JP2011108352A - アドレス制御回路及び半導体メモリ装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】ライト動作でスキューの発生を最小化できるアドレス制御回路及び半導体メモリ装置を開示する。
【解決手段】リード動作実行のための第1のバースト区間で、アドレスからリードカラムアドレスを生成するリードカラムアドレス制御回路と、ライト動作実行のための第2のバースト区間で、前記アドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、を含むアドレス制御回路を提供する。
【選択図】図2
【解決手段】リード動作実行のための第1のバースト区間で、アドレスからリードカラムアドレスを生成するリードカラムアドレス制御回路と、ライト動作実行のための第2のバースト区間で、前記アドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、を含むアドレス制御回路を提供する。
【選択図】図2
Description
本発明は、半導体メモリ装置に係り、より詳細には、アドレス制御回路に関するものである。
DRAMの経路には、ローアドレス経路、カラムアドレス経路及びデータ経路がある。まず、ローアドレス経路では、外部から入力されるアドレスからローアドレスを取り出す動作、ローアドレスによりワードラインを選択する動作、及び選択されたワードラインに連結されたメモリセルのデータをセンスアンプにより増幅する動作が行われる。次に、カラムアドレス経路では、カラムアドレス制御回路により、外部から入力されるアドレスからカラムアドレスを取り出す動作(以下、“カラムアドレス制御動作”と称する。)、及びカラムアドレスをデコーディングし、選択的にイネーブルされる出力イネーブル信号によりメモリセルを選択する動作が行われる。最後に、データ経路では、選択された出力イネーブル信号により、ビットラインのデータを外部に出力したり、外部から入力されるデータをビットラインを通じてメモリセルに格納したりする動作が行われる。
一方、半導体メモリ装置で、アドレス、コマンド及びデータが入出力されるパッド(PAD)は、チップの中央に設けられるのが一般的である。ところが、モバイル機器に含まれた半導体メモリ装置では、それらのパッドが縁(EDGE)領域に設けられる。特に、アドレス及びコマンドが入力されるパッドは、一側の縁領域に設けられ、データが入出力されるパッドは、他側の縁領域に設けられる。
図1は、従来技術によるカラムアドレス制御回路を含む半導体メモリ装置の構成を示す図である。
図1に示す半導体メモリ装置は、アドレス及びコマンドが入力されるパッドを含むコマンドアドレス入力部100とデータが入出力されるパッドを含むデータ入出力部101が、互いに離間して相反する縁領域に配置される。また、半導体メモリ装置は、コマンドアドレス入力部100が配置されている縁領域において、コマンドアドレス入力部100からアドレスAを受信してカラムアドレスAYを抽出するカラムアドレス制御動作を行うカラムアドレス制御回路102を含む。
このように構成された半導体メモリ装置で、第1のバンクBANK1へのリード動作が行われると、カラムアドレス制御回路102で生成されたカラムアドレスAYが、第1のカラムアドレス経路CAP1を通じて第1のメモリセルC1を選択するようになり、選択された第1のメモリセルC1に格納されたデータは、第1のデータ経路DP1を通じてデータ入出力部101に出力される。一方、第8のバンクBANK8へのリード動作が行われると、カラムアドレス制御回路102で生成されたカラムアドレスAYが第2のカラムアドレス経路CAP2を通じて第2のメモリセルC2を選択するようになり、選択された第2のメモリセルC2に格納されたデータは、第2のデータ経路DP2を通じてデータ入出力部101に出力される。リード動作では、カラムアドレス経路及びデータ経路の方向が同一である。
一方、第1のバンクBANK1へのライト動作が行われると、カラムアドレス制御回路102で生成されたカラムアドレスAYが、第1のカラムアドレス経路CAP1を通じて第1のメモリセルC1を選択し、データ入出力部101に入力されたデータDINは、第3のデータ経路DP3を通じて入力され、選択された第1のメモリセルC1に格納される。ここで、第1のカラムアドレス経路CAP1は、第3のデータ経路DP3よりも短いので、カラムアドレスAY及びデータDINが伝達される時間差によりスキュー(skew)が発生する。
また、第8のバンクBANK8へのライト動作が行われると、カラムアドレス制御回路102で生成されたカラムアドレスAYが、第2のカラムアドレス経路CAP2を通じて第2のメモリセルC2を選択し、データ入出力部101に入力されたデータDINは、第4のデータ経路DP4を通じて入力され、選択された第2のメモリセルC2に格納される。ここで、第4のデータ経路DP4は、第2のカラムアドレス経路CAP2よりも短いので、カラムアドレスAY及びデータDINが伝達される時間差によりスキューが発生する。
なお上記背景技術に関連する先行技術文献としては、下記特許文献1が挙げられる。
本発明は、ライト動作でスキューの発生を最小化できるアドレス制御回路及び半導体メモリ装置を開示する。
このために、本発明は、リード動作実行のための第1のバースト区間で、アドレスからリードカラムアドレスを生成するリードカラムアドレス制御回路と、ライト動作実行のための第2のバースト区間で、前記アドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、を含むアドレス制御回路を提供する。
