JP2010182367A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010182367A JP2010182367A JP2009024451A JP2009024451A JP2010182367A JP 2010182367 A JP2010182367 A JP 2010182367A JP 2009024451 A JP2009024451 A JP 2009024451A JP 2009024451 A JP2009024451 A JP 2009024451A JP 2010182367 A JP2010182367 A JP 2010182367A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- signal
- read
- mode
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/106—Data output latches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1063—Control signal output circuits, e.g. status or busy flags, feedback command signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1069—I/O lines read out arrangements
Landscapes
- Dram (AREA)
Abstract
【課題】データ入出力回路内でリードデータとモード信号との衝突が生じない半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】モード信号が設定されるモードレジスタ54と、メモリセルアレイ70から読み出されたリードデータを増幅するデータアンプ64と、データアンプによって増幅されたリードデータが伝送されるデータバス65と、データバス65上の信号を外部に出力するデータ入出力回路100と、モードレジスタ64に設定されたモード信号をデータバス65に送出するモード信号出力回路200とを備える。本発明によれば、モード信号をデータ入出力回路の途中に割り込ませるのではなく、データアンプとデータ入出力回路とを接続するデータバス上に供給していることから、データ入出力回路内でリードデータとモード信号とが衝突することがない。
【選択図】図1
【解決手段】モード信号が設定されるモードレジスタ54と、メモリセルアレイ70から読み出されたリードデータを増幅するデータアンプ64と、データアンプによって増幅されたリードデータが伝送されるデータバス65と、データバス65上の信号を外部に出力するデータ入出力回路100と、モードレジスタ64に設定されたモード信号をデータバス65に送出するモード信号出力回路200とを備える。本発明によれば、モード信号をデータ入出力回路の途中に割り込ませるのではなく、データアンプとデータ入出力回路とを接続するデータバス上に供給していることから、データ入出力回路内でリードデータとモード信号とが衝突することがない。
【選択図】図1
Description
本発明は半導体記憶装置に関し、特に、モードレジスタに設定されたモード信号を外部に出力可能な半導体記憶装置に関する。
多くの半導体記憶装置には各種の動作モードが用意されている。用意された各種の動作モードは、モードレジスタに所定のモード信号を設定することによって選択することができる。
モードレジスタに設定されたモード信号は、外部からモードレジスタリードコマンド(MRRコマンド)を発行することによって読み出すことができる(特許文献1)。しかしながら、従来の半導体記憶装置では、モードレジスタから読み出されたモード信号は、通常のリードデータとは異なり、データ入出力回路の途中に割り込む形でデータ入出力回路内の信号経路に供給されることから、リードコマンドの直後にモードレジスタリードコマンドが発行されると、データ入出力回路内を流れているリードデータと、モードレジスタから読み出されたモード信号とが衝突してしまう。
このため、モードレジスタリードコマンドの発行に際しては、このようなデータの衝突が生じないよう、リードコマンドの発行から一定期間をおく必要があった。このことは、連続したコマンドの最小発行間隔(CAS to CAS delay)に関し、モードレジスタリードコマンドは例外的に扱う必要があることを意味する。したがって、コントローラ側の制御が複雑になるという問題があった。
したがって、リードコマンドとモードレジスタリードコマンドを最小発行間隔で連続発行した場合であっても、データ入出力回路内でリードデータとモード信号との衝突が生じない半導体記憶装置が望まれている。
