JP2011135056A - 半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造システム - Google Patents
半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造システム Download PDFInfo
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Abstract
【課題】位置認識用のマークをチップに形成する技術における各種の弊害を無くす。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、複数の半導体チップ2が形成された半導体ウエハ1をダイシングシート3を介して保持リング4により保持させ、半導体ウエハ1をダイシングにより個片化する工程を有する。更に、ダイシングシート3において半導体ウエハ1の外側に位置する部分に、位置認識用のマーク(位置認識用マーク5)を形成する工程を有する。
【選択図】図1
【解決手段】半導体装置の製造方法は、複数の半導体チップ2が形成された半導体ウエハ1をダイシングシート3を介して保持リング4により保持させ、半導体ウエハ1をダイシングにより個片化する工程を有する。更に、ダイシングシート3において半導体ウエハ1の外側に位置する部分に、位置認識用のマーク(位置認識用マーク5)を形成する工程を有する。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造システムに関する。
半導体ウエハ(以下、ウエハ)のダイシングは、例えば、ウエハが貼り付けられたダイシングシート(ダイシングテープ)を保持リングによって保持した状態で、ウエハを縦横に切断することによって行う。
このダイシングによって個片化された半導体チップ(以下、チップ)のうち、良品チップは、ピックアップ装置によってピックアップされて、例えば、直接半導体パッケージに組み込まれたり、或いは、トレイ上に移載されたりする。
ピックアップ装置によるピックアップは、ウエハ毎に予め生成されたデータファイルを用いて行われる。このデータファイルは、ウエハ上における良品チップ及び不良品チップのそれぞれの位置情報を含んでいる。
このデータファイルを用いたピックアップを行うには、先ず、複数のチップのうち、基準となるターゲットチップの位置を判定する。
次に、このターゲットチップの位置を基準として、所望の良品チップ(ターゲットチップ或いはその他のチップ)のピックアップを順次に行う。
次に、このターゲットチップの位置を基準として、所望の良品チップ(ターゲットチップ或いはその他のチップ)のピックアップを順次に行う。
ターゲットチップを認識するための技術としては、ターゲットチップに位置認識用のマークを形成する技術がある(例えば、特許文献1、2)。
このうち特許文献1には、ウエハ上に形成したフォトレジストを露光及び現像することにより、該ウエハ上にフォトレジストパターンを形成し、このパターンを基準として良品チップの位置を識別することが記載されている。
また、特許文献2には、ウエハ上の所定のチップにアルミニウム蒸着によりアルミニウムパターンを形成し、これを識別マークとすることが記載されている。特許文献2には、他に、半田付けや樹脂付けの処理を施したり、或いは、印刷やシール貼りといった方法で識別マークを形成したりすることが記載されている。
このうち特許文献1には、ウエハ上に形成したフォトレジストを露光及び現像することにより、該ウエハ上にフォトレジストパターンを形成し、このパターンを基準として良品チップの位置を識別することが記載されている。
また、特許文献2には、ウエハ上の所定のチップにアルミニウム蒸着によりアルミニウムパターンを形成し、これを識別マークとすることが記載されている。特許文献2には、他に、半田付けや樹脂付けの処理を施したり、或いは、印刷やシール貼りといった方法で識別マークを形成したりすることが記載されている。
しかしながら、特許文献1、2のようにウエハ上のチップに位置認識用のマークを形成する技術においては、製品となる各チップのバンプに電解メッキを施す場合、マークが形成されたチップにはバンプが設けられないため、マークが形成されたチップの周囲においては、他の部分とは異なる電流密度となる。その結果、マークが形成されたチップの周囲のチップのバンプにはメッキが正常に成長しない場合がある。
また、ウエハ表面から盛り上がるマーク(フォトレジストパターン、アルミニウムパターン、印刷、シール等)を形成する場合、ウエハを裏面研磨(バックグラインド)する場合にマークを起点としてウエハが割れる場合がある。
また、マークによる汚染のために、マークが形成されたチップの周囲のチップが不良チップとなることがある。
また、マークが形成されたチップは製品として利用することができない。
また、ウエハ表面から盛り上がるマーク(フォトレジストパターン、アルミニウムパターン、印刷、シール等)を形成する場合、ウエハを裏面研磨(バックグラインド)する場合にマークを起点としてウエハが割れる場合がある。
また、マークによる汚染のために、マークが形成されたチップの周囲のチップが不良チップとなることがある。
また、マークが形成されたチップは製品として利用することができない。
このように、位置認識用のマークをチップに形成する技術には弊害がある。
本発明は、複数の半導体チップが形成された半導体ウエハをダイシングシート上に保持し、前記半導体ウエハをダイシングにより個片化する第1工程と、
前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に、位置認識用のマークを形成する第2工程と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法を提供する。
前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に、位置認識用のマークを形成する第2工程と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法を提供する。
この半導体装置の製造方法によれば、ダイシングシートにおいて半導体ウエハの外側に位置する部分に位置認識用のマークを形成する。よって、半導体チップには位置認識用のマークを形成する必要がなくなるので、位置認識用のマークをチップに形成する技術における各種の弊害を無くすことができる。
また、本発明は、複数の半導体チップが形成されダイシングシート上に保持された半導体ウエハをダイシングするダイシング部と、
前記ダイシング部により、前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に位置認識用のマークを形成させるダイシング制御部と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造装置を提供する。
前記ダイシング部により、前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に位置認識用のマークを形成させるダイシング制御部と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造装置を提供する。
また、本発明は、複数の半導体チップが形成されダイシングシート上に保持された半導体ウエハをダイシングするダイシング部と、
前記ダイシング部により、前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に位置認識用のマークを形成させるダイシング制御部と、
前記マークの位置を認識するマーク認識部と、
前記マークと、前記複数の半導体チップのうち基準となる半導体チップであるターゲットチップと、の位置関係の情報を記憶している記憶部と、
前記記憶部に記憶されている情報と、前記マーク認識部により認識された位置と、に基づいて、前記ターゲットチップの位置を判定するターゲットチップ判定部と、
前記判定された前記ターゲットチップの位置を基準として、所望の前記半導体チップをピックアップするピックアップ部と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造システムを提供する。
前記ダイシング部により、前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に位置認識用のマークを形成させるダイシング制御部と、
前記マークの位置を認識するマーク認識部と、
前記マークと、前記複数の半導体チップのうち基準となる半導体チップであるターゲットチップと、の位置関係の情報を記憶している記憶部と、
前記記憶部に記憶されている情報と、前記マーク認識部により認識された位置と、に基づいて、前記ターゲットチップの位置を判定するターゲットチップ判定部と、
前記判定された前記ターゲットチップの位置を基準として、所望の前記半導体チップをピックアップするピックアップ部と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造システムを提供する。
