JP2011205061A - レーザ装置、レーザシステムおよび極端紫外光生成装置 - Google Patents

レーザ装置、レーザシステムおよび極端紫外光生成装置 Download PDF

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Abstract

【課題】小型化が可能なレーザ装置および極端紫外光生成装置を提供する。
【解決手段】レーザ装置は、回折格子と、出力されるレーザ光が前記回折格子に入射し、かつ前記レーザ光それぞれの前記回折格子による異なる次数の回折光の少なくとも1つが所定の方向に進行するように配置される複数の半導体レーザと、を備えてもよい。
【選択図】図4

Description

本開示は、レーザ装置、極端紫外光生成装置およびレーザシステムに関し、特に、互いに異なる複数の波長を有するレーザ光を出力することが可能なレーザ装置、それを備えるレーザシステム、および極端紫外光生成装置に関する。
近年、半導体プロセスの微細化に伴って、半導体プロセスの光リソグラフィにおける転写パターンの微細化が急速に進展している。次世代においては、70nm〜45nmの微細加工、さらには32nm以下の微細加工が要求されるようになる。このため、たとえば32nm以下の微細加工の要求に応えるべく、波長13nm程度の極端紫外光(EUV)光源装置と縮小投影反射光学系とを組み合わせた露光装置の開発が期待されている。
EUV光を生成させる方式としては以下の3つの方式がある。ターゲット物質にパルス状のレーザビームを照射することによって生成されるプラズマ(Laser Produced Plasma(LPP):レーザ励起プラズマ)方式と、放電によって生成されるプラズマ(Discharge Produced Plasma(DPP))方式と、軌道放射光を用いたSR(Synchrotron Radiation)方式との3種類がある。
特開2006−135298号公報 米国特許出願公開第2006−78017号明細書 米国特許出願公開第2007−187628号明細書
概要
本開示の一つの態様によるレーザ装置は、回折格子と、出力されるレーザ光が前記回折格子に入射し、かつ前記レーザ光それぞれの前記回折格子による異なる次数の回折光の少なくとも1つが所定の方向に進行するように配置される複数の半導体レーザと、を備えてもよい。
本開示の別の態様によるレーザ装置は、少なくとも1つの光学素子と、前記少なくとも1つの光学素子の実質的に焦点位置に配置される回折格子と、出力されるレーザ光が前記少なくとも1つの光学素子に入射し、かつ前記少なくとも1つの光学素子から出射する前記レーザ光が前記回折格子に入射し、かつ前記レーザ光それぞれの前記回折格子による異なる次数の回折光の少なくとも1つが所定の方向に進行するように配置される複数の半導体レーザと、を備えてもよい。
本開示のさらなる別の態様によるレーザ装置は、少なくとも1つの光学素子と、前記少なくとも1つの光学素子の実質的に焦点位置に配置される回折格子と、複数の半導体レーザと、前記複数の半導体レーザそれぞれの出力端に接続され、出力されるレーザ光が前記少なくとも1つの光学素子に入射し、かつ前記少なくとも1つの光学素子から出射する前記レーザ光が前記回折格子に入射し、かつ前記レーザ光それぞれの前記回折格子による異なる次数の回折光の少なくとも1つが所定の方向に進行するように配置される光ファイバと、を備えてもよい。
本開示の一つの態様によるレーザシステムは、上記いずれかのレーザ装置と、前記レーザ装置の下流側に配置され、前記レーザ装置から出力されるレーザ光を増幅する少なくとも1つの増幅器と、を備えてもよい。
本開示の一つの態様による極端紫外光生成装置は、上記レーザシステムと、前記レーザシステムから出力されるレーザ光を内部に導入するための入射口を有するチャンバと、前記レーザ光をチャンバ内の所定の領域に集光させる集光光学系と、前記チャンバに設けられ、前記チャンバ内の前記所定の領域にターゲット物質を供給するターゲット供給システムと、前記チャンバ内に配置され、前記所定の領域で前記ターゲット物質に前記レーザ光が照射されて放射される所定の波長の光を集光する集光ミラーと、を備えてもよい。
図1は、本開示の実施の形態1によるマスターオシレータシステムおよび再生増幅器の概略構成を示す模式図である。 図2は、本開示の実施の形態1による合波用グレーティングに角度βで入射した入射光に対する±m次回折光を模式的に示す図である。 図3は、本開示の実施の形態1によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図4は、本開示の実施の形態1による極端紫外光生成装置の概略構成を示す模式図である。 図5は、本開示の実施の形態2による合波用グレーティングに角度β=0°で入射した入射光に対する±m次回折光を模式的に示す図である。 図6Aは、本開示の実施の形態2による合波用グレーティングに角度β=0°で入射した各レーザ光に対する0次〜±2次回折光を模式的に示す図である。 図6Bは、本開示の実施の形態2によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図7は、メサ状の部分を通過した光とスリットの部分を通過した光との位相差がπとなる透過型回折格子の一例を示す断面図である。 図8Aは、本開示の実施の形態2の変形例による合波用グレーティングに角度β=0°で入射した入射光に対する±1次回折光を模式的に示す図である。 図8Bは、本開示の実施の形態2の変形例によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図9は、本開示の実施の形態3による合波用グレーティングに角度βで入射した入射光に対する±m次回折光を模式的に示す図である。 図10Aは、本開示の実施の形態3による合波用グレーティングに入射角βで入射した各レーザ光に対する0次〜±2次回折光を模式的に示す図である。 図10Bは、本開示の実施の形態3によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図11は、本開示の実施の形態3の変形例による合波用グレーティングの回折面に形成されたスリットに垂直な面の断面図である。 図12は、本開示の実施の形態4において入射角0°で合波用グレーティングに入射した入射光に対する±m次回折光を模式的に示す図である。 図13Aは、本開示の実施の形態4による合波用グレーティングに角度β=0°で入射した各レーザ光に対する0次〜±2次回折光を模式的に示す図である。 図13Bは、本開示の実施の形態4によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図14は、反射型の回折格子を用いてレーザ光を回折した場合の光強度スペクトルを示す図である。 図15は、本開示の実施の形態5によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図16は、本開示の実施の形態6によるマスターオシレータシステムの概略構成を模式的に示す断面図である。 図17は、本開示の実施の形態7によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図18は、本開示の実施の形態8によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図19は、本開示の実施の形態9によるDOEに角度β=0°で入射した入射光に対する0次回折光および±1次回折光を模式的に示す図である。 図20は、本開示の実施の形態9においてDOEの回折面と平行な面に出現する±1次元回折光の概略配置を示す模式図である。 図21Aは、本開示の実施の形態9によるDOEに角度β=0°で入射した各レーザ光に対する0次〜±1次回折光を模式的に示す図である。 図21Bは、本開示の実施の形態9によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図22Aは、本開示の実施の形態10によるDOEに角度β=0°で入射したレーザ光に対する0次回折光および±1次回折光を模式的に示す図である。 図22Bは、本開示の実施の形態10によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図23Aは、本開示の実施の形態11によるDOEに入射角βで入射したレーザ光に対する0次回折光および±1次回折光を模式的に示す図である。 図23Bは、本開示の実施の形態11によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図24は、本開示の実施の形態12によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図25は、本開示の実施の形態13によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図26は、本開示の実施の形態14によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。 図27は、本開示の実施の形態15におけるCOガス増幅媒体の増幅波長帯域とグレーティングの選択波長領域との関係を示す。 図28は、図27に示す関係から得られた増幅後のパルスレーザ光の光強度を示す。 図29は、本実施の形態15における各増幅波長帯域と半導体レーザとの関係の一例を示す。 図30は、図29に示す関係の一例から得られた増幅後のパルスレーザ光の光強度を示す。 図31は、本開示の実施の形態16における各増幅波長帯域と半導体レーザとの関係の一例を示す。 図32は、図31に示す関係の一例から得られた増幅後のパルスレーザ光の光強度を示す。 図33は、本開示の実施の形態17における各増幅波長帯域と半導体レーザとの関係の一例を示す。 図34は、本実施の形態17による動作を示すタイミングチャートである。 図35は、図33に示す関係の一例から得られた増幅後のパルスレーザ光の光強度を示す。 図36は、本実施の形態18による動作を示すタイミングチャートである。
実施形態
本発明者らは、以下の課題を発見した。第1の課題は、出力されるレーザ光のパルス波形及び/または光強度の制御が困難であった。具体的に説明すると、発振器(Master Oscillator)が励起されたCOガスを増幅媒体とする共振器である場合、共振器中にエタロンが配置された構成では、出力されるレーザ光の各波長成分に対して個別に強度およびパルス幅を制御することが困難である。
第2の課題は、固体レーザと非線形結晶とを組合せたレーザ装置をドライバレーザの発振器の代わりに用いた場合、以下の理由によって、レーザ装置サイズが大型化する。結果、ドライバレーザを含むEUV光生成装置全体も大型化する。一つの理由はブロードバンドな波長スペクトルのレーザ光を励起されたCOガスを増幅媒体とする増幅器(Power Amplifier)によって増幅する場合、増幅媒体が有する複数の増幅波長帯域(利得スペクトル)に、ブロードな波長スペクトルが一致した複数の増幅波長帯域の成分のレーザ光のみが増幅される。逆にいえば、ブロードな波長スペクトルと複数の増幅波長帯域とが重ならない領域の波長の光は増幅されない。すなわち、増幅効率(増幅器に入射するレーザ光のエネルギーに対する増幅された後のレーザ光のエネルギー)は低くなる。したがって、所望の増幅されたレーザ光のエネルギーを取り出すためには、高出力の固体レーザと非線形結晶を組み合わせたレーザ装置が必要となる。以下の実施形態によれば、レーザ光の強度およびパルス幅の制御性が改善される。また、レーザ装置およびそれを備えるEUV光生成装置のサイズを小さくすることができる。
以下、本開示を実施するための形態を図面を参照に詳細に説明する。なお、以下の説明において、各図は本開示の内容を理解でき得る程度に形状、大きさ、および位置関係を概略的に示してあるに過ぎず、従って、本開示は各図で例示された形状、大きさ、および位置関係のみに限定されるものではない。また、各図では、構成の明瞭化のため、断面におけるハッチングの一部が省略されている。さらに、後述において例示される数値は、本開示の好適な例に過ぎず、従って、本開示は例示された数値に限定されるものではない。なお、以下の明細書において、以下のレーザ装置はマスターオシレータシステムと定義される。このシステムは、マルチライン(複数波長)のシード光を発生させるレーザシステムである。
・実施の形態1
まず、本開示の実施の形態1によるレーザ装置としてのマスターオシレータシステムおよびそれを備えるドライバレーザとならびにEUV光生成装置を、図面を参照に詳細に説明する。図1は、本実施の形態によるマスターオシレータシステムおよび再生増幅器の概略構成を模式的に示す。
図1に示すように、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10は、発振器としての複数の半導体レーザ11−1〜11−nと、各半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1−1〜L1−nを合波する合波器12と、を備える。各半導体レーザ11−1〜11−nは、COガスを主成分とする増幅媒体を用いた増幅器(再生増幅器20、増幅器30、プレアンプPAおよびメインアンプMA)が増幅可能な増幅波長帯域に含まれる中心波長を有する、各々パルス状のレーザ光L1−1〜L1−nを出力する。
本実施の形態では、COガスを主成分とする増幅媒体を用いた増幅器における増幅波長帯域のいずれかに含まれる中心波長を有するレーザ光L1−1〜L1−nをそれぞれ個別の半導体レーザ11−1〜11−nを用いて生成する。そして、各半導体レーザ11−1〜11−nに入力される電流を制御することによって、個々の半導体レーザ11−1〜11−nが出力するレーザ光L1−1〜L1−nの強度およびパルス幅を容易に制御することが可能となる。この結果、マスターオシレータシステム10の波長制御性およびその下流側の増幅段における増幅効率を容易に向上させることが可能となる。なお、COガスを主成分とする増幅媒体の増幅波長帯域のいずれかで発振する半導体レーザの一例としては、量子カスケードレーザ(Quantum Cascade Laser:QCL)が挙げられる。
また、個々の半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1−1〜L1−nは、合波器12によって合波された後、合波レーザ光L2として出力される。なお、合波レーザ光L2は、複数の波長成分(L1−1〜L1−n)を含むレーザ光である。マスターオシレータシステム10から出力された合波レーザ光L2は、その光路下流側に配置された再生増幅器20に入射する。後述するように、再生増幅器20は、COガスを主成分とする混合ガスを増幅媒体として含む。このため、再生増幅器20は、増幅媒体が持つ複数の増幅波長帯域において、その増幅波長帯域の幾つか(例えば7つの増幅波長帯域)にそれぞれ対応する複数の波長成分(L1−1〜L1−n)を含む合波レーザ光L2をマルチライン増幅することが可能である。なお、マルチライン増幅された合波レーザ光L2は、増幅レーザ光L2−1として出力される。
ここで、本実施の形態による合波器12について説明する。なお、本実施の形態では、合波器12に反射型の回折格子である合波用グレーティング12Aを用いる。図2に示すように、合波用グレーティング12Aは、それが持つ波長選択性(分散)に基づいて、角度βで入射した入射光Lの−m次回折光(mは正の整数、例えば1)L−mを、入射光Lの波長λに依存した角度αで回折させる。この際、入射の角度βと回折の角度αと波長λとの関係は、以下の式1を満足する。なお、図2は、本実施の形態1による合波用グレーティングに角度βで入射した入射光に対する±m次回折光を模式的に示す図である。また、式1において、mは合波される回折光の次数、Nは回折格子における単位長さあたりのスリットの本数(本/mm)である。
Figure 2011205061
また、逆に式1において入射角度αと回折角度βとを置き換えても式1を満たす。いいかえれば、入射角度βで回折格子に入射した光はαの角度で回折する。また、逆に入射角度αで回折格子に入射した光は、回折角度βで回折する。
そこで、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Aは、図3に示すように、複数の半導体レーザ11−1〜11−nからのレーザ光L1−1〜L1−nの同次数回折光(例えば−1次回折光)がそれぞれ同じ回折角βで同じ方向へ出力されるように、半導体レーザ11−1〜11−nが合波用グレーティング12Aに対して配置された構成を備える。この際、各半導体レーザ11−1〜11−nは、以下の式2を満足するように、グレーティング12Aに対して配置される。なお、図3は、本実施の形態1によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。また、式2において、λ〜λはそれぞれレーザ光L1−1〜L1−nの中心波長、βは回折角、α〜αはそれぞれ半導体レーザ光L1−1〜L1−nの入射角である。