また、本発明は、コマンド及びアドレスが入力されるパッドを含むコマンドアドレス入力部と、データが入出力されるパッドを含むデータ入出力部と、前記データ入出力部と同一の縁領域に設けられ、ライト動作実行のためのバースト区間で、前記コマンドアドレス入力部に入力されるアドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、を含む半導体メモリ装置を提供する。
また、本発明は、コマンド及びアドレスが入力されるパッドを含むコマンドアドレス入力部と、データが入出力されるパッドを含むデータ入出力部と、リード動作実行のための第1のバースト区間で、前記コマンドアドレス入力部から入力されるアドレスからリードカラムアドレスを生成するリードカラムアドレス制御回路と、ライト動作実行のための第2のバースト区間で、前記アドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、を含む半導体メモリ装置を提供する。
以下、添付の図面を参照しつつ、本発明の実施例について説明する。ただし、これらの実施例は、単に例示のためのもので、本発明の思想を制限するためのものではない。
図2は、本発明の一実施例によるカラムアドレス制御動作を行う半導体メモリ装置の構成を示す図である。
図2に示すように、本実施例による半導体メモリ装置は、コマンドアドレス入力部1、コマンドデコーダ2、バースト終了信号生成部3、リードカラムアドレス制御回路4、データ入出力部5、ライトカラムアドレス制御回路6、第1のリピーター7、第2のリピーター8及びカラムデコーダ部9から構成される。
コマンドアドレス入力部1は、第1の縁領域EDGE1に配置され、外部アドレス及び外部コマンドが入力される複数のパッドと、パッドを通じて入力された外部アドレス及び外部コマンドをバッファリングし、アドレスA<1:N>及びコマンドC<1:M>を出力する入力バッファー(図示せず)と、で構成される。LPDDR2では、外部アドレス及び外部コマンドが一つのコマンドアドレス信号として入力され、入力されたコマンドアドレス信号はクロックのライジングエッジまたはフォーリングエッジに同期してアドレスA<1:N>とコマンドC<1:M>とに分離される。
コマンドデコーダ2は、コマンドC<1:M>をデコーディングし、リードコマンドRD_CMD、ライトコマンドWT_CMD及びバーストコマンドBST_CMDを生成する。リードコマンドRD_CMDは、リード動作の実行のためにパルスとして印加される信号であり、ライトコマンドWT_CMDは、ライト動作の実行のためにパルスとして印加される信号であり、バーストコマンドBST_CMDは、リード動作実行のためのリードバースト区間及びライト動作実行のためのライトバースト区間で、バースト動作を中断するためにパルスとして印加されるインタラプト(interrupt)信号である。コマンドデコーダ2は、第1の縁領域EDGE1に配置される。
バースト終了信号生成部3は、半導体メモリ装置の動作初期に行われるモードレジスタセット(Mode Register Set)により設定されたバーストレングス(Burst Length)によって定められた時点でパルスが発生するリードバースト終了信号BEND_RD及びライトバースト終了信号BEND_WTを生成する。例えば、バーストレングスが8に設定された場合に、リードバースト終了信号BEND_RDのパルスは、リードコマンドRD_CMDが入力されてからクロックCLKの3周期区間経過後に発生し、ライトバースト終了信号BEND_WTのパルスは、ライトコマンドWT_CMDが入力されてからクロックCLKの3周期区間経過後に発生する。バースト終了信号生成部3は、第1の縁領域EDGE1に配置される。
リードカラムアドレス制御回路4は、図3に示すように、リードコマンドRD_CMD、リードバースト終了信号BEND_RD及びバーストコマンドBST_CMDを受信し、リード動作実行のためのリードバースト区間でハイレベルにイネーブルされるリードイネーブル信号RD_ENを生成する第1のイネーブル信号生成部40と、アドレスA<1:N>をデコーディングし、リードアドレスデコーディング信号RDA<1:K>を生成する第1のアドレスデコーダ41と、リードイネーブル信号RD_ENに応答してリードバースト区間でリードアドレスデコーディング信号RDA<1:K>をバッファリングし、リードカラムアドレスRAY<1:K>を出力する第1のアドレスバッファー42と、で構成される。リードカラムアドレス制御回路4は、第1の縁領域EDGE1に配置される。
第1のイネーブル信号生成部40は、図4に示すように、リードバースト終了信号BEND_RDに応答してノードnd40を駆動するためにPMOSトランジスタP40及びNMOSトランジスタN40で構成された第1のバッファー401と、クロックCLKに応答して第1のバッファー401の駆動を制御するスイッチ素子として動作するPMOSトランジスタP41及びNMOSトランジスタN41と、ノードnd40の信号をラッチする第1のラッチ402と、反転クロックCLKBに応答して第1のラッチ402の出力信号をバッファリングして伝達する伝達素子として動作するNANDゲートND40と、NANDゲートND40の出力信号に応答してノードnd41を駆動するためにPMOSトランジスタP42及びNMOSトランジスタN42で構成される第2のバッファー403と、バーストコマンドBST_CMDに応答してターンオンされるNMOSトランジスタN43、及びリードコマンドRD_CMDに応答してターンオンされるNMOSトランジスタN44で構成され、第2のバッファー403の駆動を制御するスイッチ部404と、バーストコマンドBST_CMDに応答してノードnd41をプルアップ駆動する駆動素子として動作するPMOSトランジスタP43と、ノードnd41の信号をラッチし、リードイネーブル信号RD_ENを出力する第2のラッチ405と、で構成される。