本発明による半導体記憶装置は、動作モードを示すモード信号が設定されるモードレジスタと、複数のメモリセルを有するメモリセルアレイと、前記メモリセルアレイから読み出されたリードデータを増幅するデータアンプと、前記データアンプによって増幅された前記リードデータが伝送されるデータバスと、前記データバス上の信号を前記外部に出力するデータ入出力回路と、前記モードレジスタに設定された前記モード信号を前記データバスに送出するモード信号出力回路と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、モードレジスタから読み出されたモード信号をデータ入出力回路の途中に割り込ませるのではなく、データアンプとデータ入出力回路とを接続するデータバス上に供給していることから、リードコマンドとモードレジスタリードコマンドを最小発行間隔で連続発行した場合であっても、データ入出力回路内でリードデータとモード信号とが衝突することがない。このため、本発明による半導体記憶装置を制御するコントローラは、モードレジスタリードコマンドを通常のリードコマンドと同様に取り扱うことが可能となることから、コントローラ側の制御が容易となる。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明の好ましい実施形態による半導体記憶装置10の構成を示すブロック図である。
本実施形態による半導体記憶装置10はシンクロナスDRAMであり、外部端子として、クロック端子11、コマンド端子12、アドレス端子13、データ入出力端子14を少なくとも備えている。
クロック端子11は、クロック信号CLKが供給される端子であり、供給されたクロック信号CLKは、クロック入力回路21に供給される。クロック入力回路21の出力は、タイミング発生回路22に供給される。タイミング発生回路22は内部クロックICLKを生成し、これを後述する各種内部回路に供給する役割を果たす。
コマンド端子12は、ロウアドレスストローブ信号RAS、カラムアドレスストローブ信号CAS、ライトイネーブル信号WE、チップセレクト信号CSなどのコマンド信号が供給される端子である。これらのコマンド信号は、コマンド入力回路31に供給される。コマンド入力回路31に供給されたこれらコマンド信号は、コマンドデコーダ32に供給される。コマンドデコーダ32は、内部クロックICLKに同期して、コマンド信号の保持、デコード及びカウントなどを行うことによって、各種内部コマンドICMDを生成する。生成された内部コマンドICMDは、ロウ系制御回路51、カラム系制御回路52、リードライト制御回路53、及びモードレジスタ54に供給される。
モードレジスタ54は、本実施形態による半導体記憶装置10の動作モードが設定されるレジスタである。例えば、モードレジスタ54に設定されたモード信号によって、通常動作時におけるレイテンシやクロック周波数などが規定される。また、モードレジスタ54に設定されたモード信号によって、テストモードなどにエントリーすることも可能である。
アドレス端子13は、アドレス信号ADDが供給される端子であり、供給されたアドレス信号ADDは、アドレス入力回路41に供給される。アドレス入力回路41の出力は、アドレスラッチ回路42に供給される。アドレスラッチ回路42は、内部クロックICLKに同期してアドレス信号ADDをラッチする回路である。アドレスラッチ回路42にラッチされたアドレス信号ADDのうち、ロウアドレスについてはロウ系制御回路51に供給され、カラムアドレスについてはカラム系制御回路52に供給される。さらに、モードレジスタセットにエントリーしている場合には、アドレス信号ADDはモードレジスタ54に供給される。
ロウ系制御回路51の出力は、ロウデコーダ61に供給される。ロウデコーダ61は、メモリセルアレイ70に含まれるいずれかのワード線WLを選択する回路である。メモリセルアレイ70内においては、複数のワード線WLと複数のビット線BLが交差しており、その交点にはメモリセルMCが配置されている(図1では、1本のワード線WL、1本のビット線BL及び1個のメモリセルMCのみを示している)。ビット線BLは、それぞれ対応するセンスアンプ63に接続されている。また、カラム系制御回路52の出力は、カラムデコーダ62に供給される。カラムデコーダ62は、メモリセルアレイ70に含まれるいずれかのセンスアンプ63を選択する回路である。
カラムデコーダ62によって選択されたセンスアンプ63は、データアンプ64に接続される。データアンプ64は、リード動作時においてはセンスアンプ63によって増幅されたリードデータをさらに増幅し、これをデータバス65に送出する。一方、ライト動作時においては、データバス65を介して伝送されるライトデータを増幅し、これをセンスアンプ63に供給する。データアンプ64の動作は、リードライト制御回路53によって制御される。
データ入出力端子14は、リードデータDQの出力及びライトデータDQの入力を行うための端子であり、データ入出力回路100に接続されている。図1に示すように、データ入出力回路100とデータアンプ64は、データバス65を介して相互に接続されている。したがって、データバス65を介してデータ入出力回路100に供給されたリードデータは、データ入出力回路100によってデータ入出力端子14から出力される。一方、データ入出力端子14を介してデータ入出力回路100に供給されたライトデータは、データバス65を介してデータアンプ64に供給される。データ入出力回路100の動作は、リードライト制御回路53によって制御される。リードライト制御回路53からデータ入出力回路100に供給される制御信号には、少なくとも制御信号S1〜S7が含まれる。