本発明によれば、半導体チップには位置認識用のマークを形成する必要がなくなるので、位置認識用のマークをチップに形成する技術における各種の弊害を無くすことができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。なお、すべての図面において、同様の構成要素には同一の符号を付し、適宜に説明を省略する。
図1は実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明するための図であり、ダイシングにより半導体チップ2(以下、チップ2)を個片化するとともにダイシングシート3に位置認識用マーク5を形成した状態を示す平面図である。図2は実施形態に係る半導体装置の製造装置としてのダイシング装置60の構成を示すブロック図である。図3は実施形態に係る半導体装置の製造システム100の構成を示すブロック図である。図4はピックアップ装置70の構成を示すブロック図である。図5は複数のチップ2が形成された半導体ウエハ1(以下、ウエハ1)を示す平面図である。図6はウエハ1をダイシングシート3を介して保持リング4により保持した状態を示す平面図である。
本実施形態に係る半導体装置の製造装置(ダイシング装置60)は、複数のチップ2が形成されダイシングシート3上に保持されたウエハ1をダイシングするダイシング部10を有している。更に、ダイシング部10により、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用のマーク(位置認識用マーク5)を形成させるダイシング制御部41を有している。
また、本実施形態に係る半導体装置の製造システム100は、複数のチップ2が形成されダイシングシート3上に保持されたウエハ1をダイシングするダイシング部10を有している。更に、ダイシング部10により、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用のマーク(位置認識用マーク5)を形成させるダイシング制御部41を有している。更に、マークの位置を認識するマーク認識部42aを有している。更に、マークと、複数のチップ2のうち基準となるチップであるターゲットチップ(例えば、図1のチップ2a)と、の位置関係の情報を記憶している記憶部42cを有している。更に、記憶部42cに記憶されている情報と、マーク認識部42aにより認識された位置と、に基づいて、ターゲットチップの位置を判定するターゲットチップ判定部42bを有している。更に、判定されたターゲットチップの位置を基準として、所望のチップ2をピックアップするピックアップ部30を有している。
以下、詳細に説明する。
また、本実施形態に係る半導体装置の製造システム100は、複数のチップ2が形成されダイシングシート3上に保持されたウエハ1をダイシングするダイシング部10を有している。更に、ダイシング部10により、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用のマーク(位置認識用マーク5)を形成させるダイシング制御部41を有している。更に、マークの位置を認識するマーク認識部42aを有している。更に、マークと、複数のチップ2のうち基準となるチップであるターゲットチップ(例えば、図1のチップ2a)と、の位置関係の情報を記憶している記憶部42cを有している。更に、記憶部42cに記憶されている情報と、マーク認識部42aにより認識された位置と、に基づいて、ターゲットチップの位置を判定するターゲットチップ判定部42bを有している。更に、判定されたターゲットチップの位置を基準として、所望のチップ2をピックアップするピックアップ部30を有している。
以下、詳細に説明する。
図2に示すように、実施形態に係る半導体装置の製造装置としてのダイシング装置60は、例えば、ダイシング部10と、ダイシング制御部41と、を有している。
ダイシング部10は、例えば、ダイシングを行うダイシングブレード11と、ダイシングブレード11を回転させる回転機構12と、ダイシングブレード11を昇降させる昇降機構13と、を有している。
回転機構12は、ダイシングブレード11を回転可能とさせる機械的機構と、ダイシングブレード11を回転駆動させるモータ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。ダイシングブレード11は、該ダイシングブレード11の盤面方向が上下方向となり、且つ、その盤面に直交する軸を回転軸として回転可能となるように、回転機構12の機械的機構により保持されている。
昇降機構13は、ダイシングブレード11を昇降可能とさせる機械的機構と、ダイシングブレード11を昇降させるモータ或いはシリンダ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
更に、ダイシング部10は、例えば、ダイシングの際にウエハ1が載置されるステージ15と、ステージ15を回転させる回転機構16と、ステージ15を移動させる移動機構17と、を有している。
ステージ15は、保持リング4によって保持されたウエハ1(図1)を該ステージ15の上面に載置可能となっている。
回転機構16は、ステージ15を水平面内で回転可能とさせる機械的機構と、ステージ15を回転駆動させるモータ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
移動機構17は、ステージ15を横方向(図1のX方向)に直線移動させる横移動機構と、ステージ15を縦方向(図1のY方向)に直線移動させる縦移動機構と、を有している。横移動機構及び縦移動機構は、それぞれ、ステージ15を移動可能とさせる機械的機構と、ステージ15を移動させるモータ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
ダイシング制御部41は、ダイシング部10の回転機構12、昇降機構13、回転機構16及び移動機構17の動作制御を行う。
ダイシング部10は、例えば、ダイシングを行うダイシングブレード11と、ダイシングブレード11を回転させる回転機構12と、ダイシングブレード11を昇降させる昇降機構13と、を有している。
回転機構12は、ダイシングブレード11を回転可能とさせる機械的機構と、ダイシングブレード11を回転駆動させるモータ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。ダイシングブレード11は、該ダイシングブレード11の盤面方向が上下方向となり、且つ、その盤面に直交する軸を回転軸として回転可能となるように、回転機構12の機械的機構により保持されている。
昇降機構13は、ダイシングブレード11を昇降可能とさせる機械的機構と、ダイシングブレード11を昇降させるモータ或いはシリンダ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
更に、ダイシング部10は、例えば、ダイシングの際にウエハ1が載置されるステージ15と、ステージ15を回転させる回転機構16と、ステージ15を移動させる移動機構17と、を有している。
ステージ15は、保持リング4によって保持されたウエハ1(図1)を該ステージ15の上面に載置可能となっている。
回転機構16は、ステージ15を水平面内で回転可能とさせる機械的機構と、ステージ15を回転駆動させるモータ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
移動機構17は、ステージ15を横方向(図1のX方向)に直線移動させる横移動機構と、ステージ15を縦方向(図1のY方向)に直線移動させる縦移動機構と、を有している。横移動機構及び縦移動機構は、それぞれ、ステージ15を移動可能とさせる機械的機構と、ステージ15を移動させるモータ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
ダイシング制御部41は、ダイシング部10の回転機構12、昇降機構13、回転機構16及び移動機構17の動作制御を行う。
図3に示すように、本実施形態に係る半導体装置の製造システム100は、上述のダイシング装置60と、チップ2のピックアップを行うピックアップ装置70と、を有している。
図4に示すように、ピックアップ装置70は、ダイシングシート3及びチップ2を撮像する撮像部20と、画像処理部42と、チップ2をピックアップするピックアップ部30と、ピックアップ用のステージ(図示略)と、を有している。
撮像部20は、ダイシング後にダイシングシート3及びチップ2を撮像して画像を取得し、その画像を画像処理部42に送る。
画像処理部42は、撮像部20による撮像結果に基づいて画像処理を行う。