Figure 2011205061
反射型の合波用グレーティング12A(合波器12)に対して半導体レーザ11−1〜11−nを上述のように配置することで、本実施の形態では、個々の半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1−1〜L1−nをコンパクトな光学素子(合波用グレーティング12A)を用いて容易に合波することが可能となる。この結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUVチャンバを含むEUV光生成装置1の小型化が可能となる。なお、本実施の形態では、反射型の回折格子(合波用グレーティング12A)を合波器12に使用したが、透過型の回折格子を合波器12に使用することも可能である。
つぎに、本実施の形態によるEUV光生成装置1を、図面を参照に詳細に説明する。図4は、本実施の形態1によるドライバレーザとEUV光生成装置の概略構成を示す模式図である。図4に示すように、極端紫外光生成装置はドライバレーザ2と、軸外放物面ミラーM5及びEUVチャンバ40とを備える。
ドライバレーザ2は、複数のレーザ光L1が合波された合波レーザ光L2を出力するマスターオシレータシステム10Aと、マスターオシレータシステム10Aから出力された合波レーザ光L2を再生増幅して増幅レーザ光L2−1として出力する再生増幅器20と、再生増幅器20から出力された増幅レーザ光L2−1を増幅する増幅器30と、増幅器30で増幅された増幅レーザ光L2−2をコリメートされた状態を維持しつつその径を拡大するリレー光学系R1と、径が拡大された増幅レーザ光L2−2をさらに増幅するプレアンプPAと、プレアンプPAで増幅された増幅レーザ光L2−3をコリメート光状態を維持しつつさらにその径を拡大するリレー光学系R2と、径が拡大された増幅レーザ光L2−3をさらに増幅するメインアンプMAと、高反射ミラーM4を備える。
ドライバレーザから出力されたレーザ光L2−4は、軸外放物面ミラーM5に入射する。そして、反射されたレーザ光L2−4は、ウィンドウ41を介して、EUVチャンバ40内に入射し、EUVチャンバ40内の所定の位置(プラズマ生成サイトP1)に集光される。
そして、プラズマ生成サイトP1では、ターゲット物質に集光されたレーザ光L2−4を照射することによって、プラズマが生成される。このプラズマからEUV光が放出される。
図4における半導体レーザ11−1〜11−n(本例では半導体レーザ11−1〜11−4)は、図3の構成と同様に、それぞれが出力したパルス状のレーザ光L1が同じ回折角βで同じ方向へ回折するように、合波用グレーティング12Aに対して配置される。合波用グレーティング12Aで回折された複数のレーザ光L1は、パルス状の合波レーザ光L2として再生増幅器20に入射する。
再生増幅器20は、一対の共振器ミラー24と28との間に、共振器ミラー24側から順に、λ/4板23、EOポッケルスセル22、偏光ビームスプリッタ21、レーザ増幅部25、偏光ビームスプリッタ26、および、EOポッケルスセル27が配置された構成を備える。マスターオシレータシステム10Aから出力されたパルス状の合波レーザ光L2は、まず、偏光ビームスプリッタ21に入射する。偏光ビームスプリッタ21は、入射した合波レーザ光L2のうち、所定の偏光成分(本例では紙面に垂直な偏光成分を仮にS偏光成分とする)の光のみを高反射する。これにより、パルス状の合波レーザ光L2におけるS偏光成分の光のみが再生増幅器20における共振器ミラー24および28により形成された共振器内に導入される。
ここで、たとえば半導体レーザ11−1〜11−4が、偏光ビームスプリッタ21にS偏光で入射する偏光方向の直線偏光で光を発振させ、そして、合波用グレーティング12Aによりパルス状の合波レーザ光L2を偏光ビームスプリッタ21にS偏光で入射させる。その結果、マスターオシレータシステム10Aから出力される合波レーザ光L2を効率よく再生増幅器20に導入することができる。
再生増幅器20の共振器内に導入されたパルス状の合波レーザ光L2は、電圧が印加されていない状態のEOポッケルスセル22を位相変化なく透過した後、λ/4板23を透過することで、円偏光のレーザ光に変換される。円偏光のパルス状の合波レーザ光L2は、共振器ミラー24によって高反射された後、再びλ/4板23を透過することで、偏光ビームスプリッタ21に対してP偏光成分で入射するパルス状のレーザ光に変換される。続いて、このパルス状の合波レーザ光L2は、電圧が印加されていない状態のEOポッケルスセル22および偏光ビームスプリッタ21を位相変化なく透過した後、レーザ増幅部25内のCOガス増幅媒体25aを通過する際に増幅される。なお、レーザ増幅部25は、COガス増幅媒体25aを有する増幅領域を含む。すなわち、このCOガス増幅媒体25aは、COガスを主成分とする混合ガスであり、COガスを励起することによって、増幅領域が生成される。
レーザ増幅部25を通過する際に増幅されたパルス状の合波レーザ光L2は、偏光ビームスプリッタ26および電圧が印加されてない状態のEOポッケルスセル27を位相変化なく透過した後、共振器ミラー28で高反射される。高反射された合波レーザ光L2は、再び電圧が印加されていない状態のEOポッケルスセル27を位相の変化なく透過する。そして、このパルス状の合波レーザ光L2は偏光ビームスプリッタ26を透過した後、レーザ増幅部25内のCOガス増幅媒体25aを通過する際に増幅される。増幅されたパルス状の合波レーザ光L2は、偏光ビームスプリッタ21を透過した後、電圧が印加された状態のEOポッケルスセル22をλ/4位相変化を伴って透過することで、円偏光のレーザ光に変換される。なお、電圧が印加された状態のEOポッケルスセル22および27は、透過するパルス状の合波レーザ光L2の位相をλ/4変化させる。
電圧が印加された状態のEOポッケルスセル22から出力された円偏光のパルス状の合波レーザ光L2は、λ/4板23を透過することで偏光ビームスプリッタ21に対してS偏光成分で入射するのレーザ光に変換された後、共振器ミラー24で高反射される。高反射されたパルス状の合波レーザ光L2は、再びλ/4板23を透過することで円偏光のレーザ光に変換された後、電圧が印加された状態のEOポッケルスセル22をλ/4位相変化を伴って透過することで偏光ビームスプリッタ21に対してP偏光成分で入射するレーザ光に変換される。このパルス状の合波レーザ光L2は、レーザ増幅部25内のCOガス増幅媒体25aを通過する際に増幅された後、偏光ビームスプリッタ26を透過する。EOポッケルスセル22に電圧を印加し、EOポッケルスセル27には電圧を印加しない状態では、パルス状の合波レーザ光L2を共振器ミラー24と28の間を往復させ続けることができる。再生増幅器20からパルス状の合波レーザ光L2を出力する場合、EOポッケルスセル27に電圧を印加する。このとき、偏光ビームスプリッタ26に対してP偏光成分で入射するパルス状の合波レーザ光L2は、電圧が印加された状態のEOポッケルスセル27をλ/4位相変化を伴って透過することで円偏光のレーザ光に変換された後、共振器ミラー28で高反射される。高反射された円偏光のパルス状の合波レーザ光L2は、再び電圧が印加された状態のEOポッケルスセル27をλ/4位相変化を伴って透過することで、偏光ビームスプリッタ26に対してS偏光成分で入射するレーザ光に変換される。その後、このS偏光成分で入射したパルス状の合波レーザ光L2は偏光ビームスプリッタ26によって選択的に高反射される。これにより、マスターオシレータシステム10Aから出力されたパルス状の合波レーザ光L2が再生増幅器20において増幅され、パルス状の増幅レーザ光L2−1として出力される。
以上のようにして再生増幅器20から出力されたパルス状の増幅レーザ光L2−1は、例えば高反射ミラーM1によって増幅器30へ導かれる。増幅器30は、COガス増幅媒体30aを有する増幅領域を含む。増幅器30内に入射したパルス状の増幅レーザ光L2−1は、増幅器30内の増幅領域を通過することで増幅される。ここで、例えば複数回往復させることでマルチパス増幅することもできる。そして、増幅器30の出力側からはパルス状の増幅レーザ光L2−2が出力される。増幅器30により増幅されたパルス状の増幅レーザ光L2−2は、リレー光学系R1を通過することによって、コリメート光の状態を維持しつつビームエキスパンドされて出力される。ここで、リレー光学系R1はパルス状の増幅レーザ光L2−2が光路下流側に配置されたプレアンプPAの増幅領域全体を満たすようパルス状の増幅レーザ光L2−2のビームを径方向にエキスパンドする。そして、径方向にエキスパンドされたパルス状の増幅レーザ光L2−2は、例えば高反射ミラーM2およびM3によってプレアンプPAへ導かれる。
プレアンプPAは、COガス増幅媒体PAaを有する増幅領域を含む。また、上述したように、リレー光学系R1を通過したパルス状の増幅レーザ光L2−2は、プレアンプPAの増幅領域全体を通過するように径方向にエキスパンドされている。したがって、プレアンプPAに入射したパルス状の増幅レーザ光L2−2は、プレアンプPAを通過する際に増幅領域内のCOガス増幅媒体PAaによって効率よく増幅された後、増幅レーザ光L2−3として出力される。
プレアンプPAから出力されたパルス状の増幅レーザ光L2−3は、リレー光学系R2によって、コリメート光の状態を維持しつつそのビームが径方向にエキスパンドされる。エキスパンドされたビーム径は、光路下流側に配置されたメインアンプMAの増幅領域全体を満たすビーム径に調節されている。メインアンプMAは、プレアンプPAと同様に、COガス増幅媒体MAaを有する増幅領域を含む。また、上述したように、リレー光学系R2を通過したパルス状の増幅レーザ光L2−3は、メインアンプMAの増幅領域全体を通過するようにそのビームが径方向にエキスパンドされている。したがって、メインアンプMAに入射したパルス状の増幅レーザ光L2−3は、メインアンプMAを通過する際に増幅領域内のCOガス増幅媒体MAaを使って効率よく増幅された後、パルス状の増幅レーザ光L2−4として出力される。
メインアンプMAから出力されたパルス状の増幅レーザ光L2−4は、高反射ミラーM4によって軸外放物面ミラーM5に導かれる。軸外放物面ミラーM5は、反射光がEUVチャンバ40内における所定の位置(プラズマ生成サイトP1)において集光されるように、入射したパルス状の増幅レーザ光L2−4を高反射する。軸外放物面ミラーM5によって高反射されたパルス状の増幅レーザ光L2−4は、ウィンドウ41を介してEUVチャンバ40内に入射する。そして、パルス状の増幅レーザ光L2−4はEUV集光ミラー42に設けられた貫通孔42aを通過した後、EUVチャンバ40内のプラズマ生成サイトP1に集光される。
プラズマ生成サイトP1には、不図示のターゲット物質供給機構によって、プラズマの発生源となるターゲット物質Dが供給される。このターゲット物質Dには、例えばSnを用いることができる。ただし、これに限定されず、所望の波長のEUV光を生成可能なプラズマの元となる材料であれば如何なるものも適用することが可能である。また、ターゲット物質Dには、液体金属や固体金属などを用いることができる。ターゲット物質Dが液体金属である場合、ターゲット物質Dは、例えば液滴の状態でプラズマ生成サイトP1に供給される。一方、ターゲット物質Dが固体金属である場合、例えばターゲット物質Dによって形成されたリボンや回転ディスク、またはターゲット物質Dが少なくとも表面に塗布されたリボンや回転ディスクの形態でプラズマ生成サイトP1に供給される。
プラズマ生成サイトP1では、ターゲット物質Dがプラズマ生成サイトP1に到達するタイミングと同期するように、集光されたパルス状の増幅レーザ光L2−4がターゲット物質Dに照射される。これによって、プラズマ生成サイトP1に到達したターゲット物質Dがパルス状の増幅レーザ光L2−4に照射され、プラズマ化する。プラズマ化したターゲット物質Dは、その後、脱励起時の発光によりEUV光L3を生成する。プラズマ生成サイトP1で生成されたEUV光L3は、EUV光L3の出力側とプラズマ生成サイトP1を挟んで反対側に設けられたEUV集光ミラー42によって高反射される。このEUV集光ミラー42の反射面は、プラズマ生成サイトP1から放射状に放出されたEUV光L3をEUVチャンバ40外に配置された露光装置とのインターフェイス43の所定の位置(中間集光点P2)に集光させることが可能な曲面(たとえば楕円面)となっている。したがって、間欠的にプラズマ生成サイトP1で発生したEUV光L3は、パルス光として中間集光点P2へ集光される。この中間集光点P2には、例えばEUV光L3を不図示の露光装置へ導波するアパチャを有する隔壁44が配置される。中間集光点P2に集光されたEUV光L3は、この隔壁44のアパチャを介して露光装置へ導波され、露光装置において露光に使用される。
以上のように、本実施の形態では、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nから、少なくとも2つの半導体レーザの発振波長が互いに異なる波長帯域のレーザ光を出力させ、複数の半導体レーザ光L1−1〜L1−nを回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えている。そのため、光強度およびパルス幅の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
・実施の形態2
つぎに、本開示の実施の形態2によるマスターオシレータシステムを、以下図面を参照に詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態1のように、増幅段における増幅媒体にCOガスを主成分とする混合ガスを用いた場合、たとえば、遷移が00°1〜10°0のバンドにおける隣り合う増幅波長帯域の中心波長間の波長差Δλは、0.019μm〜0.023μm程度となる。このため、例えば合波器12に使用する回折格子(合波用グレーティング12A)の単位長さあたりのスリットの本数Nを40本/mm、合波レーザ光L2の出射角度(回折角)βを20°とした場合、隣り合う増幅波長帯域に対応する2つのレーザ光L1間の入射角αの差Δαは、0.04°〜0.08°と、非常に小さい値となる。このように差Δαが小さいと、合波器12から半導体レーザ11−1〜11−nまでの距離を十分長くしなければ、隣り合う半導体レーザ11−1〜11−nを接触させずに同一平面上に配置することができない。このため、結果的にドライバレーザが大型化してしまう可能性が存在する。
そこで本実施の形態では、±1次回折のみならず、0次回折および±2次回折以上の回折を利用して、複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1を合波する。以下、図面を用いて、この原理を説明する。なお、以下の説明では、本実施の形態による合波用グレーティング12Bとして透過型の回折格子を用いる場合を例に挙げる。
図5は、本実施の形態2による合波用グレーティングに角度β=0°で入射した入射光に対する±m次回折光を模式的に示す図である。図5に示すように、透過型の合波用グレーティング12Bは、それが持つ波長選択性(分散)に基づいて、角度β=0°で入射した入射光Lの±m次回折光L±mを、入射光Lの波長λに依存した角度α−mおよびα+mで回折する。この際、回折角度α±mと波長λとの関係は、後述の式3を満足する。なお、式3において、mは合波される回折光の次数、Nは回折格子における単位長さあたりのスリットの本数(本/mm)である。ただし、式3において、入射角度βは0°であるため、βに関わる項は省略される。
また、式3において入射角度βと回折角度αとを置き換えても式3を満足する。言いかえれば、入射角度α±mで透過型グレーティング12Bにレーザ光を入射させると、回折光は全て回折角度β=0°で透過する。
Figure 2011205061
そこで本実施の形態では、合波用グレーティングによって、半導体レーザ11−1〜11−n(本例では、半導体レーザ11−1〜11−5)から出力されたレーザ光L1−1〜L1−5を合波する方式を示す。
図6Aは、複数の半導体レーザのレーザ光を入射角度0°で、合波用グレーティング12Bに入射させ、複数の半導体レーザ光が互いに異なる次数で回折する模式図を示す。詳しく説明すると、半導体レーザ11−1〜11−n(本例では、半導体レーザ11−1〜11−5)から出力されたレーザ光L1−1〜L1−5をそれぞれ入射角度β=0°で合波用透過型グレーティング12Bに入射させ、レーザ光L1−1〜L1−5の透過光を回折させる。ここで、互いに異なる次数の回折光は回折角度α1−1−2〜α1−5+2の方向に回折する。
