JP2011091702A - 圧電発振器、及び圧電発振器の周波数制御方法 - Google Patents

圧電発振器、及び圧電発振器の周波数制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011091702A
JP2011091702A JP2009244769A JP2009244769A JP2011091702A JP 2011091702 A JP2011091702 A JP 2011091702A JP 2009244769 A JP2009244769 A JP 2009244769A JP 2009244769 A JP2009244769 A JP 2009244769A JP 2011091702 A JP2011091702 A JP 2011091702A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
piezoelectric
frequency
piezoelectric vibrator
piezoelectric oscillator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009244769A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5218372B2 (ja
Inventor
Shunsuke Shigematsu
俊輔 重松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daishinku Corp
Original Assignee
Daishinku Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daishinku Corp filed Critical Daishinku Corp
Priority to JP2009244769A priority Critical patent/JP5218372B2/ja
Publication of JP2011091702A publication Critical patent/JP2011091702A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5218372B2 publication Critical patent/JP5218372B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)

Abstract

【課題】 圧電振動子と、この圧電振動子の温度を所定温度に保つためのヒータ部及び温度制御部とが備えられた圧電発振器において、周囲温度の変化による周波数の変動を少なくする。
【解決手段】圧電発振器1において、圧電振動子2と発振回路6aとを含む発振部6と、複数の素子で構成された前記圧電振動子を温めるためのヒータ部3と、該ヒータ部3から前記圧電振動子2に対して放出される熱量を制御する温度制御部4と、前記ヒータ部3を構成する複数の前記素子のうち当該圧電発振器1の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する1つの素子の温度変化に基づいて、前記圧電振動子2の周波数を制御する周波数制御回路5とを備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、圧電振動子と、この圧電振動子の温度を所定温度に保つためのヒータ部及び温度制御部とを備えた圧電発振器に関するものである。
従来の圧電発振器の一例として、圧電発振器の一部を構成する圧電振動子の温度を一定に保つように構成されたものがある(例えば、特許文献1参照)。
この圧電発振器は、圧電振動子と、発熱体と、感温センサとを備え、圧電振動子の温度を感温センサで測定する。そして、感温センサで測定した温度を示す信号を、発熱体と感温センサとの間に接続された温度制御部により発熱体を制御する電流信号に置き換え、当該電流信号により発熱体の駆動電流を調整する。これにより、発熱体の発熱量が変化し、圧電振動子の温度は、予め設定された値に調整される。
ところで、圧電発振器の周波数は、圧電振動子の周波数温度特性に起因して変動する。そこで、圧電振動子の周波数温度特性について、図17を参照しつつ説明する。図17(a)及び(b)は、ATカットの水晶振動片を具備する圧電振動子の周波数温度特性L11と、SCカットの水晶振動片を具備する圧電振動子の周波数温度特性L12とを示すグラフであり、縦軸は周波数偏差(ppm)、横軸は圧電振動子の温度(℃)を示す。また、図17(a)には、−40℃〜140℃の温度範囲における各圧電振動子の周波数温度特性L11,L12を示し、図17(b)には、70〜90℃の温度範囲における各圧電振動子のより詳細な周波数温度特性L11,L12を示す。
図17(a)に示されるように、ATカットの水晶振動片を具備する圧電振動子及びSCカットの水晶振動片を具備する圧電振動子のいずれにおいても、圧電振動子の温度を変数とした場合、周波数偏差は3次関数として表される。
上記した従来の圧電発振器では、圧電振動子の温度が、例えば、75℃〜85℃の範囲内の温度に保たれるように温度制御が行われており、図17(b)に示されるように、圧電振動子の周波数偏差が、0〜0.4ppmの範囲内に抑えられている。このため、従来の圧電発振器は、圧電振動子の温度が全く制御されていない場合と比べると、圧電振動子が比較的安定した周波数で発振する。
特許第3272633号公報
しかしながら、圧電振動子の温度がほぼ一定、例えば、75℃〜85℃の範囲内の温度に保たれたとしても、図17(b)に示されるように、圧電振動子の周波数偏差は、2次関数的に僅かに変動する。
このため、上記した従来の圧電発振器においても、その発振周波数には、圧電振動子の上記したような周波数温度特性により僅かな変動が見られた。
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであって、圧電振動子と、この圧電振動子の温度を所定温度に保つためのヒータ部及び温度制御部とが備えられた圧電発振器において、周囲温度の変化による周波数の変動が少なくされた圧電発振器を提供することを目的とする。
または、本発明は、圧電振動子と、この圧電振動子の温度を所定温度に保つためのヒータ部及び温度制御部とが備えられた圧電発振器に対し、周囲温度の変化による周波数の変動を少なくすることができる圧電発振器の周波数制御方法を提供することを他の目的とする。
本発明の圧電発振器は、圧電振動子と発振回路とを含む発振部と、複数の素子で構成された前記圧電振動子を温めるためのヒータ部と、該ヒータ部から前記圧電振動子に対して放出される熱量を制御する温度制御部と、前記ヒータ部を構成する複数の前記素子のうち当該圧電発振器の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する少なくとも1つの素子の温度変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御する周波数制御回路とを備えることを特徴とする。
この構成によれば、ヒータ部を構成する複数の素子のうち当該圧電発振器の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する1つの素子の温度変化に基づいて、圧電振動子の周波数が制御されるので、圧電振動子と、この圧電振動子の温度を所定温度に保つためのヒータ部及び温度制御部とが備えられた従来の圧電発振器と比べて、周囲温度の変化による周波数の変動を少なくすることができる。特に、圧電振動子の2次関数的に変化する周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、簡単な回路構成で実現することができる。
また、本発明の圧電発振器において、前記ヒータ部は、前記素子として、トランジスタ及びヒータ抵抗を有していてもよく、前記周波数制御回路は、前記トランジスタの温度変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御してもよい。
この構成では、周囲温度の変化による周波数の変動を確実に少なくすることができる。特に、ヒータ抵抗とトランジスタとを組み合わせたヒータ部では、後述する図2に示すように、当該圧電発振器の周囲の温度変化に対し、トランジスタの消費電力が2次関数的に変化する。このため、この消費電力の変化に対応したトランジスタの温度変化を利用することで、圧電振動子の2次関数的に変化する周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、より簡単な回路構成で実現することができる。