この画像処理部42は、例えば、マーク認識部42aと、ターゲットチップ判定部42bと、記憶部42cと、を有している。このうちマーク認識部42aは、撮像部20による撮像結果に基づいて、位置認識用マーク5の位置を認識する。また、記憶部42cは、位置認識用マーク5と、複数のチップ2のうち基準となるチップであるターゲットチップ(例えば、図1のチップ2a)と、の位置関係の情報を記憶保持している。また、ターゲットチップ判定部42bは、記憶部42cに記憶されている情報と、マーク認識部42aにより認識された位置認識用マーク5の位置と、に基づいて、ターゲットチップの位置を判定する。
画像処理部42は、撮像部20による撮像結果に基づいて画像処理を行う。
この画像処理部42は、例えば、マーク認識部42aと、ターゲットチップ判定部42bと、記憶部42cと、を有している。このうちマーク認識部42aは、撮像部20による撮像結果に基づいて、位置認識用マーク5の位置を認識する。また、記憶部42cは、位置認識用マーク5と、複数のチップ2のうち基準となるチップであるターゲットチップ(例えば、図1のチップ2a)と、の位置関係の情報を記憶保持している。また、ターゲットチップ判定部42bは、記憶部42cに記憶されている情報と、マーク認識部42aにより認識された位置認識用マーク5の位置と、に基づいて、ターゲットチップの位置を判定する。
ピックアップ部30は、個片化されたチップ2をピックアップするピックアップアーム32と、このピックアップアーム32を移動させる移動機構31と、移動機構31の動作制御を行うピックアップ制御部43と、を有している。
このうち移動機構31は、ピックアップアーム32を移動可能とさせる機械的機構と、ピックアップアーム32を移動させるモータ或いはシリンダ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
このうち移動機構31は、ピックアップアーム32を移動可能とさせる機械的機構と、ピックアップアーム32を移動させるモータ或いはシリンダ等のアクチュエータと、を有している(何れも図示略)。
更に、ピックアップ部30は、予めウエハ1毎に生成されたデータファイルを記憶保持しているデータファイル記憶部44を有している。このデータファイルは、各ウエハ1上における良品チップ(良品のチップ2)及び不良品チップ(不良品のチップ2)のそれぞれの位置情報を含んでいる。
ピックアップ制御部43は、所望のチップ(例えば良品チップ)をピックアップアーム32によりピックアップさせる制御を、移動機構31に対して行う。この際、ピックアップ制御部43は、データファイル記憶部44に記憶されているデータファイルを用いる。
ピックアップ制御部43は、所望のチップ(例えば良品チップ)をピックアップアーム32によりピックアップさせる制御を、移動機構31に対して行う。この際、ピックアップ制御部43は、データファイル記憶部44に記憶されているデータファイルを用いる。
なお、ダイシング制御部41、画像処理部42及びピックアップ制御部43は、それぞれ所定のプログラムに従って動作制御或いは画像処理を行う。
次に、本実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明する。
本実施形態に係る半導体装置の製造方法は、複数のチップ2が形成されたウエハ1をダイシングシート3上に保持し、ウエハ1をダイシングにより個片化する第1工程を有する。更に、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に、位置認識用のマーク(位置認識用マーク5)を形成する第2工程を有する。
以下、詳細に説明する。
以下、詳細に説明する。
先ず、例えば図5に示すようなウエハ1を準備する。このウエハ1には、複数のチップ2がマトリクス状に形成されている。このウエハ1には格子状にスクライブライン領域6が形成されている。
次に、図6に示すように、ウエハ1をダイシングシート3の中央部に貼り付け、更に、このダイシングシート3を保持リング4により保持した状態とする。
次に、図1に示すように、ダイシングを行うとともに、ダイシングシート3に位置認識用マーク5を形成する。
すなわち、上述のダイシング装置60のダイシング部10のダイシングブレード11によって、スクライブライン領域6(図6参照)に沿ってウエハ1を縦横に切断することにより、ダイシングを行う。このダイシングにより、図1に示すように、ウエハ1が個々のチップ2に個片化されるとともに、複数のカットライン7が格子状にウエハ1及びダイシングシート3に形成される。
すなわち、上述のダイシング装置60のダイシング部10のダイシングブレード11によって、スクライブライン領域6(図6参照)に沿ってウエハ1を縦横に切断することにより、ダイシングを行う。このダイシングにより、図1に示すように、ウエハ1が個々のチップ2に個片化されるとともに、複数のカットライン7が格子状にウエハ1及びダイシングシート3に形成される。
ダイシングは、ウエハ1をステージ15上に載置し、回転機構12によってダイシングブレード11を回転させながら、移動機構17によってステージ15を縦横(X方向及びY方向)に移動させることによって行う。
ここで、ダイシング時の動作をより具体的に説明する。
例えば、先ず、図6の左端においてY方向に延在するスクライブライン領域6yaに沿ってダイシングを行うには、ダイシングブレード11の向きがスクライブライン領域6yaに沿った向きとなるようにステージ15を回転させ、且つ、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6yaの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な高さに下降させ、更に、ダイシングブレード11が、ウエハ1に対して相対的に、スクライブライン領域6yaに沿ってY方向に移動するように、ステージ15をY方向に移動させる。
次に、図6においてスクライブライン領域6yaの右隣でY方向に延在するスクライブライン領域6ybに沿ってダイシングを行うには、先ず、一旦ダイシングブレード11をウエハ1よりも上に上昇させた後、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6ybの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な高さに下降させ、更に、ダイシングブレード11がウエハ1に対して相対的にスクライブライン領域6ybに沿ってY方向に移動するように、ステージ15をY方向に移動させる。
以下、同様に、順次、右隣のスクライブライン領域6を切断する。また、右端のスクライブライン領域6ynまで切断し終えたら、今度は、X方向に延在するスクライブライン領域6の切断を順次に行う。
例えば、先ず、図6の上端においてX方向に延在するスクライブライン領域6xaに沿ってダイシングを行うには、一旦ダイシングブレード11をウエハ1よりも上に上昇させた後、ダイシングブレード11の向きがスクライブライン領域6xaに沿った向きとなるようにステージ15を回転させ、且つ、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6xaの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な高さに下降させ、更に、ダイシングブレード11がウエハ1に対して相対的にスクライブライン領域6xaに沿ってX方向に移動するように、ステージ15をX方向に移動させる。
次に、図6においてスクライブライン領域6xaの下隣でX方向に延在するスクライブライン領域6xbに沿ってダイシングを行うには、先ず、一旦ダイシングブレード11をウエハ1よりも上に上昇させた後、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6xbの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な位置に下降させ、更に、ダイシングブレード11がウエハ1に対して相対的にスクライブライン領域6xbに沿ってX方向に移動するように、ステージ15をX方向に移動させる。
以下、同様に、順次、下隣のスクライブライン領域6を切断する。下端のスクライブライン領域6xnまで切断し終えることにより、ダイシングが終了する。
ここで、ダイシング時の動作をより具体的に説明する。
例えば、先ず、図6の左端においてY方向に延在するスクライブライン領域6yaに沿ってダイシングを行うには、ダイシングブレード11の向きがスクライブライン領域6yaに沿った向きとなるようにステージ15を回転させ、且つ、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6yaの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な高さに下降させ、更に、ダイシングブレード11が、ウエハ1に対して相対的に、スクライブライン領域6yaに沿ってY方向に移動するように、ステージ15をY方向に移動させる。