図6Bは、図6Aの模式図とは逆に、複数の半導体レーザを、それらのレーザ光が異なる入射角度で入射し、回折光が同じ角度0°で回折するように配置した模式図を示す。詳しく説明すると、半導体レーザ11−1〜11−5の各々のレーザ光L1−1〜L1−5を入射角度α1−1−2〜α1−5+2で、合波用グレーティング12Bに入射させる。その結果、半導体レーザ11−1〜11−5のレーザ光L1−1〜L1−5のそれぞれ異なる次数の回折光は回折角度β=0°となり、合波レーザ光L2として出力することができる。
半導体レーザ11−1〜1から出力された互いに異なる波長のレーザ光をそれぞれ、入射角度α〜αで入射させる。同一次数(例えばm=−1)の回折角度0°で回折させる場合は、互い異なる波長の半導体レーザの波長差にのみ回折角度が依存する。したがって、半導体レーザ11−1〜1から出力されたレーザ光が、波長10.6μmに対して波長差Δλが、0.019μm〜0.023μmと小さい(図3参照)場合は、本実施形態の場合に比べて入射角の差Δαが小さくなる。したがって、この実施形態のメリットは異なる次数の回折光の角度を一致させることによって、入射角度差Δαを大きくすることが可能となる。この結果、合波器12から半導体レーザ11−1〜11−nまでの距離をある程度短くした場合でも、隣り合う半導体レーザ11−1〜11−nを接触させずに同一平面上に配置することが可能となる。その結果、マスターオシレータシステム10Bを含むドライバレーザ2のさらなる小型化が可能となる。なお、図6Aは、本実施の形態2による合波用グレーティングに入射角度β=0°で入射した各レーザ光に対する0次〜±2次回折光を模式的に示す図である。図6Bは、本実施の形態2によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。
ここで以下の表1に、回折格子の単位長さあたりのスリットの本数Nを10本/mm、入射光Lの波長を10.6μmとした場合の、回折光の次数mと回折角αと隣り合う回折光間の回折角の差Δαとの関係を示す。
Figure 2011205061
上記表1に示すように、本実施の形態では、回折格子の単位長さあたりのスリットの本数Nを10本/mm程度とすることで、隣り合う回折光間の回折角の差Δαを略6°以上とすることが可能となる。これにより、合波器12(具体的には合波用グレーティング12B)に対して十分近接して半導体レーザ11−1〜11−nを配置することが可能となる。この結果、マスターオシレータシステム10Bを含むドライバレーザ2のさらなる小型化が可能となる。
また、本実施の形態では、半導体レーザ11−1〜11−nを合波用グレーティング12Bの回折格子面と垂直な軸に対してシンメトリーに配置することが可能であるため、合波用グレーティング12Bに対する半導体レーザ11−1〜11−nの配置設計が容易となる。
なお、合波用グレーティング12Bの材料、すなわち、COガスを主成分とする増幅媒体の複数の増幅波長帯域それぞれに対応したレーザ光L1を透過させる材料としては、セレン化亜鉛(ZnSe)などが存在する。ただし、これに限定されず、増幅器に使用する増幅媒体(例えばCOガス)の増幅波長帯域に対応したレーザ光を透過可能な材料であれば、如何なるものも適用することができる。
以上のように、本実施の形態では、上述の実施の形態1と同様に、レーザ光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nのうち少なくとも2つの半導体レーザが、発振波長が互いに異なる波長帯域のレーザ光を出力する。さらに、これら複数の半導体レーザ光L1−1〜L1−nを回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えている。このため、レーザ光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
・変形例
また、上述の実施の形態2のように、合波器12に透過型の回折格子を用いる場合、回折面を形成する溝の形状を制御することで、合波効率の高い合波器12を実現することが可能である。図7に具体的な実施例として、複数の矩形型の溝12aが形成された透過型回折格子である合波用グレーティング12B−1を合波器12として用いる場合を示す。溝12aではないメサ状の部分を通過した光Laと溝12aの部分を通過した光Lbとの位相差がπとなるように溝12aの深さを制御する。これによって、所望の+m次回折光および−m次回折光の光をそれぞれ強く出現させることが可能となる。その結果、合波効率の高い合波器12を実現することが可能となる。ここで、合波効率とは、各々の半導体レーザから出力されたレーザ光の光強度に対する合波後の各々の半導体レーザ光の光強度の比率である。
なお、図7は、メサ状の部分を透過した光と溝の部分を透過した光との位相差がπとなる透過型回折格子の一例を示す断面図である。
図8Aは、入射光Lに対する−1次回折光L−1の回折角をα−1、+1次回折光L+1の回折角をα+1とした場合の模式図である。逆に、図8Bは、入射角度α−1と入射角度α+1の角度で半導体レーザ光を合波用グレーティング12B−1に入射させ、合波用グレーティング12B−1により回折角度β=0°で回折させた場合のマスターオシレータシステム10B−1の模式図を示す。詳細に説明すると、レーザ光L1−1を出力する半導体レーザ11−1を、合波用グレーティング12B−1に対するそのレーザ光L1−1の入射角がα−1となる角度方向に配置し、レーザ光L1−2を出力する半導体レーザ11−2を、合波用グレーティング12B−1に対するそのレーザ光L1−2の入射角がα+1となる角度方向に配置する。これら半導体レーザ11−1および11−2のレーザ光L1−1およびL1−2は合波用グレーティング12B−1によって、同じ回折角度β=0°で回折され合波される。この場合、通常のスリットまたは溝型の回折格子に比べて合波した際の効率が高くなるので、高い光強度の合波レーザ光L2を得ることが可能となる。
また、合波用グレーティング12B−1の材料としては、セレン化亜鉛(ZnSe)など、増幅器に使用する増幅媒体(例えばCOガス)の増幅波長帯域に対応した波長のレーザ光を透過可能な如何なる材料も適用することが可能である。
・実施の形態3
つぎに、本開示の実施の形態3によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマルチラインマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるレーザ装置およびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態2では、透過型の回折格子(合波用グレーティング12B、12B−1)を合波器12に用いていた。これに対し、本実施の形態では、反射型の回折格子を用いることで、±1次回折のみならず、0次回折および±2次回折以上の回折を利用して、複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1を合波する。以下、図面を用いて、この原理を説明する。
図9は、本実施の形態3による合波用グレーティングに角度βで入射した入射光に対する0次と±m次回折光を模式的に示す図である。図9に示すように、本実施の形態による反射型の合波用グレーティング12Cは、上述の実施の形態2による透過型の合波用グレーティング12B/12B−1と同様に、それが持つ波長選択性(分散)に基づいて、入射角度βで入射した入射光Lの±m次回折光L±mを、入射光Lの波長λに依存した角度±αで回折させる。この際、入射の角度βと回折の角度αと波長λとの関係は、上述の式1を満足する。ここで、0次光は波長に依存しない角度β=αで反射される。
図10Aは、半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1−1〜L1−n(本例ではレーザ光L1−1〜L1−5)をそれぞれ入射角βで合波用グレーティング12Cに入射させた際に出現する回折光の回折角α1−1−2〜α1−5+2を示す。
逆に、図10Bは、レーザ光L1−1〜L1−5の入射角がα1−1−2〜α1−5+2となるように半導体レーザ11−1〜11−5が配置され、それぞれの半導体レーザ光の0次、±1次、±2次の回折光が同一の回折角度βとなるマスターオシレータシステム10Cの模式図を示す。各々の半導体レーザ光L1−1〜L1−5は入射角α1−1−2〜α1−5+2で合波用グレーティング12Cに入射する。そして、合波用グレーティング12Cよって各々の0次、±1次、±2次回折光が同じ回折角度βで回折する。つまり、合波用グレーティング12Cによって、それぞれの半導体レーザ光が合波される。
この方式のメリットは実施の形態1の場合に比べて、隣り合うレーザ光L1−1〜L1−nの入射角の差Δαを大きくすることが可能となる。なぜならば、実施の形態1では、レーザ光L1−1〜L1−nはそれぞれの入射角度α1−1−2〜α1−5+2で合波用グレーティングに入射し、同一次数(例えばm=−1)の条件で、同一の回折角度βで回折する(図3参照)。この場合の隣り合うレーザ光L1−1〜L1−nの入射角の差Δαは小さくなる。
本実施の形態3においては、上述の実施の形態2と同様に、合波器12から半導体レーザ11−1〜11−nまでの距離をある程度短くした場合でも、隣り合う半導体レーザ11−1〜11−nを接触させずに同一平面上に配置することが可能となる。その結果、マスターオシレータシステム10Cを含むドライバレーザ2のさらなる小型化が可能となる。
なお、以下の表2に、回折格子の単位長さあたりのスリットの本数Nを10本/mm、入射光Lの入射角βを20°、入射光Lの波長を10.6μmとした場合の、回折光の次数mと回折角αと隣り合う回折光間の回折角の差Δαとの関係を示す。
Figure 2011205061
上記表2に示すように、本実施の形態では、回折格子の単位長さあたりのスリットの本数Nを10本/mm程度とすることで、隣り合う回折光間の回折角の差Δαを略6°以上とすることが可能となる。これにより、合波器12(具体的には合波用グレーティング12C)に対して十分近接して半導体レーザ11−1〜11−nを配置することが可能となる。この結果、マスターオシレータシステム10Cを含むドライバレーザ2のさらなる小型化が可能となる。
また、本実施の形態では、反射型の回折格子を合波器12に用いていることから、半導体レーザ11−1〜11−nが合波レーザ光L2の出射側に配置される。これにより、合波レーザ光L2の出力先(本例では再生増幅器20)の光入射窓を、配列される半導体レーザ11−1〜11−nに近接して配置することが可能となる。この結果、マスターオシレータシステム10Cを含むドライバレーザ2をよりコンパクトに設計することが可能となる。さらに、ドライバレーザ2を含むEUV光生成装置1のさらなる小型化が可能となる。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nは少なくとも1つの波長のレーザ光を出力する。これらのレーザ光L1−1〜L1−nは合波用グレーティングによって、合波される。この合波用グレーティングは回折格子からなり合波器として機能する。このため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
・変形例
また、上述の実施の形態3のように、合波器12に反射型の回折格子を用いる場合、図11に示す合波用グレーティング12C−1のように、この合波用グレーティング12C−1の回折面12sを、使用する波長の光に対する反射率が高い金属等の高反射膜12bでコーティングしてもよい。この高反射膜12bの材料には、例えば金(Au)やアルミニウム(Al)など、または、これらの金属の合金などを用いることができる。また、高反射膜12bは、上述の金属または合金よりなる多層膜または異なる材料の誘電体からなる多層膜とすることも可能である。なお、図11は、本実施の形態3の変形例による合波用グレーティングの回折面に形成された溝に垂直な面における断面図である。
・実施の形態4
つぎに、本開示の実施の形態4によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態3では、反射型の回折格子(合波用グレーティング12C、12C−1)の回折面に対して斜めの方向へ合波レーザ光L2が出射するように、合波用グレーティング12Cまたは12C−1に対して半導体レーザ11−1〜11−nが配置されていた。これに対し、本実施の形態では、反射型の回折格子の回折格子面に対して垂直な方向へ合波レーザ光L2が出射するように、回折格子に対して複数の半導体レーザ11−1〜11−nを配置する。これにより、本実施の形態では、±1次回折のみならず、±2次回折以上の回折を利用して、複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1を合波することが可能となる。以下、図面を用いて、この原理を説明する。
図12は、本実施の形態4において入射角0°で合波用グレーティングに入射した入射光に対する±m次回折光を模式的に示す図である。図12に示すように、本実施の形態では、合波器12に、上述の実施の形態3による反射型の合波用グレーティング12Cを用いる。この反射型の合波用グレーティング12Cは、角度β=0°で入射した入射光Lの±m次回折光L±mを、入射光Lの波長λに依存した角度±α±mで回折させる。この際、角度α±mと波長λとの関係は、上述の式3を満足する。
図13Aは、半導体レーザ11−1〜11−n(本例では半導体レーザ11−1〜11−4)から出力されたレーザ光L1−1〜L1−4をそれぞれ入射角度β=0°で合波用グレーティング12Cに入射させた際に出現する回折光のうち、互いに異なる次数の回折光の回折角α1−1−2〜α1−4+2を示す模式図である。
逆に、図13Bは、各々の半導体レーザ光が入射角α1−1−2〜α1−4+2で入射するように、半導体レーザ11−1〜11−4が配置され、それぞれの半導体レーザ光の±1次、±2次の回折光が同一の回折角度β=0°となるマスターオシレータシステムの模式図を示す。レーザ光L1−1〜L1−4の各々の±1次、±2次回折光は同一の回折角度β=0°で回折する。つまり、それぞれの半導体レーザ光が合波用グレーティングによって合波される。
この方式のメリットは実施の形態1の場合に比べて、隣り合うレーザ光L1−1〜L1−4の入射角の差Δαを大きくすることが可能となる。なぜならば、実施の形態1では、レーザ光L1−1〜L1−4はそれぞれの入射角度α1−1−2〜α1−5+2で合波用グレーティング入射し、同一次数(例えばm=−1)の条件で、同一の回折角度βで回折する(図3参照)。この場合の隣り合うレーザ光L1−1〜L1−nの入射角の差Δαは小さくなる。本実施の形態4においては、合波器12から半導体レーザ11−1〜11−nまでの距離をある程度短くした場合でも、隣り合う半導体レーザ11−1〜11−nを接触させずに同一平面に配置することが可能となり、結果的にマスターオシレータシステム10Dを含むドライバレーザ2のさらなる小型化が可能となる。
なお、以下の表3に、回折格子の単位長さあたりのスリットの本数Nを10本/mm、入射光Lの波長を10.6μmとした場合の、回折光の次数mと回折角αと隣り合う回折光間の回折角の差Δαとの関係を示す。
Figure 2011205061
上記表3に示すように、本実施の形態では、回折格子の単位長さあたりのスリットの本数Nを10本/mm程度とすることで、隣り合う回折光間の回折角の差Δαを略6°以上とすることが可能となる。これにより、合波器12(具体的には合波用グレーティング12C)に対して十分近接して半導体レーザ11−1〜11−nを配置することが可能となる。この結果、マスターオシレータシステム10Dを含むドライバレーザ2のさらなる小型化が可能となる。
また、本実施の形態では、上述の実施の形態2と同様に、半導体レーザ11−1〜11−nを、合波用グレーティング12Cの回折面と垂直な軸に対してシンメトリーに配置することが可能であるため、合波用グレーティング12Cに対する半導体レーザ11−1〜11−nの配置設計が容易である。
また、本実施の形態では、反射型の回折格子を合波器12に用いていることから、半導体レーザ11−1〜11−nが合波レーザ光L2の出射側に配置される。これにより、上述の実施の形態3と同様に、合波レーザ光L2の出力先(本例では、再生増幅器20)の光入射窓を配列される半導体レーザ11−1〜11−nの間に配置することが可能となる。この結果、マルチラインマスターオシレータシステム10Dを含むドライバレーザ2をよりコンパクトに設計することが可能となる。
