JP2011104722A - 耐欠損性、耐溶着性にすぐれたダイヤモンド被覆工具 - Google Patents

耐欠損性、耐溶着性にすぐれたダイヤモンド被覆工具 Download PDF

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Abstract

【課題】CFRPあるいはAl合金等の高速切削加工において、すぐれた耐欠損性、耐溶着性を示し、長期の使用に亘ってすぐれた切削性能を発揮するダイヤモンド被覆工具を提供する。
【解決手段】WC基超硬合金またはTiCN基サーメットで構成された工具基体表面に、第1単位層と第2単位層との交互積層からなるダイヤモンド皮膜を被覆したダイヤモンド被覆工具において、第1単位層は、(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成され、また、第2単位層は、(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとのの交互積層構造として構成されているダイヤモンド被覆工具。
【選択図】 図1

Description

この発明は、炭化タングステン基超硬合金または炭窒化チタン基サーメットからなる工具基体にダイヤモンド皮膜を被覆したダイヤモンド被覆工具に関し、特に、金属材料よりも比強度、比剛性の高いCFRP(Carbon Fiber Reinforced Plastics。炭素繊維強化プラスチック)あるいは溶着性の高いAl合金等の高速切削加工において、すぐれた耐欠損性、耐溶着性を示し、長期の使用に亘って、すぐれた切削性能を発揮するダイヤモンド被覆工具に関するものである。
従来、炭化タングステン基(WC基)超硬合金または炭窒化チタン基(TiCN基)サーメットなどの工具基体に、ダイヤモンド皮膜を被覆したダイヤモンド被覆工具が知られており、
例えば、特許文献1に示されるように、工具基体表面に、(100)面主体の平滑性に優れたダイヤモンド膜と、(111)面主体の耐溶着性ダイヤモンド膜とを交互に積層し、ダイヤモンド膜最表面の表面粗さをRz:1μm以下としたダイヤモンド被覆工具が知られており、この被覆工具によれば、AlまたはAl合金の切削加工ですぐれた耐溶着性を示し、また、平滑性にすぐれた仕上げ面が得られることが知られている。
特開2006−130578号公報
近年の切削加工装置のFA化はめざましく、一方で切削加工に対する省力化および省エネ化、さらに低コスト化の要求は強く、これに伴って、切削条件はますます高速化している。上記の従来被覆工具は、これを通常条件での切削加工に用いた場合には特段の問題は生じないが、これを、一般の金属材料に比して、比強度、比剛性にすぐれるCFRPの高速切削、軟質で溶着性の高いAl合金等の高速切削に用いた場合には、CFRPは炭素繊維とエポキシ系樹脂の複合材であるため工具摩耗が激しく、また、Al合金等は、切削時の切刃への溶着、欠損を生じやすく、工具寿命が短命であるという問題点があった。
そこで、本発明者等は、上述のような観点から、特にCFRPあるいはAl合金等の高速切削加工で、長期の使用に亘って、すぐれた耐摩耗性を発揮するダイヤモンド被覆工具を開発すべく鋭意研究を行った結果、以下の知見を得た。
即ち、図1は、本発明のダイヤモンド被覆工具の側断面の概略図を示すが、図1において、WC基超硬合金またはTiCN基サーメットで構成された工具基体表面に、第1単位層と第2単位層との交互積層からなるダイヤモンド膜を形成し、さらに、上記第1単位層を、(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成し、かつ、上記第2単位層を、(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成することにより、金属材料よりも比強度、比剛性の高いCFRPの高速切削加工で、また、軟質で溶着性の高いAl合金等の高速切削加工で、すぐれた耐欠損性および耐溶着性を示すことにより、長期の使用に亘って、すぐれた切削性能を発揮することを見出したのである。
この発明は、上記知見に基づいてなされたものであって、
「(1) 炭化タングステン基超硬合金または炭窒化チタン基サーメットで構成された工具基体表面に、交互積層構造からなる全層厚5〜50μmのダイヤモンド皮膜が被覆されたダイヤモンド被覆工具において、
上記交互積層構造は、第1単位層と第2単位層との交互積層として構成され、さらに、上記第1単位層は、合計層厚10μm以下の範囲内で、(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成され、また、上記第2単位層は、合計層厚5μm以下の範囲内で、(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成されていることを特徴とするダイヤモンド被覆工具。