次に、図6においてスクライブライン領域6yaの右隣でY方向に延在するスクライブライン領域6ybに沿ってダイシングを行うには、先ず、一旦ダイシングブレード11をウエハ1よりも上に上昇させた後、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6ybの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な高さに下降させ、更に、ダイシングブレード11がウエハ1に対して相対的にスクライブライン領域6ybに沿ってY方向に移動するように、ステージ15をY方向に移動させる。
以下、同様に、順次、右隣のスクライブライン領域6を切断する。また、右端のスクライブライン領域6ynまで切断し終えたら、今度は、X方向に延在するスクライブライン領域6の切断を順次に行う。
例えば、先ず、図6の上端においてX方向に延在するスクライブライン領域6xaに沿ってダイシングを行うには、一旦ダイシングブレード11をウエハ1よりも上に上昇させた後、ダイシングブレード11の向きがスクライブライン領域6xaに沿った向きとなるようにステージ15を回転させ、且つ、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6xaの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な高さに下降させ、更に、ダイシングブレード11がウエハ1に対して相対的にスクライブライン領域6xaに沿ってX方向に移動するように、ステージ15をX方向に移動させる。
次に、図6においてスクライブライン領域6xaの下隣でX方向に延在するスクライブライン領域6xbに沿ってダイシングを行うには、先ず、一旦ダイシングブレード11をウエハ1よりも上に上昇させた後、ダイシングブレード11がスクライブライン領域6xbの一端部の上方に位置するようにステージ15を移動させる。その後、ダイシングブレード11を回転させながらウエハ1の切断が可能な位置に下降させ、更に、ダイシングブレード11がウエハ1に対して相対的にスクライブライン領域6xbに沿ってX方向に移動するように、ステージ15をX方向に移動させる。
以下、同様に、順次、下隣のスクライブライン領域6を切断する。下端のスクライブライン領域6xnまで切断し終えることにより、ダイシングが終了する。
ここで、図1に示すように、複数のカットライン7のうち一部のカットライン7aがウエハ1の外側へ向けて延長するように、ダイシングを行う。
より具体的には、例えば、Y方向に延在するカットライン7aと、X方向に延在するカットライン7aとが、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分で互いに交差した状態となるように、ダイシングを行う。本実施形態の場合、このようにカットライン7aの交差部によりダイシングシート3に形成される十字型のマークを位置認識用マーク5とする。
ここで、複数の位置認識用マーク5が互いに近接していると位置認識用マーク5の識別性が低下するため、位置認識用マーク5は互いに離間するようにする。例えば、図1に示すように、ウエハ1の中央を中心として約90度間隔の位置にそれぞれ位置認識用マーク5を形成することが挙げられる。ただし、位置認識用マーク5は、1つ以上有れば良いため、例えば、図1の右上の位置認識用マーク5だけを形成しても良い。
なお、複数のカットライン7のうち、延長されるカットライン7a以外のカットライン7bについては、それらの端部がウエハ1の外周の近傍に位置するように(ウエハ1の外周の近傍で終端するように)、ダイシングを行う。これにより、カットライン7bはウエハ1の外側(ダイシングシート3の余白)において他のカットライン7(カットライン7b及びカットライン7a)と交差しないようにする。よって、十字形の位置認識用マーク5は、ダイシングシート3の余白において特徴的な形状となり、その認識が容易になる。
より具体的には、例えば、Y方向に延在するカットライン7aと、X方向に延在するカットライン7aとが、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分で互いに交差した状態となるように、ダイシングを行う。本実施形態の場合、このようにカットライン7aの交差部によりダイシングシート3に形成される十字型のマークを位置認識用マーク5とする。
ここで、複数の位置認識用マーク5が互いに近接していると位置認識用マーク5の識別性が低下するため、位置認識用マーク5は互いに離間するようにする。例えば、図1に示すように、ウエハ1の中央を中心として約90度間隔の位置にそれぞれ位置認識用マーク5を形成することが挙げられる。ただし、位置認識用マーク5は、1つ以上有れば良いため、例えば、図1の右上の位置認識用マーク5だけを形成しても良い。
なお、複数のカットライン7のうち、延長されるカットライン7a以外のカットライン7bについては、それらの端部がウエハ1の外周の近傍に位置するように(ウエハ1の外周の近傍で終端するように)、ダイシングを行う。これにより、カットライン7bはウエハ1の外側(ダイシングシート3の余白)において他のカットライン7(カットライン7b及びカットライン7a)と交差しないようにする。よって、十字形の位置認識用マーク5は、ダイシングシート3の余白において特徴的な形状となり、その認識が容易になる。
このように、ダイシングを行うとともにダイシングシート3に位置認識用マーク5を形成することにより、図1に示す状態となる。
次に、ピックアップ装置70の動作について説明する。
まず、上述のようにダイシングと位置認識用マーク5の形成とを終えた後で、ダイシングシート3と該ダイシングシート3上のチップ2とを、ピックアップ用のステージ(図示略)上に載置する。
次に、位置認識用マーク5の認識を行う。
このためには、先ず、ダイシングシート3及び個片化されたチップ2を撮像部20により撮像する。この撮像により得られた画像は撮像部20から画像処理部42に送られる。画像処理部42のマーク認識部42aは、この画像の中から、画像認識により十字形のマーク、すなわち位置認識用マーク5を探索し、更に、その位置を認識する。
なお、ここでは、例えば、図1の右上の位置認識用マーク5の位置を認識するものとする。
まず、上述のようにダイシングと位置認識用マーク5の形成とを終えた後で、ダイシングシート3と該ダイシングシート3上のチップ2とを、ピックアップ用のステージ(図示略)上に載置する。
次に、位置認識用マーク5の認識を行う。
このためには、先ず、ダイシングシート3及び個片化されたチップ2を撮像部20により撮像する。この撮像により得られた画像は撮像部20から画像処理部42に送られる。画像処理部42のマーク認識部42aは、この画像の中から、画像認識により十字形のマーク、すなわち位置認識用マーク5を探索し、更に、その位置を認識する。
なお、ここでは、例えば、図1の右上の位置認識用マーク5の位置を認識するものとする。
次に、ターゲットチップ(例えば、図1のチップ2a)の位置の判定を行う。
すなわち、ターゲットチップ判定部42bは、先ず、複数のチップ2のうちの何れのチップ2がピックアップの際の基準となるターゲットチップであるのかを、マーク認識部42aにより認識された位置認識用マーク5の位置に基づいて画像処理により判定する。
ここで、位置認識用マーク5とターゲットチップとの位置関係は、上述のように、記憶部42cに記憶されている。例えば、位置認識用マーク5を形成するY方向のカットライン7aを基準として−X方向に4つ目の縦列に含まれるチップ2であって、且つ、位置認識用マーク5を形成するX方向のカットライン7aを基準として−Y方向に1つ目の横列に含まれるチップ2がターゲットチップであるという情報が記憶されているとする。この場合、ターゲットチップ判定部42bは、図1のチップ2aがターゲットチップであることを認識することができる。なお、複数のチップ2のうちの任意のチップをターゲットチップとすることができ、例えば、図1のチップ2bのように、何れのカットライン7aとも接していないチップ2もターゲットチップとすることができる。ただし、ターゲットチップは、位置認識用マーク5の位置に基づいて容易に判別できるチップ2であることが好ましい。このため、ターゲットチップは、ウエハ1の最外周の近傍のチップ2とすることが好ましい。
次に、ターゲットチップ判定部42bは、ターゲットチップとして認識したチップ2aの位置を判定し、その位置データをピックアップ制御部43に送る。
すなわち、ターゲットチップ判定部42bは、先ず、複数のチップ2のうちの何れのチップ2がピックアップの際の基準となるターゲットチップであるのかを、マーク認識部42aにより認識された位置認識用マーク5の位置に基づいて画像処理により判定する。