また、本発明の圧電発振器において、前記周波数制御回路は、さらに、当該圧電発振器の周囲の温度変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御してもよい。
この構成では、さらに、当該圧電発振器の周囲の温度変化に基づいて、圧電振動子の周波数が制御されるので、周囲温度の変化による周波数の変動を、さらに少なくすることができる。つまり、圧電振動子の周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、より正確に行うことができる。
また、本発明の圧電発振器において、前記周波数制御回路は、さらに、当該圧電発振器の周囲の温度変化に対して1次関数的に変動する前記ヒータ部の電流の変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御してもよい。
この構成では、さらに、当該圧電発振器の周囲の温度変化に対して1次関数的に変動するヒータ部の電流の変化に基づいて、圧電振動子の周波数が制御されるので、周囲温度の変化による周波数の変動を、さらに少なくすることができる。つまり、圧電振動子の周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、さらに正確に行うことができる。
また、本発明の圧電発振器において、前記圧電振動子を所定温度に保つ恒温槽をさらに備え、前記恒温槽の内部に前記圧電振動子を配してもよい。
この構成では、圧電発振子の温度をより一定に保つことができ、圧電振動子をより安定した周波数で発振させることができる。
また、本発明の圧電発振器において、恒温槽を備える場合、前記ヒータ部は前記恒温槽の外部に配されていてもよい。
この構成では、ヒータ部を恒温槽の内部に配した場合と比べて、恒温槽内部の温度熱勾配の影響を軽減させることができ、圧電振動子をより安定した周波数で発振させることができる。
本発明の圧電発振器において、恒温槽を備える場合、前記発振部が基板の一主面に配され、前記基板の内部に、前記圧電振動子を所定温度に保つ恒温部が設けられ、前記基板の一主面に、前記発振部を封止する恒温ケースが設けられ、前記恒温槽は、前記恒温部と前記恒温ケースとによって構成されることが好ましい。
この構成では、恒温槽が恒温ケースと恒温部とから構成されるので、恒温槽を設けたことによる大型化や製造コストの高騰を最小限に抑えることができる。また、発振部を封止する恒温ケースが基板の一主面に設けられ、恒温部と恒温ケースとによって発振部が封止されるので、恒温槽を別途設ける場合と比べて、本体筐体を低背化や小型化することができる。
本発明の圧電発振器の周波数制御方法は、前記圧電発振器が、圧電振動子と発振回路とを含む発振部と、複数の素子で構成された前記圧電振動子を温めるためのヒータ部と、該ヒータ部から前記圧電振動子に対して放出される熱量を制御する温度制御部とを備えており、前記ヒータ部を構成する複数の前記素子のうち前記圧電発振器の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する1つの素子の温度変化を測定する素子温度測定ステップと、該素子温度測定ステップでの測定結果に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御する周波数制御ステップとを有することを特徴とする。
この方法によれば、圧電振動子と、この圧電振動子の温度を所定温度に保つためのヒータ部及び温度制御部とが備えられた圧電発振器に対し、周囲温度の変化に対して消費電力が2次関数的に変動するヒータ部を構成する1つの素子の温度変化に基づいて、圧電振動子の周波数の制御を行うため、周囲温度の変化による周波数の変動を少なくすることができる。特に、圧電振動子の2次関数的に変化する周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、簡単な回路構成で実現することができる。
また、本発明の圧電発振器の周波数制御方法において、前記圧電発振器の周囲の温度変化を測定する周囲温度測定ステップをさらに有し、前記周波数制御ステップは、さらに、前記周囲温度測定ステップでの測定結果に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御してもよい。
この方法では、さらに、圧電発振器の周囲の温度変化に基づいて、圧電振動子の周波数が制御されるので、周囲温度の変化による周波数の変動を、さらに少なくすることができる。つまり、圧電振動子の周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、より正確に行うことができる。
また、本発明の圧電発振器の周波数制御方法において、前記周波数制御ステップは、さらに、前記圧電発振器の周囲の温度の変化に対して1次関数的に変動する前記ヒータ部の電流の変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御してもよい。
この方法では、さらに、圧電発振器の周囲の温度変化に対して1次関数的に変動するヒータ部の電流の変化に基づいて、圧電振動子の周波数が制御されるので、周囲温度の変化による周波数の変動を、さらに少なくすることができる。つまり、圧電振動子の周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、さらに正確に行うことができる。
本発明によれば、圧電振動子と、この圧電振動子の温度を所定温度に保つためのヒータ部及び温度制御部とが備えられた圧電発振器において、周囲温度の変化による周波数の変動を少なくすることができる。
本発明の実施の形態1に係る圧電発振器を示すブロック図である。 ヒータ部の消費電力と周囲温度との関係を示すグラフである。 1次補償用センサ及び2次補償用センサのそれぞれで測定される温度と、周囲温度との関係を示すグラフである。 本発明の実施の形態1に係る圧電発振器の構造の一例を示す透視図である。 図4に示す圧電発振器を構成する本体筐体と、基板と、金属ケースの概略分解図である。 図4に示す圧電発振器を構成する基板と、その基板上におけるヒータ部、温度制御用センサ、1次補償用センサ、及び2次補償用センサの位置関係を示す概略平面図である。 図4に示す圧電発振器を構成する金属ケースを示す概略斜視図である。 本発明の実施の形態1に係る圧電発振器の電気的構成の一例を示す回路図である。 図8に示す圧電発振器の周波数温度特性の一例を示すグラフである。 図8に示す圧電発振器の周波数制御回路の接続点aにおける電圧と周囲温度との関係を示すグラフである。 図8に示す圧電発振器の周波数制御回路の2次補償用回路により発生する電圧と周囲温度との関係を示すグラフである。 図8に示す圧電発振器の周波数制御回路の1次補償用回路により発生する電圧と周囲温度との関係を示すグラフである。 本発明の実施の形態2に係る圧電発振器を示すブロック図である。 本発明の実施の形態2に係る圧電発振器の構造の一例を示す透視図である。 図14に示す圧電発振器を構成する基板と、その基板上におけるヒータ部、温度制御用センサ及び2次補償用センサの位置関係を示す概略平面図である。 本発明の実施の形態2に係る圧電発振器の電気的構成の一例を示す回路図である。 圧電振動子の周波数温度特性を示すグラフであり、(a)は−40℃〜140℃の範囲における圧電振動子の周波数温度特性を示すグラフであり、(b)は70℃〜90℃の範囲における圧電振動子の周波数温度特性をより詳細に示すグラフである。
以下、本発明の実施の形態に係る圧電発振器について図面を参照しつつ説明する。
<実施の形態1>
図1は、本発明の実施の形態1に係る圧電発振器1を示すブロック図である。
圧電発振器1は、恒温槽7を備えた、いわゆる恒温槽付圧電発振器と呼ばれるものである。図1に示す圧電発振器1は、恒温槽7の内部に、圧電振動子2と、発振回路6aと、2次補償用センサ51と、温度制御用センサ41と、周波数制御回路5とを備え、恒温槽7の外部に、圧電振動子2のヒータ部3と、温度制御部4と、1次補償用センサ52とを備えている。なお、本実施の形態では、発振部6は、圧電振動子2と、発振回路6aと、周波数制御回路5とから構成されている。
圧電振動子2としては、例えばSCカット及びATカットなどの水晶振動片が用いられる。この圧電振動子2は、発振回路6aにより印加した電圧によって振動する。
圧電振動子2の近傍には温度制御用センサ41が配置されており、この温度制御用センサ41により、圧電振動子2付近の温度を測定することで圧電振動子2の温度変化を測定する。
