JP2011089793A - 材料厚測定方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】超音波発生用レーザ光の照射点で得られる、プラズマ衝撃波を除去した後の信号レベルの小さい検出信号から正確な材料厚を測定することができる。
【解決手段】板体Pの表面P1に超音波発生用レーザ光L1を照射して被測定材料P内に超音波Sを生じさせ、板体Pの裏面P2で反射された反射波Srによる超音波発生用レーザ光L1の照射点Aでの材料面の振動を検出用レーザ光L2で検出する。検出用レーザ光L2の検出信号5aの衝撃波成分をカットし、残る信号成分に対して自己相関処理を行なうことにより周期性信号を得て、当該周期性信号のピーク間隔に基づいて板厚を算出する。
【選択図】 図1

Description

本発明は材料厚測定方法に関し、特に超音波発生用レーザ光で材料内に超音波を発生させて材料厚を測定する材料厚測定方法の改良に関する。
材料厚を測定する方法として、被測定材料の厚さ方向に超音波を伝搬させ、その伝搬時間と被測定材料中の超音波速度から被測定材料の厚さを測定する方法が知られている。この場合、超音波振動子を材料表面に水や油等を介して接触させて材料内に超音波を生じさせる構造では、高温材料や高速で移動する材料への適用は困難であった。
そこで、被測定材料の表面にパルスレーザ光を照射して材料表面のアブレーション(表面素材の瞬間的な蒸発)や熱弾性効果により材料内に超音波を発生させて、被測定材料の裏面で反射された反射波による材料面振動を検出用レーザ光で検出することにより材料厚を測定する、いわゆるレーザ超音波法による材料厚の測定が注目されている。これによると高温材料や高速移動材料の材料厚を測定することが可能になる。このようなレーザ超音波法を使用した材料厚測定方法は例えば特許文献1に示されている。
特開2002−213936
しかし、上記従来の材料厚測定方法において、検出用レーザ光による材料面振動の検出は、超音波発生用レーザ光の照射点における振動を検出するのが十分な大きさの検出信号が得られることから最も効率的であるが、上記照射点では測定開始時にアブレーションによるプラズマ衝撃波が生じ、これの周波数が検出用レーザ光の周波数と同一帯域にあるために衝撃波を除くとこれ共に十分な大きさの検出信号も除去されて、信号レベルの小さい検出信号しか得られない。
そこで、照射点から距離dだけ離れた位置の材料面振動を検出用レーザ光で検出するようにしているが、機械的振動や、測定装置と被測定材料の相対的傾きが変化する等によって上記距離dが変動すると正確な測定を行なうことが困難であるという問題があった(上記特許文献1の従来技術の説明)。
本発明はこのような課題を解決するもので、超音波発生用レーザ光の照射点で得られる、プラズマ衝撃波を除去した後の信号レベルの小さい検出信号から正確な材料厚を測定することができる材料厚測定方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本第1発明では、被測定材料(P)の表面(P1)に超音波発生用レーザ光(L1)を照射して被測定材料(P)内に超音波(S)を生じさせ、被測定材料(P)の裏面(P2)で反射された超音波反射波(Sr)による前記超音波発生用レーザ光(L1)の照射点(A)での材料面の振動を検出用レーザ光(L2)で検出して、検出用レーザ光(L2)の検出信号(5a)のピーク間隔より被測定材料(P)の材料厚を算出するようにした材料厚測定方法であって、前記検出信号(5a)の衝撃波成分をカットし、残る信号成分に対して自己相関処理を行なうことにより周期性信号(5c)を得て、当該周期性信号(5c)のピーク間隔に基づいて材料厚を算出する。
本第1発明において、衝撃波成分をカットした際に同時に検出信号中の超音波反射波による比較的大きな振動成分も除去されて、検出信号中には比較的小さな振動成分のみが残される。そこで、比較的小さな振動成分のみを含む検出信号に対して、自己相関処理を行なう十分大きな複数のピークを有する周期性信号が得られる。この周期性信号の隣接するピーク間の時間差を算出する。この時間差は、被測定材料表面の照射点から発した超音波が裏面で反射して反射波として再び照射点へ戻るまでの時間に等しいからから、この時間差と予め知られている被測定材料内での超音波の速度より被測定材料の材料厚を算出することができる。
本第2発明では、前記周期性信号のピーク間隔を、中央ピーク(Kx)の両側に位置する互いに対応するピーク(Ky)間の間隔とする。
本第2発明では、信号ピークが中央ピークに対して左右で非対称になっても正確な隣接するピーク間の間隔を得ることができる。
上記カッコ内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
以上のように、本発明の材料厚測定方法によれば、超音波発生用レーザ光の照射点で得られる、プラズマ衝撃波を除去した後の信号レベルの小さい検出信号から正確な材料厚を測定することができる。