ここで、位置認識用マーク5とターゲットチップとの位置関係は、上述のように、記憶部42cに記憶されている。例えば、位置認識用マーク5を形成するY方向のカットライン7aを基準として−X方向に4つ目の縦列に含まれるチップ2であって、且つ、位置認識用マーク5を形成するX方向のカットライン7aを基準として−Y方向に1つ目の横列に含まれるチップ2がターゲットチップであるという情報が記憶されているとする。この場合、ターゲットチップ判定部42bは、図1のチップ2aがターゲットチップであることを認識することができる。なお、複数のチップ2のうちの任意のチップをターゲットチップとすることができ、例えば、図1のチップ2bのように、何れのカットライン7aとも接していないチップ2もターゲットチップとすることができる。ただし、ターゲットチップは、位置認識用マーク5の位置に基づいて容易に判別できるチップ2であることが好ましい。このため、ターゲットチップは、ウエハ1の最外周の近傍のチップ2とすることが好ましい。
次に、ターゲットチップ判定部42bは、ターゲットチップとして認識したチップ2aの位置を判定し、その位置データをピックアップ制御部43に送る。
次に、ピックアップ部30のピックアップアーム32により、良品のチップ2を順次にピックアップする。
このピックアップ動作は、ダイシングシート3とダイシングシート3上のチップ2とをピックアップ用のステージ(図示略)上に載置した状態で行う。
このピックアップ動作の制御は、ピックアップ制御部43が、データファイル記憶部44に記憶されているデータファイルのうちピックアップ対象のウエハ1と対応するデータファイルを用いて行う。
すなわち、ピックアップ制御部43は、ターゲットチップ判定部42bから取得したターゲットチップの位置情報と、このデータファイルに含まれる良品チップの位置情報と、を用いて、移動機構31の動作制御を行う。この制御により、ピックアップアーム32は、良品のチップ2を順次にピックアップする。すなわち、ピックアップ制御部43は、ピックアップアーム32に所望のチップ2をピックアップさせる制御を、ターゲットチップの位置を基準として行う。
なお、ピックアップアーム32は、例えば、チップトレイ50(図4)にチップ2を収納したり、或いは、チップ2を直接半導体パッケージ(図示略)に搭載したり(組み込んだり)する。
このピックアップ動作は、ダイシングシート3とダイシングシート3上のチップ2とをピックアップ用のステージ(図示略)上に載置した状態で行う。
このピックアップ動作の制御は、ピックアップ制御部43が、データファイル記憶部44に記憶されているデータファイルのうちピックアップ対象のウエハ1と対応するデータファイルを用いて行う。
すなわち、ピックアップ制御部43は、ターゲットチップ判定部42bから取得したターゲットチップの位置情報と、このデータファイルに含まれる良品チップの位置情報と、を用いて、移動機構31の動作制御を行う。この制御により、ピックアップアーム32は、良品のチップ2を順次にピックアップする。すなわち、ピックアップ制御部43は、ピックアップアーム32に所望のチップ2をピックアップさせる制御を、ターゲットチップの位置を基準として行う。
なお、ピックアップアーム32は、例えば、チップトレイ50(図4)にチップ2を収納したり、或いは、チップ2を直接半導体パッケージ(図示略)に搭載したり(組み込んだり)する。
以上のような実施形態によれば、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用マーク5を形成する。よって、チップ2には位置認識用マーク5を形成しなくても、複数のチップ2のうちピックアップの際に基準となるチップ2であるターゲットチップ(例えば、チップ2a)の位置を判定することができる。このため、位置認識用マーク5をチップ2に形成する技術における各種の弊害を無くすことができる。
また、ウエハ1を各チップ2に個片化するダイシングを行うダイシング部10(ダイシング装置)によってダイシングシート3にカットライン7を形成することにより、位置認識用マーク5を形成する。このため、位置認識用マーク5の形成用の装置を追加することなく、位置認識用マーク5を形成することができる。
また、ウエハ1のダイシングにより形成される複数のカットライン7のうちの一部のカットライン7aをウエハ1の外側へ向けて延長することによって位置認識用マーク5を形成するので、特段の工程を追加することなく位置認識用マーク5を形成することができる。
また、位置認識用マーク5を形成する一部のカットライン7aの端部は、当該カットライン7aの隣のカットライン7bの端部よりも外側に位置しているので、カットライン7aの判別、ひいては位置認識用マーク5の判別を容易に行うことができる。
また、位置認識用マーク5は、縦方向に延在するカットライン7aと、横方向に延在するカットライン7aと、が交差することにより形成される十字型のマークであるので、位置認識用マーク5の識別性を高め、その誤認識の可能性を低減させることができる。
なお、例えば、位置認識用マーク5として、後述する変形例2のように、単に、カットライン7aを隣のカットライン7bよりも延長しただけのものも考えられる。しかし、この場合、ピックアップ時にダイシングシート3及びチップ2が載置されるステージに傷があると、誤認識に繋がりかねない。
なお、例えば、位置認識用マーク5として、後述する変形例2のように、単に、カットライン7aを隣のカットライン7bよりも延長しただけのものも考えられる。しかし、この場合、ピックアップ時にダイシングシート3及びチップ2が載置されるステージに傷があると、誤認識に繋がりかねない。
また、カットライン7a以外のカットライン7bは、ウエハ1の外側において他のカットライン7と交差しないように、ウエハ1の外周の近傍で終端させるので、位置認識用マーク5の識別性を高め、その誤認識の可能性を低減させることができる。
<変形例1>
図7は位置認識用マーク5の変形例1を示す平面図である。図7に示すように、位置認識用マーク5は、例えば、Y方向に延在するカットライン7aと、X方向に延在するカットライン7aとが、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分で互いに交差することにより形成された、L字型のマークであっても良い。
この場合も、上記の実施形態と同様の効果が得られる。
図7は位置認識用マーク5の変形例1を示す平面図である。図7に示すように、位置認識用マーク5は、例えば、Y方向に延在するカットライン7aと、X方向に延在するカットライン7aとが、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分で互いに交差することにより形成された、L字型のマークであっても良い。
この場合も、上記の実施形態と同様の効果が得られる。
<変形例2>
図8は位置認識用マーク5の変形例2を示す平面図である。図8に示すように、位置認識用マーク5は、単に、一部のカットライン7aをウエハ1の外側に延長させただけのものであっても良い。
この場合、ターゲットチップの認識の仕方が若干異なる他は、上記の実施形態と同様である。
この場合、例えば、位置認識用マーク5を形成するカットライン7aとウエハ1との交点Aを基準として−X方向に4つ目の縦列に含まれるチップ2であって、且つ、位置認識用マーク5を形成するカットライン7aを基準として−Y方向に1つ目の横列に含まれるチップ2がターゲットチップであるということが予め決められ、その情報が記憶部42cに記憶されているとする。この場合、ターゲットチップ判定部42bは、図8のチップ2aがターゲットチップであることを認識することができる。
図8は位置認識用マーク5の変形例2を示す平面図である。図8に示すように、位置認識用マーク5は、単に、一部のカットライン7aをウエハ1の外側に延長させただけのものであっても良い。
この場合、ターゲットチップの認識の仕方が若干異なる他は、上記の実施形態と同様である。
この場合、例えば、位置認識用マーク5を形成するカットライン7aとウエハ1との交点Aを基準として−X方向に4つ目の縦列に含まれるチップ2であって、且つ、位置認識用マーク5を形成するカットライン7aを基準として−Y方向に1つ目の横列に含まれるチップ2がターゲットチップであるということが予め決められ、その情報が記憶部42cに記憶されているとする。この場合、ターゲットチップ判定部42bは、図8のチップ2aがターゲットチップであることを認識することができる。
<変形例3>
図9は位置認識用マーク5の変形例3を示す平面図である。図9に示すように、変形例3では、ウエハ1のダイシングにより形成される複数のカットライン(第1カットライン)7とは別のカットライン(第2のカットライン)8aを、ダイシング部10によってダイシングシート3に形成することにより、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用マーク5を形成する。
変形例3の場合、複数のカットライン7のうちの一部のカットライン7cと交差するカットライン8aを形成することにより、位置認識用マーク5を形成する。すなわち、カットライン7cは、ウエハ1の外側に延長し、カットライン8aと交差している。