ヒータ部3は、複数の素子、具体的には、トランジスタ32と、ヒータ抵抗31とから構成されており(後述する図4参照)、これら素子により、恒温槽7の内部を温め、間接的に圧電振動子2を温める構成とされている。つまり、圧電振動子2に対して熱を放出して圧電振動子2を温める構成とされている。
また、ヒータ部3は、恒温槽7の外部に配されており、ヒータ部3を恒温槽7の内部に配した場合と比べ、恒温槽7の内部における温度熱勾配の影響が軽減され、圧電振動子2がより安定した周波数で発振する構成とされている。
ヒータ部3の動作は、温度制御部4により制御されている。具体的には、温度制御部4は、温度制御用センサ41により測定された圧電振動子2付近の温度と予め設定された温度との差を求め、この求めた差の大きさに応じて、圧電振動子2に対してヒータ部3から放出される熱量を制御し、圧電振動子2の温度制御を行う。
このような制御により、図1中に二点鎖線で概略的に示す圧電発振器1の周囲(即ち、製品本体の周囲)の温度(以下、周囲温度という)が一定の温度に保たれた環境下においては、圧電振動子2の温度は一定の温度に維持される。
しかしながら、温度制御部4により、圧電振動子2の温度が、例えば、80℃付近の温度に維持されたとしても、図17(b)に示されるように、圧電振動子2の周波数偏差は、圧電振動子2の僅かな温度変化に対して2次関数的に変動する。このような圧電振動子2の周波数温度特性に起因し、周波数制御回路5による制御を行わない場合、圧電発振器1の周波数は、後述する図9のL7で示されるように、約―40℃〜約75℃の範囲内における周囲温度の変化に対し、2次関数的に僅かに変動する。
そこで、本実施の形態では、このような周囲温度の変化による圧電発振器1の周波数の変動を低減させるために、圧電振動子2に印加する電圧を制御して、圧電振動子2の周波数を制御する周波数制御回路5を備えている。
ここで、ヒータ部3の消費電力と周囲温度との関係を図2を参照しつつ説明する。図2は、ヒータ部3の消費電力と周囲温度との関係を示すグラフであり、縦軸は消費電力(W)、横軸は周囲温度(℃)を示す。ただし、温度制御用センサ41で測定する圧電振動子2の温度は、ほぼ一定に制御されているものとする。
ヒータ部3全体の消費電力(即ち、トランジスタ32及びヒータ抵抗31の消費電力の合計)は、約−40℃〜約75℃の範囲において、図2中にL1で示すように、周囲温度の上昇に比例して減少しており、周囲温度の変化に対して1次関数的に変動する。
ヒータ部3を構成するトランジスタ32の消費電力は、図2中にL3で示すように、約−40℃〜約75℃の範囲において、周囲温度の変化に対し、図9のL7に示す周波数制御回路による制御を行わない場合の周波数温度特性とは正負が逆の2次関数的に変動する。
また、ヒータ部を構成するヒータ抵抗31の消費電力は、図2中にL2で示すように、約−40℃〜約75℃の範囲において、周囲温度が上昇するにつれて減少する2次関数的に変動する。
つまり、約−40℃〜約75℃の範囲において、トランジスタ32及びヒータ抵抗31の消費電力は、それぞれ、周囲温度の変化に対して2次関数的に変動し、それらの消費電力の合計(即ちヒータ部3の消費電力)が、1次関数的に変動する。
そこで、本実施の形態に係る圧電発振器1では、上記したようなヒータ部3の周囲温度に対する消費電力の変化に着目し、ヒータ部3を構成する素子(ヒータ抵抗31,トランジスタ32)のうち、周囲温度の変化に対して2次関数的に消費電力が変動する素子、即ち、トランジスタ32の温度変化を測定するための2次補償用センサ51が備えられている。さらに、本実施の形態に係る圧電発振器1では、圧電発振器1の周囲の温度変化を測定するための1次補償用センサ52が備えられている。
図3は、2次補償用センサ51及び1次補償用センサ52のそれぞれで測定される温度と、周囲温度との関係を示すグラフである。図3において、縦軸は2次補償用センサ51又は1次補償用センサ52で測定される温度(℃)を示し、横軸は、周囲温度(℃)を示す。
この2次補償用センサ51で測定される温度は、トランジスタ32の消費電力と同様、図3中L4で示すように、約−40℃〜約75℃の範囲内において、周囲温度の変化に対して2次関数的に変動する。
また、1次補償用センサ52で測定される温度は、図3中L5で示すように、約−40℃〜約75℃の範囲内において、周囲温度の上昇に比例して上昇しており、周囲温度の変化に対して1次関数的に変動する。
このような温度特性に基づき、本実施の形態の圧電発振器1では、以下の周波数制御方法が実施されている。
つまり、本実施の形態の圧電発振器1は、2次補償用センサ51により、ヒータ部3を構成する複数の素子(ヒータ抵抗31及びトランジスタ32)のうち圧電発振器1の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する1つの素子(トランジスタ32)の温度変化を測定する(素子温度測定ステップ)とともに、1次補償用センサ52により、圧電発振器1の周囲の温度変化を測定する(周囲温度測定ステップ)。そして、周波数制御回路5により、素子温度測定ステップでの測定結果と、周囲温度測定ステップでの測定結果とに基づいて、圧電振動子2の周波数を制御する(周波数制御ステップ)。
より具体的には、周波数制御回路5は、周囲温度の変化に対して2次関数的に変動するトランジスタ32の温度変化を利用して、圧電発振器1の周波数温度特性の2次成分を補償する制御電圧を発生させると同時に、周囲温度の変化を利用して、圧電発振器1の周波数温度特性の1次成分を補償する制御電圧を発生させて、圧電振動子2の周波数を制御する。
このようにして圧電振動子2の周波数の制御を行うことで、本実施の形態1に係る圧電発振器1では、後述する図9中のL6に示されるように、周囲温度の変化による周波数の変動が少なく抑えられている。また、周囲温度に対して2次関数的に消費電力が変化するヒータ部3のトランジスタ32の温度変化を利用することで、圧電振動子2の2次関数的に変化する周波数温度特性に因る周波数変動に対する補償を、簡単な回路構成で実現できるようにされている。
−圧電発振器の構造例1−
次に、本発明の実施の形態1に係る圧電発振器1の構造の一例を、図4及び図5を参照しつつ説明する。
図4は、本発明の実施の形態1に係る圧電発振器1の構造の一例を示す透視図であり、図5は、図4に示す圧電発振器1を構成する本体筐体9と、基板8と、金属ケース72の概略分解図である。
本構造例において、圧電発振器1には、図4及び図5に示すように、基板8と、基板8の一主面80に配した圧電振動子2と発振回路(不図示)を含む発振部と、この発振部を封止する金属ケース72(本発明でいう恒温ケース)とが設けられている。
圧電発振器1の本体筐体9は、図4及び図5に示すように、一面に開口部90が形成された保護用ケース91と、保護用ケース91と接合して当該圧電発振器1の構成部材を封止するベース92からなる。ベース92には、外部の電子機器と電気的に接続する外部リード端子93が本体筐体9の内部(内側)から外部(外側)に突出形成されている。なお、保護用ケース91とベース92とは金属を用いて形成されており、ベース92と外部リード端子93との間にはガラスなどで形成された絶縁性を有する部材が介在している。この構成により、EMS(Electro Magnetic Susceptibility)に対応することができる。
次に、図4に示す圧電発振器1の各構成について、図4〜7を用いて詳説する。図6は、図4に示す圧電発振器1を構成する基板8と、その基板8上におけるヒータ部3、温度制御用センサ41、1次補償用センサ52、及び2次補償用センサ51の位置関係を示す概略平面図である。さらに、図7は、図4に示す圧電発振器1を構成する金属ケース72を示す概略斜視図である。
圧電振動子2は、図4及び図5に示すように、SCカットまたはATカットなどの水晶振動片(図示省略)と、この水晶振動片を支持する支持ベース23と、支持ベース23に支持された水晶振動片を気密封止するキャップ24とから構成されている。水晶振動片には、一対の励振電極(図示省略)と、一対の励振電極から引き出された引出電極(図示省略)とが形成されている。支持ベース23には、2つのリード端子21が絶縁性の接合材を用いて接合されている。2つのリード端子21は、それぞれ、支持ベース23から外方に延設されたアウターリード部と、圧電振動子2の内部に配され、水晶振動片の引出電極にそれぞれ接合されたインナーリード部から構成されている。なお、図4に示すように、2つのリード端子21は、圧電振動子2の側面視同一位置に配される。また、2つのリード端子21は支持ベース23から外方へ同一方向に延設されている。