(2) 前記ダイヤモンド薄層Aは、柱状結晶組織を有し平均結晶粒径100nm以上1000nm以下のダイヤモンド結晶粒によって構成され、該ダイヤモンド薄層Aについて、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、工具基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記工具基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(111)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.1度のピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度数分布グラフで表した場合、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占める傾斜角度数分布グラフを示し、
さらに、前記ダイヤモンド薄層Bは、柱状結晶組織を有し平均結晶粒径50nm以上800nm以下のダイヤモンド結晶粒によって構成され、該ダイヤモンド薄層Bについて、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、工具基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記工具基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(100)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.1度のピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度数分布グラフで表した場合、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占める傾斜角度数分布グラフを示す前記(1)に記載のダイヤモンド被覆工具。
(3) 前記含非晶質炭素層Cの一層層厚が50〜500nmである前記(1)または(2)に記載のダイヤモンド被覆工具。」
に特徴を有するものである。
つぎに、この発明のダイヤモンド被覆工具の被覆層について、詳細に説明する。
本発明のダイヤモンド皮膜は、第1単位層と第2単位層との交互積層として構成されるとともに、第1単位層自体、(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成され、また、第2単位層自体も(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成される。
上記の各構成層であるダイヤモンド薄層A、ダイヤモンド薄層Bおよび含非晶質炭素層Cは、いずれも、例えば、通常の熱フィラメント法を用いた化学蒸着によって形成することができる。
第1単位層のダイヤモンド薄層A:
工具基体表面あるいは第2単位層上に、例えば、以下の条件の熱フィラメント法により、ダイヤモンド薄層Aを蒸着形成することができる。
成膜圧力 : 2×10−2〜9×10−2 Pa、
流量 : 2000〜4000 mln、
CH流量 : 20〜50 mln、
流量 : 10〜50 mln、
フィラメント電流値 : 150〜250 A、
成膜温度 : 600〜900 ℃、
上記条件で形成されたダイヤモンド薄層Aは、柱状結晶を有し、平均粒径100nm以上1000nm以下のダイヤモンド結晶層として形成される。
なお、この発明でいう平均結晶粒径とは、各層の層厚の中心部分における結晶粒径を透過型電子顕微鏡にて測定し、その平均値を各層の平均結晶粒子径であると定義する。
上記ダイヤモンド薄層Aについて、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(111)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.25度ピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度分布グラフを作成したところ、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、前記0〜20度の範囲内に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占める傾斜角度数分布グラフを示す。
このように、ダイヤモンド薄層Aは、(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド膜として形成され、高速切削加工時にダイヤモンド膜の耐欠損性を向上させ、また、このダイヤモンド膜の有する高硬度により耐摩耗性を向上させる。
第1単位層の含非晶質炭素層C:
上記ダイヤモンド薄層Aのうえに、含非晶質炭素層Cを同じく以下の条件の熱フィラメント法による形成をする。
成膜圧力 : 2×10−2〜9×10−2 Pa、
流量 : 2000〜4000 mln、
CH流量 : 80〜150 mln、
フィラメント電流値 : 150〜200 A、
成膜温度 : 600〜900 ℃、
上記条件で形成された含非晶質炭素層Cについて、透過型電子顕微鏡により観察したところ、ハローパターンを示すことから該層中には非晶質構造の炭素の存在することが確認される。
また、この含非晶質炭素層Cは、ダイヤモンド薄層Aの成膜条件と比し、CH4流量を大きく増加した条件で成膜することによって、含非晶質炭素層Cと交互積層を構成するダイヤモンド薄層Aの形成にあたり、結晶成長の核生成密度を高めるとともに、含非晶質炭素層Cとダイヤモンド薄層Aの界面近傍での応力分散効率を上昇させるため、両層間での密着性を向上するとともに、ダイヤモンド薄層Aの粗大粒成長を抑制する。