データ入出力回路100は、入出力データのパラレルシリアル変換及びシリアルパラレル変換を行う役割も果たす。つまり、データバス65を介してデータアンプ64より供給されるリードデータは、シリアル変換されていないパラレルな信号であり、データ入出力回路100はデータバス65上のパラレルなリードデータをシリアルに変換してデータ入出力端子14に供給する。逆に、データ入出力端子14より供給されるライトデータはシリアルな信号であり、データ入出力回路100はこれをパラレル変換して、データバス65に供給する。
さらに、本実施形態による半導体記憶装置10は、モードレジスタ54に設定されたモード信号をデータバス65に送出するモード信号出力回路200を備えている。モード信号出力回路200は、イネーブル信号MRREが活性化している場合に、モードレジスタ54に設定されたモード信号M1〜M4をデータバス65に送出する回路である。イネーブル信号MRREは、内部コマンドICMDがモードレジスタリードを示している場合に(つまり、コマンド端子12を介して外部からモードレジスタリードコマンドが投入された場合に)、リードライト制御回路53より供給される信号である。尚、イネーブル信号MRREが非活性化している場合には、モード信号出力回路200の出力はハイインピーダンス状態となり、したがって、この場合はデータバス65に対して何ら影響を与えない。
以上が本実施形態による半導体記憶装置10の全体構成である。次に、データ入出力回路100及びモード信号出力回路200の回路構成について説明する。
図2は、データ入出力回路100の主要部の回路図である。
図2に示すデータ入出力回路100の主要部は、データバス65を介して供給される4ビットのパラレル信号をシリアル変換する回路部分である。つまり本例は、1ビットのI/O当たり4本のデータバス65−1〜65−4が割り当てられている例を示している。但し、本発明がこれに限定されるものではなく、例えば、1ビットのI/O当たり8本のデータバス65が割り当てられていても構わない。
図2に示すように、データ入出力回路100は、4本のデータバス65−1〜65−4を介して供給される信号をそれぞれラッチする4つのラッチ回路101〜104を有している。ラッチ回路101〜104の前段には、制御信号S1によって制御されるスイッチ101a〜104aが設けられている。したがって、制御信号S1が活性化すると、4本のデータバス65−1〜65−4を介して供給される信号は、それぞれ対応するラッチ回路101〜104に取り込まれる。また、ラッチ回路101〜104の後段には、制御信号S2によって制御されるスイッチ101b〜104bが設けられている。したがって、制御信号S2が活性化すると、ラッチ回路101〜104に取り込まれた4ビットの信号が出力されることになる。
スイッチ101b,103bの出力は、それぞれラッチ回路121,122にそのまま供給される。これに対し、スイッチ102b,104bの出力は、それぞれラッチ回路112,114に供給され、インバータ112a,114a及びスイッチ112b,114bを介してラッチ回路121,122に供給される。スイッチ112b,114bは、制御信号S3によって制御される。したがって、制御信号S2,S3を交互に活性化させることにより、データバス65−1〜65−4を介して供給される4ビットの信号が2ビット+2ビットの信号に変換される。
ラッチ回路121,122に取り込まれた信号は、それぞれインバータ121a,122a及びスイッチ121b,122bを介して、ラッチ回路131,132に供給される。スイッチ121b,122bは、制御信号S4によって制御される。したがって、制御信号S4が活性化するたびに、データバス65−1〜65−4を介して供給される4ビットの信号が2ビットずつ、ラッチ回路131,132に取り込まれることになる。
ラッチ回路131の出力は、インバータ131a及びスイッチ151aを介して、配線L1に供給される。これに対し、ラッチ回路132の出力は、インバータ132a及びスイッチ132bを介してラッチ回路142に一旦取り込まれ、さらに、インバータ142a及びスイッチ152aを介して、配線L2に供給される。スイッチ132bは制御信号S4の反転信号によって制御され、スイッチ151a,152aは制御信号S5によって制御される。
配線L1,L2上のデータは、それぞれスイッチ151b,152bを介して、ラッチ回路161,162に取り込まれる。ラッチ回路161,162に取り込まれた信号は、それぞれインバータ161a,162a及びスイッチ161b,162bを介して、出力バッファ170に共通に供給される。スイッチ151b,162bは制御信号S6によって制御され、スイッチ152b,161bは制御信号S7によって制御される。ここで、制御信号S6と制御信号S7は相補の信号である。したがって、配線L1,L2上の2ビットの信号は、1ビット+1ビットの信号に変換されて、出力バッファ170に供給されることになる。
このように、データ入出力回路100は、4本のデータバス65−1〜65−4を介して供給される4ビットのパラレル信号をシリアルに変換して出力する機能を有している。
図3は、モード信号出力回路200の回路図である。
図3に示すように、モード信号出力回路200は、4本のデータバス65−1〜65−4にそれぞれ対応する単位回路210,220,230,240によって構成されている。単位回路210,220,230,240は、それぞれモード信号M1〜M4の対応するビットを受け、これを対応するデータバス65−1〜65−4に出力する回路であり、互いに同じ回路構成を有している。図3には、単位回路210の回路構成のみを代表して示している。以下、単位回路210の回路構成について説明する。