ここで図14に、反射型の回折格子を用いてレーザ光を回折させた場合の光強度スペクトルを示す。なお、図14では、ブレーズ角度やスリットの深さを調節していない通常の反射型回折格子を使用した場合を示す。図14に示すように、反射型の回折格子を使用した場合、0次回折光の光強度を1とすると、±1次回折光の光強度は、約0.9以上であり、±2次回折光の光強度は、約0.5以上である。このことから、回折格子に入射したレーザ光の10〜20%の利用効率を実現可能であることが判る。この実施形態のメリットは簡単なグレーティング(溝深さの制御なし、反射スリットの形成のみ等の通常のグレーティング)で、高い利用効率を得ることができることである。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nは少なくとも1つの波長のレーザ光を出力する。これらのレーザ光L1−1〜L1−nは合波用グレーティングによって、合波される。この合波用グレーティングは回折格子からなり合波器として機能する。このため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
・実施の形態5
つぎに、本開示の実施の形態5によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態2では、半導体レーザ11−1〜11−nのレーザ光を直接、透過型の回折格子(合波用グレーティング12B、12B−1)に入射させた場合の実施例を挙げた。すなわち半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1−1〜L1−nが直接、透過型の合波用グレーティング12Bまたは12B−1に入射するように半導体レーザを放射状に配置する必要があった。これに対し、本実施の形態では、レーザ光を出射する半導体レーザと合波用グレーティングとの間にレーザ光L1−1〜L1−nのビーム軸を制御するレンズを介在させる。これにより、本実施の形態では、半導体レーザ11−1〜11−nの配置自由度を向上させることが可能となり、結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザ2を小型化することが可能となる。
図15は、本実施の形態5によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。図15に示すように、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Eは、透過型の回折格子である合波用グレーティング12Bとレーザ光L1−1〜L1−n(本例ではレーザ光L1−1〜L1−3)を出力する半導体レーザ11−1〜11−n(本例では半導体レーザ11−1〜11−3)との間に、レーザ光L1−1〜L1−3の光軸を制御するコリメータレンズ13が配置された構成を備える。なお、合波用グレーティング12Bは、上述の実施の形態2による合波用グレーティング12Bと同一でよい。
半導体レーザ11−1〜11−3は、レーザ光L1−1〜L1−3の出射方向が互いに平行となるように、合波用グレーティング12Bの回折格子面に対して平行な平面上に横並びに配列される。コリメータレンズ13は、半導体レーザ11−1〜11−3から広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−3をそれぞれコリメートする。そして、コリメータレンズ13は、コリメートされたレーザ光L1−1〜L1−3のそれぞれのレーザ光を合波用グレーティング12Bの回折格子面の同一領域に入射させる。
ここで、コリメータレンズ13の焦点距離をf1とすると、合波用グレーティング12Bと半導体レーザ11−1〜11−3とは、例えば互いに焦点距離f1の2倍離間して対向配置される。また、コリメータレンズ13は、例えば合波用グレーティング12Bと半導体レーザ11−1〜11−3との中間位置、すなわち合波用グレーティング12Bおよび半導体レーザ11−1〜11−3それぞれと焦点距離f1離間した位置に配置される。
上記の構成により、合波用グレーティング12Bの回折面に形成されるレーザ光L1−1〜L1−3のビームスポットを略一致させることが可能となる。
また、半導体レーザ11−1〜11−3の位置は、コリメータレンズ13によってビーム軸変換された後のレーザ光L1−1〜L1−3のビーム軸が、合波用グレーティング12Bに対して上述の式3を満足するように、コリメータレンズ13の設計光軸に対して平行な方向に調整される。例えば−1次回折光が合波レーザ光L2に使用される半導体レーザ11−1の位置は、コリメータレンズ13によってビーム軸変換された後のレーザ光L1−1のビーム軸が、合波用グレーティング12Bに対してレーザ光L1−1を角度β=0°で入射させた際の−1次回折光の出射方向と一致するように、コリメータレンズ13の設計光軸に対して平行な方向に調整される。同様に、例えば+1次回折光が合波レーザ光L2に使用される半導体レーザ11−3の位置は、コリメータレンズ13によってビーム軸変換された後のレーザ光L1−3のビーム軸が、合波用グレーティング12Bに対してレーザ光L1−3を角度β=0°で入射させた際の+1次回折光の出射方向と一致するように、コリメータレンズ13の設計光軸に対して平行な方向に調整される。なお、本例では、例えばレーザ光L1−2の0次回折光が合波レーザ光L2に使用されるため、半導体レーザ11−2は、レーザ光L1−2の出射軸とコリメータレンズ13の設計光軸とが一致するように配置される。
レーザ光L1−1〜L1−3は、コリメータレンズ13によってそれぞれコリメートされる。そして、それぞれのコリメートされたレーザ光は、それぞれ合波用グレーティング12Bの回折格子面の同一の領域に、それぞれの入射角度で入射し、同一の回折角度0°で透過回折する。その結果、レーザ光L1−1〜L1−3がコリメートされたレーザ光は、コリメータレンズ13と合波用グレーティングによって、合波レーザ光L2として出力される。
したがって、本実施の形態における合波レーザ光L2は、所定の大きさのビーム径のコリメート光である。この所定のビーム径の合波レーザ光L2は、合波用グレーティング12Bに対して光路の下流側に配置された集光レンズ14を介することで、集光レンズ14からこの集光レンズの焦点距離f2離間した位置に集光される。
集光レンズ14の焦点位置には、再生増幅器20(図4参照)にレーザ光を導入する光ファイバ15の光入力端が配置される。したがって、集光レンズ14の焦点位置に集光された合波レーザ光L2は、光ファイバ15を介して再生増幅器20へ導波される。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−nを回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えている。このため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
また、本実施の形態によれば、半導体レーザ11−1〜11−nから出射されるレーザ光L1−1〜L1−nの広がり角が比較的大きな場合でも、レーザ光L1−1〜L1−nを集光して再生増幅器20へ合波レーザ光L2として導入することができる。これにより、再生増幅器20に入力される合波レーザ光L2の光強度を強くすることが可能となる。この結果、再生増幅器20における増幅効率が向上し、たとえば以下のような効果を得ることができる。第1に、再生増幅器に入力されるレーザ光の光強度が高いため、入力レーザ光のパルス波形を略維持した状態で増幅可能となる。第2に、再生増幅器に入力されるレーザ光の光強度が高いため、寄生発振や自励発振が抑制される。第3に、再生増幅後の光強度およびパルス波形を再生増幅器に対して下流側の光路上に配置された増幅器により効率よく増幅することができる。その結果、再生増幅器20、増幅器30、プレアンプPAおよびメインアンプMA等の省エネルギー化が可能となる。第4に、さらに、EUVチャンバ40(図4参照)内でターゲット物質Dを照射するパルス状の増幅レーザ光L2−4の集光性能が維持されるため、安定的に強い光強度のEUV光L3を得ることを可能となる。
さらに、本実施の形態によれば、それぞれの半導体レーザ11−1〜11−nは、それらのビーム軸が平行になるように配置され、出力されたレーザ光をコリメートしたそれぞれのレーザ光が生成され、それらを合波することができる。そのため、合波用グレーティング12Bに対するコリメータレンズ13と半導体レーザ11−1〜11−nとの配置を比較的容易に所望の状態に設計することが可能となる。
・実施の形態6
つぎに、本開示の実施の形態6によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態3では、半導体レーザ11−1〜11−nのレーザ光を直接、反射型の回折格子(合波用グレーティング12C、12C−1)に入射させた場合を例に挙げた。すなわち、半導体レーザ11−1〜11−nから出力されたレーザ光L1−1〜L1−nが直接、反射型の合波用グレーティング12Cまたは12C−1に入射するように半導体レーザを放射状に配置する必要があった。これに対し、本実施の形態では、半導体レーザから出射されたレーザ光の光路上に、その反射光が合波用グレーティングに入射するように凹面ミラーを配置し、合波用グレーティングまでの光路上にレーザ光L1−1〜L1−nのビーム軸を制御する凹面ミラーを介在させる。
これにより、本実施の形態では、半導体レーザ11−1〜11−nの配置自由度を向上させることが可能となり、結果、ドライバレーザを含むEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
図16は、本実施の形態6によるマスターオシレータシステムの概略構成を模式的に示す。図16に示すように、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Fは、レーザ光L1−1〜L1−n(本例ではレーザ光L1−1〜L1−3)を出力する半導体レーザ11−1〜11−n(本例では半導体レーザ11−1〜11−3)からのレーザ光の光路上に、レーザ光L1−1〜L1−3を反射すると共に反射後のレーザ光L1−1〜L1−3のビーム軸を制御する凹面ミラー16が配置された構成を備える。なお、合波用グレーティング12Cは、上述の実施の形態3による合波用グレーティング12Cと同一でよい。
半導体レーザ11−1〜11−3は、レーザ光L1−1〜L1−3の出射方向が互いに平行となるように、同一平面上で横並びに配置される。凹面ミラー16は、半導体レーザ11−1〜11−3から広がり角を持って出射されるレーザ光L1−1〜L1−3をそれぞれコリメートする。そして、それぞれのコリメートされたレーザ光は、それぞれ合波用グレーティング12Cの回折格子面の同一の領域に、それぞれの入射角度で入射し、同一の回折角度で反射回折する。その結果、コリメートされたレーザ光L1−1〜L1−3は合波用グレーティングによって合波レーザ光L2として出力される。
ここで、凹面ミラー16の焦点距離をf1とすると、凹面ミラー16および半導体レーザ11−1〜11−3、ならびに、凹面ミラー16および合波用グレーティング12Cは、それぞれ例えば互いに焦点距離f1離間して対向配置される。このような構成により、合波用グレーティング12Cの回折面に形成されるレーザ光L1−1〜L1−3のビームスポットを略一致させることが可能となる。
また、半導体レーザ11−1〜11−3の位置は、凹面ミラー16によって高反射された後のレーザ光L1−1〜L1−3の光軸が合波用グレーティング12Cに対して上述の式3を満足するように、アライメントされる。また、凹面ミラー16は設計光軸と一致するようにアライメントされる。例えば−1次回折光が合波レーザ光L2に使用される半導体レーザ11−1の位置は、凹面ミラー16によって高反射された後のレーザ光L1−1のビーム軸が、合波用グレーティング12Cに対してレーザ光L1−1を角度β=0°で入射させた際の−1次回折光の出射方向と一致するように、アライメントされる。また、凹面ミラー16は設計光軸と一致するようにアライメントされる。同様に、例えば+1次回折光が合波レーザ光L2に使用される半導体レーザ11−3の位置は、凹面ミラー16によって高反射された後のレーザ光L1−3のビーム軸が、合波用グレーティング12Cに対してレーザ光L1−3を角度β=0°で入射させた際の+1次回折光の出射方向と一致するように、アライメントされる。また、凹面ミラー16は設計光軸と一致するようにアライメントされる。また、本例では、例えばレーザ光L1−2の0次回折光が合波レーザ光L2に使用される。このため、半導体レーザ11−2は、レーザ光L1−2の出射軸と設計光軸とが一致するように配置される。ここで、設計光軸はこのマスターオシレータシステム10Fの光学システムの光軸である。
コリメートされたレーザ光L1−1〜L1−3は凹面ミラー16と合波用グレーティング12Cによって、合波レーザ光L2として出力される。したがって、本実施の形態における合波レーザ光L2は、所定のビーム径のコリメート光である。この所定のビーム径の合波レーザ光L2は、合波用グレーティング12Cに対して光出射側に配置された凹面ミラー17によって高反射され、凹面ミラー17の焦点距離f2離間した位置に集光される。
凹面ミラー17の焦点位置には、下流側の光路上に配置された再生増幅器20(図4参照)にレーザ光を導入する光ファイバ15の光入力端が配置される。したがって、凹面ミラー17の焦点位置に集光された合波レーザ光L2は、光ファイバ15を介して再生増幅器20へ導波される。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−nを回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えているため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたマスターオシレータシステムを含むドライバレーザ2およびEUV光生成装置1を実現することが可能となる。
また、本実施の形態によれば、半導体レーザ11−1〜11−nから出射されるレーザ光L1−1〜L1−nの広がり角度が比較的大きな場合でも、レーザ光L1−1〜L1−nを集光して再生増幅器20へ合波レーザ光L2として導波することができる。これにより、再生増幅器20に入力される合波レーザ光L2の光強度を強くすることが可能となる。この結果、再生増幅20における増幅効率が向上することによって、たとえば以下のような効果を得ることができる。第1に、再生増幅器に入力されるレーザ光の光強度が高いため、入力レーザ光のパルス波形を略維持した状態で増幅可能となる。第2に、再生増幅器に入力されるレーザ光の光強度が高いため、寄生発振や自励発振が抑制される。第3に、再生増幅後の光強度およびパルス波形を再生増幅器30の下流側の光路上の増幅器により効率よく増幅することができる。その結果、再生増幅器20、増幅器30、プレアンプPAおよびメインアンプMA等の省エネルギー化が可能となる。第4に、さらに、EUVチャンバ40(図4参照)内でターゲット物質Dを照射するパルス状の増幅レーザ光L2−4の集光性能が維持されるため、安定的に強い光強度のEUV光L3を得ることを可能となる。
さらに、本実施の形態によれば、それぞれの半導体レーザ11−1〜11−nはそのビーム軸が平行になるように配置され、出力されたレーザ光をコリメートしたそれぞれのレーザ光が生成され、それらを合波することができる。そのため、合波用グレーティング12Cに対する凹面ミラー16と半導体レーザ11−1〜11−nとの配置を比較的容易に所望の状態に設計することが可能となる。
なお、例えば量子カスケードレーザなどの半導体レーザが出射するレーザ光は、波長が約10μmと、不可視光である。このため、目視等で半導体レーザの正確なアライメントを得ることは非常に困難である。そのような場合、例えば可視光の半導体レーザやHe−Neレーザ等の0次回折光を用いて予め凹面ミラー16および17や合波用グレーティング12C等の光学素子のアライメント調整を行った後、半導体レーザの配置を行うことで、比較的容易にドライバレーザ2を組むことが可能である。なお、この方法は、本開示の他の実施の形態およびその変形例にも適用可能である。
・実施の形態7
つぎに、本開示の実施の形態7によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態6では、凹面ミラー16および17と合波用グレーティング12Cとを組み合わせた光学系を含む合波器12を用いることで、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−nを合波し、かつ、集光させた。これに対し、本実施の形態では、1つの光学素子によって、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−nを合波し、かつ、集光させる。すなわち、凹面状の球面または楕円面、あるいはトロイダル面上に溝加工された回折格子(後述する凹面型合波用グレーティング12D)を合波器12として用いる。上述のような1つの光学素子によって効率よく複数の半導体レーザ光を合波することができる。その結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