より具体的には、カットライン8aは、カットライン7cと直交するように形成される。より具体的には、複数のカットライン8aにより位置認識用マーク5が構成され、これら複数のカットライン8aは互いに平行に延在している。変形例3の場合、1つの位置認識用マーク5は、2本のカットライン8aにより構成されている。
位置認識用マーク5は、ターゲットチップ(例えば、チップ2c)の近傍に形成するのが好ましい。
本変形例の場合、例えば、ウエハ1には、4つのターゲットチップ(チップ2c)が形成されている。そして、カットライン7cは、ターゲットチップを形成するカットライン7であり、これらカットライン7cと交差するように、カットライン8aが形成されている。
各カットライン8aは、例えば、それぞれ2本のカットライン7cと交差している。すなわち、各カットライン8aの長さは、チップ2の一辺の長さよりも長い。
カットライン8aの深さは、例えば、12μm以上30μm以下とすることができる。
また、位置認識用マーク5を構成する2本のカットライン8aのうち、ウエハ1に近いカットライン8aとウエハ1との距離は、例えば、2mm程度とすることができる。
また、位置認識用マーク5を構成する2本のカットライン8aどうしの間隔は、例えば、1mm程度とすることができる。
変形例3の場合、例えば、4つのターゲットチップ(チップ2c)のそれぞれの近傍に、個別に位置認識用マーク5が形成されている。より具体的には、ウエハ1のX方向、−X方向、Y方向、及び−Y方向にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例3によれば、位置認識用マーク5のユニーク性と識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによる位置認識用マーク5の認識を容易に行うことができる。また、作業者によるターゲットチップ2cの認識作業も容易且つ確実に行うことができる。
図9は位置認識用マーク5の変形例3を示す平面図である。図9に示すように、変形例3では、ウエハ1のダイシングにより形成される複数のカットライン(第1カットライン)7とは別のカットライン(第2のカットライン)8aを、ダイシング部10によってダイシングシート3に形成することにより、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用マーク5を形成する。
変形例3の場合、複数のカットライン7のうちの一部のカットライン7cと交差するカットライン8aを形成することにより、位置認識用マーク5を形成する。すなわち、カットライン7cは、ウエハ1の外側に延長し、カットライン8aと交差している。
より具体的には、カットライン8aは、カットライン7cと直交するように形成される。より具体的には、複数のカットライン8aにより位置認識用マーク5が構成され、これら複数のカットライン8aは互いに平行に延在している。変形例3の場合、1つの位置認識用マーク5は、2本のカットライン8aにより構成されている。
位置認識用マーク5は、ターゲットチップ(例えば、チップ2c)の近傍に形成するのが好ましい。
本変形例の場合、例えば、ウエハ1には、4つのターゲットチップ(チップ2c)が形成されている。そして、カットライン7cは、ターゲットチップを形成するカットライン7であり、これらカットライン7cと交差するように、カットライン8aが形成されている。
各カットライン8aは、例えば、それぞれ2本のカットライン7cと交差している。すなわち、各カットライン8aの長さは、チップ2の一辺の長さよりも長い。
カットライン8aの深さは、例えば、12μm以上30μm以下とすることができる。
また、位置認識用マーク5を構成する2本のカットライン8aのうち、ウエハ1に近いカットライン8aとウエハ1との距離は、例えば、2mm程度とすることができる。
また、位置認識用マーク5を構成する2本のカットライン8aどうしの間隔は、例えば、1mm程度とすることができる。
変形例3の場合、例えば、4つのターゲットチップ(チップ2c)のそれぞれの近傍に、個別に位置認識用マーク5が形成されている。より具体的には、ウエハ1のX方向、−X方向、Y方向、及び−Y方向にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例3によれば、位置認識用マーク5のユニーク性と識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによる位置認識用マーク5の認識を容易に行うことができる。また、作業者によるターゲットチップ2cの認識作業も容易且つ確実に行うことができる。
<変形例4>
図10は位置認識用マーク5の変形例4を示す平面図である。上記の変形例3(図9)では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が2本であるのに対し、変形例4では、図10に示すように、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が3本である。変形例4は、その他の点では変形例3と同様である。
このような変形例4によれば、変形例3よりも更に位置認識用マーク5のユニーク性と識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによるマッチング率が向上するとともに、位置認識用マーク5の視認性が向上する。
図10は位置認識用マーク5の変形例4を示す平面図である。上記の変形例3(図9)では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が2本であるのに対し、変形例4では、図10に示すように、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が3本である。変形例4は、その他の点では変形例3と同様である。
このような変形例4によれば、変形例3よりも更に位置認識用マーク5のユニーク性と識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによるマッチング率が向上するとともに、位置認識用マーク5の視認性が向上する。
<変形例5>
図11は位置認識用マーク5の変形例5を示す平面図である。上記の変形例4(図10)では、位置認識用マーク5が4つであるのに対し、変形例5では、図11に示すように、位置認識用マーク5の数が2つであり、ウエハ1のX方向及び−X方向にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例5によっても、変形例4と同様の効果が得られる。
図11は位置認識用マーク5の変形例5を示す平面図である。上記の変形例4(図10)では、位置認識用マーク5が4つであるのに対し、変形例5では、図11に示すように、位置認識用マーク5の数が2つであり、ウエハ1のX方向及び−X方向にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例5によっても、変形例4と同様の効果が得られる。
<変形例6>
図12は位置認識用マーク5の変形例6を示す平面図である。上記の変形例4(図10)では、位置認識用マーク5が4つであるのに対し、変形例6では、図12に示すように、位置認識用マーク5の数が2つであり、ウエハ1のY方向及び−Y方向にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例6によっても、変形例4と同様の効果が得られる。
図12は位置認識用マーク5の変形例6を示す平面図である。上記の変形例4(図10)では、位置認識用マーク5が4つであるのに対し、変形例6では、図12に示すように、位置認識用マーク5の数が2つであり、ウエハ1のY方向及び−Y方向にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例6によっても、変形例4と同様の効果が得られる。
<変形例7>
図13は位置認識用マーク5の変形例7を示す平面図である。上記の変形例4(図10)では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が3本であるのに対し、変形例7では、図13に示すように、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が5本である。変形例7は、その他の点では変形例3と同様である。
このような変形例7によれば、変形例4よりも更に位置認識用マーク5のユニーク性識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによるマッチング率が向上するとともに、位置認識用マーク5の視認性が向上する。
図13は位置認識用マーク5の変形例7を示す平面図である。上記の変形例4(図10)では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が3本であるのに対し、変形例7では、図13に示すように、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aの数が5本である。変形例7は、その他の点では変形例3と同様である。