金属ケース72は、図4及び図7に示すように、一端面に開口部73が形成された箱状体であり、この金属ケース72を基板8に配する際、この開口部73が基板8の一主面80に向く。この金属ケース72は、天面板76と、4つの側面板70とからなり、この天面板76の外周端から側面板70が下垂して設けられている。これら4つの側面板70のうち、任意の対向する2面の側面板70には、その先端から突出片74が突出形成されている。なお、金属ケース72は、熱伝導性の高い材料で形成されていることが好ましく、本構造例においては、真鍮が用いられている。
基板8は、複数の層が積層された多層基板から構成され、例えば熱伝導率が0.2W/(m・K)〜0.5W/(m・K)の樹脂基板である。具体例を示すと、基板8として、紙フェノール基板、紙エポキシ基板、ガラスコンポジット基板、ガラスエポキシ基板、またはフッ素樹脂基板を用いることができる。
基板8の内部には、図4に示すように、圧電振動子2を所定温度に保つ恒温部71が設けられている。恒温部71は、基板8の中間層に形成されており、熱伝導性が高い熱伝導性材料であり、平面視矩形の平板状パターンに成形されている。本構造例においては、恒温部71としてベタパターンが用いられている。
基板8の一主面80には、図4〜図6に示すように、圧電振動子2を発振子とした発振回路6aがパターン形成され(図示省略)、発振回路6aの構成部材としての集積回路チップやその他電子部品等(図示省略)、周波数制御回路5(図示省略)、圧電振動子2の温度を測定する温度制御用センサ41、ヒータ部3のトランジスタ32の温度変化を測定する2次補償用センサ51、及び周囲温度の変化を測定する1次補償用センサ52が設けられている。なお、本構造例では、温度制御用センサ41、2次補償用センサ51、及び1次補償用センサ52として、それぞれ、サーミスタが用いられている。
また、図6に示すように、恒温部71の基板8の一主面80の平面視矩形の領域(恒温部71と平面視重なり合う領域)を重複領域Aとし、この重複領域Aに圧電振動子2のリード端子21を電気的に接続する搭載部83が形成されている。搭載部83は、恒温部71に達しない深さの円柱形の凹形状に形成されている。また、重複領域Aの外周に沿って、金属ケース72と接合する接合部82が設けられている。接合部82は、基板8の一主面80の重複領域Aの外周縁の各辺に沿って直方体の凹形状に形成されている。この接合部82には、凹形状の内面から接合部82外の基板8の一主面80上にまで延出した熱伝導性が高い熱伝導膜(図示省略)が設けられている。熱伝導膜は、恒温部71に接続されている。本構造例では、熱伝導膜として、銅が用いられている。
基板8の他主面81には、図4及び図6に示すように、恒温槽7の内部を温めることで、圧電振動子2を間接的に温めるヒータ部3、及びこのヒータ部3から圧電振動子2に対して放出される熱量を制御し、圧電振動子2の温度を制御する温度制御部4が設けられている。このヒータ部3は、上述したように、トランジスタ32とヒータ抵抗31とからなる。なお、本実施の形態では、ヒータ抵抗31として、チップ抵抗等(なお、チップ抵抗に限らず、膜抵抗体であってもよい)が用いられている。
また、基板8には、恒温部71上の基板8の一主面80から恒温部71に貫通する複数のビアホール(図示省略)が形成されている。ビアホールは、このビアホールを介して、ヒータ部3が恒温部71に接続され、ヒータ部3による熱が恒温部71に伝わる。また、基板8の平面視外周に一主面80から他主面81にかけて貫通する孔85が形成され、図4に示すように孔85に外部リード端子93が挿入される。
この圧電発振器1では、恒温部71と金属ケース72によって恒温槽7が構成される。恒温槽7内では、基板8の一主面に配された圧電振動子2と発振回路6aとが封止され、圧電振動子2が所定温度に保たれる。
また、図4に示すように、恒温槽7の外側にヒータ部3(トランジスタ32及びヒータ抵抗31)と1次補償用センサ52とが配され、恒温槽7の内側に、温度制御用センサ41と2次補償用センサ51とが配されている。本構造例においては、図4及び図6に示すように、温度制御用センサ41は、圧電振動子2のキャップ24と対向する位置に設けられ、2次補償用センサ51は、基板8を介してトランジスタ32と対向する位置に設けられている。そして、1次補償用センサ52は、ヒータ部3から放出される熱の影響を受け難い、恒温槽7の外側のヒータ部3から離れた位置に設けられている。
上記したような構造例1によれば、恒温槽7が金属ケース(恒温ケース)72と恒温部71とから構成されるので、恒温槽7を設けたことによる大型化や製造コストの高騰を最小限に抑えることができる。また、発振部(圧電振動子2及び発振回路6a)を封止する金属ケース72が基板8の一主面80に設けられ、恒温部71と金属ケース72とによって発振部が封止されるので、恒温槽7を別途設ける場合と比べて、本体筐体9を低背化や小型化することができる。
−圧電発振器の電気的構成例1−
次に、本発明の実施の形態1に係る圧電発振器1の電気的構成の一例について図8を参照しつつ説明する。
図8は、本発明の実施の形態1に係る圧電発振器1の電気的構成の一例を示す回路図である。
図8に示す圧電発振器1では、周波数制御回路5により、2次補償用センサ51でトランジスタ32の温度変化を測定するとともに、1次補償用センサ52で周囲温度の変化を測定し、これらの測定結果に従って、圧電振動子2の周波数を制御している。
図8に示すように、周波数制御回路5は、発振回路6a及び圧電振動子2とともに発振部6を構成している。さらに、周波数制御回路5は、2次補償用センサ51と、1次補償用センサ52と、抵抗53,54,55,56と、バリキャップダイオード57とから構成されている。なお、図1では、便宜上、2次補償用センサ51と、1次補償用センサ52を周波数制御回路5とは別に記載している。
また、温度制御部4は、集積回路素子で構成されたオペアンプ46と、抵抗42,43,44,45とから構成されている。
図8に示す圧電発振器1の電気的構成をより詳細に説明すると、ヒータ抵抗31の一端子とトランジスタ32のコレクタ端子とが直列に接続されている。ここで、ヒータ抵抗31の他端子は電源電圧(Vcc)に接続されており、トランジスタ32のエミッタ端子は接地されている。
そして、このトランジスタ32の温度変化を測定する2次補償用センサ51の一端子には、抵抗53の一端子が接続されている。さらに、2次補償用センサ51の他端子は、電源回路を介して電源電圧に接続されている。なお、2次補償用センサ51は、温度によって抵抗値が変化する感温素子(例えば、サーミスタ)であり、図8では、温度が低くなると抵抗値が大きくなり、温度が高くなると抵抗値が小さくなる感温素子が用いられている。
また、周囲温度の変化を測定する1次補償用センサ52の一端子には、抵抗54の一端子が接続されている。さらに、1次補償用センサ52の他端子は、電源回路を介して電源回路に接続されている。なお、1次補償用センサ52は、温度によって抵抗値が変化する感温素子(例えば、サーミスタ)であり、図8では、温度が低くなると抵抗値が大きくなり、温度が高くなると抵抗値が小さくなる感温素子が用いられている。
そして、抵抗53の他端子と抵抗54の他端子とが接続され、これらの接続点aが、直列に接続された圧電振動子2の一端子とバリキャップダイオード57のカソード端子との接続点bに接続されている。また、接続点bには、抵抗55の一端子が接続されており、この抵抗55の他端子は接地されている。さらに、バリキャップダイオード57のアノード端子には抵抗56の一端子が接続されており、この抵抗56の他端子は接地されている。
また、発振回路6aの一端子には、圧電振動子2の他端子が接続されており、発振回路6aの他端子には、バリキャップダイオード57のアノード端子と抵抗56との接続点cが接続されている。
温度制御用センサ41の一端子は、オペアンプ46の非反転入力端子に接続されている。さらに、温度制御用センサ41とオペアンプ46との接続点dには、抵抗44の一端子が接続されており、この抵抗44の他端子は電源回路を介して電源電圧に接続されている。さらに、温度制御用センサ41の他端子は接地されている。なお、温度制御用センサ41は、温度によって抵抗値が変化する感温素子(例えば、サーミスタ)であり、図8では、温度が低くなると抵抗値が大きくなり、温度が高くなると抵抗値が小さくなる感温素子が用いられている。
また、直列に接続された抵抗42,43の接続点eは、オペアンプ46の反転入力端子に接続されている。さらに、抵抗42の他端子は、電源回路を介して電源電圧に接続されており、抵抗43の他端子は接地されている。
そして、オペアンプ46の反転入力端子と接続点eとの間の接続点fには、抵抗45の一端子が接続されており、この抵抗45の他端子はオペアンプ46の出力端子に接続されている。さらに、オペアンプ46の出力端子と抵抗45との接続点gは、抵抗47を介してトランジスタ32のベースに接続されている。