本発明方法を実施するための機器構成を示すブロック図である。 コンピュータの処理手順を示すフローチャートである。 光干渉計から得られる検出信号の一例を示す波形図である。 フィルタリング後の検出信号の一例を示す波形図である。 検出信号を自己相関処理して得られた周期性信号の一例を示す波形図である。 周期性信号の拡大波形図である。
図1には本発明方法を実施するための機器構成を示す。図1において、被測定材料としての板体Pの表面に対向させてレーザ装置1が設けられており、当該レーザ装置1からはダイクロイックミラー2を通してパルス幅10nsecの超音波発生用レーザ光L1が、板材表面のA点に向けて照射される。一方、レーザ装置3が設けられて、ここから出力された検出用レーザ光L2がハーフミラー4と上記ダイクロイックミラー2で反射されて上記照射点Aに連続的に照射されている。
検出用レーザ光L2は板体Pの表面P1で反射されてダイクロイックミラー2へ戻り、ここで反射されてハーフミラー4を通過して光干渉計5に入力する。光干渉計5で得られた検出信号5aはコンピュータ6に入力し、後述する処理によって上記板体Pの板厚が算出される。
図2にはコンピュータ6における処理手順を示す。ステップ101ではレーザ装置1から超音波発生用レーザ光L1を板体Pに向けて出力させ、板体表面P1のレーザ照射点Aにて熱弾性効果による振動を発生させて、これにより板体P内に超音波を生じさせる。
板体P内に生じた超音波Sは板体Pの裏面P2で反射されて反射波Srとして再び板体表面P1の照射点Aに戻り、この部分を振動させる。ステップ102では、上記照射点Aの微小振動を、連続照射される検出用レーザ光L2で検出し、光干渉計5を通して検出信号5aとして取り込む。検出信号5aの一例を図3に示す。
ステップ103では上記検出信号5aにフィルタ処理を施す。このフィルタ処理は1MHz以下のノイズ成分を除去するためのハイパスフィルタ処理とする。フィルタ処理後の検出信号5bを図4に示す。図4より明らかなように、測定開始時に大きな振動波形が得られているが(図のE領域)、これはアブレーションにより生じたプラズマ衝撃波の振動である。この場合、特に板厚が薄いと、板体裏面P2からの初期の超音波反射波Srによる比較的大きな振動成分が、プラズマ衝撃波の振動とほぼ同一の帯域にあってこれに混入してしまう。
ステップ104ではプラズマ衝撃波によるノイズ振動分(図4のE領域部分)をカットする。この際、同時に超音波反射波Srによる比較的大きな振動成分も除去されてしまい、検出信号5b中の比較的小さな振動成分のみが残されることになる。
ここにおいて本実施形態では、ノイズ振動をカットした検出信号5bに対して、ステップ105で自己相関処理を行なう。この処理は、ウィナーヒンチンの定理より、高速フーリエ変換の電力スペクトルからフーリエ逆変換により自己相関関数を得るものである。得られた自己相関関数の一例を図5に示し、中央ピークKxの両側に一定間隔で、漸次小さくはなるが十分大きな複数のピークを有する周期性信号5cが得られる。
ステップ106では隣接するピーク間の時間差を算出する。これは図6に示すように、信号ピークが通常は中央ピークKxに対して左右で非対称になることを考慮して、中央ピークKxを挟んだ両側のピークKy間の時間差Tdから隣接するピーク間の時間差を算出する(本実施形態の場合は4で割る)のが良い。算出された時間差は、板体表面P1(図1)の照射点Aから発した超音波Sが裏面で反射して反射波Srとして再び照射点Aへ戻るまでの時間に等しいからから、ステップ107では上記時間差と予め知られている板体P内での超音波の速度とから板体Pの板厚を算出する。
以上の手順で行なわれる本実施形態の測定方法によれば、特に1mm以下の薄板で、従来、板厚測定のS/N比が0〜2程度と非常に悪かったのに対し、非常に良いS/N比3〜20で板厚を正確に測定することができた。
1…レーザ装置、2…ダイクロイックミラー、3…レーザ装置、4…ハーフミラー、5…光干渉計、5a…検出信号、5b…周期性信号、6…コンピュータ、A…照射点、L1…超音波発生用レーザ光、L2…検出用レーザ光、P…板体(被測定材料)、P1…表面、P2…裏面、S…超音波、Sr…反射波。

Claims (2)

  1. 被測定材料の表面に超音波発生用レーザ光を照射して被測定材料内に超音波を生じさせ、被測定材料の裏面で反射された超音波反射波による前記超音波発生用レーザ光の照射点での材料面の振動を検出用レーザ光で検出して、検出用レーザ光の検出信号のピーク間隔より被測定材料の材料厚を算出するようにした材料厚測定方法であって、前記検出信号の衝撃波成分をカットし、残る信号成分に対して自己相関処理を行なうことにより周期性信号を得て、当該周期性信号のピーク間隔に基づいて材料厚を算出することを特徴とする材料厚測定方法。
  2. 前記周期性信号のピーク間隔を、中央ピークの両側に位置する互いに対応するピーク間の間隔とした請求項1に記載の材料厚測定方法。
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