このような変形例7によれば、変形例4よりも更に位置認識用マーク5のユニーク性識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによるマッチング率が向上するとともに、位置認識用マーク5の視認性が向上する。
<変形例8>
図14は位置認識用マーク5の変形例8を示す平面図である。上記の変形例7(図13)では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aどうしの間隔が1mm程度であるのに対し、変形例8では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aどうしの間隔が0.5mm程度である。変形例8は、その他の点では変形例7と同様である。
このような変形例8によれば、変形例7と同様の効果が得られるとともに、位置認識用マーク5の配置スペースを小さくすることができる。
図14は位置認識用マーク5の変形例8を示す平面図である。上記の変形例7(図13)では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aどうしの間隔が1mm程度であるのに対し、変形例8では、位置認識用マーク5を構成するカットライン8aどうしの間隔が0.5mm程度である。変形例8は、その他の点では変形例7と同様である。
このような変形例8によれば、変形例7と同様の効果が得られるとともに、位置認識用マーク5の配置スペースを小さくすることができる。
<変形例9>
図15は位置認識用マーク5の変形例9を示す平面図である。図15に示すように、変形例9の場合も、ウエハ1のダイシングにより形成される複数のカットライン(第1カットライン)7とは別のカットライン(第2のカットライン)8b、8cを、ダイシング部10によってダイシングシート3に形成することにより、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用マーク5を形成する。
ただし、変形例9の場合、互いに交差する複数のカットライン8b、8cを形成することにより、位置認識用マーク5を形成する。
より具体的には、カットライン8bは、Y方向に延在し、カットライン8cは、X方向に延在し、カットライン8bとカットライン8cとは互いに直交する。
より具体的には、複数のカットライン8bと複数のカットライン8cとにより位置認識用マーク5が構成されている。変形例9の場合、1つの位置認識用マーク5は、2本のカットライン8bと2本のカットライン8cとにより構成されている。
位置認識用マーク5は、ターゲットチップ(チップ2c)の近傍に形成するのが好ましい。
各カットライン8b、8cの長さは、チップ2の一辺の長さよりも長い。
カットライン8b、8cの深さは、例えば、12μm以上30μm以下とすることができる。
また、位置認識用マーク5とウエハ1との距離は、例えば、2mm程度とすることができる。
また、カットライン8bどうしの間隔、並びに、カットライン8cどうしの間隔は、それぞれ、例えば、1mm程度とすることができる。
変形例9の場合、例えば、4つのターゲットチップのそれぞれの近傍に、個別に位置認識用マーク5が形成されている。より具体的には、ウエハ1の4隅の近傍にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例9によれば、位置認識用マーク5のユニーク性と識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによる位置認識用マーク5の認識を容易に行うことができる。また、作業者によるターゲットチップの認識作業も容易且つ確実に行うことができる。特に、カットライン8bとカットライン8cとをそれぞれ複数本ずつ形成することにより、更に視認性が向上し、マーク認識部42aによるマッチング率が向上するとともに、位置認識用マーク5の視認性が向上する。
図15は位置認識用マーク5の変形例9を示す平面図である。図15に示すように、変形例9の場合も、ウエハ1のダイシングにより形成される複数のカットライン(第1カットライン)7とは別のカットライン(第2のカットライン)8b、8cを、ダイシング部10によってダイシングシート3に形成することにより、ダイシングシート3においてウエハ1の外側に位置する部分に位置認識用マーク5を形成する。
ただし、変形例9の場合、互いに交差する複数のカットライン8b、8cを形成することにより、位置認識用マーク5を形成する。
より具体的には、カットライン8bは、Y方向に延在し、カットライン8cは、X方向に延在し、カットライン8bとカットライン8cとは互いに直交する。
より具体的には、複数のカットライン8bと複数のカットライン8cとにより位置認識用マーク5が構成されている。変形例9の場合、1つの位置認識用マーク5は、2本のカットライン8bと2本のカットライン8cとにより構成されている。
位置認識用マーク5は、ターゲットチップ(チップ2c)の近傍に形成するのが好ましい。
各カットライン8b、8cの長さは、チップ2の一辺の長さよりも長い。
カットライン8b、8cの深さは、例えば、12μm以上30μm以下とすることができる。
また、位置認識用マーク5とウエハ1との距離は、例えば、2mm程度とすることができる。
また、カットライン8bどうしの間隔、並びに、カットライン8cどうしの間隔は、それぞれ、例えば、1mm程度とすることができる。
変形例9の場合、例えば、4つのターゲットチップのそれぞれの近傍に、個別に位置認識用マーク5が形成されている。より具体的には、ウエハ1の4隅の近傍にそれぞれ1つずつ位置認識用マーク5が配置されている。
このような変形例9によれば、位置認識用マーク5のユニーク性と識別性が向上する。よって、マーク認識部42aによる位置認識用マーク5の認識を容易に行うことができる。また、作業者によるターゲットチップの認識作業も容易且つ確実に行うことができる。特に、カットライン8bとカットライン8cとをそれぞれ複数本ずつ形成することにより、更に視認性が向上し、マーク認識部42aによるマッチング率が向上するとともに、位置認識用マーク5の視認性が向上する。
上記の実施形態では、ダイシングブレード11によりダイシングを行う例を説明したが、レーザ光を利用した切断装置によりダイシング(レーザーダイシング)並びに位置認識用マーク5の形成を行うことも可能である。
また、上記の実施形態では、ダイシング装置60によって位置認識用マーク5を形成する例を説明したが、ダイシング装置60とは別に設けたマーク形成用の構成によって、位置認識用マーク5を形成しても良い。
また、上記の実施形態では、ダイシング装置60によって位置認識用マーク5を形成する例を説明したが、ダイシング装置60とは別に設けたマーク形成用の構成によって、位置認識用マーク5を形成しても良い。
1 半導体ウエハ
2 半導体チップ
2a 半導体チップ(ターゲットチップ)
2b 半導体チップ(ターゲットチップ)
2c 半導体チップ(ターゲットチップ)
3 ダイシングシート
4 保持リング
5 位置認識用マーク
6、6xa、6xb、6xn、6ya、6yb、6yn スクライブライン領域
7、7a、7b、7c カットライン
8a、8b、8c カットライン
10 ダイシング部(ダイシング装置)
11 ダイシングブレード
12 回転機構
13 昇降機構
15 ステージ
16 回転機構
17 移動機構
20 撮像部
30 ピックアップ部
31 移動機構
32 ピックアップアーム
41 ダイシング制御部
42 画像処理部
42a マーク認識部
42b ターゲットチップ判定部
42c 記憶部
43 ピックアップ制御部
44 データファイル記憶部
50 チップトレイ
60 ダイシング装置(半導体装置の製造装置)
70 ピックアップ装置
100 半導体装置の製造システム
2 半導体チップ
2a 半導体チップ(ターゲットチップ)
2b 半導体チップ(ターゲットチップ)
2c 半導体チップ(ターゲットチップ)
3 ダイシングシート
4 保持リング
5 位置認識用マーク
6、6xa、6xb、6xn、6ya、6yb、6yn スクライブライン領域
7、7a、7b、7c カットライン
8a、8b、8c カットライン
10 ダイシング部(ダイシング装置)
11 ダイシングブレード
12 回転機構
13 昇降機構
15 ステージ
16 回転機構
17 移動機構
20 撮像部
30 ピックアップ部
31 移動機構
32 ピックアップアーム
41 ダイシング制御部
42 画像処理部
42a マーク認識部
42b ターゲットチップ判定部
42c 記憶部
43 ピックアップ制御部
44 データファイル記憶部
50 チップトレイ
60 ダイシング装置(半導体装置の製造装置)
70 ピックアップ装置
100 半導体装置の製造システム
Claims (19)
- 複数の半導体チップが形成された半導体ウエハをダイシングシート上に保持し、前記半導体ウエハをダイシングにより個片化する第1工程と、