上記したような電気的構成によれば、例えば、圧電振動子2付近の温度が低くなると温度制御用センサ41の抵抗値が大きくなって温度制御用センサ41の端子間電圧が大きくなり、オペアンプ46の出力電圧が大きくなる。これにより、オペアンプ46の出力電流が増大し、トランジスタ32のコレクタ電流が増大してヒータ抵抗31を流れる電流が増え、ヒータ抵抗31の発熱量が大きくなる。そのため、圧電振動子2付近の温度が低くなると、ヒータ抵抗31の発熱量が大きくなって圧電振動子2をより急速に温めることができる。
また、例えば、圧電振動子2付近の温度が高くなると温度制御用センサ41の抵抗値が小さくなって温度制御用センサ41の端子間電圧が小さくなり、オペアンプ46の出力電圧が小さくなる。これにより、オペアンプ46の出力電流が減少し、トランジスタ32のコレクタ電流が減少してヒータ抵抗31を流れる電流が減り、ヒータ抵抗31の発熱量が小さくなる。そのため、圧電振動子2付近の温度が高くなると、ヒータ抵抗31の発熱量が小さくなって圧電振動子2を緩やかに温めることができる。
温度制御用センサ41、温度制御部4及びヒータ部3において、このような動作が実施されることにより、圧電振動子2の温度は一定の温度になり、圧電振動子2は、発振回路6aにより印加した電圧に従って安定した周波数で発振する。
さらに、図8に示す圧電発振器1では、温度制御用センサ41、温度制御部4及びヒータ部3において圧電振動子2の温度を制御するだけでなく、2次補償用センサ51でトランジスタ32の温度変化を測定し、1次補償用センサ52で周囲温度の変化を測定する。そして、周波数制御回路5により、2次補償用センサ51及び1次補償用センサ52での測定結果に基づいて圧電振動子2の周波数を制御する。
図9は、図8に示す圧電発振器1の周波数温度特性の一例を示すグラフであり、縦軸は周波数偏差(ppb)、横軸は周囲温度(℃)を示す。なお、図9には、図8に示す圧電発振器1の周波数温度特性L6とともに、図8中の2次補償用センサ51、1次補償用センサ52、及び抵抗53,54が無い場合(即ち、周波数制御回路5による制御を行わない場合)の周波数温度特性L7も示す。
図10は、図8に示す圧電発振器1の周波数制御回路5の接続点aにおける電圧と周囲温度との関係L8を示すグラフである。また、図11は、図8に示す圧電発振器1の周波数制御回路5の2次補償用回路5aにより発生する電圧(即ち、1次補償用センサ52と抵抗54とが無い場合の接続点aにおける電圧)と周囲温度との関係L9を示すグラフである。さらに、図12は、図8に示す圧電発振器1の周波数制御回路5の1次補償用回路5bにより発生する電圧(即ち、2次補償用センサ51と抵抗53とが無い場合の接続点aにおける電圧)と周囲温度との関係L10を示す。なお、図10〜図12において、縦軸は電圧(V)、横軸は周囲温度(℃)を示す。
図9のL7に示すように、2次補償用センサ51、1次補償用センサ52、及び抵抗53,54が無い場合(周波数制御回路5による制御を行わない場合)、図8に示す圧電発振器1は、約−25℃〜約75℃の範囲において、周囲温度の変化に伴って2次関数的に周波数偏差が変動しており、周囲温度が約35℃のときに周波数偏差が最小となる。
図8に示す圧電発振器1では、図10のL8に示すように、周波数制御回路5により、周囲温度の変化に対して、図9のL7に示す周波数温度特性とはほぼ逆向きの特性を有するように(即ち、約−25℃〜約75℃の範囲において、周囲温度の変化に対して2次関数的に変化し、約35℃付近で最大となるように)、接続点aの電圧を制御して、バリキャップダイオード57の容量を変化させる。
具体的には、周囲温度が変化すると、周波数制御回路5の2次補償用センサ51及び抵抗53で構成された2次補償用回路部5aでは、トランジスタ32の温度変化に基づいて2次補償用センサ51の抵抗値が2次関数的に変化し、図11のL9に示すような周囲温度の変化に対して2次関数的に変動する電圧が発生する。即ち、2次補償用センサ51での測定結果に基づいて、図9のL7に示す周波数温度特性の2次成分を補償する電圧が発生する。
これと同時に、周波数制御回路5の1次補償用センサ52及び抵抗54で構成された1次補償用回路部5bでは、周囲温度の変化に基づいて1次補償用センサ52の抵抗値が1次関数的に変化し、図12のL10に示すような周囲温度の変化に対して1次関数的に変動する電圧が発生する。即ち、1次補償用センサ52での測定結果に基づいて、図9のL7に示す周波数温度特性の1次成分を補償する電圧が発生する。
そして、2次補償用回路部5aで発生した電圧と1次補償用回路部5bで発生した電圧とを合算し、接続点aにおいて、図10のL8に示すような、周囲温度に対して、周波数の温度特性L7とはほぼ逆向きの温度特性を示す制御電圧を発生させて、バリキャップダイオード57の容量を変化させている。
図8に示す圧電発振器1は、温度制御部4と恒温槽7とを備えて、周囲温度の影響を受け難い構成とされている上に、周波数制御回路5において上記したような動作を行うことにより、周囲温度の変化に応じてバリキャップダイオード57の容量を変化させて、圧電振動子2の周波数を制御し、圧電発振器1の周波数温度特性を調整している。そのため、図9中にL6で示すように、2次補償用センサ52、1次補償用センサ51、及び抵抗53,54が無い場合と比較して、周波数偏差を略一定にすることができる。即ち、周囲温度の変化に対する周波数の変動を少なくすることができる。
また、図8に示す圧電発振器1の周波数制御回路5では、周囲温度の変化に対して2次関数的に変化するヒータ部3のトランジスタ32の温度変化と、周囲温度の変化とを利用して圧電振動子2の周波数の制御を行っており、比較的簡単な回路構成で、圧電発振器1の周波数温度特性の1次成分と2次成分とを補償することができる。
<実施の形態2>
図13は、本発明の実施の形態2に係る圧電発振器1を示すブロック図である。
本実施の形態に係る圧電発振器1の基本構成は、実施の形態1に係る圧電発振器1とほぼ同様の構成となっており、以下、実施の形態1に係る圧電発振器1と異なる点についてのみ説明する。
本実施の形態に係る圧電発振器1では、ヒータ部3は、ダーリントン接続された一対のトランジスタ33,34と、ヒータ抵抗31とにより構成されている(後述する図15参照)。
ヒータ部3の消費電力と周囲温度との関係は、図2に示した実施の形態1に係る圧電発振器1におけるヒータ部3の消費電力と周囲温度との関係とほぼ同じである。
つまり、温度制御用センサ41で測定する圧電振動子2の温度がほぼ一定に制御されている場合、ダーリントン接続された一対のトランジスタ33,34は、それぞれ、約−40℃〜約75℃の範囲において、周囲温度の変化に対して消費電力が2次関数的に変動する。そして、ヒータ部3全体の消費電力(即ち、トランジスタ33,34及びヒータ抵抗31の消費電力の合計)は、約−40℃〜約75℃の範囲において、周囲温度の上昇に比例して減少し、周囲温度の変化に対して1次関数的に変動する。
このため、本実施の形態に係る圧電発振器1において、2次補償用センサ51は、一対のトランジスタ33,34の一方の近傍に配置されており、この2次補償用センサ51で測定される温度も、実施の形態1に係る2次補償用センサ51と同様に、周囲温度の変化に対して2次関数的に変動する。
また、ヒータ部3の電流は、図2中のL1に示す消費電力の変化と同様に、周囲温度の変化に対して1次関数的に変動する。
そこで、本実施の形態の圧電発振器1では、周波数制御回路5により、以下の周波数制御方法が実施されている。
つまり、本実施の形態の圧電発振器1は、2次補償用センサ51により、ヒータ部3を構成する複数の素子(ヒータ抵抗31及びトランジスタ33,34)のうち圧電発振器1の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する1つの素子(トランジスタ33)の温度変化を測定する(素子温度測定ステップ)。そして、周波数制御回路5により、素子温度測定ステップでの測定結果と、圧電発振器1の周囲の温度変化に対して1次関数的に変動するヒータ部3の電流の変化とに基づいて、圧電振動子2の周波数を制御する(周波数制御ステップ)。
より具体的には、周波数制御回路5は、周囲温度の変化に対して2次関数的に変動するトランジスタ33の温度変化を利用して、圧電発振器1の周波数温度特性の2次成分を補償する制御電圧を発生させると同時に、周囲温度の変化に対して1次関数的に変動するヒータ部3の電流の変化を利用して圧電振動子の周波数温度特性の1次成分を補償する制御電圧を発生させて、圧電振動子2の周波数を制御している。
このようにして圧電振動子2の周波数の制御を行うことで、本実施の形態2に係る圧電発振器1は、実施の形態1と同様に、周囲温度の変化による周波数の変動が少なく抑えられている。また、実施の形態1と比べ、1次補償用センサ52を設ける必要がないことから、部品数が少なく、圧電発振器1をより小型化することが可能な構成とされている。