単位回路210は、いわゆるトライステートバッファの構成を有している。具体的には、モード信号M1とイネーブル信号MRREを受けるNAND回路211と、モード信号M1とイネーブル信号MRREの反転信号を受けるNOR回路212と、直列接続されたPチャンネルMOSトランジスタ213及びNチャンネルMOSトランジスタ214とを備えている。トランジスタ213のゲートにはNAND回路211の出力が供給され、トランジスタ214のゲートにはNOR回路214の出力が供給されている。
かかる構成により、イネーブル信号MRREがハイレベルに活性化している場合、トランジスタ213,214の接続点である出力ノードOUT1の論理レベルは、モード信号M1の論理レベルと一致する。これに対し、イネーブル信号MRREがローレベルに非活性化している場合には、モード信号M1の論理レベルにかかわらず、出力ノードOUT1はハイインピーダンス状態となる。
図4は、通常のリードコマンドが発行された場合の動作を示すタイミング図である。
図4に示すように、クロック信号CLKに同期してリードコマンド(READ)が発行されると、リードレイテンシ−1.5クロックサイクル後に制御信号S1が活性化し、その後、制御信号S2,S3が次々と活性化する。図4に示す例では、リードレイテンシは「3」に設定されている。また、制御信号S2,S3が活性状態から非活性状態へ遷移したことに応答して制御信号S4が活性化し、さらに、制御信号S4に同期して制御信号S6が活性化する。また、制御信号S4が2回に亘って活性化する期間中は、制御信号S5が活性状態を維持する。
これにより、4本のデータバス65−1〜65−4を介してパラレルに供給される4ビットのリードデータD1〜D4は、データ入出力回路100によってシリアル変換されて、データ入出力端子14からシリアルに出力される。
図4に示すように、通常のリードコマンドが発行された場合は、イネーブル信号MRREがローレベルを維持することから、モード信号出力回路200はデータバス65−1〜65−4から完全に切り離される。このため、モード信号出力回路200は、データバス65−1〜65−4に対して何らの影響も与えない。
図5は、モードレジスタリードコマンドが発行された場合の動作を示すタイミング図である。
図5に示すように、クロック信号CLKに同期してモードレジスタリードコマンド(MRR)が発行されると、リードレイテンシ−1.5クロックサイクル後にイネーブル信号MRREが活性化される他は、図4に示した動作と同じ動作が行われる。イネーブル信号MRREは、少なくとも制御信号S1の活性化期間中にハイレベルとなる。
これにより、4本のデータバス65−1〜65−4を介してパラレルに供給される4ビットのモード信号M1〜M4は、データ入出力回路100によってシリアル変換されて、データ入出力端子14からシリアルに出力される。
このように、モードレジスタリードコマンド(MRR)が発行された場合におけるデータ入出力回路100の動作は、通常のリードコマンド(READ)が発行された場合の動作と同じである。
図6は、リードコマンドとモードレジスタリードコマンドが連続して発行された場合の動作を示すタイミング図である。リードコマンドとモードレジスタリードコマンドの発行間隔は2クロックサイクルであり、カラム系コマンドの最小発行間隔(CAS to CAS delay)に等しい。
図4及び図5を用いて説明したように、リードコマンド(READ)が発行された場合の動作と、モードレジスタリードコマンド(MRR)が発行された場合の動作は基本的に同じであることから、図6に示すように、データ入出力回路100は、通常のリードコマンド(READ)が連続して発行された場合と同じように動作する。つまり、データ入出力回路100は、投入されたコマンドがリードコマンドであるかモードレジスタリードコマンドであるかを区別することなく、同じように動作すれば足りる。
したがって、図6に示すように、リードコマンドが発行されてからリードレイテンシ(3クロック)が経過した後、リードデータD1〜D4がバースト出力され、モードレジスタリードコマンドが発行されてからリードレイテンシ(3クロック)が経過した後、モード信号M1〜M4がバースト出力されることになる。このように、モードレジスタリードコマンドの投入からモード信号M1が出力されるまでのレイテンシは、リードレイテンシと等しい。
図7は比較例によるタイミング図であり、本実施形態とは異なり、モードレジスタ54から読み出されたモード信号をデータ入出力回路100内の配線L1,L2に供給する場合の動作を示している。
図7に示すように、データ入出力回路100の途中にモード信号を割り込ませると、制御信号S5の活性化により配線L1,L2にリードデータが供給されている途中で、イネーブル信号MRREの活性化により配線L1,L2にモード信号が供給されてしまう。これにより、配線L1,L2においてリードデータとモード信号の衝突が生じ、リードデータ及びモード信号とも正しく出力されなくなってしまう。尚、図7においてリードデータD1〜D4及びモード信号M1〜M4を破線で示しているのは、データの衝突によって正しく出力されないことを意味する。