図17は、本実施の形態7によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。図17に示すように、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Gは、半導体レーザ11−1〜11−2から広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−2を凹面状の球面または楕円面、あるいはトロイダル面に上に溝加工された回折格子である凹面型合波用グレーティング12Dの回折面における同一領域に入射させる。レーザ光L1−1〜L1−2の±m次回折光(例えば±1次回折光)が凹面型合波用グレーティング12Dにより光ファイバ15の位置で集光するように、凹面型合波用グレーティング12Dに対して半導体レーザ11−1〜11−2を配置する。すなわち、半導体レーザ(11−1と11−2)の出射口の回折像が光ファイバ15の入力端上に重なり合って結像するように凹面型合波用グレーティング12Dを配置する。なお、合波レーザ光L2の出射方向は、凹面型合波用グレーティング12Dの設計光軸と一致する。なお、凹面型合波用グレーティング12Dの設計光軸は、これの球面または楕円面、あるいはトロイダル面における最下点を通る法線と一致するとする。
凹面型合波用グレーティング12Dの集光位置には、下流側の光路上に配置された再生増幅器20(図4参照)にレーザ光を導入する光ファイバ15の光入力端が配置される。したがって、凹面型合波用グレーティング12Dの集光位置に集光された合波レーザ光L2は、光ファイバ15を介して再生増幅器20へ導波される。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−nを回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えている。このため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
また、本実施の形態によれば、凹面ミラーやコリメータレンズ等を必要とせずに、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−nを集光することによって、光ファイバを経由して再生増幅器20へ合波レーザ光L2として導波することが可能となる。すなわち、1つの光学素子で上述の実施の形態5および6と同様の効果を奏することが可能となる。これにより、図16の実施例にくらべて、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をさらに小型化することが可能となる。
・実施の形態8
つぎに、本開示の実施の形態8によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態7では、合波レーザ光L2が凹面型合波用グレーティング12Dの凹面の最下点を通る法線と平行な方向へ出射するように、凹面型合波用グレーティング12Dに対して半導体レーザ11−1〜11−nを配置した。これに対し、本実施の形態では、合波用グレーティング12Dの凹面の最下点を通る法線に対して傾いた方向へ合波レーザ光L2が出射するように、凹面型合波用グレーティング12Dに対して半導体レーザ11−1〜11−nを配置する。これにより、上述の実施の形態7と同様に、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−nを合波し、かつ、集光するための光学系の構成を1つの光学素子にすることが可能となる。その結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
図18は、本実施の形態8によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。図18に示すように、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Hは、半導体レーザ11−1〜11−n(本例では半導体レーザ11−1〜11−4)から広がり角を持って出射したレーザ光L1−1〜L1−n(本例ではレーザ光L1−1〜L1−4)が凹面の球面上に溝加工された回折格子である凹面型合波用グレーティング12Dの回折面における同一領域に入射し、且つ、レーザ光L1−1〜L1−4の±m次回折光が凹面型合波用グレーティング12Dにより光ファイバ15の入力端位置で集光するように、凹面型合波用グレーティング12Dに対して半導体レーザ11−1〜11−4が配置される。ここで、半導体レーザ11−1〜11−4から出力されたレーザ光L1−1〜L1−4をそれぞれの入射角度α11−1〜α11−4で、凹面型合波用グレーティング12Dに入射させる。そして、それぞれの異なる次数の回折光の回折角度βが同一角度になるように凹面型合波用グレーティング12Dを配置する。すなわち、凹面型合波用グレーティング12Dにより、半導体レーザ11−1〜11−4の出射口の回折像が重ね合わせられて光ファイバ15の入力端に結像するように凹面型合波用グレーティング12Dを配置している。これにより、実施の形態1の場合に比べて、隣り合うレーザ光L1−1〜L1−4の入射角の差Δαを大きくすることが可能となる。なぜならば、実施の形態1の場合においては、レーザ光L1−1〜L1−4はそれぞれの入射角度α1−1−2〜α1−5+2で合波用グレーティング入射し、同一次数(例えばm=−1)の条件で、同一の回折角度βで回折する(図3参照)。この場合の隣り合うレーザ光L1−1〜L1−nの入射角の差Δαは小さくなるからである。
本実施の形態8においては、合波器12から半導体レーザ11−1〜11−nまでの距離をある程度短くした場合でも、隣り合う半導体レーザ11−1〜11−nを接触させずに同一平面上に配置することが可能となり、結果的にマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置のさらなる小型化が可能となる。
また、凹面型合波用グレーティング12Dで回折された合波レーザ光L2の集光位置には、下流の光路上の再生増幅器20(図4参照)にレーザ光を導入する光ファイバ15の光入力端が配置される。したがって、凹面型合波用グレーティング12Dの集光位置に集光された合波レーザ光L2は、光ファイバ15を介して再生増幅器20へ導波される。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−nを回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えている。このため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
また、本実施の形態によれば、上述の実施の形態7と同様に、凹面ミラーやコリメータレンズ等を必要とせずに、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−nを集光して再生増幅器20へ合波レーザ光L2として導波することが可能となる。すなわち、1つの光学素子で上述の実施の形態5および6と同様の効果を奏することが可能となる。これにより、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
・実施の形態9
つぎに、本開示の実施の形態9によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
ただし、上述の実施の形態1〜8では、細長い複数のスリットまたは溝が平行に形成された回折格子を合波器12として用いていた。したがって、上述の実施の形態1〜8では、入射光Lに対して合波器12におけるスリットまたは溝の配列方向と合波器の回折格子面の法線を含む面内で±m次回折光が出現するように合波器が構成されていた。言い換えれば、±m次回折光は、合波器12におけるスリットの配列方向と合波器の回折格子面の法線を含む面内で伝播するように、合波器12から2次元的に出射していた。そこで、上述の実施の形態1〜8では、半導体レーザ11−1〜11−nが合波器12におけるスリットまたは溝の配列方向と合波器の回折格子面の法線を含む面内で2次元配列されていた。
これに対し、本実施の形態9では、図19および図20に示すように、入射光Lに対して3次元的に±1次回折光を出射させることが可能な回折光学素子(Diffractive Optical Element:DOE)12Eを合波器12として用いる。このDOE12Eには、MEMS(Micro Electro Mechanical System)を利用することで、ZnSe製の透明な基板の表面に、コリメータレンズの機能と回折格子の機能とを例えば10.6μmの波長付近において実現する凹凸パターンが形成されている。なお、図19は、本実施の形態9によるDOEに角度β=0°で入射した入射光に対する0次回折光および±1次回折光を模式的に示す図である。図20は、本実施の形態9においてDOEに入射するレーザ光の0次回折光のビーム軸に垂直な面で出現する±1次回折光の概略配置を示す模式図である。また、本実施の形態では、図19および図20に示すように、0次回折光を中心とした六角形の頂点、すなわち互いに60°の傾きを持ち且つ0次回折光を通るxライン、yラインおよびzラインと0次回折光を中心とした円との交点にそれぞれ±1次回折光が出現する場合を例に挙げる。
本実施の形態では、図21Aは、それぞれのレーザ光L1−1〜L1−7がコリメート光で角度β=0°でDOE12Eに入射した後、透過回折したビームの状態の模式図を示す。それぞれの回折光は、図19及び図20に示すように、互いに60°の傾きを持ち且つ0次回折光L1−1 0を通るxライン、yラインおよびzラインと0次回折光L1−1 0を中心とした円との交点にそれぞれ±1次回折光(L1−2−1,L1−3−1,L1−4−1,L1−5+1,L1−6+1,L1−7+1)として出現する。これらの回折光はそれぞれ所定の位置で集光する。
逆に、図21Bは、上記回折光の集光位置にそれぞれ半導体レーザの出力端を配置し、それぞれのレーザ光L1−1〜L1−7が、入射角度が0次回折光L1−1 0および互いに異なる方位(xライン、yライン及びzライン)のそれぞれ±1次回折光(L1−2−1,L1−3−1,L1−4−1,L1−5+1,L1−6+1,L1−7+1)が出現する回折角と同じ角度で入射するように配置される。したがって、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Iでは、各半導体レーザ11−1〜11−7から出力されたレーザ光L1−1〜L1−7が、各々に割り当てられた回折角に対応する角度でDOE12Eに入射する。この結果、DOE12Eからは、レーザ光L1−1〜L1−7が合波されたコリメート光である合波レーザ光L2が出力される。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−7から出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−7をDOEを合波器として用いて合波する構成を備えているため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
また、本実施の形態によれば、凹面ミラーやコリメータレンズ等を必要とせずに、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−7を回折させつつ再生増幅器20へコリメート光化された合波レーザ光L2として導波することが可能となる。これにより、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。さらに、本実施の形態によれば、半導体レーザ11−1〜11−nを3次元的に配列させることが可能となるため、ドライバレーザのさらなるコンパクト化が可能となる。この結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
・実施の形態10
つぎに、本開示の実施の形態10によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態9では、DOE12Eは、DOE12Eに入射したレーザ光L1−1〜L1−7を合波すると共に合波して得られた合波レーザ光L2をコリメート光化して出力する、いわゆるコリメータレンズの機能を備えている。これに対し、本実施の形態では、図22Aに示すDOE12Fのように、コリメータレンズと集光レンズのような機能を果たす凹凸パターンが、例えばZnSe製の透明基板の表面にMEMSを利用して形成されている。これにより、入射光Lに対して3次元的に0次回折光及びそれぞれのxライン、yライン及びzライン方位の±1次回折光を出射させることが可能なDOE12Fが実現されている。なお、図22Aは、本実施の形態10による広がり角を持ったレーザ光がDOE12Fに角度β=0°で入射した場合の複数の回折光(0次回折光およびそれぞれの方位に対する±1次回折光)を模式的に示す図である。
図22Bは、本実施の形態10によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。各半導体レーザ11−1〜11−7から出射されたレーザ光L1−1〜L1−7を各々に割り当てられた方向に対応する入射角でDOE12Fに入射させる。ここで、図22Aにおいて、割り当てられた方向とは、0次回折光L1−1 0および互いに異なる方位(xライン、yライン、zライン)のそれぞれの±1次回折光(L1−2−1,L1−3−1,L1−4−1,L1−5+1,L1−6+1,L1−7+1)が出現する回折角の方向である。この割り当てられた方向からそれぞれレーザ光L1−1〜L1−7を入射させることによって、DOE12Fにより回折角度が同一となってそれぞれのレーザ光L1−1〜L1−7が合波される。ここで、DOE12Fは、レーザ光を回折させるのと同時に、所定の位置の物体を像として結像させる機能を備えている。ここで、それぞれの半導体レーザの出力口の回折像が光ファイバ15の入力端に重なりあって結像されるように、それぞれの半導体レーザ11−1〜11−7とDOE12Fと光ファイバ15とが配置されている。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−7をDOEを合波器として用いて合波する構成を備えているため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
また、本実施の形態によれば、凹面ミラーやコリメータレンズ等を必要とせずに、半導体レーザ11−1〜11−7から広がり角を持って出射したレーザ光L1−1〜L1−7を回折させ、かつ、集光して再生増幅器20へ合波レーザ光L2として導波することが可能となる。これにより、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。さらに、本実施の形態によれば、上述の実施の形態9と同様に、半導体レーザ11−1〜11−7を3次元的に配列することが可能となるため、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザのさらなるコンパクト化が可能となる。この結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
・実施の形態11
つぎに、本開示の実施の形態11によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態10では、合波レーザ光L2がDOE12Fから角度β=0°で出射するように、各半導体レーザ11−1〜11−7がDOE12Fに対して配置されていた。これに対して本実施の形態では、図23Aに示すように広がり角を持ったレーザ光がDOE12Fに角度βで入射した場合の複数の回折光(0次回折光およびそれぞれの方位に対する±1次回折光)を模式的に示す図である。なお、図23Aは、本実施の形態11によるDOE12Fに入射角βで入射したレーザ光に対する0次回折光および±1次回折光を模式的に示す図である。