−圧電発振器の構造例2−
次に、本発明の実施の形態2に係る圧電発振器1の構造の一例を、図14及び図15を参照しつつ説明する。
図14は、本発明の実施の形態2に係る圧電発振器1の構造の一例を示す透視図であり、図15は、図14に示す圧電発振器1を構成する基板8と、その基板8上におけるヒータ部3、温度制御用センサ41及び2次補償用センサ51の位置関係を示す概略平面図である。
本実施の形態に係る圧電発振器1の構造例2は、上記した実施の形態1に係る圧電発振器1の構造例1とほぼ同様であり、以下、構造例1と異なる点についてのみ説明する。
本構造例では、ヒータ部3は、図15に示すように、ダーリントン接続された一対のトランジスタ33,34と、ヒータ抵抗31とにより構成されている。
そして、2次補償用センサ51は、ヒータ部3の片方のトランジスタ33の近傍に配置されている。具体的には、2次補償用センサ51は、恒温槽7の内部に設けられており、基板8の一主面80において、トランジスタ33と基板8を介して対向する位置に設けられている。なお、本構造例2において、2次補償用センサ51は、トランジスタ33の近傍に設けられているが、トランジスタ34の近傍に設けられていてもよい。
また、本構造例2では、図4に示す圧電発振器1で設けられていた1次補償用センサ52が省略されている。
−圧電発振器の電気的構成例2−
次に、本発明の実施の形態2に係る圧電発振器1の電気的構成の一例について図16を参照しつつ説明する。
図16は、本発明の実施の形態2係る圧電発振器1の電気的構成の一例を示す回路図である。
本実施の形態に係る圧電発振器1の電気的構成例2は、実施の形態1に係る圧電発振器1の電気的構成例1とほぼ同様の構成となっており、以下、電気的構成例1と異なる点についてのみ説明する。
図16に示す圧電発振器1の電気的構成は、図8に示す圧電発振器1の電気的構成(電気的構成例1)と、ヒータ部3及び周波数制御回路5の構成が異なっている。
つまり、図16に示す圧電発振器1では、オペアンプ46の出力端子と抵抗45との接続点gは、抵抗47を介してトランジスタ34のベースに接続されている。そして、このトランジスタ34は、エミッタ端子がトランジスタ33のベースに接続され、コレクタ端子がトランジスタ33のコレクタ端子に接続されている。つまり、トランジスタ33,34はダーリントン接続されている。そして、トランジスタ34のコレクタ端子とトランジスタ33のコレクタ端子との接続点hがヒータ抵抗31の一端子に接続されている。また、ヒータ抵抗31の他端子は電源電圧(Vcc)に接続され、トランジスタ33のエミッタ端子は、接地されている。
上記したような電気的構成によれば、上記した電気的構成例1と比べて、オペアンプ46の出力電圧の増減に伴うヒータ抵抗31を流れる電流の増減の度合を、ダーリントン接続された一対のトランジスタ33,34により増幅させることができるから、より精度よく圧電振動子2の温度制御を行うことが可能となる。
また、図16の圧電発振器1の周波数制御回路5では、周波数制御回路5が、2次補償用センサ51と、抵抗53,55,56,58と、バリキャップダイオード57とから構成されている。
つまり、トランジスタ33の温度変化を測定する2次補償用センサ51の一端子に、抵抗53の一端子が接続され、この抵抗53の他端子が抵抗58の一端子に接続されている 。そして、抵抗58の他端子が、ダーリントン接続された一対のトランジスタ33,34とヒータ抵抗31との接続点iに接続されている。
また、抵抗53,58の接続点jは、抵抗55の一端子に接続され、さらに、この接続点kが、直列に接続された圧電振動子2の一端子とバリキャップダイオード57のカソード端子との接続点bに接続されている。また、抵抗55の他端子は接地されている。さらに、バリキャップダイオード57のアノード端子には抵抗56の一端子が接続されており、この抵抗56の他端子は接地されている。
図16に示す圧電発振器1では、図8に示す圧電発振器1と同様に、周波数制御回路5により、周囲温度の変化に対して、図9のL7に示す周波数の温度特性とはほぼ逆向きの特性を有するように(即ち、約−25℃〜約75℃の範囲において、周囲温度の変化に対して2次関数的に変化し、約35℃付近で最大となるように)、接続点jの電圧を制御して、バリキャップダイオード57の容量を変化させている。
具体的には、周囲温度が変化すると、周波数制御回路5の2次補償用センサ51及び抵抗53で構成された2次補償用回路部5aでは、トランジスタ33の温度に基づいて2次補償用センサ51の抵抗値が変化し、図11のL9に示すような周囲温度の変化に対して2次関数的に変動する電圧が発生する。即ち、2次補償用センサ51での測定結果に基づいて、図9のL7に示す周波数温度特性の2次成分を補償する電圧が発生する。
これと同時に、周波数制御回路5の抵抗58で構成された1次補償用回路部5bでは、周囲温度の変化に対して電流値が1次関数的に変動するヒータ電流により、図12のL10に示すような周囲温度の変化に対して1次関数的に変動する電圧が発生する。即ち、ヒータ電流の変化に基づいて、図9のL7に示す周波数温度特性の1次成分を補償する電圧が発生する。
そして、2次補償用回路部5aで発生した電圧と1次補償用回路部5bで発生した電圧とを合算し、接続点jにおいて、図10のL8に示すような、周囲温度に対して、周波数の温度特性とはほぼ逆向きの温度特性を示す制御電圧を発生させて、バリキャップダイオード57の容量を変化させている。
図16に示す圧電発振器1は、温度制御部4と恒温槽7とを備えて、周囲温度の影響を受け難い構成とされている上に、周波数制御回路5において上記したような動作を行うことにより、周囲温度の変化に応じてバリキャップダイオード57の容量を変化させて、圧電振動子2の周波数を制御して、圧電発振器1の周波数温度特性を調整している。そのため、図9中にL6で示すように、周波数制御回路5による制御を行わない場合と比較して、周波数偏差を略一定にすることができる。即ち、周囲温度の変化に対する周波数の変動を少なくすることができる。
また、図16に示す圧電発振器1の周波数制御回路5では、周囲温度の変化に対して2次関数的に変化するヒータ部3のトランジスタ33の温度変化と、ヒータ部3の電流の変化とを利用して圧電振動子2の周波数の制御を行っており、比較的に少ない部品で、圧電発振器1の周波数温度特性の1次成分と2次成分とを補償することができる。
さらに、図16に示す圧電発振器1の周波数制御回路5では、周囲温度の変化に対して1次関数的に変化するヒータ部3の電流の変化に基づいて、圧電発振器1の周波数温度特性の1次成分の補償を行っているため、1次補償用センサを設ける必要がなく、図8に示す圧電発振器1と比べて、少ない部品で、圧電発振器1の周波数温度特性の1次成分を補償することができる。
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明に係る圧電発振器において、ヒータ部は、温度制御部により放出される熱量が調整されて、圧電振動子を温めることが可能なものであれば、いずれの素子により構成されるものであってもよく、上記したヒータ抵抗及びトランジスタにより構成されるものに限定されるものではない。また、ヒータ部を構成する素子の数についても、2つ以上であればよく、特に限定されるものではない。
また、本発明に係る圧電発振器において、周波数制御回路における周波数の制御に温度変化が利用される素子は、ヒータ部を構成する複数の素子のうちの少なくとも1つであって、且つ周囲温度の変化に対して消費電力が2次関数的に変動する素子であれば、いずれのものであってもよく、上記したトランジスタに限定されるものではない。例えば、ヒータ抵抗であってもよい。
また、上記した実施の形態1及び2において、周波数制御回路5は、圧電振動子2の周波数を、周囲温度の変化に対して消費電力が2次関数的に変動するヒータ部3を構成する1つの素子の温度変化とともに、周囲温度の変化又はヒータ部3の電流の変化に基づいて制御する構成とされているが、例えば、恒温槽を備えること等により周囲温度の変化による影響を受け難い構成とされている場合には、周波数制御回路5は、周囲温度の変化に対して消費電力が2次関数的に変動するヒータ部3を構成する1つの素子の温度変化のみに基づいて、周波数を制御してもよい。
また、上記した実施の形態1及び2において、周波数制御回路5は、圧電発振器1の周波数温度特性の1次成分の補償を、1次補償用センサ52で測定された温度又はヒータ部3の電流の変化に基づいて行っているが、1次補償用センサ52で測定された温度及びヒータ部3の電流の変化の両方に基づいて、圧電発振器1の周波数温度特性の1次成分の補償を行ってもよい。