ただ、この含非晶質炭素層Cの層厚が50nm未満では核生成密度の向上、密着性向上効果が期待できず、一方、含非晶質炭素層Cの層厚が500nmを超えると、ダイヤモンド皮膜の硬度低下が生じるようになるため、含非晶質炭素層Cの層厚は50〜500nmとすることが必要である。
第1単位層:
第1単位層は、上記ダイヤモンド薄層Aと上記含非晶質炭素層Cとを交互に積層することによって構成する。
第1単位層は、ダイヤモンド薄層Aの結晶性向上によって耐欠損性、耐摩耗性を向上させるが、第1単位層の層厚が10μmを超えると、ダイヤモンド薄層Aによる凸凹が顕著となり、含非晶質炭素層Cの表面粗さが粗くなるため、第1単位層の層厚は10μm以下と定めた。
第2単位層のダイヤモンド薄層B:
工具基体表面直上に、例えば、以下の条件の熱フィラメント法により、ダイヤモンド薄層Bを蒸着形成することができる。
成膜圧力 : 2×10−2〜9×10−2 Pa、
流量 : 2000〜4000 mln、
CH流量 : 80〜150 mln、
流量 : 0〜50 mln、
フィラメント電流値 : 150〜200 A、
成膜温度 : 600〜900 ℃、
このダイヤモンド薄層Bは、柱状結晶組織を有し、平均結晶粒径50nm以上800nm以下のダイヤモンド結晶層として形成される。
上記ダイヤモンド薄層Bについて、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(100)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.25度ピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度分布グラフを作成したところ、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、前記0〜20度の範囲内に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占める傾斜角度数分布グラフを示す。
このように、ダイヤモンド薄層Bは、(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド膜として形成され、高速切削加工時にダイヤモンド膜の平滑性を向上させることから、耐溶着性の向上に寄与する。
第2単位層の含非晶質炭素層C:
上記ダイヤモンド薄層Bのうえに、第1単位層の含非晶質炭素層Cの形成と同様な成膜法によって含非晶質炭素層Cを形成することができる。
この含非晶質炭素層Cは、この上にダイヤモンド薄層Bを形成するにあたり、結晶成長の核生成密度を高めるとともに、含非晶質炭素層Cとダイヤモンド薄層Bの界面近傍での応力分散効率を上昇させるため、両層間での密着性を向上するとともに、ダイヤモンド薄層Bの粗大粒成長を抑制する。
ただ、この含非晶質炭素層Cの層厚が50nm未満では核生成密度の向上、密着性向上効果が期待できず、一方、含非晶質炭素層Cの層厚が500nmを超えると、ダイヤモンド皮膜の硬度低下が生じるようになるため、含非晶質炭素層Cの層厚は50〜500nmとすることが必要である。
第2単位層の含非晶質炭素層Cの備える機能は、第1単位層の含非晶質炭素層Cのそれと同様である。
第2単位層:
第2単位層は、上記ダイヤモンド薄層Bと上記含非晶質炭素層Cとを交互に積層することによって構成する。
第2単位層は、ダイヤモンド薄層Bの備える平滑性向上作用によって耐溶着性を高めるが、第2単位層の層厚が5μmを超えると皮膜全体の耐摩耗性を低下させるため、第2単位層の層厚は5μm以下と定めた。
第1単位層と第2単位層の交互積層:
合計層厚10μm以下の範囲内でのダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造から構成される第1単位層と、合計層厚5μm以下の範囲内でのダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造から構成される第2単位層とを、さらに、交互に積層することにより本発明のダイヤモンド被覆層を構成するが、上記ダイヤモンド被覆層の全層厚が1μm未満では、優れた耐摩耗性を長期の使用にわたって発揮することができないばかりか、工具寿命の延命化を図ることもできず、一方、全層厚が50μmを超えるとCFRP、Al合金等の高速切削加工時に切刃部のチッピング、欠損等の異常損傷を発生しやすくなるので、ダイヤモンド被覆層の全層厚は1〜50μmと定めた。
この発明のダイヤモンド被覆工具は、工具基体表面に交互積層構造からなる全層厚1〜50μmのダイヤモンド皮膜が被覆され、上記交互積層構造は、第1単位層と第2単位層との交互積層として構成され、さらに、上記第1単位層は、耐欠損性および耐摩耗性にすぐれた(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成され、また、上記第2単位層は、耐溶着性にすぐれた(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成されていることから、このようなダイヤモンド皮膜を被覆したダイヤモンド被覆工具は、比強度、非剛性の高いCFRPあるいは溶着性の高いAl合金等の高速切削加工において、すぐれた耐欠損性、耐溶着性を示し、長期の使用に亘ってすぐれた耐摩耗性を発揮するものである。