このような構成の第1のイネーブル信号生成部40は、リードバースト終了信号BEND_RDまたはバーストコマンドBST_CMDがローレベルである状態でリードコマンドRD_CMDのハイレベルパルスが入力されると、第2のバッファー403のNMOSトランジスタN42、スイッチ部404のNMOSトランジスタN43及びNMOSトランジスタN44がターンオンされてハイレベルにイネーブルされるリードイネーブル信号RD_ENを生成する。このような状態で、リードバースト終了信号BEND_RDのハイレベルパルスが入力されると、第2のバッファー403のPMOSトランジスタP42がターンオンされ、リードイネーブル信号RD_ENをローレベルにディセーブルさせ、バーストコマンドBST_CMDのハイレベルパルスが入力されると、PMOSトランジスタP43がターンオンされ、リードイネーブル信号RD_ENをローレベルにディセーブルさせる。
第1のアドレスバッファー42は、図5に示すように、リードアドレスデコーディング信号RDA<1:K>をバッファリングし、リードカラムアドレスRAY<1:K>を生成するために、インバータIV43、PMOSトランジスタP43及びNMOSトランジスタN45から構成される第1のバッファー部420と、リードイネーブル信号RD_ENに応答して第1のバッファー部420の駆動を制御するスイッチ素子として動作するPMOSトランジスタP44及びNMOSトランジスタN46と、で構成される。このような構成の第1のアドレスバッファー42は、リードイネーブル信号RD_ENがハイレベルにイネーブルされるリードバースト区間で、第1のバッファー部420を駆動させ、リードアドレスデコーディング信号RDA<1:K>からリードカラムアドレスRAY<1:K>を生成する。
データ入出力部5は、第2の縁領域EDGE2に配置され、データが入出力される複数のパッドと、パッドを通じて入力されたデータをバッファリングするデータ入力バッファー(図示せず)と、データをバッファリングしてパッドに出力するデータ出力バッファー(図示せず)と、で構成される。
ライトカラムアドレス制御回路6は、図6に示すように、ライトコマンドWT_CMD、ライトバースト終了信号BEND_WT及びバーストコマンドBST_CMDを受信し、ライト動作実行のためのライトバースト区間でハイレベルにイネーブルされるライトイネーブル信号WT_ENを生成する第2のイネーブル信号生成部60と、リピーティングアドレスAd<1:N>をデコーディングし、ライトアドレスデコーディング信号WDA<1:L>を生成する第2のアドレスデコーダ61と、ライトイネーブル信号WT_ENに応答してライトバースト区間でライトアドレスデコーディング信号WDA<1:L>をバッファリングし、ライトカラムアドレスWAY<1:L>を出力する第2のアドレスバッファー62と、で構成される。ライトカラムアドレス制御回路6は、第2の縁領域EDGE2に配置される。
第2のイネーブル信号生成部60は、図7に示すように、ライトバースト終了信号BEND_WTに応答してノードnd60を駆動するためにPMOSトランジスタP60及びNMOSトランジスタN60で構成された第3のバッファー601と、クロックCLKに応答して第3のバッファー601の駆動を制御するスイッチ素子として動作するPMOSトランジスタP61及びNMOSトランジスタN61と、ノードnd60の信号をラッチする第3のラッチ602と、反転クロックCLKBに応答して第3のラッチ602の出力信号をバッファリングして伝達する伝達素子として動作するNANDゲートND60と、NANDゲートND60の出力信号に応答してノードnd61を駆動するためにPMOSトランジスタP62及びNMOSトランジスタN62で構成される第4のバッファー603と、バーストコマンドBST_CMDに応答してターンオンされるNMOSトランジスタN63及びライトコマンドWT_CMDに応答してターンオンされるNMOSトランジスタN64で構成され、第4のバッファー603の駆動を制御するスイッチ部604と、バーストコマンドBST_CMDに応答してノードnd61をプルアップ駆動する駆動素子として動作するPMOSトランジスタP63と、ノードnd61の信号をラッチし、ライトイネーブル信号WT_ENを出力する第4のラッチ605と、で構成される。
このような構成の第2のイネーブル信号生成部60は、ライトバースト終了信号BEND_WTまたはバーストコマンドBST_CMDがローレベルである状態でライトコマンドWT_CMDのハイレベルパルスが入力されると、第4のバッファー603のNMOSトランジスタN62とスイッチ部604のNMOSトランジスタN63及びNMOSトランジスタN64とがターンオンされ、ハイレベルにイネーブルされるライトイネーブル信号WT_ENを生成する。このような状態で、ライトバースト終了信号BEND_WTのハイレベルパルスが入力されると、第4のバッファー603のPMOSトランジスタP62がターンオンされ、ライトイネーブル信号WT_ENをローレベルにディセーブルさせ、バーストコマンドBST_CMDのハイレベルパルスが入力されると、PMOSトランジスタP63がターンオンされ、ライトイネーブル信号WT_ENをローレベルにディセーブルさせる。