図23Bは本実施形態11によるマスターオシレータ10Kの概略構成を示す模式図である。各半導体レーザ11−1〜11−7から出射したレーザ光L1−1〜L1−7を各々に割り当てられた方向に対応する入射角でDOE12Fに入射させる。ここで、図23Aにおいて、割り当てられた方向とは、0次回折光L1−1 0および互いに異なる方位(xライン、yライン、zライン)のそれぞれの±1次回折光(L1−2−1,L1−3−1,L1−4−1,L1−5+1,L1−6+1,L1−7+1)が出現する回折角と同じ角度の方向である。この割り当てられた方向からレーザ光L1−1〜L1−7を入射させることによって、DOE12Fにより反射回折角度が同一となってそれぞれのレーザ光L1−1〜L1−7が合波される。ここで、DOE12Fは、レーザ光を回折させるのと同時に、所定の位置の物体を像として結像させる機能を備えている。ここで、それぞれの半導体レーザの出力口の回折像が光ファイバ15の入力端に重なりあって結像されるように、それぞれの半導体レーザ11−1〜11−7とDOE12Fと光ファイバ15とが配置されている。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、光強度の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−7から出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−7を回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えている。そのため、光強度の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
また、本実施の形態によれば、上述の実施の形態10と同様に、凹面ミラーやコリメータレンズ等を必要とせずに、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−nを回折させ、かつ、集光して再生増幅器20へ合波レーザ光L2として導波することが可能となる。これにより、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。さらに、本実施の形態によれば、上述の実施の形態9と同様に、半導体レーザ11−1〜11−7を3次元的に配列させることが可能となるため、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザのさらなるコンパクト化が可能となる。この結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
・実施の形態12
つぎに、本開示の実施の形態12によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態1〜11では、レーザ光L1−1〜L1−nの出力端に半導体レーザ11−1〜11−nの出力端を用いていた。これに対し、本実施の形態では、半導体レーザ11−1〜11−nの出力端に光ファイバ19−1〜19−nの一方の端を取り付けることで、レーザ光L1−1〜L1−nの出力端にこの光ファイバ19−1〜19−nの他方の端を用いる。これにより、本実施の形態12では、光ファイバ19−1〜19−nの柔軟性によって半導体レーザ11−1〜11−nの配置自由度を向上させることが可能になる。この結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザをさらにコンパクト化する設計が可能になると共に、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
図24は、本実施の形態12によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。図24に示すように、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Lは、レーザ光L1−1〜L1−3を出力する半導体レーザ11−1〜11−3の出力端に光ファイバ19−1〜19−3の一方の端がそれぞれ取り付けられた構成を備える。なお、他の構成は、上述の実施の形態5によるマスターオシレータシステム10Eと同様であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
それぞれの半導体レーザ光を導波する光ファイバ19−1〜19−3の他方の端からレーザ光L1−1〜L1−3が出力される。それぞれの光ファイバから出力されたレーザ光はコリメータレンズ13によってそれぞれコリメートされる。そして、それぞれコリメートされたレーザ光は合波用グレーティング12Bの回折面上で互いに重なりあう。この際、上述の実施の形態5と同様に、光ファイバ19−1〜19−3の他方の端は、レーザ光L1−1〜L1−3の出射軸が互いに平行となるように、コリメータレンズ13の前側焦点面を含むライン上に配列される。そして、合波用グレーティング12Bは、回折面がコリメータレンズ13の後側焦点面と一致するように配置される。
また、光ファイバ19−1〜19−3の他方の端の位置は、上述の実施の形態5における半導体レーザ11−1〜11−3と同様に、コリメータレンズ13によってビーム軸変換された後のレーザ光L1−1〜L1−3のビーム軸が合波用グレーティング12Bに対して上述の式3を満足するように、コリメータレンズ13の前側焦点面を含むライン上で調整される。この結果、合波用グレーティング12Bの回折面に形成されるレーザ光L1−1〜L1−3のビームスポットを重ね合わせることが可能となる。なお、本実施の形態においても、たとえば、コリメータレンズ13が薄肉レンズ(Thin Lens)の場合、コリメータレンズ13は、合波用グレーティング12Bと光ファイバ19−1〜19−3の他方の端との中間位置に配置される。ここで、合波用グレーティング12Bと光ファイバ19−1〜19−3の他方の端との距離はコリメータレンズ13の焦点距離f1の2倍となる。
以上のように構成することで、本実施の形態によれば、上述の実施の形態5と同様の効果が得られると共に、マスターオシレータシステの設計自由度の向上による更なるコンパクト化が可能になり、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
・実施の形態13
つぎに、本開示の実施の形態13によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態12では、半導体レーザ11−1〜11−nの出力端に一方の端を取り付けた光ファイバ19−1〜19−nの他方の端をレーザ光L1−1〜L1−nの出力端に用いた構成を、上述の実施の形態5と組み合わせた場合を例に挙げた。これに対し、本実施の形態では、半導体レーザ11−1〜11−nの出力端に一方の端を取り付けた光ファイバ19−1〜19−nの他方の端をレーザ光L1−1〜L1−nの出力端に用いた構成を、上述の実施の形態6と組み合わせた場合を例に挙げる。
図25は、本実施の形態13によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。図25に示すように、本実施の形態によるマスターオシレータシステム10Mは、レーザ光L1−1〜L1−n(本例ではレーザ光L1−1〜L1−3とする)を出力する半導体レーザ11−1〜11−n(本例では半導体レーザ11−1〜11−3とする)の出力端に光ファイバ19−1〜19−n(本例では光ファイバ19−1〜19−3とする)の一方の端がそれぞれ取り付けられた構成を備える。なお、他の構成は、上述の実施の形態6によるマスターオシレータシステム10Eと同様であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
それぞれの半導体レーザ光を導波する光ファイバ19−1〜19−3の他方の端からレーザ光L1−1〜L1−3が出力される。それぞれの光ファイバから出力されたレーザ光は凹面ミラー16によってそれぞれコリメートされる。そして、それぞれコリメートされたレーザ光は合波用グレーティング12Cの回折面で互いに重なりあう。この際、光ファイバ19−1〜19−3の他方の端は、レーザ光L1−1〜L1−3の出射軸が互いに平行となるように、凹面ミラー16の前側焦点面を含むライン上に配置される。そして、合波用グレーティング12Cはその回折面が凹面ミラー16の後側焦点面に一致するように配置される。たとえば、凹面ミラー16の焦点距離をf1とすると、凹面ミラー16および光ファイバ19−1〜19−3の他方の端、ならびに、凹面ミラー16および合波用グレーティング12Cは、それぞれ例えば互いに焦点距離f1離間して対向配置される。また、光ファイバ19−1〜19−3の他方の端の位置は、上述の実施の形態6における半導体レーザ11−1〜11−3と同様に、凹面ミラー16によってビーム軸変換された後のレーザ光L1−1〜L1−3のビーム軸が合波用グレーティング12Cに対して上述の実施の形態2における式3を満足するように、凹面ミラー16の焦点面を含むライン上で調節される。この結果、凹面ミラー16は、合波用グレーティング12Cの回折面に形成されるレーザ光L1−1〜L1−3のビームスポットを重ね合わせることが可能となる。
以上のように構成することで、本実施の形態によれば、上述の実施の形態6と同様の効果が得られると共に、マスターオシレータシステムの設計自由度の向上による更なるコンパクト化が可能になり、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
・実施の形態14
つぎに、本開示の実施の形態14によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置と同様の構成を備える。
上述の実施の形態13では、コリメートされたレーザ光L1−1〜L1−nの合波器12に、反射型の回折格子である合波用グレーティング12Cを用いていた。また、合波用グレーティング12Cによって合波されたコリメート光である合波レーザ光L2を、凹面ミラー17を用いて所定の位置に集光させていた。これに対し、本実施の形態では、図26に示すように、折面が球面または軸外放物面状に歪曲した回折格子(凹面型合波用グレーティング12G)を合波器12として用いる。これにより、本実施の形態では、上述の実施の形態13における凹面ミラー17を省略して、マスターオシレータシステム10Nの構成を簡素化することが可能となる。なお、図26は、本実施の形態14によるマスターオシレータシステムの概略構成を示す模式図である。
以上のように、本実施の形態では、上述の各実施の形態(その変形例を含む)と同様に、強度およびパルス幅の制御が容易な複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力された少なくとも1つの波長のレーザ光L1−1〜L1−nを回折格子である合波用グレーティングを合波器として用いて合波する構成を備えているため、強度およびパルス幅の制御が容易で且つ小型化されたレーザ装置であるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置を実現することが可能となる。
また、本実施の形態では、上述の実施の形態7と同様に、半導体レーザ11−1〜11−nから広がり角を持って出射されたレーザ光L1−1〜L1−nを合波しつつ集光するための光学系の構成を簡素化することが可能となり、結果、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。また、本実施の形態によれば、上述の実施の形態と同様に、マスターオシレータシステムの設計自由度の向上による更なるコンパクト化が可能になると共に、マスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置をより小型化することが可能となる。
また、上記実施の形態およびその変形例は本開示を実施するための例にすぎず、本開示はこれらに限定されるものではなく、仕様等に応じて種々変形することは本開示の範囲内であり、更に本開示の範囲内において、他の様々な実施の形態が可能であることは上記記載から自明である。さらに、上述の各実施の形態およびその変形例は、相互に適宜組み合わせることが可能である。
さらに、マスターオシレータシステムは、COガス増幅媒体により増幅可能な少なくとも1つの波長の半導体レーザ光を合波するシステムであるが、これに限定されることなく、たとえば、複数の半導体レーザの中で少なくとも1つの半導体レーザは他の半導体レーザ光の波長と異なる波長のレーザ光を発振し、その他の半導体レーザ光の波長は同一であってもよい。ここで、これら全ての半導体レーザの発振波長は、COレーザ増幅器の複数の増幅領域の波長と一致している。
・実施の形態15
つぎに、本開示の実施の形態15によるマスターオシレータシステムを以下詳細に説明する。なお、本実施の形態15によるマスターオシレータシステムを含むドライバレーザおよびEUV光生成装置は、上述の実施の形態によるドライバレーザおよびEUV光生成装置のいずれを適用してもよい。以下では、例として、実施の形態1によるドライバレーザおよびEUV光生成装置を適用した場合を例に挙げる。
図27に示すように、COガス増幅媒体25aは、複数の増幅波長帯域(例:モードP(18)、P(20)、P(22)、P(24)、P(26)、P(28)、P(30)等)S1〜S7を有する。各々の増幅波長帯域S1〜S7の幅Δλは、たとえば約0.0016μmである。また、各増幅波長帯域S1〜S7の増幅ゲインは、それぞれ異なる。
半導体レーザ11−1〜11−5から出力されたパルスレーザ光L1−1〜L1−nは、その波長が増幅波長帯域S1〜S7のいずれかに含まれている期間、増幅される。ここで図27の破線に示すように、パルスレーザ光L1−1〜L1−nの波長スペクトルプロファイルS10が、モードP(20)からP(30)までをカバーするような幅のブロードなスペクトルプロファイルであると仮定する場合、図28に示すように、COガス増幅媒体25aによって増幅されたパルスレーザ光は、各々の増幅波長帯域S2〜S7のゲイン分布に応じた光強度のパルスレーザ光S12〜S17として、レーザ増幅部25から出力される。
そこで本実施の形態15では、複数の半導体レーザ11−1〜11−nから出力されるパルスレーザ光L1−1〜L1−nのうち、増幅ゲインの小さな増幅波長帯域で増幅されるパルスレーザ光の強度を大きくする。たとえば図29に例示するように、増幅ゲインが小さい増幅波長帯域S3およびS4に対応する波長で発振する半導体レーザの個数を、増幅ゲインが大きい増幅波長帯域S2に対応する波長で発振する半導体レーザの個数よりも多くする。これにより、増幅ゲインが小さい増幅波長帯域S3およびS4で増幅されるパルスレーザ光L1−2〜L1−5それぞれの光強度を大きくすることが可能となる。この結果、図30に示すように、増幅ゲインの大きな増幅波長帯域S2で増幅されたパルスレーザ光L21の光強度と、増幅ゲインの小さな増幅波長帯域S3またはS4で増幅されたパルスレーザ光L22およびL23の光強度とを略等しくすることが可能となる。
このように、1つの増幅波長帯域に対応する波長で発振する半導体レーザの個数は、1つに限らず、複数とすることができる。そこで、各増幅波長帯域S1〜S7に対応させる半導体レーザの個数を適宜選択すれば、増幅後のパルスレーザ光の波長スペクトルプロファイルを種々変形することができる。
また、各半導体レーザ11−1〜11−nの発振波長を増幅波長帯域S1〜S7のいずれかに調整することで、レーザ増幅部25のCOガス増幅媒体25aで増幅されない波長域での発振に消費されるエネルギーを低減できるため、マスターオシレータシステムでの消費電力を小さくすることが可能となる。
その他の構成、動作および効果は、上述の実施の形態またはその変形例と同様であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
・実施の形態16
また、複数の半導体レーザ11−1〜11−nの全てを、1つの増幅波長帯域に対応する波長で発振させてもよい。たとえば図31に示すように、半導体レーザ11−1〜11−3の全てを、増幅波長帯域S2に対応する波長で発振させてもよい。これにより、たとえば図32に示すように、増幅ゲインの大きい増幅波長帯域S2を選択的に用いて効率的にパルスレーザ光を増幅することが可能となる。
なお、実施の形態15および16では、各半導体レーザ11−1〜11−nがシングル縦モードで発振する場合を例に挙げた。ただし、これに限定されるものではない。たとえば半導体レーザ11−1〜11−nのいずれか1つ以上がマルチ縦モードで発振してもよい。この場合、マルチ縦モードによる各発振波長それぞれを、COガス増幅媒体25aのいずれかの増幅波長帯域に対応させるとよい。
・実施の形態17