しかも、配線L1,L2は、4ビットのパラレル信号が2ビット+2ビットにシリアル変換され、これら2ビットの信号が供給される配線であることから、ここにモード信号を供給しようとすると、1回のモードレジスタリードコマンド当たり、4ビットのモード信号M1〜M4のうち2ビットしか出力することができない。
これに対し、本実施形態ではこれらの問題が全て解決されている。これにより、半導体記憶装置10を制御するコントローラは、モードレジスタリードコマンドを通常のリードコマンドと同様に取り扱うことができるとともに、1回のモードレジスタリードコマンドで4ビットのモード信号M1〜M4を読み出すことが可能となる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
10 半導体記憶装置
11 クロック端子
12 コマンド端子
13 アドレス端子
14 データ入出力端子
21 クロック入力回路
22 タイミング発生回路
31 コマンド入力回路
32 コマンドデコーダ
41 アドレス入力回路
42 アドレスラッチ回路
51 ロウ系制御回路
52 カラム系制御回路
53 リードライト制御回路
54 モードレジスタ
61 ロウデコーダ
62 カラムデコーダ
63 センスアンプ
64 データアンプ
65 データバス
70 メモリセルアレイ
100 データ入出力回路
200 モード信号出力回路
210,220,230,240 単位回路
11 クロック端子
12 コマンド端子
13 アドレス端子
14 データ入出力端子
21 クロック入力回路
22 タイミング発生回路
31 コマンド入力回路
32 コマンドデコーダ
41 アドレス入力回路
42 アドレスラッチ回路
51 ロウ系制御回路
52 カラム系制御回路
53 リードライト制御回路
54 モードレジスタ
61 ロウデコーダ
62 カラムデコーダ
63 センスアンプ
64 データアンプ
65 データバス
70 メモリセルアレイ
100 データ入出力回路
200 モード信号出力回路
210,220,230,240 単位回路
Claims (5)
- 動作モードを示すモード信号が設定されるモードレジスタと、
複数のメモリセルを有するメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイから読み出されたリードデータを増幅するデータアンプと、
前記データアンプによって増幅された前記リードデータが伝送されるデータバスと、
前記データバス上の信号を前記外部に出力するデータ入出力回路と、
前記モードレジスタに設定された前記モード信号を前記データバスに送出するモード信号出力回路と、を備えることを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記データバス上の信号はシリアル変換されていないパラレルな信号であり、前記データ入出力回路は前記データバス上のパラレルな信号をシリアルに変換する機能を有していることを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置。
- 前記モード信号出力回路は、イネーブル信号が活性化している場合に前記モード信号を前記データバスに送出し、前記イネーブル信号が非活性化している場合には出力をハイインピーダンス状態とすることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体記憶装置。
- 前記データ入出力回路は、前記イネーブル信号が活性化している場合と非活性化している場合とで同じ動作を行うことを特徴とする請求項3に記載の半導体記憶装置。
- リードコマンドの投入に応答して前記メモリセルアレイから読み出された前記リードデータの出力を行い、
モードレジスタリードコマンドの投入に応答して前記モードレジスタから読み出された前記モード信号の出力を行い、
前記リードコマンドの投入から前記リードデータの出力までのレイテンシと、前記モードレジスタリードコマンドの投入から前記モード信号の出力までのレイテンシが等しいことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の半導体記憶装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009024451A JP2010182367A (ja) | 2009-02-05 | 2009-02-05 | 半導体記憶装置 |
US12/700,121 US8325537B2 (en) | 2009-02-05 | 2010-02-04 | Mode register output circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009024451A JP2010182367A (ja) | 2009-02-05 | 2009-02-05 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010182367A true JP2010182367A (ja) | 2010-08-19 |
Family