第2のアドレスバッファー62は、図8に示すように、ライトアドレスデコーディング信号WDA<1:L>をバッファリングし、ライトカラムアドレスWAY<1:L>を生成するためにインバータIV63、PMOSトランジスタP63及びNMOSトランジスタN65で構成される第2のバッファー部620と、ライトイネーブル信号WT_ENに応答して第2のバッファー部620の駆動を制御するスイッチ素子として動作するPMOSトランジスタP64及びNMOSトランジスタN66と、で構成される。このような構成の第2のアドレスバッファー62は、ライトイネーブル信号WT_ENがハイレベルにイネーブルされるライトバースト区間で、第2のバッファー部620を駆動させ、ライトアドレスデコーディング信号WDA<1:L>からライトカラムアドレスWAY<1:L>を生成する。
第1のリピーター7は、図9に示すように、第1の駆動信号生成部70、第1の駆動部71、第2の駆動信号生成部72、及び第2の駆動部73で構成される。
第1の駆動信号生成部70は、第1のアドレスラインAL1の信号をラッチする第5のラッチ700と、第1のアドレスラインAL1の信号及びインバータIV70,IV71を通じてリードイネーブル信号RD_ENのバッファリングされた信号を受信し、これらに否定論理積演算を行って第1のプルアップ信号PU1を生成するNANDゲートND70と、第1のアドレスラインAL1の信号及びインバータIV70を通じてリードイネーブル信号RD_ENの反転信号を受信し、これらに否定論理和演算を行って第1のプルダウン信号PD1を生成するNORゲートNR70と、で構成される。ここで、第1のアドレスラインAL1には、リード動作が行われる場合、リードカラムアドレスRAY<1:K>が入力され、ライト動作が行われる場合、第1のリピーター7でリピーティングされたライトカラムアドレスWAY<1:L>が入力される。
このような構成の第1の駆動信号生成部70は、リードイネーブル信号RD_ENがハイレベルにイネーブルされるリードバースト区間で、リードカラムアドレスRAY<1:K>がハイレベルである場合、ローレベルにイネーブルされる第1のプルアップ信号PU1とローレベルにディセーブルされる第1のプルダウン信号PD1を生成し、リードカラムアドレスRAY<1:K>がローレベルである場合、ハイレベルにディセーブルされる第1のプルアップ信号PU1とハイレベルにイネーブルされる第1のプルダウン信号PD1を生成する。
第1の駆動部71は、第1のプルアップ信号PU1に応答してノードnd70をプルアップ駆動するプルアップ素子として動作するPMOSトランジスタP70と、第1のプルダウン信号PD1に応答してノードnd70をプルダウン駆動するプルダウン素子として動作するNMOSトランジスタN70と、で構成される。このような構成の第1の駆動部71は、リードカラムアドレスRAY<1:K>がハイレベルの場合にローレベルにイネーブルされる第1のプルアップ信号PU1を受信してターンオンされるPMOSトランジスタP70により、ノードnd70をハイレベルにプルアップ駆動し、リードカラムアドレスRAY<1:K>がローレベルの場合にハイレベルにイネーブルされる第1のプルダウン信号PD1を受信してターンオンされるNMOSトランジスタN70により、ノードnd70をローレベルにプルダウン駆動する。
第2の駆動信号生成部72は、第2のアドレスラインAL2の信号をラッチする第6のラッチ720と、第2のアドレスラインAL2の信号及びインバータIV72,IV73を通じてライトイネーブル信号WT_ENのバッファリングされた信号を受信し、これらに否定論理積演算を行って第2のプルアップ信号PU2を生成するNANDゲートND71と、第2のアドレスラインAL2の信号及びインバータIV72を通じてライトイネーブル信号WT_ENの反転信号を受信し、これらに否定論理和演算を行って第2のプルダウン信号PD2を生成するNORゲートNR71と、で構成される。ここで、第2のアドレスラインAL2には、ライト動作が行われる場合、ライトカラムアドレスWAY<1:L>が入力され、リード動作が行われる場合、第1のリピーター7でリピーティングされたリードカラムアドレスRAY<1:K>が入力される。
このような構成の第2の駆動信号生成部72は、ライトイネーブル信号WT_ENがハイレベルにイネーブルされるライトバースト区間で、ライトカラムアドレスWAY<1:L>がハイレベルの場合、ローレベルにイネーブルされる第2のプルアップ信号PU2とローレベルにディセーブルされる第2のプルダウン信号PD2を生成し、ライトカラムアドレスWAY<1:L>がローレベルの場合、ハイレベルにディセーブルされる第2のプルアップ信号PU2とハイレベルにイネーブルされる第2のプルダウン信号PD2を生成する。
第2の駆動部73は、第2のプルアップ信号PU2に応答してノードnd71をプルアップ駆動するプルアップ素子として動作するPMOSトランジスタP71と、第2のプルダウン信号PD2に応答してノードnd71をプルダウン駆動するプルダウン素子として動作するNMOSトランジスタN71と、で構成される。このような構成の第2の駆動部73は、ライトカラムアドレスWAY<1:L>がハイレベルの場合にローレベルにイネーブルされる第2のプルアップ信号PU2を受信してターンオンされるPMOSトランジスタP71により、ノードnd71をハイレベルにプルアップ駆動し、ライトカラムアドレスWAY<1:L>がローレベルの場合にハイレベルにイネーブルされる第2のプルダウン信号PD2を受信してターンオンされるNMOSトランジスタN71により、ノードnd71をローレベルにプルダウン駆動する。
第2のリピーター8は、図10に示すように、第3の駆動信号生成部80及び第3の駆動部81で構成される。