また、上述した各実施の形態において、複数の半導体レーザ11−1〜11−nは、それぞれ同じタイミングでパルスレーザ光L1−1〜L1−nを出力してもよい。また、各半導体レーザ11−1〜11−nが出力するパルスレーザ光L1−1〜L1−nの光強度は、等しくなくともよい。たとえば、対応する増幅波長帯域S1〜S7の増幅ゲインに応じて、各半導体レーザ11−1〜11−nに入力する電流パルスの強度を適宜変更してもよい。以下では、たとえば図33に示すように、増幅波長帯域S2〜S4に半導体レーザ11−1〜11−3の発振波長を合わせた場合を例に挙げる。
図34は、本実施の形態17による動作を示すタイミングチャートである。まず、図34(a)〜(c)に示すように、各半導体レーザ11−1〜11−3に対しては、同じタイミングt1で発振トリガS31〜S33が与えられる。なお、発振トリガS31〜S33は、各半導体レーザ11−1〜11−3へ電流パルスS41〜S43を入力する電流駆動部(不図示)へ与えられる。電流駆動部は、図34(d)〜(f)に示すように、入力された発振トリガS31〜S33のタイミングt1で、各半導体レーザ11−1〜11−3に対して予め設定された強度または発振トリガS31〜S33の電流強度に相関した強度の電流パルスS41〜S43を各半導体レーザ11−1〜11−3に入力する。すると、各半導体レーザ11−1〜11−3からは、図34(g)〜(i)に示すように、同じタイミングt2にて、各電流パルスS31〜S33の強度に応じた光強度のパルスレーザ光L1−1〜L1−3が出力される。これらのパルスレーザ光L1−1〜L1−3は、合波器12によって合波される。その後、合波後のパルスレーザ光L1−1〜L1−3がレーザ増幅部25によって増幅されることで、図34(j)に示すように、タイミングt3に、重畳されたパルスレーザ光L21〜L23が出力される。ただし、パルスレーザ光L21〜L23の波長は、図35に示すように、それぞれの増幅波長帯域S2〜S4に対応している。
・実施の形態18
また、上述した各実施の形態において、複数の半導体レーザ11−1〜11−nは、それぞれ異なるタイミングでパルスレーザ光L1−1〜L1−nを出力してもよい。たとえば図36(a)〜(c)に示すように、各半導体レーザ11−1〜11−3に与える発振トリガS31〜S33のタイミングを時間TDずつずれたタイミングt11〜T13としてもよい。この場合、図36(d)〜(f)に示すように、各半導体レーザ11−1〜11−3に電流パルスS41〜S43が入力されるタイミングも時間TDずつずれているため、図36(g)〜(i)に示すように、各半導体レーザ11−1〜11−3がパルスレーザ光L1−1〜L1−3を出力するタイミングも時間TDずつずれたタイミングt21〜t23となる。この結果、図36(j)に示すように、合波および増幅後のパルスレーザ光は、時間TDずつずれている増幅後のパルスレーザ光L21〜L23を重畳したパルスレーザ光となる。
その他の構成および動作は、上述の実施の形態またはその変形例と同様であるため、こでは詳細な説明を省略する。
上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図したものである。従って、添付の特許請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかであろう。
本明細書および添付の特許請求の範囲全体で使用される用語は、「限定的ではない」用語と解釈されるべきである。例えば、「含む」又は「含まれる」という用語は、「含まれるものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。「有する」という用語は、「有するものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。また、本明細書および添付の特許請求の範囲に記載される修飾句「1つの」は、「少なくとも1つ」または「1もしくはそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。
1 EUV光生成装置
2 ドライバレーザ
10、10A、10B、10B−1、10C、10D、10E、10F、10G、10H、10I、10J、10K、10L、10M、10N マスターオシレータシステム
11−1〜11−n 半導体レーザ
12 合波器
12A、12B、12B−1、12C、12C−1 合波用グレーティング
12D、12G 凹面型合波用グレーティング
12E、12F DOE
12a 溝
12s 回折面
13 コリメータレンズ
14 集光レンズ
15 光ファイバ
16、17 凹面ミラー
20 再生増幅器
21 偏光ビームスプリッタ
22、27 EOポッケルスセル
23 λ/4板
24、28 共振器ミラー
25 レーザ増幅部
25a、30a、MAa、PAa COガス増幅媒体
26 偏光ビームスプリッタ
30 増幅器
40 EUVチャンバ
41 ウィンドウ
42 EUV集光ミラー
42a 貫通孔
43 EUV露光装置とのインターフェイス
44 隔壁
D ターゲット物質
L 入射光
L1、L1−1〜L1−n レーザ光
L2 合波レーザ光
L2−1、L2−2、L2−3、L2−4 増幅レーザ光
L3 EUV光
M1、M2、M3、M4 高反射ミラー
M5 軸外放物面ミラー
MA メインアンプ
P1 プラズマ生成サイト
P2 中間集光点
PA プレアンプ
R1、R2 リレー光学系

Claims (44)

  1. 回折格子と、
    出力されるレーザ光が前記回折格子に入射し、かつ前記レーザ光それぞれの前記回折格子による異なる次数の回折光の少なくとも1つが所定の方向に進行するように配置される複数の半導体レーザと、
    を備えるレーザ装置。
  2. 前記回折格子は反射型の回折格子である、請求項1記載のレーザ装置。
  3. 前記回折格子は透過型の回折格子である、請求項1記載のレーザ装置。
  4. 前記回折格子には溝が形成されており、
    前記溝は、該溝に入射したレーザ光の回折光と該溝以外の部分に入射した光の回折光との位相差がπとなる深さに形成されている、
    請求項1記載のレーザ装置。
  5. 前記所定の方向は、前記回折格子において前記回折光が出射する面に対して垂直である、請求項1記載のレーザ装置。
  6. 前記所定の方向は、前記回折格子において前記回折光が出射する面に対して傾斜している、請求項1記載のレーザ装置。
  7. 前記複数の半導体レーザは量子カスケードレーザである、請求項1記載のレーザ装置。
  8. 前記回折格子は、該回折格子に広がり角をもって入射するレーザ光の回折光をコリメート化する、請求項1記載のレーザ装置。
  9. 前記回折格子は、該回折格子に入射するレーザ光の回折光を集束させる、請求項1記載のレーザ装置。
  10. 前記回折格子の下流側の前記所定の方向であって前記回折光の実質的に集束位置に、その入力端が配置される光ファイバをさらに備える
    請求項9記載のレーザ装置。
  11. 少なくとも1つの光学素子と、
    前記少なくとも1つの光学素子の実質的に焦点位置に配置される回折格子と、
    出力されるレーザ光が前記少なくとも1つの光学素子に入射し、かつ前記少なくとも1つの光学素子から出射する前記レーザ光が前記回折格子に入射し、かつ前記レーザ光それぞれの前記回折格子による異なる次数の回折光の少なくとも1つが所定の方向に進行するように配置される複数の半導体レーザと、
    を備えるレーザ装置。
  12. 前記回折格子は反射型の回折格子である、請求項11記載のレーザ装置。
  13. 前記回折格子は透過型の回折格子である、請求項11記載のレーザ装置。
  14. 前記少なくとも1つの光学素子はコリメータレンズである、請求項11記載のレーザ装置。
  15. 前記少なくとも1つの光学素子は凹面ミラーである、請求項11記載のレーザ装置。
  16. 前記回折格子には溝が形成されており、
    前記溝は、該溝に入射したレーザ光の回折光と該溝以外の部分に入射した光の回折光との位相差がπとなる深さに形成されている、
    請求項11記載のレーザ装置。
  17. 前記所定の方向は、前記回折格子において前記回折光が出射する面に対して垂直である、請求項11記載のレーザ装置。
  18. 前記所定の方向は、前記回折格子において前記回折光が出射する面に対して傾斜している、請求項11記載のレーザ装置。
  19. 前記複数の半導体レーザは量子カスケードレーザである、請求項11記載のレーザ装置。
  20. 前記回折格子は、該回折格子に広がり角をもって入射するレーザ光の回折光をコリメート化する、請求項11記載のレーザ装置。
  21. 前記回折格子は、該回折格子に入射するレーザ光の回折光を集束させる、請求項11記載のレーザ装置。
  22. 前記回折格子の下流側の前記所定の方向であって前記回折光の実質的に集束位置に、その入力端が配置される光ファイバをさらに備える
    請求項21記載のレーザ装置。
  23. 前記回折格子の下流側の前記所定の方向に配置される集光光学系と、
    前記集光光学系の実質的に焦点位置にその入力端が配置される光ファイバと、
    をさらに備える請求項11記載のレーザ装置。
  24. 少なくとも1つの光学素子と、
    前記少なくとも1つの光学素子の実質的に焦点位置に配置される回折格子と、
    複数の半導体レーザと、
    前記複数の半導体レーザそれぞれの出力端に接続され、出力されるレーザ光が前記少なくとも1つの光学素子に入射し、かつ前記少なくとも1つの光学素子から出射する前記レーザ光が前記回折格子に入射し、かつ前記レーザ光それぞれの前記回折格子による異なる次数の回折光の少なくとも1つが所定の方向に進行するように配置される光ファイバと、
    を備えるレーザ装置。
  25. 前記回折格子は反射型の回折格子である、請求項24記載のレーザ装置。
  26. 前記回折格子は透過型の回折格子である、請求項24記載のレーザ装置。
  27. 前記少なくとも1つの光学素子はコリメータレンズである、請求項24記載のレーザ装置。
  28. 前記少なくとも1つの光学素子は凹面ミラーである、請求項24記載のレーザ装置。
  29. 前記回折格子には溝が形成されており、
    前記溝は、該溝に入射したレーザ光の回折光と該溝以外の部分に入射した光の回折光との位相差がπとなる深さに形成されている、
    請求項24記載のレーザ装置。
  30. 前記所定の方向は、前記回折格子において前記回折光が出射する面に対して垂直である、請求項24記載のレーザ装置。
  31. 前記所定の方向は、前記回折格子において前記回折光が出射する面に対して傾斜している、請求項24記載のレーザ装置。
  32. 前記複数の半導体レーザは量子カスケードレーザである、請求項24記載のレーザ装置。
  33. 前記回折格子は、該回折格子に広がり角をもって入射するレーザ光の回折光をコリメート化する、請求項24記載のレーザ装置。
  34. 前記回折格子は、該回折格子に入射するレーザ光の回折光を集束させる、請求項24記載のレーザ装置。
  35. 前記回折格子の下流側の前記所定の方向であって前記回折光の実質的に集束位置に、その入力端が配置される光ファイバをさらに備える
    請求項34記載のレーザ装置。
  36. 前記回折格子の下流側の前記所定の方向に配置される集光光学系と、
    前記集光光学系の実質的に焦点位置にその入力端が配置される光ファイバと、
    をさらに備える請求項24記載のレーザ装置。
  37. 請求項1〜36いずれか一項記載のレーザ装置と、
    前記レーザ装置の下流側に配置され、前記レーザ装置から出力されるレーザ光を増幅する少なくとも1つの増幅器と、
    を備えるレーザシステム。
  38. 前記少なくとも1つの増幅器は複数の増幅器を含み、
    前記複数の増幅器の少なくとも1つは再生増幅器である、
    請求項37記載のレーザシステム。
  39. 請求項37記載のレーザシステムと、
    前記レーザシステムから出力されるレーザ光を内部に導入するための入射口を有するチャンバと、
    前記レーザ光をチャンバ内の所定の領域に集光させる集光光学系と、
    前記チャンバに設けられ、前記チャンバ内の前記所定の領域にターゲット物質を供給するターゲット供給システムと、
    前記チャンバ内に配置され、前記所定の領域で前記ターゲット物質に前記レーザ光が照射されて放射される所定の波長の光を集光する集光ミラーと、
    を備える極端紫外光生成装置。
  40. 請求項38記載のレーザシステムと、
    前記レーザシステムから出力されるレーザ光を内部に導入するための入射口を有するチャンバと、
    前記レーザ光をチャンバ内の所定の領域に集光させる集光光学系と、
    前記チャンバに設けられ、前記チャンバ内の前記所定の領域にターゲット物質を供給するターゲット供給システムと、
    前記チャンバ内に配置され、前記所定の領域で前記ターゲット物質に前記レーザ光が照射されて放射される所定の波長の光を集光する集光ミラーと、
    を備える極端紫外光生成装置。
  41. 前記複数の半導体レーザの発振するレーザ光の波長が、前記増幅器の複数の増幅波長帯域の少なくとも1つと対応する、
    請求項37記載のレーザシステム。
  42. 前記複数の半導体レーザの少なくとも1つは、前記複数の半導体レーザの他の半導体レーザとは異なる波長のレーザ光を発振する、
    請求項41記載のレーザシステム。
  43. 前記複数の半導体レーザの少なくとも1つは、前記複数の半導体レーザの他の半導体レーザとは異なる強度でレーザ光を出力する、
    請求項41記載のレーザシステム。
  44. 前記複数の半導体レーザの少なくとも1つは、前記複数の半導体レーザの他の半導体レーザとは異なるタイミングでレーザ光をパルス発振する、
    請求項41記載のレーザシステム。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016059893A1 (ja) * 2014-10-15 2016-04-21 株式会社アマダホールディングス 半導体レーザ発振器
JP6223650B1 (ja) * 2017-02-13 2017-11-01 三菱電機株式会社 レーザ発振装置
WO2018173109A1 (ja) * 2017-03-21 2018-09-27 三菱電機株式会社 レーザ発振器及びレーザ加工装置
WO2019163335A1 (ja) * 2018-02-26 2019-08-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 光共振器及びレーザ加工機
US10727648B2 (en) 2018-05-31 2020-07-28 Nichia Corporation Light source device
US11031750B2 (en) 2018-03-28 2021-06-08 Nichia Corporation Light source device
JP7098090B1 (ja) * 2022-01-28 2022-07-08 三菱電機株式会社 レーザ装置およびレーザ加工機
JP7323774B2 (ja) 2019-06-10 2023-08-09 日亜化学工業株式会社 光源装置および外部共振器型レーザモジュール
JP7412662B1 (ja) 2023-07-12 2024-01-12 三菱電機株式会社 レーザ装置およびレーザ加工装置

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5765730B2 (ja) * 2010-03-11 2015-08-19 ギガフォトン株式会社 極端紫外光生成装置
DE102010050947B4 (de) * 2010-11-10 2017-07-13 Ushio Denki Kabushiki Kaisha Verfahren und Anordnung zur Stabilisierung des Quellortes der Erzeugung extrem ultravioletter (EUV-)Strahlung auf Basis eines Entladungsplasmas
JP6054028B2 (ja) 2011-02-09 2016-12-27 ギガフォトン株式会社 レーザ装置および極端紫外光生成システム
US8604452B2 (en) * 2011-03-17 2013-12-10 Cymer, Llc Drive laser delivery systems for EUV light source
CN106471140B (zh) * 2014-07-03 2019-02-05 新日铁住金株式会社 激光加工装置
CN104319619B (zh) * 2014-11-20 2017-06-16 中国科学院理化技术研究所 一种基于衍射光栅的激光光束脉冲时序合成装置
US9525269B2 (en) * 2014-11-22 2016-12-20 TeraDiode, Inc. Wavelength beam combining laser systems utilizing etalons