本発明のダイヤモンド被覆工具の層構造(側断面)を示す概略説明図。 本発明エンドミルのダイヤモンド薄層Aの(111)面についての傾斜角度数分布グラフ。 本発明ドリルのダイヤモンド薄層Bの(100)面についての傾斜角度数分布グラフ。
つぎに、この発明のダイヤモンド被覆工具を実施例により具体的に説明する。
ここでは、ダイヤモンド被覆工具を、エンドミル、ドリルに適用した場合について述べるが、本発明はこれに限定されるものではなく、各種の切削工具に適用することが可能である。
原料粉末として、平均粒径:0.8μmの微粒WC粉末、同1.3μmのTaC粉末、同1.2μmのNbC粉末、同2.3μmのCr粉末、同1.5μmのVC粉末、および同1.8μmのCo粉末を用意し、これら原料粉末をそれぞれ表1に示される配合組成に配合し、さらにワックスを加えてアセトン中で24時間ボールミル混合し、減圧乾燥した後、100MPaの圧力で所定形状の各種の圧粉体にプレス成形し、これらの圧粉体を、6Paの真空雰囲気中、7℃/分の昇温速度で1370〜1470℃の範囲内の所定の温度に昇温し、この温度に1時間保持後、炉冷の条件で焼結して、直径が13mmの工具基体形成用丸棒焼結体を形成し、さらに前記の丸棒焼結体から、研削加工にて、切刃部の直径×長さが10mm×30mmの寸法、並びにねじれ角10度の4枚刃スクエア形状をもったWC基超硬合金製の工具基体(エンドミル)C−1〜C−8をそれぞれ製造した。
ついで、これらの工具基体(エンドミル)C−1〜C−8の表面をアセトン中で超音波洗浄し、乾燥した後、酸溶液によるエッチングおよび/またはアルカリ溶液によるエッチング処理を行なった後、
(a)まず、
成膜圧力: 5×10−2 Pa、
流量: 3000 mln、
CH流量: 50 mln、
流量: 30 mln、
フィラメント電流値: 250 A、
成膜温度: 700 ℃
の条件で、柱状結晶組織を有し、平均結晶粒径100nm以上1000nm以下のダイヤモンド薄層Aを形成し、
(b)ついで、成膜条件を変更し、上記ダイヤモンド薄層Aの表面に、
成膜圧力: 5×10−2 Pa、
流量: 3000 mln、
CH流量: 100 mln、
フィラメント電流値: 150 A、
成膜温度: 680 ℃
の条件で、含非晶質炭素層Cを形成し、
(c)上記(a)と(b)を繰り返し行い、所定の目標層厚の第1単位層を形成し、
(d)ついで、
成膜圧力 : 5×10−2 Pa、
流量 : 3000 mln、
CH流量 : 100 mln、
流量 : 30 mln、
フィラメント電流値 : 200 A、
成膜温度 : 650 ℃、
の条件で、柱状結晶組織を有し、平均結晶粒子径50nm以上800nm以下のダイヤモンド薄層Bを形成し、
(e)ついで、
上記(b)と同様の成膜条件で含非晶質炭素層Cを形成し、
(f)上記(d)と(e)を繰り返し行い、所定の目標層厚の第2単位層を形成し、
(g)さらに、上記(a)〜(c)からなる第1単位層の形成、および、上記(d)〜(f)からなる第2単位層の形成を繰り返し行うことにより、第1単位層と第2単位層の交互積層構造からなる目標全層厚のダイヤモンド皮膜を形成することにより、
表2に示される本発明のダイヤモンド被覆エンドミル(以下、本発明エンドミルという)1〜8をそれぞれ製造した。
比較の目的で、上記の工具基体(エンドミル)C−1〜C−8の表面に、前記特許文献1に記載される従来方法によりダイヤモンド皮膜を形成した比較ダイヤモンド被覆エンドミル(以下、比較エンドミルという)1〜8を製造した。
従来方法によるダイヤモンドの成膜条件は、次のとおりである。
(111)面を主体とするダイヤモンド膜の成膜:
反応ガスとしてのメタン(CH4 )、水素(H2 )、一酸化炭素(CO)を供給できるようにしたマイクロ波プラズマCVD装置において、
反応ガス:0.5%以上1%未満のCH4、30%CO、残部H2
成膜時間:1〜60分、
成膜温度:700℃〜1000℃
反応圧力:6.5ラ102 〜4.0ラ103 Pa、
の条件で、(111)面を主体とするダイヤモンド膜をする。
(100)面を主体とするダイヤモンド膜の成膜:
反応ガス:2%以上10%未満のCH4、30%CO、残部H2
成膜時間:1〜30分、
成膜温度:700℃〜1000℃
反応圧力:6.5ラ102 〜4.0ラ103 Pa、
の条件で、(100)面を主体とするダイヤモンド膜をする。
上記(111)面を主体とするダイヤモンド膜の成膜と(100)面を主体とするダイヤモンド膜の成膜を、所定目標層厚になるまで繰り返し行う。
つぎに、上記本発明エンドミル1〜8および上記比較エンドミル1〜8のダイヤモンド皮膜について、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面の測定範囲内に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(111)面、(100)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.1度のピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度数分布グラフを作成した。