第3の駆動信号生成部80は、コマンドアドレス入力部1から入力されるアドレスA<1:N>をラッチする第7のラッチ800と、アドレスA<1:N>及びインバータIV80,IV81を通じてライトイネーブル信号RD_ENのバッファリングされた信号を受信し、これらに否定論理積演算を行って第3のプルアップ信号PU3を生成するNANDゲートND80と、アドレスA<1:N>及びインバータIV80を通じてライトイネーブル信号WT_ENの反転信号を受信し、これらに否定論理和演算を行って第3のプルダウン信号PD3を生成するNORゲートNR80と、で構成される。このような構成の第3の駆動信号生成部80は、ライトイネーブル信号WT_ENがハイレベルにイネーブルされるライトバースト区間で、アドレスA<1:N>がハイレベルの場合、ローレベルにイネーブルされる第3のプルアップ信号PU3とローレベルにディセーブルされる第3のプルダウン信号PD3を生成し、アドレスA<1:N>がローレベルの場合、ハイレベルにディセーブルされる第3のプルアップ信号PU3とハイレベルにイネーブルされる第3のプルダウン信号PD3を生成する。
第3の駆動部81は、第3のプルアップ信号PU3に応答してノードnd80をプルアップ駆動するプルアップ素子として動作するPMOSトランジスタP80と、第3のプルダウン信号PD3に応答してリピーティングアドレスAd<1:N>が出力されるノードnd80をプルダウン駆動するプルダウン素子として動作するNMOSトランジスタN80と、で構成される。このような構成の第3の駆動部81は、アドレスA<1:N>がハイレベルの場合にローレベルにイネーブルされる第3のプルアップ信号PU3を受信してターンオンされるPMOSトランジスタP80により、リピーティングアドレスAd<1:N>をハイレベルにプルアップ駆動し、アドレスA<1:N>がローレベルの場合にハイレベルにイネーブルされる第3のプルダウン信号PD3を受信してターンオンされるNMOSトランジスタN80により、リピーティングアドレスAd<1:N>をローレベルにプルダウン駆動する。
カラムデコーダ部9は、第1〜第4のデコーダ90〜93で構成される。第1のデコーダ90は、第1のアドレスラインAL1に連結され、リード動作が行われる場合、リードカラムアドレスRAY<1:K>を受信し、ライト動作が行われる場合、第1のリピーター7でリピーティングされたライトカラムアドレスWAY<1:L>を受信し、第1のバンクBANK1または第5のバンクBANK5のメモリセルを選択するための出力イネーブル信号を生成する。第2のデコーダ91は、第1のアドレスラインAL1に連結され、リード動作が行われる場合、リードカラムアドレスRAY<1:K>を受信し、ライト動作が行われる場合、第1のリピーター7でリピーティングされたライトカラムアドレスWAY<1:L>を受信し、第2のバンクBANK2または第6のバンクBANK6のメモリセルを選択するための出力イネーブル信号を生成する。第3のデコーダ92は、第2のアドレスラインAL2に連結され、ライト動作が行われる場合、ライトカラムアドレスWAY<1:L>を受信し、リード動作が行われる場合、第1のリピーター7でリピーティングされたリードカラムアドレスRAY<1:K>を受信し、第3のバンクBANK3または第7のバンクBANK7のメモリセルを選択するための出力イネーブル信号を生成する。第4のデコーダ93は、第2のアドレスラインAL2に連結され、ライト動作が行われる場合、ライトカラムアドレスWAY<1:L>を受信し、リード動作が行われる場合、第1のリピーター7でリピーティングされたリードカラムアドレスRAY<1:K>を受信し、第4のバンクBANK4または第8のバンクBANK8のメモリセルを選択するための出力イネーブル信号を生成する。
このように構成された半導体メモリ装置のカラムアドレス制御動作を、図11を参照して説明する。ここでは、バーストレングスを8に設定した場合を取り上げて説明する。
まず、t2時点で、リードコマンドRD_CMDのハイレベルパルスが入力されると、第1のイネーブル信号生成部40は、リードイネーブル信号RD_ENをハイレベルにイネーブルさせる。
次に、バーストレングスを8に設定したので、バースト終了信号生成部3は、リードコマンドRD_CMDのハイレベルパルスが入力されてからクロックCLKの3周期区間が経過した時点、すなわち、t5時点でリードバースト終了信号BEND_RDのハイレベルパルスを生成する。
次に、リードバースト終了信号BEND_RDのハイレベルパルスを受信した第1のイネーブル信号生成部40は、反転クロックCLKBのライジングエッジに同期して、t5時点からクロックCLKの半周期区間が経過した時点でリードイネーブル信号RD_ENをローレベルにディセーブルさせる。
リードイネーブル信号RD_ENは、リードコマンドRD_CMDのハイレベルパルスが入力されるt2時点から、t5時点からクロックCLKの半周期区間が経過した時点まで(リードバースト区間で)、ハイレベルにイネーブルされる。したがって、第1のアドレスバッファー42は、リードバースト区間で、第1のアドレスデコーダ41でアドレスA<1:N>をデコーディングして生成されたリードアドレスデコーディング信号RDA<1:K>をバッファリングし、リードカラムアドレスRAY<1:K>として出力する。
次に、t6時点で、ライトコマンドWT_CMDのハイレベルパルスが入力されると、第2のイネーブル信号生成部60は、ライトイネーブル信号WT_ENをハイレベルにイネーブルさせる。
次に、バーストレングスを8に設定したので、バースト終了信号生成部3は、ライトコマンドWT_CMDのハイレベルパルスが入力されてからクロックCLKの3周期区間が経過した時点、すなわち、t9時点で、ライトバースト終了信号BEND_WTのハイレベルパルスを生成する。