前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に、位置認識用のマークを形成する第2工程と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記第2工程では、前記第1工程を行うダイシング装置によって前記ダイシングシートにカットラインを形成することにより、前記マークを形成することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記マークは、前記半導体ウエハのダイシングにより形成される複数のカットラインのうちの一部のカットラインを前記半導体ウエハの外側へ向けて延長することによって形成することを特徴とする請求項2に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記一部のカットラインの端部を、当該一部のカットラインの隣のカットラインの端部よりも外側に位置させることを特徴とする請求項3に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記マークは、縦方向に延在する前記カットラインと、横方向に延在する前記カットラインと、が交差することにより形成される十字型又はL字型のマークであることを特徴とする請求項3又は4に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記一部のカットライン以外のカットラインは、前記半導体ウエハの外側において他のカットラインと交差しないように、前記半導体ウエハの外周の近傍で終端させることを特徴とする請求項3乃至5の何れか一項に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記複数の半導体チップのうち基準となる半導体チップであるターゲットチップの位置を、前記マークの位置に基づいて判定する第3工程と、
前記判定した前記ターゲットチップの位置を基準として、所望の前記半導体チップをピックアップする第4工程と、
を更に有することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記第2工程では、前記第1工程により前記ダイシングシートに形成される第1カットラインとは別の第2カットラインを、前記第1工程を行うダイシング装置によって前記ダイシングシートに形成することにより、前記マークを形成することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第2工程では、前記第1カットラインと交差する前記第2カットラインを形成することにより、前記マークを形成することを特徴とする請求項8に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第2工程では、互いに交差する複数の前記第2カットラインを形成することにより、前記マークを形成することを特徴とする請求項8に記載の半導体装置の製造方法。
- 複数の半導体チップが形成されダイシングシート上に保持された半導体ウエハをダイシングするダイシング部と、
前記ダイシング部により、前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に位置認識用のマークを形成させるダイシング制御部と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造装置。 - 前記ダイシング制御部は、前記半導体ウエハのダイシングにより形成される複数のカットラインのうちの一部のカットラインを前記半導体ウエハの外側へ向けて延長することによって前記マークを形成させる制御を行うことを特徴とする請求項11に記載の半導体装置の製造装置。
- 前記ダイシング制御部は、前記一部のカットラインの端部が、当該一部のカットラインの隣のカットラインの端部よりも外側に位置するように、前記ダイシング部を制御することを特徴とする請求項12に記載の半導体装置の製造装置。
- 前記ダイシング制御部は、前記マークとして、縦方向に延在する前記カットラインと、横方向に延在する前記カットラインと、が交差することにより形成される十字型又はL字型のマークを形成させる制御を行うことを特徴とする請求項12又は13に記載の半導体装置の製造装置。
- 前記ダイシング制御部は、前記一部のカットライン以外のカットラインは、前記半導体ウエハの外側において他のカットラインと交差しないように、前記半導体ウエハの外周の近傍で終端させる制御を行うことを特徴とする請求項14に記載の半導体装置の製造装置。
- 前記ダイシング制御部は、前記半導体ウエハのダイシングにより前記ダイシングシートに形成される第1カットラインとは別の第2カットラインを、前記ダイシングシートに形成することによって、前記マークを形成させる制御を行うことを特徴とする請求項11に記載の半導体装置の製造装置。
- 前記ダイシング制御部は、前記第1カットラインと交差する前記第2カットラインを形成することによって前記マークを形成させる制御を行うことを特徴とする請求項16に記載の半導体装置の製造装置。
- 前記ダイシング制御部は、互いに交差する複数の前記第2カットラインを形成することによって前記マークを形成させる制御を行うことを特徴とする請求項16に記載の半導体装置の製造装置。
- 複数の半導体チップが形成されダイシングシート上に保持された半導体ウエハをダイシングするダイシング部と、
前記ダイシング部により、前記ダイシングシートにおいて前記半導体ウエハの外側に位置する部分に位置認識用のマークを形成させるダイシング制御部と、
前記マークの位置を認識するマーク認識部と、
前記マークと、前記複数の半導体チップのうち基準となる半導体チップであるターゲットチップと、の位置関係の情報を記憶している記憶部と、
前記記憶部に記憶されている情報と、前記マーク認識部により認識された位置と、に基づいて、前記ターゲットチップの位置を判定するターゲットチップ判定部と、
前記判定された前記ターゲットチップの位置を基準として、所望の前記半導体チップをピックアップするピックアップ部と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010259790A JP2011135056A (ja) | 2009-11-25 | 2010-11-22 | 半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造システム |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009268012 | 2009-11-25 | ||
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JP2010259790A JP2011135056A (ja) | 2009-11-25 | 2010-11-22 | 半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造システム |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2011135056A true JP2011135056A (ja) | 2011-07-07 |
Family
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JP2010259790A Pending JP2011135056A (ja) | 2009-11-25 | 2010-11-22 | 半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造システム |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2012038877A (ja) * | 2010-08-06 | 2012-02-23 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体ウェーハ及び半導体装置の製造方法 |
JP2015032762A (ja) * | 2013-08-06 | 2015-02-16 | Juki株式会社 | チップ検出装置及びチップ検出方法 |
JP2016225340A (ja) * | 2015-05-27 | 2016-12-28 | 富士機械製造株式会社 | グリップリング、アダプタ及びダイ位置特定装置 |
JP2019121686A (ja) * | 2018-01-05 | 2019-07-22 | 株式会社ディスコ | 加工方法 |
-
2010
- 2010-11-22 JP JP2010259790A patent/JP2011135056A/ja active Pending
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