図2には、一例として本発明エンドミルのダイヤモンド薄層Aの(111)面についての傾斜角度数分布グラフを示すが、本発明エンドミル1〜8のダイヤモンド皮膜の(111)面の傾斜角度数分布グラフは、いずれもほぼ同様な傾斜角度数分布グラフを示し、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、前記0〜20度の範囲内に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占めた。
表2、表3に、本発明エンドミル1〜8および上記比較エンドミル1〜8のダイヤモンド皮膜について測定された最高ピークが存在する傾斜角区分、0〜20度の範囲内に存在する度数割合を示す。
なお、表2、表3における傾斜角区分(度)は、小数点以下第1位を四捨五入した数値である。
また、表2、表3には、本発明エンドミル1〜8および上記比較エンドミル1〜8のダイヤモンド皮膜の結晶粒径について、各層の層厚の中心部分における結晶粒径を透過型電子顕微鏡にて測定し、その平均値を各層のダイヤモンド結晶粒径として示す。
つぎに、上記本発明エンドミル1〜8および上記比較エンドミル1〜8のそれぞれについて、
[切削条件1] 被削材−平面寸法:100mm×250mm、厚さ:5mmの、炭素繊維と熱硬化型エポキシ系樹脂が積層構造を持つ炭素繊維強化樹脂複合材(CFRP)の板材、
切削速度: 300 m/min.、
切断加工:(5 mm)、
テーブル送り: 720 mm/min.、
エアブロー、
の条件での上記CFRPの乾式高速切断加工試験、
[切削条件2] 被削材−平面寸法:100mm×250mm、厚さ:50mmの、JIS・ADC14の板材、
切削速度: 500 m/min.、
溝深さ(切り込み):径方向(ae)2.5mm,軸方向(ap)8mm、
テーブル送り: 1150 mm/min.、
エアーブロー、
の条件での上記Al合金の乾式高速側面切削加工試験、
をそれぞれ行い、いずれの高速切削加工試験でも切刃部の欠損に伴う被削材のムシレが発生するまでの切削溝長(m)を求めた。
これらの測定結果を表4にそれぞれ示した。
Figure 2011104722
Figure 2011104722
Figure 2011104722
Figure 2011104722
上記の実施例1で製造した直径が13mmの丸棒焼結体を用い、この丸棒焼結体から、研削加工にて、溝形成部の直径×長さが10mm×22mmの寸法、並びにねじれ角30度の2枚刃形状をもったWC基超硬合金製の工具基体(ドリル)D−1〜D−8をそれぞれ製造した。
ついで、これらの工具基体(ドリル)D−1〜D−8の切刃に、ホーニングを施し、上記実施例1と同様のコーティング前処理を施した後、上記実施例1の(a)〜(g)と同一の条件で、工具基体(ドリル)D−1〜D−8の表面に、表5に示されるダイヤモンド皮膜を成膜することにより、本発明のダイヤモンド被覆ドリル(以下、本発明ドリルという)11〜18をそれぞれ製造した。
比較の目的で、上記の工具基体(ドリル)D−1〜D−8の表面に、ホーニングを施し、上記実施例1の比較エンドミルの成膜条件と同一の条件で、上記工具基体(ドリル)の表面に、表6に示されるダイヤモンド皮膜を蒸着形成することにより、比較ダイヤモンド被覆ドリル(以下、比較ドリルという)11〜18をそれぞれ製造した。
つぎに、上記本発明ドリル11〜18および上記比較ドリル11〜18のダイヤモンド皮膜について、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(111)面、(100)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.1度のピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度数分布グラフを作成し、表5、6に、最高ピークが存在する傾斜角区分、0〜20度の範囲内に存在する度数割合を示した。
なお、表5、表6における傾斜角区分(度)は、小数点以下第1位を四捨五入した数値である。
図3には、一例として、本発明ドリルのダイヤモンド皮膜の(100)面についての傾斜角度数分布グラフを示すが、本発明ドリル11〜18のダイヤモンド皮膜の(100)面の傾斜角度数分布グラフは、いずれもほぼ同様な傾斜角度数分布グラフを示し、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、前記0〜20度の範囲内に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占めた。
また、表5、表6には、本発明ドリル11〜18および上記比較ドリル11〜18のダイヤモンド皮膜の結晶粒径について、各層の層厚の中心部分における結晶粒径を透過型電子顕微鏡にて測定し、その平均値を各層のダイヤモンド結晶粒径として示す。
つぎに、上記本発明ドリル11〜18および比較ドリル11〜18のそれぞれについて、
[切削条件3]
被削材−平面寸法:100mm×250mm、厚さ:20mmの、炭素繊維と熱硬化型エポキシ系樹脂が直交積層構造を持つ炭素繊維強化樹脂複合材(CFRP)の板材、
切削速度: 250 m/min.、
送り: 0.15 mm/rev、
貫通穴:(20 mm)、
の条件での上記CFRPの乾式高速穴あけ切削加工試験、
[切削条件4]
被削材−平面寸法:100mm×250mm、厚さ:25mmの、JIS・AC9Aの板材
切削速度: 350 m/min.、
送り: 0.15 mm/rev、
貫通穴:(25 mm)、
の条件での上記Al合金の湿式高速穴あけ切削加工試験、
