウェーハ保持具。 - 前記吸引孔は前記テーブルの表面側に拡径部を有し、該拡径部に前記支持部材を固定することを特徴とする、請求項1に記載のウェーハ保持具。
- 前記支持部材の内壁と前記吸引孔本体の内壁が連続的に接続されていることを特徴とする、請求項2に記載のウェーハ保持具。
- 前記吸引孔は前記テーブルの裏面側に拡径部を有し、前記支持部材は更につば部を備え、
該つば部は前記拡径部に取り付けられていることを特徴とする、請求項1に記載のウェーハ保持具。 - 前記支持部材は軟質の弾性材料で構成され、前記吸着孔の内壁に着脱自在に嵌合されることを特徴とする請求項1〜請求項4の何れかに記載のウェーハ保持具。
- 前記テーブルは透明材料で構成される請求項1〜請求項5の何れかに記載のウェーハ保持具。
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