CN107430269B (zh) * 2015-03-06 2020-10-02 英特尔公司 用于激光束操纵的声光学偏转器和反射镜
US9904068B1 (en) * 2017-01-09 2018-02-27 Asml Netherlands B.V. Reducing an optical power of a reflected light beam
US10048199B1 (en) * 2017-03-20 2018-08-14 Asml Netherlands B.V. Metrology system for an extreme ultraviolet light source
CN107589549B (zh) * 2017-10-19 2023-10-27 四川思创激光科技有限公司 一种光纤激光合成器
WO2019144063A1 (en) * 2018-01-20 2019-07-25 Ntt Docomo, Inc. Light source for projection display
CN114342195A (zh) * 2019-09-06 2022-04-12 松下知识产权经营株式会社 激光振荡装置
US20210305763A1 (en) * 2020-03-24 2021-09-30 David Stucker Composite fiber laser assembly

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0110201A2 (en) * 1982-11-25 1984-06-13 Központi Elelmiszeripari Kutato Intezet Apparatus for providing radiation of controlled spectral composition
JP2003115631A (ja) * 2001-10-04 2003-04-18 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
US20050168819A1 (en) * 2002-04-01 2005-08-04 Santur Corporation Laser and laser signal combiner
WO2005085947A1 (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Nikon Corporation レーザ光源装置、このレーザ光源装置を用いた露光装置及びマスク検査装置
JP2006091285A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Sumitomo Electric Ind Ltd 発光装置
JP2006267457A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Hoya Corp 照明光学系
WO2006116477A2 (en) * 2005-04-25 2006-11-02 Massachusetts Institute Of Technology Multi-wavelength beam combiner
US20070098324A1 (en) * 2005-10-31 2007-05-03 Minebea Co., Ltd Optical multiplexer and projection type display device incorporating same
US20070229939A1 (en) * 2005-01-26 2007-10-04 Aculight Corporation Method and apparatus for spectral-beam combining of fiber-amplified laser beams using high-efficiency dielectric diffractive gratings
JP2010021518A (ja) * 2008-06-12 2010-01-28 Komatsu Ltd スラブ型レーザ装置

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5432607A (en) * 1993-02-22 1995-07-11 International Business Machines Corporation Method and apparatus for inspecting patterned thin films using diffracted beam ellipsometry
US6900916B2 (en) * 1999-03-04 2005-05-31 Fuji Photo Film Co., Ltd. Color laser display apparatus having fluorescent screen scanned with modulated ultraviolet laser light
GB0031463D0 (en) * 2000-12-21 2001-02-07 Univ Southampton Fibre laser
US6755074B2 (en) * 2001-02-27 2004-06-29 Isco, Inc. Liquid chromatographic method and system
US7372056B2 (en) * 2005-06-29 2008-05-13 Cymer, Inc. LPP EUV plasma source material target delivery system
JP5196459B2 (ja) * 2001-07-31 2013-05-15 独立行政法人科学技術振興機構 広帯域波長可変レーザ光発生装置
US6995841B2 (en) * 2001-08-28 2006-02-07 Rice University Pulsed-multiline excitation for color-blind fluorescence detection
US6903379B2 (en) * 2001-11-16 2005-06-07 Gelcore Llc GaN based LED lighting extraction efficiency using digital diffractive phase grating
JP3898042B2 (ja) * 2001-11-30 2007-03-28 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置および光増幅装置
US6983090B2 (en) * 2002-03-21 2006-01-03 Jds Uniphase Inc. High resolution tunable optical filter
US7162113B2 (en) * 2002-10-08 2007-01-09 Infinera Corporation Deployment of electro-optic amplitude varying elements (AVEs) and electro-optic multi-functional elements (MFEs) in photonic integrated circuits (PICs)
JP2007523369A (ja) * 2004-02-04 2007-08-16 マイクロビジョン,インク. 走査ビームヘッドアップ表示装置および関連システム、および方法
US7087914B2 (en) * 2004-03-17 2006-08-08 Cymer, Inc High repetition rate laser produced plasma EUV light source
US7386019B2 (en) * 2005-05-23 2008-06-10 Time-Bandwidth Products Ag Light pulse generating apparatus and method
US7440174B2 (en) * 2006-02-24 2008-10-21 Northrop Grumman Corporation Coherent fiber diffractive optical element beam combiner
JP5086664B2 (ja) * 2007-03-02 2012-11-28 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置
ITFI20070260A1 (it) * 2007-11-21 2009-05-22 Light 4 Tech Firenze S R L Dispositivo per illuminare un oggetto con una sorgente di luce multispettrale e rivelare lo spettro della luce emessa.
US7756169B2 (en) * 2008-01-23 2010-07-13 Northrop Grumman Systems Corporation Diffractive method for control of piston error in coherent phased arrays
US20090273840A1 (en) * 2008-05-02 2009-11-05 Mclaughlin Sheldon Wavelength dispersing device
JP2009289993A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体レーザ素子及び半導体光集積素子
US8536551B2 (en) * 2008-06-12 2013-09-17 Gigaphoton Inc. Extreme ultra violet light source apparatus
JP2010048289A (ja) 2008-08-20 2010-03-04 Akagi:Kk 配管支持具用ボルト伴回り・脱落防止補助具及びそれを用いた配管支持具
JP5536401B2 (ja) * 2008-10-16 2014-07-02 ギガフォトン株式会社 レーザ装置および極端紫外光光源装置
JP5455661B2 (ja) * 2009-01-29 2014-03-26 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置
US8304752B2 (en) * 2009-04-10 2012-11-06 Cymer, Inc. EUV light producing system and method utilizing an alignment laser
JP5048822B2 (ja) 2010-10-04 2012-10-17 大和製衡株式会社 計量装置の異常検出方法及び計量装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0110201A2 (en) * 1982-11-25 1984-06-13 Központi Elelmiszeripari Kutato Intezet Apparatus for providing radiation of controlled spectral composition
JP2003115631A (ja) * 2001-10-04 2003-04-18 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
US20050168819A1 (en) * 2002-04-01 2005-08-04 Santur Corporation Laser and laser signal combiner
WO2005085947A1 (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Nikon Corporation レーザ光源装置、このレーザ光源装置を用いた露光装置及びマスク検査装置
JP2006091285A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Sumitomo Electric Ind Ltd 発光装置
US20070229939A1 (en) * 2005-01-26 2007-10-04 Aculight Corporation Method and apparatus for spectral-beam combining of fiber-amplified laser beams using high-efficiency dielectric diffractive gratings
JP2006267457A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Hoya Corp 照明光学系
WO2006116477A2 (en) * 2005-04-25 2006-11-02 Massachusetts Institute Of Technology Multi-wavelength beam combiner
US20070098324A1 (en) * 2005-10-31 2007-05-03 Minebea Co., Ltd Optical multiplexer and projection type display device incorporating same
JP2010021518A (ja) * 2008-06-12 2010-01-28 Komatsu Ltd スラブ型レーザ装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016059893A1 (ja) * 2014-10-15 2016-04-21 株式会社アマダホールディングス 半導体レーザ発振器
US10840670B2 (en) 2017-02-13 2020-11-17 Mitsubishi Electric Corporation Laser oscillator
JP6223650B1 (ja) * 2017-02-13 2017-11-01 三菱電機株式会社 レーザ発振装置
WO2018146819A1 (ja) * 2017-02-13 2018-08-16 三菱電機株式会社 レーザ発振装置
WO2018173109A1 (ja) * 2017-03-21 2018-09-27 三菱電機株式会社 レーザ発振器及びレーザ加工装置
JPWO2018173109A1 (ja) * 2017-03-21 2019-03-28 三菱電機株式会社 レーザ発振器及びレーザ加工装置
JPWO2019163335A1 (ja) * 2018-02-26 2021-03-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 光共振器及びレーザ加工機
WO2019163335A1 (ja) * 2018-02-26 2019-08-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 光共振器及びレーザ加工機
US11031750B2 (en) 2018-03-28 2021-06-08 Nichia Corporation Light source device
US11664641B2 (en) 2018-03-28 2023-05-30 Nichia Corporation Light source device
US10727648B2 (en) 2018-05-31 2020-07-28 Nichia Corporation Light source device
US10998698B2 (en) 2018-05-31 2021-05-04 Nichia Corporation Light source device
JP7323774B2 (ja) 2019-06-10 2023-08-09 日亜化学工業株式会社 光源装置および外部共振器型レーザモジュール
JP7098090B1 (ja) * 2022-01-28 2022-07-08 三菱電機株式会社 レーザ装置およびレーザ加工機
WO2023144995A1 (ja) * 2022-01-28 2023-08-03 三菱電機株式会社 レーザ装置およびレーザ加工機
JP7412662B1 (ja) 2023-07-12 2024-01-12 三菱電機株式会社 レーザ装置およびレーザ加工装置

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