をそれぞれ行い、いずれの高速切削加工試験でも穴あけ加工数(穴)を求めた。
この測定結果を表7にそれぞれ示した。
Figure 2011104722
Figure 2011104722
Figure 2011104722
表2〜7に示される結果から、本発明ダイヤモンド被覆工具としての本発明エンドミル1〜8および本発明ドリル11〜18は、そのダイヤモンド皮膜が、第1単位層と第2単位層との交互積層として構成され、さらに、第1単位層は、耐欠損性および耐摩耗性にすぐれた(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成され、また、第2単位層は、耐溶着性にすぐれた(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成されていることから、比強度、比剛性の高いCFRPあるいは溶着性の高いAl合金等の高速切削加工に用いた場合でも、長期の使用に亘ってすぐれた耐欠損性、耐溶着性、耐摩耗性を発揮するものであり、ダイヤモンド皮膜の厚膜化も可能となる。
これに対して、(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層と、(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層との交互積層のみからなるダイヤモンド皮膜が形成された比較エンドミル1〜8、比較ドリル11〜18においては、欠損、溶着が発生し、また、耐摩耗性も劣り、工具寿命が短命なものであった。
上述のように、この発明のダイヤモンド被覆工具は、通常条件での切削加工は勿論のこと、金属材料よりも比強度、比剛性の高いCFRPあるいは溶着性の高いAl合金等の高速切削加工においても、長期の使用に亘ってすぐれた耐欠損性、耐溶着性、耐摩耗性を発揮するものであるから、切削加工装置のFA化、並びに切削加工の省力化および省エネ化、さらに低コスト化に十分満足に対応できるものである。

Claims (3)

  1. 炭化タングステン基超硬合金または炭窒化チタン基サーメットで構成された工具基体表面に、交互積層構造からなる全層厚5〜50μmのダイヤモンド皮膜が被覆されたダイヤモンド被覆工具において、
    上記交互積層構造は、第1単位層と第2単位層との交互積層として構成され、さらに、上記第1単位層は、合計層厚10μm以下の範囲内で、(111)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Aと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成され、また、上記第2単位層は、合計層厚5μm以下の範囲内で、(100)面結晶配向性の高いダイヤモンド薄層Bと含非晶質炭素層Cとの交互積層構造として構成されていることを特徴とするダイヤモンド被覆工具。
  2. 前記ダイヤモンド薄層Aは、柱状結晶組織を有し平均結晶粒径100nm以上1000nm以下のダイヤモンド結晶粒によって構成され、該ダイヤモンド薄層Aについて、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、工具基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記工具基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(111)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.1度のピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度数分布グラフで表した場合、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占める傾斜角度数分布グラフを示し、
    さらに、前記ダイヤモンド薄層Bは、柱状結晶組織を有し平均結晶粒径50nm以上800nm以下のダイヤモンド結晶粒によって構成され、該ダイヤモンド薄層Bについて、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、工具基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記工具基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(100)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.1度のピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度数分布グラフで表した場合、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、0〜20度の範囲内の傾斜角区分に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の40%以上の割合を占める傾斜角度数分布グラフを示す請求項1に記載のダイヤモンド被覆工具。
  3. 前記含非晶質炭素層Cの一層層厚が50〜500nmである請求項1または2に記載のダイヤモンド被覆工具。
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