次に、ライトバースト終了信号BEND_WTのハイレベルパルスを受信した第2のイネーブル信号生成部60は、反転クロックCLKBのライジングエッジに同期して、t9時点からクロックCLKの半周期区間が経過した時点で、ライトイネーブル信号WT_ENをローレベルにディセーブルさせる。
ライトイネーブル信号WT_ENは、ライトコマンドWT_CMDのハイレベルパルスが入力されるt6時点から、t9時点からクロックCLKの半周期区間が経過した時点まで(ライトバースト区間で)、ハイレベルにイネーブルされる。したがって、第2のアドレスバッファー62は、ライトバースト区間で、第2のアドレスデコーダ61でアドレスA<1:N>をデコーディングして生成されたライトアドレスデコーディング信号WDA<1:L>をバッファリングし、ライトカラムアドレスWAY<1:L>として出力する。
ここで、ライト動作時に出力されるライトカラムアドレスWAY<1:L>は、第2のアドレスラインAL2を通じて第3のデコーダ92及び第4のデコーダ93に入力されたり、第1のリピーター7によりリピーティングされた後、第1のアドレスラインAL1を通じて第1のデコーダ90及び第2のデコーダ91に入力される。このように、本実施例の半導体メモリ装置は、ライトカラムアドレス制御回路6がデータ入出力部5と同様に第2の縁領域EDGE2に配置されるので、ライト動作時にライトカラムアドレスWAY<1:L>が伝達されるカラムアドレス経路とデータ入出力部5から入力されるデータのデータ経路方向とが同一である。したがって、ライトカラムアドレスWAY<1:L>とデータ入出力部5から入力されるデータが伝達される時間差により発生するスキューが最小化する。
Claims (36)
- リード動作実行のための第1のバースト区間で、アドレスからリードカラムアドレスを生成するリードカラムアドレス制御回路と、
ライト動作実行のための第2のバースト区間で、前記アドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、
を含むことを特徴とするアドレス制御回路。 - 前記リードカラムアドレス制御回路は、
前記第1のバースト区間でイネーブルされるリードイネーブル信号を生成するイネーブル信号生成部と、
前記アドレスをデコーディングしてアドレスデコーディング信号を生成するアドレスデコーダと、
前記リードイネーブル信号に応答して前記アドレスデコーディング信号をバッファリングし、前記リードカラムアドレスとして出力するアドレスバッファーと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載のアドレス制御回路。 - 前記イネーブル信号生成部は、リードコマンドに応答してイネーブルされ、バースト終了信号またはバーストコマンドに応答してディセーブルされる前記リードイネーブル信号を生成することを特徴とする請求項2に記載のアドレス制御回路。
- 前記イネーブル信号生成部は、
クロックに応答して前記バースト終了信号をバッファリングする第1のバッファーと、
前記 第1のバッファーの出力信号をラッチする第1のラッチと、
前記クロックに応答して前記 第1のラッチの出力信号を伝達する伝達素子と、
前記伝達素子の出力信号をバッファリングする第2のバッファーと、
前記バーストコマンド及び前記リードコマンドに応答して前記第2のバッファーの駆動を制御するスイッチ部と、
前記バーストコマンドに応答して前記第2のバッファーの出力ノードを駆動する駆動素子と、
前記第2のバッファーの出力ノードをラッチして前記リードイネーブル信号を生成する第2のラッチと、
を含むことを特徴とする請求項3に記載のアドレス制御回路。 - 前記アドレスバッファーは、
前記アドレスデコーディング信号をバッファリングするバッファー部と、
前記リードイネーブル信号に応答して前記バッファー部の駆動を制御するスイッチ素子と、
を含むことを特徴とする請求項2に記載のアドレス制御回路。 - 前記ライトカラムアドレス制御回路は、
前記第2のバースト区間でイネーブルされるライトイネーブル信号を生成するイネーブル信号生成部と、
前記アドレスをデコーディングしてアドレスデコーディング信号を生成するアドレスデコーダと、
前記ライトイネーブル信号に応答して前記アドレスデコーディング信号をバッファリングし、前記ライトカラムアドレスとして出力するアドレスバッファーと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載のアドレス制御回路。 - 前記イネーブル信号生成部は、ライトコマンドに応答してイネーブルされ、バースト終了信号またはバーストコマンドに応答してディセーブルされる前記ライトイネーブル信号を生成することを特徴とする請求項6に記載のアドレス制御回路。
- 前記イネーブル信号生成部は、
クロックに応答して前記バースト終了信号をバッファリングする第1のバッファーと、
前記 第1のバッファーの出力信号をラッチする第1のラッチと、
前記クロックに応答して前記 第1のラッチの出力信号を伝達する伝達素子と、
前記伝達素子の出力信号をバッファリングする第2のバッファーと、
前記バーストコマンド及び前記ライトコマンドに応答して前記第2のバッファーの駆動を制御するスイッチ部と、
前記バーストコマンドに応答して前記第2のバッファーの出力ノードを駆動する駆動素子と、
前記第2のバッファーの出力ノードをラッチして前記ライトイネーブル信号を生成する第2のラッチと、
を含むことを特徴とする請求項7に記載のアドレス制御回路。 - 前記アドレスバッファーは、
前記アドレスデコーディング信号をバッファリングするバッファー部と、
前記ライトイネーブル信号に応答して前記バッファー部の駆動を制御するスイッチ素子と、