また、上記した実施の形態1及び2の構造例1及び構造例2において、2次補償用センサ51は、トランジスタ32,33と基板8を介して対向する位置に設けられているが、2次補償用センサ51は、トランジスタ32,33の近傍に配されていればよく、例えば、基板8を介さずに、トランジスタ32,33に隣接して2次補償用センサ52が設けられていてもよい。
また、上記した実施の形態1及び2では、恒温槽7を備え、ヒータ部3により恒温槽7の内部を温めることで、圧電振動子2が間接的にヒータ部3により温められる構成とされているが、例えば、周囲温度の変化が少ない環境下で使用される場合には、恒温槽7は設けられていなくてもよく、この場合、圧電振動子2はヒータ部3により直接温められてよい。即ち、本発明に係る圧電発振器は、恒温槽を備えていなくてもよく、また、ヒータ部は圧電振動子を直接的に温めるものであっても、間接的に温めるものであってもよい。
また、上記した実施の形態1及び2の構造例1及び構造例2において、圧電振動子2を収納する恒温槽7は、金属ケース72(恒温ケース)と恒温部71により構成されているが、恒温槽は、圧電振動子を封止する熱伝導性の材料でなるもの、例えば、アルミブロックを用いて構成されるものであってもよい。
また、本発明に係る圧電発振器において、その構造及びその電気的構成は、圧電振動子と発振回路とを含む発振部と、複数の素子で構成された前記圧電振動子を温めるためのヒータ部と、該ヒータ部から前記圧電振動子に対して放出される熱量を制御する温度制御部と、前記ヒータ部を構成する複数の前記素子のうち当該圧電発振器の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する1つの素子の温度変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御する周波数制御回路とを有するものであれば、いずれのものであってもよく上記した構造例1、構造例2、電気的構成例1、及び電気的構成例2に限定されるものではない。
即ち、本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他のいろいろな形で実施することができる。そのため、上述の実施例はあらゆる点で単なる例示にすぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、なんら拘束されない。さらに、特許請求の範囲の均等範囲に属する変形や変更は、全て本発明の範囲内のものである。
1 圧電発振器
2 圧電振動子
3 ヒータ部
31 ヒータ抵抗
32,33,34 トランジスタ
4 温度制御部
41 温度制御用センサ(サーミスタ)
5 周波数制御回路
51 2次補償用センサ(サーミスタ)
52 1次補償用センサ(サーミスタ)
6 発振部
6a 発振回路
7 恒温槽
71 恒温部
72 金属ケース
8 基板
80 一主面
81 他主面
82 接合部
9 本体筐体
91 保護用ケース
92 ベース
93 外部リード端子

Claims (10)

  1. 圧電発振器であって、
    圧電振動子と発振回路とを含む発振部と、
    複数の素子で構成された前記圧電振動子を温めるためのヒータ部と、
    該ヒータ部から前記圧電振動子に対して放出される熱量を制御する温度制御部と、
    前記ヒータ部を構成する複数の前記素子のうち当該圧電発振器の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する少なくとも1つの素子の温度変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御する周波数制御回路と
    を備えることを特徴とする圧電発振器。
  2. 請求項1に記載の圧電発振器であって、
    前記ヒータ部は、前記素子として、トランジスタ及びヒータ抵抗を有し、
    前記周波数制御回路は、前記トランジスタの温度変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御することを特徴とする圧電発振器。
  3. 請求項1又は請求項2に記載の圧電発振器であって、
    前記周波数制御回路は、さらに、当該圧電発振器の周囲の温度変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御することを特徴とする圧電発振器。
  4. 請求項1〜3のいずれか1つに記載の圧電発振器であって、
    前記周波数制御回路は、さらに、当該圧電発振器の周囲の温度変化に対して1次関数的に変動する前記ヒータ部の電流の変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御することを特徴とする圧電発振器。
  5. 請求項1〜4のいずれか1つに記載の圧電発振器であって、
    前記圧電振動子を所定温度に保つ恒温槽をさらに備えており、前記恒温槽の内部に前記圧電振動子を配したことを特徴とする圧電発振器。
  6. 請求項5に記載の圧電発振器であって、
    前記恒温槽の外部に、前記ヒータ部を配したことを特徴とする圧電発振器。
  7. 請求項5又は請求項6に記載の圧電発振器であって、
    前記発振部が基板の一主面に配され、
    前記基板の内部に、前記圧電振動子を所定温度に保つ恒温部が設けられ、
    前記基板の一主面に、前記発振部を封止する恒温ケースが設けられ、
    前記恒温槽は、前記恒温部と前記恒温ケースとによって構成されたことを特徴とする圧電発振器。
  8. 圧電発振器の周波数制御方法において、
    前記圧電発振器は、圧電振動子と発振回路とを含む発振部と、複数の素子で構成された前記圧電振動子を温めるためのヒータ部と、該ヒータ部から前記圧電振動子に対して放出される熱量を制御する温度制御部とを備えており、
    前記ヒータ部を構成する複数の前記素子のうち前記圧電発振器の周囲の温度変化に対して消費電力が2次関数的に変動する1つの素子の温度変化を測定する素子温度測定ステップと、
    該素子温度測定ステップでの測定結果に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御する周波数制御ステップと
    を有することを特徴とする周波数制御方法。
  9. 請求項8に記載の周波数制御方法において、
    前記圧電発振器の周囲の温度変化を測定する周囲温度測定ステップをさらに有し、
    前記周波数制御ステップが、さらに、前記周囲温度測定ステップでの測定結果に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御する
    ことを特徴とする周波数制御方法。
  10. 請求項8又は請求項9に記載の周波数制御方法において、
    前記周波数制御ステップが、さらに、前記圧電発振器の周囲の温度変化に対して1次関数的に変動する前記ヒータ部の電流の変化に基づいて、前記圧電振動子の周波数を制御することを特徴とする周波数制御方法。
JP2009244769A 2009-10-23 2009-10-23 圧電発振器、及び圧電発振器の周波数制御方法 Active JP5218372B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009244769A JP5218372B2 (ja) 2009-10-23 2009-10-23 圧電発振器、及び圧電発振器の周波数制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009244769A JP5218372B2 (ja) 2009-10-23 2009-10-23 圧電発振器、及び圧電発振器の周波数制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011091702A true JP2011091702A (ja) 2011-05-06
JP5218372B2 JP5218372B2 (ja) 2013-06-26

Family

ID=44109512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009244769A Active JP5218372B2 (ja) 2009-10-23 2009-10-23 圧電発振器、及び圧電発振器の周波数制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5218372B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104079291A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 精工爱普生株式会社 振荡器、电子设备和移动体