ID=42397614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009024451A Pending JP2010182367A (ja) | 2009-02-05 | 2009-02-05 | 半導体記憶装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8325537B2 (ja) |
JP (1) | JP2010182367A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI416706B (zh) * | 2010-12-20 | 2013-11-21 | Univ Nat Chiao Tung | 三維積體電路的靜電放電防護結構 |
JP2023522815A (ja) * | 2021-03-29 | 2023-06-01 | チャンシン メモリー テクノロジーズ インコーポレイテッド | データ伝送回路及び方法、記憶装置 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6179999B2 (ja) | 2013-09-30 | 2017-08-16 | 積水メディカル株式会社 | 循環腫瘍細胞濃縮分離デバイス及び循環腫瘍細胞の濃縮分離方法 |
US10515683B2 (en) | 2018-01-29 | 2019-12-24 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor device providing an output in response to a read command or a mode-register read command |
KR102463924B1 (ko) | 2018-04-10 | 2022-11-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 및 반도체시스템 |
KR102466965B1 (ko) | 2018-04-23 | 2022-11-14 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 |
KR102576766B1 (ko) * | 2018-07-13 | 2023-09-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 |
KR20200137739A (ko) | 2019-05-31 | 2020-12-09 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 |
KR20220070886A (ko) | 2020-11-23 | 2022-05-31 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법 |
CN116030850B (zh) * | 2021-10-27 | 2024-07-12 | 长鑫存储技术有限公司 | 数据传输电路、方法及存储装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3351953B2 (ja) * | 1996-03-19 | 2002-12-03 | 富士通株式会社 | モードレジスタ制御回路およびこれを有する半導体装置 |
JP2000030464A (ja) * | 1998-07-15 | 2000-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US7610455B2 (en) * | 2005-05-11 | 2009-10-27 | Infineon Technologies Ag | Technique to read special mode register |
KR100675292B1 (ko) * | 2005-10-13 | 2007-01-29 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이를 구비하는 메모리 시스템 |
KR100919815B1 (ko) * | 2008-08-04 | 2009-10-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
KR101047000B1 (ko) * | 2009-05-28 | 2011-07-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 모드레지스터리드 제어회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치 |
-
2009
- 2009-02-05 JP JP2009024451A patent/JP2010182367A/ja active Pending
-
2010
- 2010-02-04 US US12/700,121 patent/US8325537B2/en active Active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI416706B (zh) * | 2010-12-20 | 2013-11-21 | Univ Nat Chiao Tung | 三維積體電路的靜電放電防護結構 |