を含むことを特徴とする請求項6に記載のアドレス制御回路。 - コマンド及びアドレスが入力されるパッドを含むコマンドアドレス入力部と、
データが入出力されるパッドを含むデータ入出力部と、
前記データ入出力部と同一の縁領域に配置され、ライト動作実行のためのバースト区間で、前記コマンドアドレス入力部に入力されるアドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、
を含むことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記コマンドアドレス入力部と前記データ入出力部は、異なる縁領域に配置されることを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置。
- 前記ライトカラムアドレス制御回路は、
前記バースト区間でイネーブルされるライトイネーブル信号を生成するイネーブル信号生成部と、
前記アドレスをデコーディングしてアドレスデコーディング信号を生成するアドレスデコーダと、
前記ライトイネーブル信号に応答して前記アドレスデコーディング信号をバッファリングし、前記ライトカラムアドレスとして出力するアドレスバッファーと、
を含むことを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置。 - 前記イネーブル信号生成部は、ライトコマンドに応答してイネーブルされ、バースト終了信号またはバーストコマンドに応答してディセーブルされる前記ライトイネーブル信号を生成することを特徴とする請求項12に記載の半導体メモリ装置。
- 前記イネーブル信号生成部は、
クロックに応答して前記バースト終了信号をバッファリングする第1のバッファーと、
前記 第1のバッファーの出力信号をラッチする第1のラッチと、
前記クロックに応答して前記 第1のラッチの出力信号を伝達する伝達素子と、
前記伝達素子の出力信号をバッファリングする第2のバッファーと、
前記バーストコマンド及び前記ライトコマンドに応答して前記第2のバッファーの駆動を制御するスイッチ部と、
前記バーストコマンドに応答して前記第2のバッファーの出力ノードを駆動する駆動素子と、
前記第2のバッファーの出力ノードをラッチして前記ライトイネーブル信号を生成する第2のラッチと、
を含むことを特徴とする請求項13に記載の半導体メモリ装置。 - 前記アドレスバッファーは、
前記アドレスデコーディング信号をバッファリングするバッファー部と、
前記ライトイネーブル信号に応答して前記バッファー部の駆動を制御するスイッチ素子と、
を含むことを特徴とする請求項12に記載の半導体メモリ装置。 - 前記コマンドアドレス入力部に入力されるアドレスをリピーティングして生成されたリピーティングアドレスを、前記ライトカラムアドレス制御回路に伝達するリピーターをさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置。
- 前記リピーターは、
前記アドレス及び前記ライトイネーブル信号に応答してプルアップ信号及びプルダウン信号を生成する駆動信号生成部と、
前記プルアップ信号及びプルダウン信号に応答して前記リピーティングアドレスを駆動する駆動部と、
を含むことを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置。 - 前記駆動信号生成部は、前記アドレス及び前記ライトイネーブル信号の両方がイネーブルされる場合にイネーブルされる前記プルアップ信号を生成し、前記アドレスまたは前記ライトイネーブル信号がディセーブルされる場合にイネーブルされる前記プルダウン信号を生成することを特徴とする請求項17に記載の半導体メモリ装置。
- コマンド及びアドレスが入力されるパッドを含むコマンドアドレス入力部と、
データが入出力されるパッドを含むデータ入出力部と、
リード動作実行のための第1のバースト区間で、前記コマンドアドレス入力部から入力されるアドレスからリードカラムアドレスを生成するリードカラムアドレス制御回路と、
ライト動作実行のための第2のバースト区間で、前記アドレスからライトカラムアドレスを生成するライトカラムアドレス制御回路と、
を含むことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記コマンドアドレス入力部及び前記リードカラムアドレス制御回路は、第1の縁領域に配置され、前記データ入出力部及び前記ライトカラムアドレス制御回路は、第2の縁領域に配置されることを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置。
- 前記リードカラムアドレスが入力される第1のアドレスラインと前記ライトカラムアドレスが入力される第2のアドレスラインとの間に連結されたリピーターをさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置。
- 前記リピーターは、前記リード動作が行われる場合、前記第1のアドレスラインを通じて伝達された前記リードカラムアドレスをリピーティングして前記第2のアドレスラインに伝達し、前記ライト動作が行われる場合、前記第2のアドレスラインを通じて伝達された前記ライトカラムアドレスをリピーティングして前記第1のアドレスラインに伝達することを特徴とする請求項21に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第1のアドレスラインは、第1のバンクのメモリセルを選択するために、前記第1のアドレスラインの信号をデコーディングする第1のカラムデコーダに連結され、前記第2のアドレスラインは、第2のバンクのメモリセルを選択するために、前記第2のアドレスラインの信号をデコーディングする第2のカラムデコーダに連結されることを特徴とする請求項22に記載の半導体メモリ装置。