JP2014236398A (ja) * 2013-06-04 2014-12-15 セイコーエプソン株式会社 発振装置、電子機器、および移動体
JP2018133816A (ja) * 2018-04-19 2018-08-23 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器及び移動体
US10461752B2 (en) 2017-03-27 2019-10-29 Asahi Kasei Microdevices Corporation Temperature controlling apparatus and oscillation apparatus
JP2020137092A (ja) * 2019-02-26 2020-08-31 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器及び移動体
WO2021157122A1 (ja) * 2020-02-04 2021-08-12 株式会社村田製作所 発振器、温度補償回路、及び水晶振動素子
WO2022075334A1 (ja) * 2020-10-09 2022-04-14 インターチップ株式会社 Ocxo用発振回路

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101882145B1 (ko) * 2017-07-24 2018-07-25 조규필 오븐 제어 수정 발진기의 히터 제어 장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60121312U (ja) * 1984-01-25 1985-08-16 日立電子株式会社 温度補償型水晶発振回路
JPS6355614U (ja) * 1986-09-29 1988-04-14
JP2002135051A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Toyo Commun Equip Co Ltd 圧電発振器
JP2007251366A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶発振器
JP2009027495A (ja) * 2007-07-20 2009-02-05 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 恒温槽付水晶発振器における恒温槽の制御回路

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60121312U (ja) * 1984-01-25 1985-08-16 日立電子株式会社 温度補償型水晶発振回路
JPS6355614U (ja) * 1986-09-29 1988-04-14
JP2002135051A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Toyo Commun Equip Co Ltd 圧電発振器
JP2007251366A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶発振器
JP2009027495A (ja) * 2007-07-20 2009-02-05 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 恒温槽付水晶発振器における恒温槽の制御回路

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104079291A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 精工爱普生株式会社 振荡器、电子设备和移动体
JP2014197751A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器及び移動体
JP2014236398A (ja) * 2013-06-04 2014-12-15 セイコーエプソン株式会社 発振装置、電子機器、および移動体
US10461752B2 (en) 2017-03-27 2019-10-29 Asahi Kasei Microdevices Corporation Temperature controlling apparatus and oscillation apparatus
JP2018133816A (ja) * 2018-04-19 2018-08-23 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器及び移動体
JP2020137092A (ja) * 2019-02-26 2020-08-31 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器及び移動体
JP7272009B2 (ja) 2019-02-26 2023-05-12 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器及び移動体
WO2021157122A1 (ja) * 2020-02-04 2021-08-12 株式会社村田製作所 発振器、温度補償回路、及び水晶振動素子
WO2022075334A1 (ja) * 2020-10-09 2022-04-14 インターチップ株式会社 Ocxo用発振回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP5218372B2 (ja) 2013-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5218372B2 (ja) 圧電発振器、及び圧電発振器の周波数制御方法
US10715058B2 (en) Piezoelectric device and electronic apparatus
JP4629744B2 (ja) 恒温型の水晶発振器
JP5218169B2 (ja) 圧電発振器及びこの圧電発振器の周囲温度測定方法
US8013683B2 (en) Constant-temperature type crystal oscillator
US8149068B2 (en) Temperature controlled crystal oscillator
US8085105B2 (en) Constant-temperature type crystal oscillator
JP4885207B2 (ja) 多段型とした恒温型の水晶発振器
US8076983B2 (en) Constant-temperature type crystal oscillator
JP6123979B2 (ja) 発振装置及び電子機器
JP2012124549A (ja) 温度制御型水晶振動子及び水晶発振器
JP2011077963A (ja) 恒温型の水晶発振器
TW201126890A (en) Constant-temperature type crystal oscillator
JP2009284372A (ja) 水晶振動子の恒温構造
EP2244385B1 (en) Temperature compensated crystal oscillator, printed-circuit board, and electronic device
JP5741869B2 (ja) 圧電デバイス
JP5205822B2 (ja) 圧電発振器
JP5912566B2 (ja) 恒温槽付水晶発振器
JP2015228609A (ja) 恒温型圧電発振器
JP5362344B2 (ja) 多段型とした恒温型の水晶発振器
JP2009182881A (ja) 温度補償型水晶発振器
JP2015216579A (ja) 恒温槽付水晶発振器
JP2015005883A (ja) 水晶デバイス
JP2010103610A (ja) 圧電発振器
JP6208472B2 (ja) 恒温槽付水晶発振器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120426

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130218

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160315

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5218372

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250