JP2023522815A (ja) * | 2021-03-29 | 2023-06-01 | チャンシン メモリー テクノロジーズ インコーポレイテッド | データ伝送回路及び方法、記憶装置 |
JP7446449B2 (ja) | 2021-03-29 | 2024-03-08 | チャンシン メモリー テクノロジーズ インコーポレイテッド | データ伝送回路及び方法、記憶装置 |
US12106821B2 (en) | 2021-03-29 | 2024-10-01 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Data transmission circuit, method of making it, and storage device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100195413A1 (en) | 2010-08-05 |
US8325537B2 (en) | 2012-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010182367A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6094375A (en) | Integrated circuit memory devices having multiple data rate mode capability and methods of operating same | |
KR100533965B1 (ko) | Dqs 신호의 리플현상으로 인하여 오동작을 방지할 수있는 동기식 메모리 장치 | |
US6510095B1 (en) | Semiconductor memory device for operating in synchronization with edge of clock signal | |
US6987704B2 (en) | Synchronous semiconductor memory device with input-data controller advantageous to low power and high frequency | |
JP4370507B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP5363252B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
US8358558B2 (en) | Address control circuit and semiconductor memory device | |
US6807108B2 (en) | Semiconductor memory device having select circuit | |
KR100871377B1 (ko) | 파이프 래치 장치 및 파이프 래치 방법 | |
US5812492A (en) | Control signal generation circuit and semiconductor memory device that can correspond to high speed external clock signal | |
US5323355A (en) | Semiconductor memory device | |
US8483005B2 (en) | Internal signal generator for use in semiconductor memory device | |
JP2010277677A (ja) | バッファ制御信号生成回路及びこれを用いた半導体メモリ装置 | |
JPH11306758A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7577046B2 (en) | Circuit and method for generating column path control signals in semiconductor device | |
JP2005322373A (ja) | マルチポートメモリ素子 | |
JP2016005075A (ja) | 半導体装置 | |
JP2006172577A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7212451B2 (en) | Column selection signal generator of semiconductor memory device | |
JP5431028B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP5587562B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7317629B2 (en) | Semiconductor memory device with simplified data control signals | |
KR20080051835A (ko) | 반도체 메모리 장치의 데이터 입출력 제어 신호 생성 회로 | |
KR20080114405A (ko) | 어드레스 동기 회로 |