- 前記リピーターは、
前記リードイネーブル信号及び前記第1のアドレスラインを通じて伝達された前記リードカラムアドレスに応答して第1のプルアップ信号及び第1のプルダウン信号を生成する第1の駆動信号生成部と、
前記第1のプルアップ信号及び前記第1のプルダウン信号に応答して前記第2のアドレスラインを駆動する第1の駆動部と、
前記ライトイネーブル信号及び前記第2のアドレスラインを通じて伝達された前記ライトカラムアドレスに応答して第2のプルアップ信号及び第2のプルダウン信号を生成する第2の駆動信号生成部と、
前記第2のプルアップ信号及び前記第2のプルダウン信号に応答して前記第1のアドレスラインを駆動する第2の駆動部と、
を含むことを特徴とする請求項22に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第1の駆動信号生成部は、前記リードカラムアドレス及び前記リードイネーブル信号の両方がイネーブルされる場合にイネーブルされる前記第1のプルアップ信号を生成し、前記リードカラムアドレスまたは前記リードイネーブル信号がディセーブルされる場合にイネーブルされる前記第1のプルダウン信号を生成することを特徴とする請求項24に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第2の駆動信号生成部は、前記ライトカラムアドレス及び前記ライトイネーブル信号の両方がイネーブルされる場合にイネーブルされる前記第2のプルアップ信号を生成し、前記ライトカラムアドレスまたは前記ライトイネーブル信号がディセーブルされる場合にイネーブルされる前記第2のプルダウン信号を生成することを特徴とする請求項24に記載の半導体メモリ装置。
- 前記コマンドアドレス入力部に入力されるアドレスをリピーティングして生成されたリピーティングアドレスを、前記ライトカラムアドレス制御回路に伝達するリピーターをさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置。
- 前記リピーターは、
前記アドレス及び前記ライトイネーブル信号に応答してプルアップ信号及びプルダウン信号を生成する駆動信号生成部と、
前記プルアップ信号及びプルダウン信号に応答して前記リピーティングアドレスを駆動する駆動部と、
を含むことを特徴とする請求項27に記載の半導体メモリ装置。 - 前記駆動信号生成部は、前記アドレス及び前記ライトイネーブル信号の両方がイネーブルされる場合にイネーブルされる前記プルアップ信号を生成し、前記アドレスまたは前記ライトイネーブル信号がディセーブルされる場合にイネーブルされる前記プルダウン信号を生成することを特徴とする請求項28に記載の半導体メモリ装置。
- 前記コマンドアドレス入力部から入力されるコマンドをデコーディングしてリードコマンド、ライトコマンド及びバーストコマンドを生成するコマンドデコーダと、
既に設定されたバーストレングスに応答して発生するパルスを含む第1及び第2のバースト終了信号を出力するバースト終了信号生成部と、
をさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置。 - 前記リードカラムアドレス制御回路は、
前記第1のバースト区間でイネーブルされるリードイネーブル信号を生成するイネーブル信号生成部と、
前記アドレスをデコーディングしてアドレスデコーディング信号を生成するアドレスデコーダと、
前記リードイネーブル信号に応答して前記アドレスデコーディング信号をバッファリングし、前記リードカラムアドレスとして出力するアドレスバッファーを含むことを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置。 - 前記イネーブル信号生成部は、リードコマンドに応答してイネーブルされ、バースト終了信号またはバーストコマンドに応答してディセーブルされる前記リードイネーブル信号を生成する、請求項31に記載の半導体メモリ装置。
- 前記アドレスバッファーは、
前記アドレスデコーディング信号をバッファリングするバッファー部と、
前記リードイネーブル信号に応答して前記バッファー部の駆動を制御するスイッチ素子と、
を含むことを特徴とする請求項31に記載の半導体メモリ装置。 - 前記ライトカラムアドレス制御回路は、
前記第2のバースト区間でイネーブルされるライトイネーブル信号を生成するイネーブル信号生成部と、
前記アドレスをデコーディングしてアドレスデコーディング信号を生成するアドレスデコーダと、
前記ライトイネーブル信号に応答して前記アドレスデコーディング信号をバッファリングし、前記ライトカラムアドレスとして出力するアドレスバッファーと、
を含むことを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置。 - 前記イネーブル信号生成部は、ライトコマンドに応答してイネーブルされ、バースト終了信号またはバーストコマンドに応答してディセーブルされる前記ライトイネーブル信号を生成することを特徴とする請求項34に記載の半導体メモリ装置。
- 前記アドレスバッファーは、
前記アドレスデコーディング信号をバッファリングするバッファー部と、
前記ライトイネーブル信号に応答して前記バッファー部の駆動を制御するスイッチ素子と、
を含むことを特徴とする請求項34に記載の半導体メモリ装置。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20130806 |